光纤激光器测试系统及测试方法与流程

1.本技术属于激光器测试技术领域，尤其涉及一种光纤激光器测试系统及测试方法。


背景技术：

2.光纤激光器具有光束质量好、转换效率高的特点，在激光器市场的占有率逐渐攀升。为了向用户提供光纤激光器的完整信息，光纤激光器在开发或生产阶段需要进行性能测试。随着光纤激光器的功率越来越高，回返光越来越大，在激光器测试过程中，并未考虑回返光对泵浦芯片的影响，导致光纤激光器损伤，影响光纤激光器的可靠性，还会影响光纤激光器测试结果的准确性。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供一种光纤激光器测试系统及测试方法，以解决现有的因回返光导致光纤激光器在测试过程中损伤和影响测试结果准确性的问题。
4.第一方面，本技术实施例提供一种光纤激光器测试系统，包括：输出光纤，包括光纤本体和金属壳体，所述光纤本体的一端连接待测试光纤激光器，所述光纤本体的另一端熔接有端帽，所述金属壳体套设于所述端帽和所述光纤本体上；光纤固定工装，用于固定所述输出光纤；冷却组件，用于给所述待测试光纤激光器和所述端帽冷却降温；功率检测装置，用于实时检测所述输出光纤射出的激光束的光功率；温度检测装置，用于实时检测所述待测试光纤激光器上的第一温度值和所述端帽的第二温度值；控制器，分别与所述功率检测装置和所述温度检测装置连接，所述控制器用于：接收所述光功率、所述第一温度值和所述第二温度值；在测试时间段内，根据所述光功率判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器与所述冷却组件和所述端帽是否存在安装异常，并输出异常结果。
5.可选的，还包括：所述控制器内设有功率阈值、第一温度阈值和第二温度阈值，所述控制器用于：将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率超过所述功率阈值，判断出所述待测试光纤激光器的老化测试结果不合格；将所述第一温度值与所述第一温度阈值比较，若所述第一温度值超过所述第一温度阈值，判断出所述待测试光纤激光器与所述冷却组件组装不良；将所述第二温度值与所述第二温度阈值比较，若所述第二温度值超过所述第二温度阈值，判断出所述端帽异常。
6.可选的，在所述判断出所述待测试光纤激光器与所述冷却组件组装不良之后，所述控制器还用于：输出将所述待测试光纤激光器与所述冷却组件重新组装的提示信息。
7.可选的，在所述判断出所述端帽异常之后，所述控制器还用于：输出更换或擦拭所述端帽的提示信息。
8.可选的，所述控制器还用于：生成功率-时间曲线；预设曲率阈值；若所述光功率未超过所述功率阈值，将所述功率-时间曲线的曲率与所述曲率阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。
9.可选的，若所述输出光纤为双包层光纤，所述温度检测装置还用于检测所述输出光纤包层的第三温度值，所述控制器内设有第三温度阈值，所述控制器用于：接收所述第三温度值；在测试时间段内，将所述第三温度值与所述第三温度阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。
10.第二方面，本技术实施例还提供一种光纤激光器测试方法，应用于上述任意一项所述的光纤激光器测试系统，包括以下步骤：获取待测试光纤激光器输出的激光束的光功率、待测试光纤激光器上的第一温度值和端帽上的第二温度值；在测试时间段内，根据所述光功率，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器和所述端帽是否存在异常，并输出异常原因。
11.可选的，所述根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器和所述端帽是否存在异常，并输出异常原因，包括以下步骤：设有第一温度阈值和第二温度阈值；在测试时间段内，将所述第一温度值与所述第一温度阈值比较，在测试时间内，若所述第一温度值超过所述第一温度阈值，判断出所述待测试光纤激光器与冷却组件组装不良，并输出将所述待测试光纤激光器与所述冷却组件重新组装的提示信息；在测试时间段内，将所述第二温度值与所述第二温度阈值比较，若所述第二温度值超过所述第二温度阈值，判断出所述端帽异常，并输出更换或擦拭所述端帽的提示信息。
12.可选的，所述根据所述光功率，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果，包括以下步骤：设置功率阈值；将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率超过所述功率阈值，判断出所述待测试光纤激光器的老化测试结果不合格。
13.可选的，将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率未超过所述功率阈值，还包括如下步骤：生成功率-时间曲线；
预设曲率阈值；将所述功率-时间曲线的曲率与所述曲率阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。
14.可选的，若所述输出光纤为双包层光纤，还包括以下步骤：获取所述输出光纤包层的第三温度值；预设第三温度阈值；在测试时间段内，将所述第三温度值与所述第三温度阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。
15.本技术实施例提供的一种光纤激光器测试系统及测试方法，通过具有端帽的输出光纤将待测试光纤激光器射出的激光束射入功率检测装置，通过功率检测装置检测激光束的光功率，并根据光功率判断待测试光纤激光器的老化测试情况，在光功率检测过程中，减少了回返光对待测试光纤激光器的影响，解决了因回返光导致光纤激光器在测试过程中损伤和影响测试结果准确性的问题，此外，在老化测试过程中，通过温度检测装置检测待测试光纤激光器上的第一温度值和端帽的第二温度值，来判断待测试光纤激光器与冷却组件和端帽是否存在安装异常，避免因安装结构异常，影响待测试光纤激光器的老化测试结果，保证老化测试结果的准确性。
附图说明
16.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对本领域技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.为了更完整地理解本技术及其有益效果，下面将结合附图来进行说明。其中，在下面的描述中相同的附图标号表示相同部分。
18.图1为本技术实施例提供的测试系统的框图。
19.图2为本技术实施例提供的测试系统的控制部分的框图。
20.图3为本技术实施例提供的输出光纤与光纤固定工装组装的结构示意图。
21.图4为本技术实施例提供的光纤固定工装的结构示意图。
22.图5为本技术实施例提供的输出光纤的结构示意图。
23.图6为本技术实施例提供的输出光纤的金属壳体的俯视图。
24.图7为图6中a-a剖视图。
25.图8为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法的流程图。
26.图9为本技术实施例提供的输出光纤为双包层光纤时光纤激光器测试方法的流程图。
27.图10为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法中步骤s2的流程图。
28.图11为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法中步骤s3的流程图。
具体实施方式
29.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
30.本技术实施例提供光纤激光器测试系统，以解决现有的因回返光导致光纤激光器在测试过程中损伤和影响测试结果准确性的问题。以下将结合附图对进行说明。
31.参见图1和图2所示，图1为本技术实施例提供的测试系统的框图，图2为本技术实施例提供的测试系统的控制部分的框图。
32.本技术实施例提供一种光纤激光器测试系统，适用于高功率或超高功率的待测试光纤激光器，高功率或超高功率待测试光纤激光器的功率可以达到千瓦级以上，包括输出光纤100、光纤固定工装200、冷却组件300、功率测试装置400、温度测试装置500和控制器600。
33.参见图3至图7所示，图3为本技术实施例提供的输出光纤与光纤固定工装组装的结构示意图，图4为本技术实施例提供的光纤固定工装的结构示意图，图5为本技术实施例提供的输出光纤的结构示意图，图6为本技术实施例提供的输出光纤的金属壳体的俯视图，图7为图6中a-a剖视图。
34.输出光纤100包括光纤本体110、端帽120和金属壳体130，光纤本体110具有纤芯、包层和涂覆层，包层套设于纤芯上，涂覆层涂覆在包层，光纤本体110具有光输入端和光输出端，光输入端与待测试光纤激光器连接，光输出端的纤芯熔接端帽120，光纤本体110靠近端帽120处形成光纤剥口，光纤剥口是指距离光纤输出端与端帽熔接点10毫米以内的范围。端帽120为石英端帽，端帽120的表面涂覆有增透膜，在端帽120的输出端面镀增透膜，回返光从输出端面进入端帽120内，在端帽120中是光密进入光疏，削弱了继续前向传输的回返光能量，大部分回返光到达不了光纤本体110内，大大降低了回返光对器件本身的危害。金属壳体130套设于端帽120和靠近端帽120的光纤本体110上，金属壳体130与光纤本体110和端帽120连接。将端帽120和光纤本体110靠近光输出端的一段封装在金属壳体130内，端帽120与光纤本体110连接稳固，避免光纤剥口暴露，此外，金属壳体130具有导热性能好的优点，帮助光纤本体110和端帽120快速散热，提高了输出光纤的性能和可靠性。金属壳体130可采用铝合金超材料制备而成，结构简单，制作成本低。参见图6和图7所示，金属壳体130上开设有多个点胶孔131，多个点胶孔131沿光纤本体110的轴向间隔设置。向点胶孔131内注入胶水，使得金属壳体130与光纤本体110和端帽120胶粘一体，方便金属壳体130与光纤本体110和端帽120组装和拆卸，金属壳体130可重复利用，从而降低测试成本。参见图6和图7所示，多个点胶孔131包括第一点胶孔1311和第二点胶孔1312，第一点胶孔1311与端帽120相对，第二点胶孔1312与光纤本体110相对。第一点胶孔1311内注入胶水，使得金属壳体130与端帽120粘接，第二点胶孔1312内注入胶水，使得金属壳体130与端帽120粘接，分段注入胶水，方便点胶操作，又能避开不适宜胶水进入的区域，保证输出光纤的性能。参见图7所示，金属壳体130包括依次连通的第一腔体135、第二腔体136、第三腔体137，第一腔体135相比第二腔体136靠近端帽120，第二腔体136的直径小于第一腔体135和第三腔体137的直径，与第二腔体136对应的金属壳体130上开设第二点胶孔1312。光纤剥口位于第一腔体135内，第二点胶孔1312位于第二腔体136，避免胶水从第二腔体136进入两边的第一腔体135和第三腔体137内，防止胶水覆盖光纤剥口，保证输出光纤的输光性能，第三腔体137的孔径较大，有利于光纤本体110穿过金属壳体130，方便输出光纤组装操作。参见图6所示，金属壳体
130包括依次连接的第一段132、第二段133和第三段134，第一段132套设于端帽120上，第一段132、第二段133和第三段134均呈圆筒状，第一段132和第三段134的外径小于第二段133的外径。
35.参见图3和图4所示，光纤固定工装200包括基体210、第一安装槽220和第二安装槽230。基体210为矩形块结构，基体210包括第一端211、第二端212和第一侧面213，第一端211与第二端212相对布置。第一安装槽220开设于第一侧面213上，第一安装槽220从第一端211向第二端212延伸，第一安装槽220包括第一侧壁221和第二侧壁222，第一侧壁221和第二侧壁222相对间隔设置，第一侧壁221和第二侧壁222凸出于第一侧面，第一安装槽220的尺寸与金属壳体130的尺寸适配，第一侧壁221和第二侧壁222之间的间隙略小于金属壳体130的外壁尺寸，输出光纤100从第一侧壁221和第二侧壁222之间的间隙安装进入第一安装槽220内。由于第一侧壁221和第二侧壁222之间的距离略小于金属壳体130的外壁直径，限制金属壳体130在第一安装槽220内移动，避免金属壳体130从第一侧壁221和第二侧壁222之间的间隙内滑出，端帽120延伸出第一端211。第二安装槽230开设于第一侧面213上，第二安装槽230与第一安装槽220贯通，光纤本体110安装于第二安装槽230内。基体210设有散热通道和液冷介质进出口，液冷介质进出口与散热通道连通。其中，液冷介质可以为水，散热通道通过液冷介质进出口与制冷机连接，从而在散热通道内形成循环水冷却基体210，对输出光纤100散热，避免输出光纤100因发热烧毁的情况发生，保护输出光纤100，提高了输出光纤100的可靠性。第一安装槽220还包括第三侧壁223，第三侧壁223设置于第一端211上，并向背离第二端212的方向延伸。第三侧壁223用于承托输出光纤100靠近端帽120的位置处，端帽120悬空于基体210外部，避免端帽120与其他部件干涉，保护端帽120。基体210、第一侧壁221、第二侧壁222和第三侧壁223为采用金属材料制备而成的一体结构。可以采用模具注塑或者冲压一体成型，光纤固定工装的加工工艺简单。第一侧壁221和第二侧壁222背离第一侧面213的一端的壁厚小于第一侧壁221和第二侧壁222靠近第一侧面213的一端的壁厚。第一侧壁221与第二侧壁222的一端的厚度小于另一端的厚度，在输出光纤100安装过程中，输出光纤100的金属壳体130撑开第一侧壁221与第二侧壁222，第一侧壁221与第二侧壁222的端部较薄变形容易，输出光纤100顺利进入的同时，避免刮花输出光纤100，在输出光纤100进入第一安装槽220以后，第一侧壁221与第二侧壁222另一端的厚度较厚变形难度高，防止输出光纤100因第一侧壁221和第二侧壁222变形滑出，保证输出光纤100安装稳固。沿垂直于第一安装槽220的长度方向作截面，第一安装槽220的截面形状为“u”字型。具体的，第一安装槽220包括第一子槽224和第二子槽225，第一子槽224靠近第一端211，第一侧壁221和第二侧壁222位于第一子槽224上。第一子槽224与第二子槽225间隔设置，第一子槽224与第二子槽225之间的基体210的第一侧面213设有凹陷区214。第一子槽224承托金属壳体130靠近端帽120的一部分，第二子槽225承托金属壳体130靠近另一端的一部分，金属壳体130中间部分位于凹陷区214内。在光纤激光测试过程中，可利用红外测温仪从凹陷区214位置处监测金属壳体130的温度。上述的第一子槽224具有第一槽段和第二槽段，第一槽段的尺寸与金属壳体130的第二段133的外径尺寸适配，第一侧壁221、第二侧壁222从第一槽段向上延伸凸出第一侧面213，第二槽段的尺寸与金属壳体130的第三段134的外径尺寸适配。第一侧壁221和第二侧壁222作用在金属壳体130最粗的位置处，夹持效果更好，更加稳固。沿垂直于第一安装槽220的长度方向作截面，第二安装槽230的截面形状为“v”字型。作为变形的，第
二安装槽230的截面形状也可以为半圆形。光纤固定工装还包括挡板240，挡板240设置于第一侧面213上，挡板240靠近第二端212，挡板240具有凹槽241，凹槽241用于供输出光纤100延伸出。凹槽241为“v”字型，方便输出光纤100进出，挡板240现在限制输出光纤100，避免输出光纤100从第二安装槽230滑出，保证输出光纤100位于同一轴线上。基体210上开设有安装孔215。通过安装孔215与水冷板或者工作台连接。
36.上述的冷却组件300包括水冷板，待测试光纤激光器安装在水冷板上，通过水冷板内的循环冷却水带走待测试光纤激光器测试过程中产生的热量，避免待测试光纤激光器因发热烧毁，保证待测试光纤激光器的可靠性。
37.上述的温度检测装置包括红外测温仪和设置于水冷板上的温度传感器，温度传感器用于实时检测待测试光纤激光器壳体的第一温度值，红外测温仪用于实时检测输出光纤端帽的第二温度值。
38.上述的功率检测装置为积分球，积分球的入光端与输出光纤100的出光端相对，通过积分球检测从输出光纤100射出的激光束的光强度，根据光强度计算光功率。
39.参见图2所示，控制器与上述的功率检测装置和温度检测装置分别连接，控制器用于接收光功率、第一温度值和第二温度值；在测试时间段内，根据光功率判断待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据第一温度值和第二温度值判断待测试光纤激光器与冷却组件和端帽是否存在安装异常，并输出异常结果。
40.可以理解的，在激光器老化测试过程中，通过输出光纤将待测试光纤激光器射出的激光束射入积分球内，通过积分球检测待测试光纤激光器的光功率，温度检测装置实时检测待测试光纤激光器壳体的第一温度值和输出光纤端帽处的第二温度值，避免出现待测试光纤激光器与冷却组件存在组装不良，或者输出光纤的端帽存在异常，并输出异常结果，方便操作人员排除故障，避免影响老化测试结果，保证测试结果的准确性。
41.在一些实施方式中，控制器内设有功率阈值、第一温度阈值和第二温度阈值，控制器用于将光功率与功率阈值比较，在测试时间段内，若光功率超过功率阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格；将第一温度值与第一温度阈值比较，若第一温度值超过第一温度阈值，判断出待测试光纤激光器与冷却组件组装不良；将第二温度值与第二温度阈值比较，若第二温度值超过第二温度阈值，判断出端帽异常。
42.可以理解的，在测试时间段内，分别将第一温度值与第一温度阈值比较、第二温度值与第二温度阈值比较、光功率与功率阈值比较，若出现光功率大于功率阈值的情况，说明待测试激光器的老化测试结果不合格，若出现第一温度值大于第一温度阈值，说明待测试光纤激光器与冷却组件组装不良，若出现第二温度值大于第二温度阈值，说明输出光纤100的端帽存在异常。从第一温度值和第二温度值排除待测试光纤激光器自身的问题，保证待测试光纤激光器测试结果的准确性。
43.在上述实施方式的基础上，在判断出待测试光纤激光器与冷却组件组装不良之后，控制器还用于输出将待测试光纤激光器与所述冷却组件重新组装的提示信息。
44.在上述实施方式的基础上，在判断出端帽异常之后，控制器还用于输出更换或擦拭端帽的提示信息。
45.可以理解的，控制器可以与显示屏连接，在第一温度值大于第一温度阈值以后，控制器判断出待测试光纤激光器与冷却组件组装不良，还输出将待测试光纤激光器与水冷组
装重新组装的提示信息，在第二温度值大于第二温度阈值以后，控制器判断出输出光纤的端帽异常，还输出更换或擦拭端帽的提示信息，操作人员可从显示屏上直接接收到提示信息，方便用户操作。
46.在用户将待测试光纤激光器与水冷组件重新组装后，或者，更换或擦拭端帽后，继续进行待测试光纤激光器的老化测试，直至待测试光纤激光器与水冷组件重新组装前后，或者，更换或擦拭端帽前后的测试时间累计达到测试时间段，完成待测试光纤激光器的一次老化测试。可以理解为，待测试光纤激光器与水冷组件重新组装后，或者，更换或擦拭端帽的行为属于中断老化测试的行为，不会影响整个测试时长。
47.在上述实施方式的基础上，为了提高待测试光纤激光器老化测试结果的准确多，控制器还用于生成功率-时间曲线；预设曲率阈值；若光功率未超过功率阈值，将功率-时间曲线的曲率与曲率阈值比较，判断待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。
48.可以理解的，在光纤激光器老化测试过程中，可以只根据光功率来判断待测试光纤激光器的测试结果是否合格，诸如若光功率超过光功率阈值判断出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格，若光功率未超过光功率阈值判断出待测试光纤激光器的老化测试结果合格。
49.也可以将光功率与光功率变化情况结合来判断待测试光纤激光器的测试结果是否合格，诸如若光功率超过光功率阈值判断出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格；若光功率未超过光功率阈值，比较功率-时间曲线的曲率与曲率阈值，若曲率大于曲率阈值，说明待测试光纤激光器的功率变化较大，待测试光纤激光器的性能不稳定，待测试光纤激光器的老化测试结果不合格，若曲线小于曲率阈值，说明待测试光纤激光器的功率变化较小，待测试光纤激光器的性能稳定，待测试光纤激光器的老化测试结果核稿。从功率和曲率两个维度综合判断待测试光纤激光器的老化情况，提高测试结果。
50.在上述实施方式的基础上，输出光纤可以为单包层光纤或者双包层光纤，当输出光纤为双包层光纤时，温度检测装置还用于检测输出光纤包层的第三温度值，控制器内设有第三温度阈值，控制器用于接收第三温度值，在测试时间段内，将第三温度值与第三温度阈值比较，判断待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。若第三温度值大于第三温度阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格，若第三温度值小于第三温度阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果合格。
51.可以理解的，当根据光功率和第三温度值判断待测试光纤激光器的老化测试结构是否合格时，若光功率小于功率阈值且第三温度值小于第三温度阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果合格，反之，则输出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格。当根据光功率、功率-时间曲线的曲率和第三温度值判断待测试光纤激光器的老化测试结构是否合格时，若光功率小于功率阈值、功率-时间曲线的曲率小于曲率阈值且第三温度值小于第三温度阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果合格，其他均不合格。设置多个参数，从多个维度检测待测试光纤激光器，测试结果准确。
52.此外，从光功率和第三温度值出现异常，还能够提示待测试光纤激光器可能存在的问题，光功率异常说明待测试激光器的芯片存在问题，第三温度值异常能够说明待测试光纤激光器的封装存在问题，能够指导待测试光纤激光器返修，方便用户操作。
53.参见图8所示，图8为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法的流程图。
54.本技术实施例还提供一种光纤激光器测试方法，应用于上述任意一项的光纤激光器测试系统，该方法包括以下步骤：s1，获取待测试光纤激光器输出的激光束的光功率、待测试光纤激光器上的第一温度值和端帽上的第二温度值；s2，在测试时间段内，根据所述光功率，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；s3，在测试时间段内，根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器和所述端帽是否存在异常，并输出异常原因。
55.参见图10所示，图10为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法中步骤s2的流程图。
56.在一些实施方式中，上述s2包括以下具体步骤：s21，设置功率阈值；s22，将光功率与功率阈值比较；s23，在测试时间段内，若光功率超过功率阈值，判断出待测试光纤激光器的老化测试结果不合格。
57.在一些实施方式中，参见图10所示， 上述s2还以下具体步骤：s24，测试时间段内，若所述光功率未超过所述功率阈值，生成功率-时间曲线；s25，预设曲率阈值；s26，若所述光功率未超过所述功率阈值，将所述功率-时间曲线的曲率与所述曲率阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。
58.参见图11所示，图11为本技术实施例提供的光纤激光器测试方法中步骤s3的流程图。
59.在一些实施方式中，上述s3包括以下具体步骤：s31，设置第一温度阈值和第二温度阈值；s32，在测试时间段内，将第一温度值与第一温度阈值比较，在测试时间内，若第一温度值超过第一温度阈值，判断出待测试光纤激光器与冷却组件组装不良，并输出将待测试光纤激光器与冷却组件重新组装的提示信息；s33，在测试时间段内，将第二温度值与第二温度阈值比较，若第二温度值超过第二温度阈值，判断出端帽异常，并输出更换或擦拭端帽的提示信息。
60.参见图9所示，图9为本技术实施例提供的输出光纤为双包层光纤时光纤激光器测试方法的流程图。
61.在一些实施方式中，若输出光纤为双包层光纤，还包括以下步骤：s4，获取输出光纤包层的第三温度值，预设第三温度阈值，在测试时间段内，将第三温度值与第三温度阈值比较，判断待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。
62.可以理解的，若测试时间段内，第三温度值超过第三温度阈值，判断待测试光纤激光器的老化测试结果不合格。
63.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
64.在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。
65.以上对本技术实施例所提供的光纤激光器测试系统及测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。

技术特征：
1.一种光纤激光器测试系统，其特征在于，包括：输出光纤，包括光纤本体和金属壳体，所述光纤本体的一端连接待测试光纤激光器，所述光纤本体的另一端熔接有端帽，所述金属壳体套设于所述端帽和所述光纤本体上；光纤固定工装，用于固定所述输出光纤；冷却组件，用于给所述待测试光纤激光器和所述端帽冷却降温；功率检测装置，用于实时检测所述输出光纤射出的激光束的光功率；温度检测装置，用于实时检测所述待测试光纤激光器上的第一温度值和所述端帽的第二温度值；控制器，所述功率检测装置和所述温度检测装置连接，所述控制器用于：接收所述光功率、所述第一温度值和所述第二温度值；在测试时间段内，根据所述光功率判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器与所述冷却组件和所述端帽是否存在安装异常，并输出异常结果。2.根据权利要求1所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，还包括：所述控制器内设有功率阈值、第一温度阈值和第二温度阈值，所述控制器用于：将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率超过所述功率阈值，判断出所述待测试光纤激光器的老化测试结果不合格；将所述第一温度值与所述第一温度阈值比较，若所述第一温度值超过所述第一温度阈值，判断出所述待测试光纤激光器与所述冷却组件组装不良；将所述第二温度值与所述第二温度阈值比较，若所述第二温度值超过所述第二温度阈值，判断出所述端帽异常。3.根据权利要求2所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，在所述判断出所述待测试光纤激光器与所述冷却组件组装不良之后，所述控制器还用于：输出将所述待测试光纤激光器与所述冷却组件重新组装的提示信息。4.根据权利要求2所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，在所述判断出所述端帽异常之后，所述控制器还用于：输出更换或擦拭所述端帽的提示信息。5.根据权利要求2所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，所述控制器还用于：生成功率-时间曲线；预设曲率阈值；若所述光功率未超过所述功率阈值，将所述功率-时间曲线的曲率与所述曲率阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。6.根据权利要求1所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，若所述输出光纤为双包层光纤，所述温度检测装置还用于检测所述输出光纤包层的第三温度值，所述控制器内设有第三温度阈值，所述控制器用于：接收所述第三温度值；在测试时间段内，将所述第三温度值与所述第三温度阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。
7.一种光纤激光器测试方法，应用于上述权利要求1至6任意一项所述的光纤激光器测试系统，其特征在于，包括以下步骤：获取待测试光纤激光器输出的激光束的光功率、待测试光纤激光器上的第一温度值和端帽上的第二温度值；在测试时间段内，根据所述光功率，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器和所述端帽是否存在异常，并输出异常原因。8.根据权利要求7所述的光纤激光器测试方法，其特征在于，所述根据所述第一温度值和所述第二温度值判断所述待测试光纤激光器和所述端帽是否存在异常，并输出异常原因，包括以下步骤：设有第一温度阈值和第二温度阈值；在测试时间段内，将所述第一温度值与所述第一温度阈值比较，在测试时间内，若所述第一温度值超过所述第一温度阈值，判断出所述待测试光纤激光器与冷却组件组装不良，并输出将所述待测试光纤激光器与所述冷却组件重新组装的提示信息；在测试时间段内，将所述第二温度值与所述第二温度阈值比较，若所述第二温度值超过所述第二温度阈值，判断出所述端帽异常，并输出更换或擦拭所述端帽的提示信息。9.根据权利要求8所述的光纤激光器测试方法，其特征在于，所述根据所述光功率，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果，包括以下步骤：设置功率阈值；将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率超过所述功率阈值，判断出所述待测试光纤激光器的老化测试结果不合格。10.根据权利要求9所述的光纤激光器测试方法，其特征在于，将所述光功率与所述功率阈值比较，在测试时间段内，若所述光功率未超过所述功率阈值，还包括如下步骤：生成功率-时间曲线；预设曲率阈值；将所述功率-时间曲线的曲率与所述曲率阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格。11.根据权利要求7所述的光纤激光器测试方法，其特征在在于，若所述输出光纤为双包层光纤，还包括以下步骤：获取所述输出光纤包层的第三温度值；预设第三温度阈值；在测试时间段内，将所述第三温度值与所述第三温度阈值比较，判断所述待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果。

技术总结
本申请公开一种光纤激光器测试系统及测试方法，该系统包括输出光纤、光纤固定工装、冷却组件、功率检测装置、温度检测装置和控制器，控制器，分别与功率检测装置和温度检测装置连接，控制器用于接收光功率、第一温度值和第二温度值；在测试时间段内，根据光功率判断待测试光纤激光器的老化测试结果是否合格，并输出测试结果；在测试时间段内，根据第一温度值和第二温度值判断待测试光纤激光器与冷却组件和端帽是否存在安装异常，并输出异常结果。减少了回返光对待测试光纤激光器的影响，解决了因回返光导致光纤激光器在测试过程中损伤和影响测试结果准确性的问题，避免因安装结构异常，影响老化测试结果，保证测试结果的准确性。保证测试结果的准确性。保证测试结果的准确性。


技术研发人员：王子威 胡慧璇 闫大鹏
受保护的技术使用者：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
技术研发日：2023.07.19
技术公布日：2023/8/24