一种芯片检测仪用取载料设备的制作方法

1.本实用新型属于芯片检测技术领域，特别是涉及一种芯片检测仪用取载料设备。


背景技术：

2.随着芯片产业的发展，芯片的种类也愈加丰富，随之而来的是芯片的复杂度越来越高，其内部的模块越来越多，制造工艺也是越来越先进，对应的则是失效模式越来越多，因此，为了保证成品质量，在芯片制造完成并正式量产前，需要对芯片进行检测。
3.芯片检测工作需要借助于专门的芯片检测设备，目前市面上存在一些芯片检测设备，如中国专利网上公开了一种蓝牙芯片检测用工装，其公开号为cn215263864u，这种芯片检测设备虽然可用于芯片的检测，但是存在一些缺陷和不足有待改进：(1)现有的芯片检测设备连续性较差，检测时需要将待检测的芯片逐个放置于检测仪上，同时还需要在每次检测完成后将芯片从检测仪上取下，而难以对多个芯片进行连续检测，不仅降低了整个检测工作的效率，也提高了检测人员的工作量；(2)现有的芯片检测设备在进行检测时，一般都需要将芯片放置于指定的卡槽结构内，以进行限位和固定，当检测完成后，芯片往往会贴合在卡槽结构内难以取出，需要将手指伸入卡槽结构后将芯片扣出，这个过程不仅非常不便，同时也容易造成芯片的表面产生磨损；(3)现有的芯片检测设备缺少防尘措施，当长时间闲置时，检测设备的表面容易粘附大量的灰尘，从而影响检测设备的使用寿命。因此，针对以上问题，本实用新型提供的一种芯片检测仪用取载料设备具有重要意义。


技术实现要素：

4.本实用新型提供了一种芯片检测仪用取载料设备，解决了以上问题。
5.为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：
6.本实用新型的一种芯片检测仪用取载料设备，包括底座，所述底座的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈l形，其顶部固定安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出轴底端安装有检测组件，所述检测组件的下方分别设置有载料机构和取料机构；
7.所述载料机构包括电机，所述电机固定安装在底座上，其输出轴顶端固定连接有传动板，所述传动板为圆形，其表面开设有若干个安装孔，且所述传动板的顶部安装有载料盘，所述载料盘为圆形，其顶部固定连接有若干个载料台，且所述载料盘的底部固定连接有若干个螺柱，所述螺柱上螺纹连接有与其相配合的螺母，所述载料台以载料盘为中心呈环形阵列分布，其表面开设有载料槽，所述载料槽的槽底开设有取料孔，所述取料孔贯穿传动板，且所述取料孔与检测组件的中心位于同一条直线上；
8.所述取料机构包括取料盒，所述取料盒固定连接在底座上，并位于检测架和电机之间，且所述取料盒的内部安装有电磁铁，所述电磁铁的正上方设置有顶料板，所述顶料板的顶部固定连接有顶料柱，其底部固定连接有铁块，且所述顶料板的底部两侧均固定连接有若干根弹簧，所述弹簧的底端固定连接在取料盒的顶部。
9.进一步地，所述顶料柱的直径与取料孔的孔径相等，其中心位于同一条直线上，且
所述顶料柱的顶部表面安装有一层缓冲垫。
10.进一步地，所述螺柱与安装孔均呈环形阵列分布，其数量相同，直径相等，且每个所述螺柱均与对应的安装孔中心位于同一条直线上。
11.进一步地，所述底座的顶部两侧均固定连接有一对卡块，所述卡块呈l形，且所述卡块之间安装有防尘盖，所述防尘盖的两侧底端均呈l形。
12.进一步地，所述底座的底部表面安装有若干块防滑垫，所述防滑垫呈等距分布，且每块所述防滑垫的表面均刻有人字形防滑纹。
13.本实用新型相对于现有技术包括有以下有益效果：
14.(1)本实用新型中的取载料设备在使用时，可通过载料机构中各个构件之间的相互配合对多个芯片进行连续检测，而无需频繁地放置和取下芯片，不仅提高了检测工作的效率，同时也大大减小了检测人员的工作量；
15.(2)本实用新型中的取载料设备在使用时，可通过取料机构中各个构件之间的相互配合将检测完成的芯片顶出对应的载料槽，以完成芯片的取料，而无需将手伸入载料槽内将芯片扣出，不仅大大提高取料过程的便利性，同时也避免了芯片的表面产生磨损；
16.(3)本实用新型中的取载料设备在使用时，可通过防尘盖起到防尘的作用，以防止芯片检测设备在长时间闲置后，表面粘附大量的灰尘而影响其使用寿命；
17.(4)本实用新型中的取载料设备在使用时，可通过底座底部各个防滑垫表面的防滑纹增大底座与接触面之间的摩擦力，以便提高底座连同该取载料设备的稳定性，从而防止其在检测过程中发生打滑和位移。
18.当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
19.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1为本实用新型的一种芯片检测仪用取载料设备的立体结构示意图；
21.图2为本实用新型的一种芯片检测仪用取载料设备的结构侧视图；
22.图3为本实用新型中底座与防尘盖的结构主视图；
23.图4为本实用新型中载料机构的立体结构示意图；
24.图5为本实用新型中传动板的结构俯视图；
25.图6为本实用新型中载料盘的结构俯视图；
26.图7为本实用新型中取料机构的立体结构示意图；
27.图8为本实用新型中取料机构的主剖视图。
28.附图中，各标号所代表的部件列表如下：
29.1、底座；2、检测架；3、电动伸缩杆；4、检测组件；5、电机；6、传动板；7、安装孔；8、载料盘；9、载料台；10、螺柱；11、螺母；12、载料槽；13、取料孔；14、取料盒；15、电磁铁；16、顶料板；17、顶料柱；18、铁块；19、弹簧；20、缓冲垫；21、卡块；22、防尘盖；23、防滑垫。
具体实施方式
30.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
31.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“相对”、“一端”、“内部”、“横向”、“端部”、“两端”、“两侧”、“正面”、“一端面”、“另一端面”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
32.请参阅图1-8所示，本实用新型的一种芯片检测仪用取载料设备，包括底座1，底座1的顶部固定连接有检测架2，检测架2的侧面呈l形，其顶部固定安装有电动伸缩杆3，电动伸缩杆3的输出轴底端安装有检测组件4，检测组件4的下方分别设置有载料机构和取料机构；
33.载料机构包括电机5，电机5固定安装在底座1上，其输出轴顶端固定连接有传动板6，传动板6为圆形，其表面开设有若干个安装孔7，且传动板6的顶部安装有载料盘8，载料盘8为圆形，其顶部固定连接有若干个载料台9，且载料盘8的底部固定连接有若干个螺柱10，螺柱10上螺纹连接有与其相配合的螺母11，载料台9以载料盘8为中心呈环形阵列分布，其表面开设有载料槽12，载料槽12的槽底开设有取料孔13，取料孔13贯穿传动板6，且取料孔13与检测组件4的中心位于同一条直线上，载料槽12内可放置待检测的芯片，通过驱动电机5可带动传动板6连同载料盘8进行旋转，当待检测芯片所在的载料槽12转动至检测组件4的正下方后，即可利用检测组件4对芯片进行相关的检测工作，载料盘8上设置有多个载料台9，每个载料台9上的载料槽12内即可放置待检测的芯片，在完成一个芯片的检测工作后，驱动电机5使其带动载料盘8转动，直至下一个芯片所在的载料槽12转动至检测组件4的正下方，即可对下一个芯片进行检测，从而无需频繁地放置和取下芯片即可对多个芯片进行连续检测，不仅提高了检测工作的效率，同时也大大减小了检测人员的工作量；
34.取料机构包括取料盒14，取料盒14固定连接在底座1上，并位于检测架2和电机5之间，且取料盒14的内部安装有电磁铁15，电磁铁15的正上方设置有顶料板16，顶料板16的顶部固定连接有顶料柱17，其底部固定连接有铁块18，且顶料板16的底部两侧均固定连接有若干根弹簧19，弹簧19的底端固定连接在取料盒14的顶部，电磁铁15通电时可产生磁力，此时铁块18会在磁力吸引下连同顶料板16一起被吸附在电磁铁15的顶部，并压缩弹簧19，而当电磁铁15断电后，磁力消失，顶料板16会在弹簧19的弹性复位作用下带动顶料柱17向上移动，通过顶料柱17可将检测完成的芯片顶出对应的载料槽12，从而大大提高了芯片取出的便利性。
35.其中，顶料柱17的直径与取料孔13的孔径相等，其中心位于同一条直线上，且顶料柱17的顶部表面安装有一层缓冲垫20，缓冲垫20为橡胶材质，具有弹性，可起到缓冲保护的效果，以避免顶料柱17将芯片顶出载料槽12时，芯片与顶料柱17直接接触而产生碰撞和磨损。
36.其中，螺柱10与安装孔7均呈环形阵列分布，其数量相同，直径相等，且每个螺柱10均与对应的安装孔7中心位于同一条直线上，各个螺柱10可分别对准并穿过对应的安装孔
7，此时将螺母11螺纹连接在各个螺柱10上后，可通过螺柱10与螺母11之间的相互配合将载料盘8固定安装在传动板6的顶部，通过旋下螺母11可将载料盘8从传动板6上取下，以便根据需要对整个载料机构进行拆卸。
37.其中，底座1的顶部两侧均固定连接有一对卡块21，卡块21呈l形，且卡块21之间安装有防尘盖22，防尘盖22的两侧底端均呈l形，防尘盖22的两侧底端可分别插接在两个卡块21上，以便将防尘盖22固定安装在底座1，通过防尘盖22可起到防尘的作用，以防止芯片检测设备在长时间闲置后，表面粘附大量的灰尘而影响其使用寿命。
38.其中，底座1的底部表面安装有若干块防滑垫23，防滑垫23呈等距分布，且每块防滑垫23的表面均刻有人字形防滑纹，通过各个防滑垫23表面的防滑纹可增大底座1与接触面之间的摩擦力，以便提高底座1连同该取载料设备的稳定性，从而防止其在检测过程中发生打滑和位移。
39.本实用新型中的检测组件4和电磁铁15以及涉及到的电路、电子元器件和芯片模块均为现有技术，本领域技术人员完全可以实现，无需赘言，本实用新型保护的内容也不涉及对于软件和方法的改进。
40.本实用新型的工作原理是：
41.本实用新型在使用时，本实用新型在使用时，首先将该设备中的电器元件均通过导线外接控制开关和电源，并对电磁铁15进行通电，然后将多个待检测的芯片分别放置于对应载料台9表面的载料槽12内，当需要对芯片进行检测时，驱动电机5使其带动传动板6连同载料盘8进行旋转，当待检测芯片所在的载料槽12转动至检测组件4的正下方后，驱动电动伸缩杆3使其带动检测组件4向下移动，即可利用检测组件4对芯片进行相关的检测工作，在完成一个芯片的检测工作后，驱动电机5使其带动载料盘8转动，直至下一个芯片所在的载料槽12转动至检测组件4的正下方后，即可对下一个芯片进行检测，从而无需频繁地放置和取下芯片即可对多个芯片进行连续检测，不仅提高了检测工作的效率，同时也大大减小了检测人员的工作量，当完成所有的芯片检测工作后，驱动电机5转动载料盘8，直至载料槽12槽底的取料孔13与顶料柱17对齐后，断开电磁铁15的电源，顶料板16会因为磁力消失而在弹簧19的弹性复位作用下带动顶料柱17向上移动，此时顶料柱17穿过取料孔13并将检测完成的芯片顶出对应的载料槽12，即可完成芯片的取料，而无需将手伸入载料槽12内将芯片扣出，不仅大大提高取料过程的便利性，同时也避免了芯片的表面产生磨损，当该设备长时间闲置后，可将防尘盖22的两侧底端分别插接在两个卡块21上，以便将防尘盖22固定安装在底座1，从而可通过防尘盖22起到防尘的作用，以防止芯片检测设备在长时间闲置后，表面粘附大量的灰尘而影响其使用寿命。
42.以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

技术特征：
1.一种芯片检测仪用取载料设备，其特征在于，包括底座，所述底座的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈l形，其顶部固定安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出轴底端安装有检测组件，所述检测组件的下方分别设置有载料机构和取料机构；所述载料机构包括电机，所述电机固定安装在底座上，其输出轴顶端固定连接有传动板，所述传动板为圆形，其表面开设有若干个安装孔，且所述传动板的顶部安装有载料盘，所述载料盘为圆形，其顶部固定连接有若干个载料台，且所述载料盘的底部固定连接有若干个螺柱，所述螺柱上螺纹连接有与其相配合的螺母，所述载料台以载料盘为中心呈环形阵列分布，其表面开设有载料槽，所述载料槽的槽底开设有取料孔，所述取料孔贯穿传动板，且所述取料孔与检测组件的中心位于同一条直线上；所述取料机构包括取料盒，所述取料盒固定连接在底座上，并位于检测架和电机之间，且所述取料盒的内部安装有电磁铁，所述电磁铁的正上方设置有顶料板，所述顶料板的顶部固定连接有顶料柱，其底部固定连接有铁块，且所述顶料板的底部两侧均固定连接有若干根弹簧，所述弹簧的底端固定连接在取料盒的顶部。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测仪用取载料设备，其特征在于，所述顶料柱的直径与取料孔的孔径相等，其中心位于同一条直线上，且所述顶料柱的顶部表面安装有一层缓冲垫。3.根据权利要求1所述的一种芯片检测仪用取载料设备，其特征在于，所述螺柱与安装孔均呈环形阵列分布，其数量相同，直径相等，且每个所述螺柱均与对应的安装孔中心位于同一条直线上。4.根据权利要求1所述的一种芯片检测仪用取载料设备，其特征在于，所述底座的顶部两侧均固定连接有一对卡块，所述卡块呈l形，且所述卡块之间安装有防尘盖，所述防尘盖的两侧底端均呈l形。5.根据权利要求1所述的一种芯片检测仪用取载料设备，其特征在于，所述底座的底部表面安装有若干块防滑垫，所述防滑垫呈等距分布，且每块所述防滑垫的表面均刻有人字形防滑纹。

技术总结
本实用新型公开了一种芯片检测仪用取载料设备，包括底座，所述底座的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈L形，其顶部固定安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出轴底端安装有检测组件，所述检测组件的下方分别设置有载料机构和取料机构。本实用新型可对多个芯片进行连续检测，检测效率高，工作量小，并且取料过程方便，芯片表面不易产生磨损，此外还可在长时间闲置时起到防尘的作用，以防止芯片检测设备表面粘附大量的灰尘而影响使用寿命。测设备表面粘附大量的灰尘而影响使用寿命。测设备表面粘附大量的灰尘而影响使用寿命。


技术研发人员：陈建新
受保护的技术使用者：上海益深电子有限公司
技术研发日：2023.03.15
技术公布日：2023/9/1