自动化下压锁紧测试座的制作方法

1.本实用新型涉及电子器件封装测试技术领域，具体涉及自动化下压锁紧测试座。


背景技术：

2.在电子封装器件生产过程中为了实现对to220、to3p、to247型电子封装器件性能的评估，需要采用测试座来将to220、to3p、to247型电子封装器件与测试设备之间导通。
3.目前用于对to220、to3p、to247型电子封装器件进行测试的测试座主要由底座、开设在底座上的插槽、安装在底座上的测试插针以及安装在底座上侧的压盖构成，该种结构的锁紧测试座在使用时虽然能够实现对to220、to3p、to247型电子封装器件的锁紧固定，但是该种结构的锁紧测试座整个操作必须由人工手动操作来完成，无法借助外部自动化设备来实现被测试的to220、to3p、to247型电子封装器件的便捷拆装，一方面会大大增加to220、to3p、to247型电子封装器件在测试时的用工成本，另一方面还会大大增加人工劳动强度，降低to220、to3p、to247型电子封装器件的测试效率。


技术实现要素：

4.(一)要解决的技术问题
5.本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种能够借助外部自动化设备来实现to220、to3p、to247型电子封装器件自动化测试操作，降低用工成本，并提高测试效率的自动化下压锁紧测试座。
6.(二)技术方案
7.本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了自动化下压锁紧测试座，包括测试座底座，所述测试座底座中部安装有测试座插针，所述测试座底座上端两侧通过注塑方式成型有测试座底座锁扣，所述测试座底座上端四角处固定有导向柱，所述导向柱外侧布设有测试座弹簧，所述测试座弹簧顶端连接有测试座上盖，所述测试座上盖上与所述测试座底座锁扣配合部位固定有测试座上盖锁扣，所述测试座上盖底端正对所述测试座插针上端两侧处通过注塑方式成型有压块。
8.进一步的，所述测试座上盖中安装有器件本体，所述器件本体贯穿所述测试座上盖。
9.通过采用上述技术方案，所述器件本体为to220、to3p以及to247三种型号的电子封装器件。
10.进一步的，所述测试座插针与所述测试座底座插接，且所述测试座插针为一体式结构，所述测试座插针采用铍铜制成。
11.通过采用上述技术方案，这样设计能够实现所述测试座插针的可靠安装固定，且确保所述测试座插针具有一定的弹性。
12.进一步的，所述导向柱和所述测试座底座为一体结构，都由注塑加工制成，所述测试座弹簧内径大于所述导向柱外径。
13.通过采用上述技术方案，在所述导向柱的作用下能够实现所述测试座弹簧的稳定上下移动。
14.进一步的，所述测试座弹簧顶端与所述测试座上盖插接，所述测试座上盖底端正对所述测试座弹簧处为内凹结构，所述测试座弹簧与所述测试座底座挂钩连接。
15.通过采用上述技术方案，在所述测试座弹簧作用下能够实现所述测试座上盖在下压后的自动回弹复位。
16.进一步的，所述测试座底座锁扣结构与所述测试座上盖锁扣结构相匹配，且所述测试座上盖锁扣成型于所述测试座上盖上，所述测试座底座锁扣成型于所述测试座底座上。
17.通过采用上述技术方案，通过所述测试座上盖锁扣与所述测试座底座锁扣配合能够实现所述测试座上盖的可靠安装固定，也就是说所述测试座上盖能够始终固定在所述测试座底座上，且可以相对上下滑动，这样设计是为了方便在所述测试座上盖下压时实现所述测试插针的便捷撑开，从而方便借助外部自动化设备来实现所述器件本体在该测试座上的自动化拆装测试。
18.进一步的，所述测试座上盖以及所述测试座底座上均开设有供所述器件本体的引脚插入的孔洞。
19.通过采用上述技术方案，这样能够确保所述测试插针在所述测试座上盖上的可靠安装固定。
20.(三)有益效果
21.本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：
22.为解决目前用于对to220、to3p、to247型电子封装器件进行测试的测试座主要由底座、开设在底座上的插槽、安装在底座上的测试插针以及安装在底座上侧的压盖构成，该种结构的锁紧测试座在使用时虽然能够实现对to220、to3p、to247型电子封装器件的锁紧固定，但是该种结构的锁紧测试座整个操作必须由人工手动操作来完成，无法借助外部自动化设备来实现被测试的to220、to3p、to247型电子封装器件的便捷拆装，一方面会大大增加to220、to3p、to247型电子封装器件在测试时的用工成本，另一方面还会大大增加人工劳动强度，降低to220、to3p、to247型电子封装器件的测试效率的问题，本实用新型通过测试座上盖、测试座弹簧、测试座插针、测试座底座、导向柱以及压块的配合设计，使得该锁紧测试座在对to220、to3p、to247型电子封装器件进行测试时能够在外部自动下压部件作用下实现测试座上盖的便捷下压，以便实现测试座插针的撑开，同时配合外部夹紧升降部件来使待测试的器件本体向测试座底座上便捷拔插，从而在外部自动化设备协助下实现对to220、to3p、to247型电子封装器件的自动化测试操作，大大提高了锁紧测试座的测试效率，同时节省测试过程中的用工成本。
附图说明
23.图1是本实用新型所述自动化下压锁紧测试座的结构示意图；
24.图2是本实用新型所述自动化下压锁紧测试座的左剖视图；
25.图3是本实用新型所述自动化下压锁紧测试座的主剖视图；
26.图4是本实用新型所述自动化下压锁紧测试座中测试座插针的左剖视图。
27.附图标记说明如下：
28.1、器件本体；2、测试座上盖；3、测试座插针；4、测试座弹簧；5、测试座底座；6、测试座上盖锁扣；7、测试座底座锁扣；8、压块；9、导向柱。
具体实施方式
29.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
30.如图1-图4所示，本实施例中的自动化下压锁紧测试座，包括测试座底座5，测试座底座5中部安装有测试座插针3，测试座底座5上端两侧通过注塑方式成型有测试座底座锁扣7，测试座底座5上端四角处通过注塑方式成型有导向柱9，导向柱9外侧布设有测试座弹簧4，测试座弹簧4顶端连接有测试座上盖2，在测试座弹簧4作用下能够实现测试座上盖2在下压后的自动回弹复位，测试座上盖2上与测试座底座锁扣7配合部位固定有测试座上盖锁扣6，测试座上盖2底端正对测试座插针3上端两侧处通过注塑方式成型有压块8，通过测试座上盖锁扣6与测试座底座锁扣7配合能够实现测试座上盖2的可靠安装固定，也就是说测试座上盖2能够始终固定在测试座底座5上，且可以相对上下滑动，这样设计是为了方便在测试座上盖2下压时在压块8作用下实现测试插针的便捷撑开，从而方便借助外部自动化设备来实现器件本体1在该测试座上的自动化拆装测试。
31.如图1-图4所示，本实施例中，测试座上盖2中安装有器件本体1，器件本体1贯穿测试座上盖2，器件本体1为to220、to3p以及to247三种型号的电子封装器件，测试座上盖2以及测试座底座5上均开设有供器件本体1的引脚插入的孔洞，这样能够确保测试插针在测试座上盖2上的可靠安装固定。
32.如图1-图4所示，本实施例中，测试座插针3与测试座底座5插接，且测试座插针3为一体式结构，测试座插针3采用铍铜制成，这样设计能够实现测试座插针3的可靠安装固定，且确保测试座插针3具有一定的弹性，导向柱9和测试座底座5是由同一模具注塑制成，实际上为一体部件，测试座弹簧4内径大于导向柱9外径，在导向柱9的作用下能够实现测试座弹簧4的稳定上下移动，测试座弹簧4顶端与测试座上盖2插接，测试座上盖2底端正对测试座弹簧4处为内凹结构，测试座弹簧4与测试座底座5挂钩连接，测试座底座锁扣7结构与测试座上盖锁扣6结构相匹配，且测试座上盖锁扣6成型于测试座上盖2上，测试座底座锁扣7成型于测试座底座5上。
33.本实施例的具体实施过程如下：当需要对to220、to3p以及to247型的器件本体1进行测试时，首先将该锁紧测试座安装在相应的测试位置，然后借助外部自动化下压机构来实现测试座上盖2的便捷下压，测试座上盖2下压后会通过压块8实现测试座插针3的便捷撑开，接着只需在外部自动化夹紧升降机构作用下将待测试的器件本体1插入到测试座底座5上，便可在外部自动化机构撤去后，通过测试座弹簧4来实现测试座上盖2的回弹复位，从而实现器件本体1的快速夹紧，以方便对器件本体1进行高效测试，由于整个测试过程中该种结构的锁紧测试座可与外部自动设备上的自动化机构配合来实现器件本体1的便捷拆装，从而有效提升了器件本体1的测试效率，节省了测试过程中的用工成本。
34.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新
型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：
1.自动化下压锁紧测试座，其特征在于：包括测试座底座(5)，所述测试座底座(5)中部安装有测试座插针(3)，所述测试座底座(5)上端两侧通过注塑方式成型有测试座底座锁扣(7)，所述测试座底座(5)上端四角处固定有导向柱(9)，所述导向柱(9)外侧布设有测试座弹簧(4)，所述测试座弹簧(4)顶端连接有测试座上盖(2)，所述测试座上盖(2)上与所述测试座底座锁扣(7)配合部位固定有测试座上盖锁扣(6)，所述测试座上盖(2)底端正对所述测试座插针(3)上端两侧处通过注塑方式成型有压块(8)。2.根据权利要求1所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述测试座上盖(2)中安装有器件本体(1)，所述器件本体(1)贯穿所述测试座上盖(2)。3.根据权利要求1所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述测试座插针(3)与所述测试座底座(5)插接，且所述测试座插针(3)为一体式结构，所述测试座插针(3)采用铍铜制成。4.根据权利要求1所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述导向柱(9)和所述测试座底座(5)一体结构，都由注塑加工制成，所述测试座弹簧(4)内径大于所述导向柱(9)外径。5.根据权利要求1所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述测试座弹簧(4)顶端与所述测试座上盖(2)插接，所述测试座上盖(2)底端正对所述测试座弹簧(4)处为内凹结构，所述测试座弹簧(4)与所述测试座底座(5)挂钩连接。6.根据权利要求1所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述测试座底座锁扣(7)结构与所述测试座上盖锁扣(6)结构相匹配，且所述测试座上盖锁扣(6)成型于所述测试座上盖(2)上，所述测试座底座锁扣(7)成型于所述测试座底座(5)上。7.根据权利要求2所述的自动化下压锁紧测试座，其特征在于：所述测试座上盖(2)以及所述测试座底座(5)上均开设有供所述器件本体(1)的引脚插入的孔洞。

技术总结
本实用新型公开了自动化下压锁紧测试座，包括测试座底座，所述测试座底座中部安装有测试座插针，所述测试座底座上端两侧安装有测试座底座锁扣。有益效果在于：本实用新型通过测试座上盖、测试座弹簧、测试座插针、测试座底座、导向柱以及压块的配合设计，使得该锁紧测试座在对TO220、TO3P、TO247型电子封装器件进行测试时能够在外部自动下压部件作用下实现测试座上盖的便捷下压，以便实现测试座插针的撑开，同时配合外部夹紧升降部件来使待测试的器件本体向测试座底座上便捷拔插，从而在外部自动化设备协助下实现对TO220、TO3P、TO247型电子封装器件的自动化测试操作，大大提高了锁紧测试座的测试效率，同时节省测试过程中的用工成本。工成本。工成本。


技术研发人员：朱雨帆 朱永汉
受保护的技术使用者：杭州瑞来电子有限公司
技术研发日：2023.04.10
技术公布日：2023/9/1