量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置与流程

1.本发明属于量子计算技术领域，特别涉及一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置、量子计算机、可读存储介质。


背景技术：

2.量子计算机是一种遵循量子力学规律调控量子信息单元进行计算的新型计算模式，量子比特需要工作在对磁通噪声敏感度最低的位置，使得量子比特有较长的退相干时间，此时量子比特所处的频率为最佳工作点。
3.量子比特在某个频率位置上的时候，与芯片工艺产生的微观缺陷等发生相互作用耦合会引发量子信息泄露(population loss即占据态发生跃迁丢失)，在做两比特门的过程中，会调低量子比特的频率，量子比特频率在下降过程中若穿过存在微观缺陷的位置时也会发生量子信息泄露，进而影响两比特门的保真度，因此，需要保证两比特门工作点远离这些存在相互作用耦合的频率位置点且避免调低量子比特频率的过程中会穿过这些存在相互作用耦合的频率位置点。为了确定这些存在会与量子比特发生相互作用耦合引发量子信息泄露的频率位置，需要提出一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法。
4.需要说明的是，公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法和装置、量子计算机、可读存储介质，用于确定量子比特装置在目标频率位置的量子信息泄露强度，以使得在做两比特门的过程中能够设置两比特门的工作点远离存在会与芯片工艺产生的微观缺陷发生相互作用耦合的频率位置，且能够在调低量子比特频率过程中避免穿过这些会引发量子信息泄露的频率位置，进而提高两比特门的保真度。
6.为实现上述目的，第一方面，本发明提供了一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法，包括：
7.获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度；
8.获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度；
9.根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。
10.可选的，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度前，还包括：
11.将非测量量子比特设置在第一工作点，所述非测量量子比特为量子芯片中除所述待测量子比特外的所有量子比特，所述第一工作点远离所述待测量子比特的工作点。
12.可选的，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度，包括：
13.重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，且每次执行后均获取所述待测量子比特的量子态；
14.基于多次获取的所述待测量子比特的量子态获取所述待测量子比特处于|1》态的第一保真度。
15.可选的，所述获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持在所述目标频率一定时间长度再恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度，包括：
16.重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定的时间长度后恢复至所述初始比特频率，并获取每次执行后所述待测量子比特的量子态；
17.基于多次获取的所述量子态获取所述待测量子比特中|1》态的第二保真度。
18.可选的，所述时间长度为50～100纳秒。
19.可选的，所述调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率，包括：
20.对所述待测量子比特施加一方波以使所述待测量子比特的所述初始比特频率调至所述目标频率。
21.可选的，所述根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度，包括：
22.获取所述待测量子比特的|1》态损失率，所述损失率的计算公式为：
[0023][0024]
基于所述损失率表征所述量子信息泄露强度。
[0025]
第二方面，本发明提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，能实现本发明提供的所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法。
[0026]
第三方面，本发明提供一种量子比特装置量子信息泄露的测试装置，包括：
[0027]
第一保真度获取模块，用于获取接收π脉冲后的待测量子比特中|1》态的第一保真度；
[0028]
第二保真度获取模块，用于获取所述待测量子比特接收π脉冲，再调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特中|1》态的第二保真度；
[0029]
量子信息泄露强度获取模块，用于根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。
[0030]
第四方面，本发明提供一种量子计算机，包括本发明提供的所述量子比特装置量子信息泄露的测试装置。
[0031]
与现有技术相比，本发明的技术方案具有如下有益效果：
[0032]
本发明提供的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，第一步获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度；第二步获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节
初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度；第三步根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。本发明提出的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，通过调节一接收π脉冲后的量子比特的频率至目标频率并保持一定的时间长度，若在目标频率位置量子比特与芯片工艺产生的微观缺陷发生了相互作用耦合，则在恢复量子比特的频率后，此时待测量子比特处于|1》态的保真度与待测量子比特刚接收π脉冲时处于|1》态保真度相比将发生较为显著的改变，根据所述保真度的变化即可量化量子信息的泄露情况，从而能够确定在目标频率位置是否存在量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离会引发量子信息泄露的频率位置，还可以在调节量子比特频率的过程中避免穿过这些会引发量子信息泄露的频率位置。
[0033]
本发明提出的量子比特装置量子信息泄露的测试装置、量子计算机及可读存储介质，与所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法，属于同一发明构思，因此具有相同的有益效果，在此不做赘述。
附图说明
[0034]
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]
图1是本发明一实施例的量子比特装置量子信息泄露的测试方法的流程示意图。
具体实施方式
[0036]
以下将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下面的描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0037]
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0038]
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。
[0039]
《实施例一》
[0040]
本实施例提出了一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法，请参考图1，图1为本实施例中所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法的流程示意图，从图1中可以看出，所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法包括以下步骤：
[0041]
s1：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度；
[0042]
s2：获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定
时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度；
[0043]
s3：根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。
[0044]
需要说明的是，在本实施例中，所述待测量子比特在接收π脉冲前应当处于|0》态，所述π脉冲的作用是将所述待测量子比特由|0》态翻转到|1》态。。
[0045]
本实施例提出的所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法，能够确定量子比特装置在目标频率位置的量子信息泄露强度，以使得在做两比特门的过程中能够设置两比特门的工作点远离会引发相互作用耦合的频率位置，且能够避免调节量子比特频率过程中会穿过这些会引发量子信息泄露的频率位置，进而提高两比特门的保真度。
[0046]
在所述步骤s1中，所述待测量子比特可以为设置于一量子芯片上的一量子比特，所述待测量子比特可以与所述量子芯片上的其他量子比特通过电容耦合连接，所述待测量子比特通常还耦合连接有xy信号传输线(或微波驱动线)和z信号传输线(或磁通偏置线)；xy信号传输线用于接收量子态调控信号，z信号传输线用于接收磁通量调控信号，磁通量调控信号包括偏置电压信号和/或脉冲偏置调控信号，所述偏置电压信号和所述脉冲偏置调控信号均可以对所述量子比特的频率进行调控。所述待测量子比特还耦合连接一谐振腔，可通过测量所述谐振腔的状态来确定所述待测量子比特所处的量子态。
[0047]
在所述步骤s1之前，还包括：
[0048]
将非测量量子比特设置在第一工作点，所述非测量量子比特为所述量子芯片中除所述待测量子比特外的所有量子比特，所述第一工作点远离所述待测量子比特的工作点；工作点即量子比特所处的频率，将所述非测量量子比特的工作点设置在所述第一工作点是为了避免后续在调节所述待测量子比特的初始比特频率至目标频率的过程中，所述待测量子比特与所述非测量量子比特发生接触耦合，进而影响对所述待测量子比特的保真度测量，影响对量子信息泄露强度的判断。
[0049]
同样地，在所述步骤s1中，π脉冲的目的是将所述待测量子比特的的量子态由|0》态翻转到|1》态，需要说明的是，在实际操作的过程中，由于环境噪声的影响，我们并不会得到完全处于|1》态的量子比特，因此，后续操作还需要获取所述待测量子比特处于|1》态的保真度。
[0050]
另外，在所述步骤s1中，还需要说明的是，接收π脉冲的目的是为了将所述待测量子比特的量子态由|0》态翻转到|1》态，也可以采用其他方式将所述待测量子比特的量子态由|0》态翻转到|1》态，另外，还需要说明的是，不论是采用π脉冲激发或者其他方式，都是为了使所述待测量子比特处于|1》态，因此，只需要是能够将所述待测量子比特的量子态设置到|1》态的其他方式均可。
[0051]
另外，还需要说明的是，除了|0》态和|1》态，还可以采用其他本征态来执行本实施例提供的所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法，例如采用|1》态与|2》态，只需要所选取的两个能级为可以区分的两个正交的能级即可。
[0052]
具体地，在所述步骤s1中，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度，包括：
[0053]
s11：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，且每次执行后均获取所述待测量子比特的量子态；
[0054]
s12：基于多次获取的所述待测量子比特的量子态获取所述待测量子比特处于|1》态的第一保真度。
[0055]
步骤s11和步骤s12测量所述待测量子比特处于|1》态的第一保真度的方法被称为单发测量。需要说明的是，还可以采用其他方式测量所述待测量子比特处于|1》态的保真度，在此不做限制。
[0056]
在所述步骤s2中，接收所述π脉冲的目的同样是为了将所述待测量子比特的量子态由|0》态翻转到|1》态，同样地，也可以采用其他方式将所述待测量子比特的量子态由|0》态翻转到|1》态，另外，还需要说明的是，不论是采用π脉冲激发或者其他方式，都是为了使所述待测量子比特处于|1》态，因此，只需要是能够将所述待测量子比特的量子态设置到|1》态的其他方式均可。另外需要注意的是，步骤s2与步骤s1中将所述待测量子比特的量子态设置为|1》态所采用的方式应当保持一致。
[0057]
在所述步骤s2中，所述获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持在所述目标频率一定时间长度再恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度，包括：
[0058]
s21：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定的时间长度后恢复至所述初始比特频率，并获取每次执行后所述待测量子比特的量子态；
[0059]
s22：基于多次获取的所述量子态获取所述待测量子比特中|1》态的第二保真度。
[0060]
步骤s21和步骤s22同样也是采用单发读取的方式获取所述待测量子比特的处于|1》态的第二保真度。同样地，也可以采用其他方式获取所述待测量子比特处于1态的第二保真度，在此不做限制，但应当注意的是，获取所述第一保真度与获取所述第二保真度所采用的方法应当保持一致。
[0061]
在所述步骤s2中，所述时间长度为50～100纳秒，这个时间长度是为了所述待测量子比特有足够的时间与芯片工艺产生的微观缺陷发生相互作用耦合。
[0062]
同样在所述步骤s2中，所述调节所述比特频率的方法包括：
[0063]
对所述待测量子比特施加一方波以使所述待测量子比特的所述初始比特频率调至所述目标频率。
[0064]
向所述待测量子比特施加方波能够降低所述待测量子比特的频率，在方波存在时间内，所述待测量子比特的频率被调节至目标频率，可通过控制改变方波的幅值，以改变选取的目标频率的数值，将所述待测量子比特调节至不同的目标频率处；在所述方波结束后，所述待测量子比特的频率恢复至初始比特频率；在所述方波存在时间内，若所述待测量子比特与芯片工艺产生的微观缺陷发生相互作用耦合，则所述待测量子比特会发生量子信息泄露，所述待测量子比特处于|1》态的保真度将会发生较为显著的改变。
[0065]
在所述步骤s3中，所述根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度，包括：
[0066]
获取所述待测量子比特的|1》态损失率，所述损失率的计算公式为：
[0067]
[0068]
基于所述损失率表征所述量子信息泄露强度。
[0069]
一般地，当损失率大于5％时，我们认为在该频率位置存在量子信息泄露，在做两比特门的过程中需要远离该频率位置。
[0070]
需要说明的是，在其他实施例中，也可以选取其他方式来表征量子信息泄露强度，例如采用第一保真度与第二保真度的差值。
[0071]
综上所述，本实施例提供的量子比特装置的量子信息泄露的测试方法，包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1》态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。本发明提供的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，能够确定在目标频率位置是否会引发量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离这些会引发量子信息泄露的频率位置，还可以在调节量子比特频率的过程中避免穿过这些会引发量子信息泄露的频率位置，进而提高两比特门的保真度。
[0072]
《实施例二》
[0073]
基于同一发明构思，本发明还提供一种量子比特装置量子信息泄露的测试装置，所述量子比特装置量子信息泄露的测试装置包括：第一保真度获取模块、第二保真度获取模块以及量子信息泄露强度获取模块。
[0074]
所述第一保真度获取模块，能够获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1》态的第一保真度；
[0075]
所述第二保真度获取模块，能够获取所述待测量子比特接收π脉冲，再调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特中|1》态的第二保真度；
[0076]
所述量子信息泄露强度获取模块，能够根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。
[0077]
本实施例的量子比特装置量子信息泄露的测试装置，能够能够确定在目标频率位置是否存在量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离存在量子信息泄露的位置，还可以在调节量子比特频率的过程中避免穿过这些存在量子信息泄露的位置，进而提高两比特门的保真度。
[0078]
基于同一发明构思，本发明还提供一种量子计算机，包含本发明提供的量子比特装置量子信息泄露的测试装置。
[0079]
《实施例三》
[0080]
基于同一发明构思，本实施例提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被一处理器执行时能实现本发明实施例一中的量子比特装置量子信息泄露的测试方法。
[0081]
所述可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备，例如可以是但不限于电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器
(eprom或闪存)、静态随机存取存储器(sram)、便携式压缩盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能盘(dvd)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所描述的计算机程序可以从可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收所述计算机程序，并转发该计算机程序，以供存储在各个计算/处理设备中的可读存储介质中。用于执行本发明操作的计算机程序可以是汇编指令、指令集架构(isa)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如smalltalk、c++等，以及常规的过程式编程语言—诸如“c”语言或类似的编程语言。所述计算机程序可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(lan)或广域网(wan)，连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机程序的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(fpga)或可编程逻辑阵列(pla)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本发明的各个方面。
[0082]
这里参照根据本发明实施例的方法、系统和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本发明的各个方面。应当理解，流程图和/或框图的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合，都可以由计算机程序实现。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，使得这些程序在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时，产生了实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机程序存储在可读存储介质中，这些计算机程序使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作，从而，存储有该计算机程序的可读存储介质则包括一个制造品，其包括实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。
[0083]
也可以把计算机程序加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上，使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤，以产生计算机实现的过程，从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的计算机程序实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。
[0084]
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

技术特征：
1.一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。2.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度前，还包括：将非测量量子比特设置在第一工作点，所述非测量量子比特为量子芯片中除所述待测量子比特外的所有量子比特，所述第一工作点远离所述待测量子比特的工作点。3.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度，包括：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，且每次执行后均获取所述待测量子比特的量子态；基于多次获取的所述待测量子比特的量子态获取所述待测量子比特处于|1>态的第一保真度。4.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持在所述目标频率一定时间长度再恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度，包括：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定的时间长度后恢复至所述初始比特频率，并获取每次执行后所述待测量子比特的量子态；基于多次获取的所述量子态获取所述待测量子比特中|1>态的第二保真度。5.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述时间长度为50～100纳秒。6.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率，包括：对所述待测量子比特施加一方波以使所述待测量子比特的所述初始比特频率调至所述目标频率。7.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度，包括：获取所述待测量子比特的|1>态损失率，所述损失率的计算公式为：基于所述损失率表征所述量子信息泄露强度。8.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被执行
时，能实现如权利要求1～7中任一项所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法。9.一种量子比特装置量子信息泄露的测试装置，其特征在于，包括：第一保真度获取模块，用于获取接收π脉冲后的待测量子比特中|1>态的第一保真度；第二保真度获取模块，用于获取所述待测量子比特接收π脉冲，再调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特中|1>态的第二保真度；量子信息泄露强度获取模块，用于根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。10.一种量子计算机，其特征在于，包括如权利要求9所述的量子比特装置量子信息泄露的测试装置。

技术总结
本发明提供了一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法和装置、量子计算机、可读存储介质，所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。本发明的技术方案能够确定在目标频率位置是否会引发量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离这些会引发量子信息泄露的频率位置。这些会引发量子信息泄露的频率位置。这些会引发量子信息泄露的频率位置。


技术研发人员：李泽东 孔伟成
受保护的技术使用者：本源量子计算科技（合肥）股份有限公司
技术研发日：2022.02.28
技术公布日：2023/9/7