一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置与流程

1.本发明涉及半导体测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置。


背景技术：

2.每颗半导体芯片在最终出厂之前，会经过不同测试程序的多个测试项的测试，产生大量的测试数据，这些测试数据一般会以标准测试数据文件(standard test data file，stdf)文件的形式存储下来。在芯片的生产过程中，由于工艺的缺陷，或者一些异常因素的影响，会导致个别芯片的一些指标偏离正常范围，这些异常会在芯片测试过程中发现，体现到测试项的测试结果的异常值上面。这些异常数据的数值一般偏离正常范围，称为离群值(outlier)。
3.在分析半导体芯片测试数据时，outlier的出现，会干扰到正常的分析。一个或者多个偏离正常范围很多的值，会导致一些指标的计算结果和实际偏离比较大，导致分析结果不准确。因此，分析数据时需要对outlier数据使用一些算法进行处理，排除outlier数据的干扰，或者针对outlier数据进行处理分析。但是，现有针对outlier数据进行处理分析的方式无法在大量的测试结果中准确找到outlier数据，并且针对不同测试项场景中出现的outlier数据无法进行灵活的适配对应的处理方式。


技术实现要素：

4.本公开实施例至少提供一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
5.本公开实施例提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法，包括：
6.确定需要处理离群值的目标测试项；
7.获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；
8.根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。
9.一种可选的实施方式中，基于以下步骤获取所述离群值阈值：
10.提供包括阈值算法选择项的阈值配置功能块；
11.调用所述阈值配置功能块，响应于用户针对目标阈值算法的选择操作，提供该目标阈值算法对应的填充模板，其中，所述填充模板中包括所述目标阈值算法对应的参数填充项；
12.获取用户在所述参数填充项填充的算法参数值，根据所述算法参数值执行所述目标阈值算法，确定所述离群值阈值。
13.一种可选的实施方式中，所述离群值阈值包括离群值上限值与离群值下限值，基
于以下步骤获取所述阈值约束区间：
14.提供包括区间类型选择项的区间配置功能块，其中，所述区间类型选择项中提供有多种预设区间类型；
15.调用所述区间配置功能块，响应于用户在所述区间类型选择项中，针对所述预设区间类型的选择操作，确定用户选择的目标阈值约束区间。
16.一种可选的实施方式中，所述预设区间类型包括小于所述离群值下限值、大于所述离群值上限值、所述离群值上限值与所述离群值下限值之间以及所述离群值上限值与所述离群值下限值之外。
17.一种可选的实施方式中，基于以下步骤获取所述离群值对应的影响范围：
18.提供包括影响范围选择项的影响范围配置功能块，其中，所述影响范围选择项中提供有多种预设影响范围类型；
19.调用所述影响范围配置功能块，响应于用户在所述影响范围选择项中，针对所述预设影响范围类型的选择操作，确定用户选择的目标影响范围。
20.一种可选的实施方式中，预设影响范围类型包括影响当前所述目标测试项以及关联影响；
21.当用户选择所述关联影响作为所述目标影响范围时，在所述影响范围配置功能块中提供影响目标填充项；
22.获取用户在所述影响目标填充项填充的目标芯片id，其中，所述目标芯片id用于标识所述离群值关联影响的芯片。
23.一种可选的实施方式中，所述离群值处理模式包括离群值筛选模式与离群值删除模式，基于以下步骤处理所述离群值：
24.针对所述离群值筛选模式，当所述影响范围为影响当前所述目标测试项时，根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间构建条件查询语句；
25.执行所述条件查询语句，在所述目标测试项中筛选离群芯片测试数据；
26.当所述影响范围为所述关联影响时，根据所述离群值阈值、所述阈值约束区间以及所述目标芯片id构建条件查询语句；
27.执行所述条件查询语句，在所述目标测试项以及所述目标芯片id对应芯片的测试项中筛选所述离群芯片测试数据；
28.针对所述离群值删除模式，在筛选出所述离群芯片测试数据后，删除该离群芯片测试数据。
29.本公开实施例还提供一种芯片测试数据的离群值处理装置，包括：
30.目标测试项确定模块，用于确定需要处理离群值的目标测试项；
31.筛选条件获取模块，用于获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；
32.离群值处理模块，用于根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。
33.本公开实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之
间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行上述芯片测试数据的离群值处理方法，或上述芯片测试数据的离群值处理方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
34.本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述芯片测试数据的离群值处理方法，或上述芯片测试数据的离群值处理方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
35.本公开实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，该计算机程序、指令被处理器执行时实现上述芯片测试数据的离群值处理方法，或上述芯片测试数据的离群值处理方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
36.本公开实施例提供的一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
37.为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
38.为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，此处的附图被并入说明书中并构成本说明书中的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
39.图1示出了本公开实施例所提供的一种芯片测试数据的离群值处理方法的流程图；
40.图2示出了本公开实施例所提供的另一种芯片测试数据的离群值处理方法的流程图；
41.图3示出了本公开实施例所提供的一种芯片测试数据的离群值处理装置的示意图；
42.图4示出了本公开实施例所提供的一种电子设备的示意图。
具体实施方式
43.为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本公开实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本公开的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本公开的范围，而是仅仅表示本公开的选定实施例。基于本公开的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
44.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
45.本文中术语“和/或”，仅仅是描述一种关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括a、b、c中的至少一种，可以表示包括从a、b和c构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
46.经研究发现，在分析半导体芯片测试数据时，outlier的出现，会干扰到正常的分析。一个或者多个偏离正常范围很多的值，会导致一些指标的计算结果和实际偏离比较大，导致分析结果不准确。因此，分析数据时需要对outlier数据使用一些算法进行处理，排除outlier数据的干扰，或者针对outlier数据进行处理分析。但是，现有针对outlier数据进行处理分析的方式无法在大量的测试结果中准确找到outlier数据，并且针对不同测试项场景中出现的outlier数据无法进行灵活的适配对应的处理方式。
47.基于上述研究，本公开提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
48.为便于对本实施例进行理解，首先对本公开实施例所公开的一种芯片测试数据的离群值处理方法进行详细介绍，本公开实施例所提供的芯片测试数据的离群值处理方法的执行主体一般为具有一定计算能力的计算机设备，该计算机设备例如包括：终端设备或服务器或其它处理设备，终端设备可以为用户设备(user equipment，ue)、移动设备、用户终端、终端、蜂窝电话、无绳电话、个人数字助理(personal digital assistant，pda)、手持设备、计算设备、车载设备、可穿戴设备等。在一些可能的实现方式中，该芯片测试数据的离群值处理方法可以通过处理器调用存储器中存储的计算机可读指令的方式来实现。
49.参见图1所示，为本公开实施例提供的一种芯片测试数据的离群值处理方法的流程图，所述方法包括步骤s101～s103，其中：
50.s101、确定需要处理离群值的目标测试项。
51.在具体实施中，首先从当前芯片测试过程中的已有测试项中，由用户选择需要进行离群值处理的测试项作为目标测试项。
52.s102、获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围。
53.在具体实施中，由于离群值是芯片测试数据中偏离正常范围的值，因此需要先确定离群值的阈值，在本技术实施例中，离群值阈值可以由用户根据测试项的需求进行配置，或者选择所需离群值阈值计算算法，通过配置离群值阈值计算算法中的参数值，计算出对应的离群值阈值。
54.这里，离群值阈值包括离群值上限值与离群值下限值，离群值上限值可理解为对应数据正常值的上限值，离群值下限值可以理解为对应数据局正常值的下限值。
55.作为一种可能的实施方式，可以通过以下步骤1-步骤3获取用户针对目标测试项
配置的离群值阈值：
56.步骤1、提供包括阈值算法选择项的阈值配置功能块。
57.步骤2、调用所述阈值配置功能块，响应于用户针对目标阈值算法的选择操作，提供该目标阈值算法对应的填充模板，其中，所述填充模板中包括所述目标阈值算法对应的参数填充项。
58.步骤3、获取用户在所述参数填充项填充的算法参数值，根据所述算法参数值执行所述目标阈值算法，确定所述离群值阈值。
59.在具体实施中，提供通过人机交互界面实现与用户进行交互的阈值配置功能块，阈值配置功能块中预先配置有可供用户进行选择操作的阈值算法选择项，阈值算法选择项中包括有多种预设阈值算法列表展示给用户。
60.这里，用户通过选择操作，在阈值算法选择项中选择所需采用计算离群值阈值的目标阈值算法，响应于用户的选择操作，阈值配置功能块向用户提供所选目标阈值算法对应的填充模板。
61.其中，填充模板中包括对应阈值算法的算法结构，以及在算法结构的对应位置处预留的实现该阈值算法的参数填充项，用户在参数填充项中填充对应的算法参数值，由阈值配置功能块执行该阈值算法，进而计算出对应的离群值阈值。
62.可选的，阈值配置功能块可以根据用户所选择的目标阈值算法，构建对应的查询语句，在预设数据库中查询目标阈值算法所需要的相关参数类型，进而根据该参数类型搭建填充模板提供给用户进行填充。
63.示例性的，预设阈值算法可以为：均值
±n×
标准差；中位数
±n×
标准差；q1/q3
±n×
iqr，其中。q1＝25分位数、q3＝75分位数、iqr＝q3-q1；基于stdf解析出来测试项的上限值(highlimit)或下限值(lowlimit)；基于用户设定的测试项的上限值(highlimit)或下限值(lowlimit)。
64.需要说明的是，离群值上限值与离群值下限值的配置方式均可采用上述步骤1-步骤3所提供的方式，预设阈值算法可以基于芯片测试项的需求根据实际情况进行设置，在此不做具体限制。
65.进一步的，为了限制住分析具有离群值的数据范围，实现排除离群值干扰，或者分析离群值数据的效果，还需要用户针对离群值阈值的约束区域进行配置，作为一种可能的实施方式，可以通过以下步骤1-步骤2获取用户针对目标测试项配置的阈值约束区间：
66.步骤1、提供包括区间类型选择项的区间配置功能块，其中，所述区间类型选择项中提供有多种预设区间类型。
67.步骤2、调用所述区间配置功能块，响应于用户在所述区间类型选择项中，针对所述预设区间类型的选择操作，确定用户选择的目标阈值约束区间。
68.在具体实施中，提供通过人机交互界面实现与用户进行交互的区间配置功能块，区间配置功能块中预先配置有可供用户进行选择操作的区间类型选择项，区间类型选择项中包括有多种预设区间类型列表展示给用户。
69.这里，用户通过选择操作，在区间类型选择项中选择所需阈值约束区间。预设区间类型包括小于离群值下限值、大于离群值上限值、离群值上限值与离群值下限值之间以及离群值上限值与离群值下限值之外。
70.其中，小于离群值下限值区间类型用于筛选数据值在小于离群值下限值范围内的芯片测试数据作为具有离群值的数据；大于离群值上限值类型用于筛选数据值在大于离群值上限值范围内的芯片测试数据作为具有离群值的数据；离群值上限值与离群值下限值之间类型用于筛选数据值在离群值上限值与离群值下限值之间范围内的芯片测试数据作为具有离群值的数据；离群值上限值与离群值下限值之外类型用于筛选数据值在离群值上限值与离群值下限值之外范围内的芯片测试数据作为具有离群值的数据。
71.进一步的，通过如上步骤，就能够把离群值的范围确定下来，但此时识别出的离群值只是选定目标测试项的测试结果的范围，还需要确定离群值对非选定测试项数据的影响，还需要用户针对离群值阈值的影响范围进行配置，作为一种可能的实施方式，可以通过以下步骤1-步骤2获取用户针对目标测试项配置的影响范围：
72.步骤1、提供包括影响范围选择项的影响范围配置功能块，其中，所述影响范围选择项中提供有多种预设影响范围类型。
73.步骤2、调用所述影响范围配置功能块，响应于用户在所述影响范围选择项中，针对所述预设影响范围类型的选择操作，确定用户选择的目标影响范围。
74.在具体实施中，提供通过人机交互界面实现与用户进行交互的影响范围配置功能块，影响范围配置功能块中预先配置有可供用户进行选择操作的区间类型选择项，区间类型选择项中包括有多种预设区间类型列表展示给用户。
75.这里，用户通过选择操作，在影响范围选择项中选择所需离群值影响范围，其中，预设影响范围类型包括影响当前目标测试项以及关联影响，影响当前目标测试项代表离群值仅影响选定的目标测试项中的芯片测试数据，关联影响则代表离群值不仅影响选定的目标测试项中的芯片测试数据，还影响其他芯片测试项中的芯片测试数据。
76.可选的，与当前选定的目标测试项关联影响的对应项可以通过芯片id进行标识指示，具体的，当用户选择关联影响作为目标影响范围时，在影响范围配置功能块中提供影响目标填充项；获取用户在影响目标填充项填充的目标芯片id，其中，目标芯片id用于标识离群值关联影响的芯片。
77.这里，在获取到用户在影响目标填充项填充的目标芯片id之后，影响范围配置功能块可以根据目标芯片id构建查询语句，访问预设数据库查询满足条件的全部芯片。
78.这样，通过上述方式，向用户提供了灵活的离群值作用范围选项。
79.s103、根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。
80.在具体实施中，在引导用户配置好离群值作用范围之后，还需要引导用户选择离群值的处理方式，确定离群值影响分析的方式。离群值处理模式可以包括离群值筛选模式与离群值删除模式，针对离群值删除模式，代表分析时通过算法把离群值剔除掉；针对离群值筛选模式，代表分析时通过算法把离群值筛选出来。
81.在此基础上，作为一种可能的实施方式，可以基于以下步骤处理离群值，参见图2所示，为本公开实施例提供的另一种芯片测试数据的离群值处理方法的流程图，所述方法包括步骤s1031～s1035，其中：
82.s1031、针对所述离群值筛选模式，当所述影响范围为影响当前所述目标测试项时，根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间构建条件查询语句。
83.s1032、执行所述条件查询语句，在所述目标测试项中筛选离群芯片测试数据。
84.s1033、当所述影响范围为所述关联影响时，根据所述离群值阈值、所述阈值约束区间以及所述目标芯片id构建条件查询语句。
85.s1034、执行所述条件查询语句，在所述目标测试项以及所述目标芯片id对应芯片的测试项中筛选所述离群芯片测试数据。
86.s1035、针对所述离群值删除模式，在筛选出所述离群芯片测试数据后，删除该离群芯片测试数据。
87.本公开实施例提供的一种芯片测试数据的离群值处理方法，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
88.本领域技术人员可以理解，在具体实施方式的上述方法中，各步骤的撰写顺序并不意味着严格的执行顺序而对实施过程构成任何限定，各步骤的具体执行顺序应当以其功能和可能的内在逻辑确定。
89.基于同一发明构思，本公开实施例中还提供了与芯片测试数据的离群值处理方法对应的芯片测试数据的离群值处理装置，由于本公开实施例中的装置解决问题的原理与本公开实施例上述芯片测试数据的离群值处理方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
90.请参阅图3，图3为本公开实施例提供的一种芯片测试数据的离群值处理装置的示意图。如图3中所示，本公开实施例提供的芯片测试数据的离群值处理装置300包括：
91.目标测试项确定模块310，用于确定需要处理离群值的目标测试项。
92.筛选条件获取模块320，用于获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围。
93.离群值处理模块330，用于根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。
94.关于装置中的各模块的处理流程、以及各模块之间的交互流程的描述可以参照上述方法实施例中的相关说明，这里不再详述。
95.本公开实施例提供的一种芯片测试数据的离群值处理装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
96.对应于图1与图2中的芯片测试数据的离群值处理方法，本公开实施例还提供了一种电子设备400，如图4所示，为本公开实施例提供的电子设备400结构示意图，包括：
97.处理器41、存储器42、和总线43；存储器42用于存储执行指令，包括内存421和外部
存储器422；这里的内存421也称内存储器，用于暂时存放处理器41中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器422交换的数据，处理器41通过内存421与外部存储器422进行数据交换，当所述电子设备400运行时，所述处理器41与所述存储器42之间通过总线43通信，使得所述处理器41执行图1与图2中的芯片测试数据的离群值处理方法的步骤。
98.本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述方法实施例中所述的芯片测试数据的离群值处理方法的步骤。其中，该存储介质可以是易失性或非易失的计算机可读取存储介质。
99.本公开实施例还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时可以执行上述方法实施例中所述的芯片测试数据的离群值处理方法的步骤，具体可参见上述方法实施例，在此不再赘述。
100.其中，上述计算机程序产品可以具体通过硬件、软件或其结合的方式实现。在一个可选实施例中，所述计算机程序产品具体体现为计算机存储介质，在另一个可选实施例中，计算机程序产品具体体现为软件产品，例如软件开发包(software development kit，sdk)等等。
101.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本公开所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
102.所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
103.另外，在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
104.所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本公开的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本公开各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
105.最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本公开的具体实施方式，用以说明本公开的技术方案，而非对其限制，本公开的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本公
开进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

技术特征：
1.一种芯片测试数据的离群值处理方法，其特征在于，包括：确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于以下步骤获取所述离群值阈值：提供包括阈值算法选择项的阈值配置功能块；调用所述阈值配置功能块，响应于用户针对目标阈值算法的选择操作，提供该目标阈值算法对应的填充模板，其中，所述填充模板中包括所述目标阈值算法对应的参数填充项；获取用户在所述参数填充项填充的算法参数值，根据所述算法参数值执行所述目标阈值算法，确定所述离群值阈值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述离群值阈值包括离群值上限值与离群值下限值，基于以下步骤获取所述阈值约束区间：提供包括区间类型选择项的区间配置功能块，其中，所述区间类型选择项中提供有多种预设区间类型；调用所述区间配置功能块，响应于用户在所述区间类型选择项中，针对所述预设区间类型的选择操作，确定用户选择的目标阈值约束区间。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：所述预设区间类型包括小于所述离群值下限值、大于所述离群值上限值、所述离群值上限值与所述离群值下限值之间以及所述离群值上限值与所述离群值下限值之外。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于以下步骤获取所述离群值对应的影响范围：提供包括影响范围选择项的影响范围配置功能块，其中，所述影响范围选择项中提供有多种预设影响范围类型；调用所述影响范围配置功能块，响应于用户在所述影响范围选择项中，针对所述预设影响范围类型的选择操作，确定用户选择的目标影响范围。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：预设影响范围类型包括影响当前所述目标测试项以及关联影响；当用户选择所述关联影响作为所述目标影响范围时，在所述影响范围配置功能块中提供影响目标填充项；获取用户在所述影响目标填充项填充的目标芯片id，其中，所述目标芯片id用于标识所述离群值关联影响的芯片。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述离群值处理模式包括离群值筛选模式与离群值删除模式，基于以下步骤处理所述离群值：针对所述离群值筛选模式，当所述影响范围为影响当前所述目标测试项时，根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间构建条件查询语句；执行所述条件查询语句，在所述目标测试项中筛选离群芯片测试数据；当所述影响范围为所述关联影响时，根据所述离群值阈值、所述阈值约束区间以及所
述目标芯片id构建条件查询语句；执行所述条件查询语句，在所述目标测试项以及所述目标芯片id对应芯片的测试项中筛选所述离群芯片测试数据；针对所述离群值删除模式，在筛选出所述离群芯片测试数据后，删除该离群芯片测试数据。8.一种芯片测试数据的离群值处理装置，其特征在于，包括：目标测试项确定模块，用于确定需要处理离群值的目标测试项；筛选条件获取模块，用于获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；离群值处理模块，用于根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如权利要求1至7中任一项所述的芯片测试数据的离群值处理方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至7中任一项所述的芯片测试数据的离群值处理方法的步骤。

技术总结
本发明提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。离群值的分析与处理需求。离群值的分析与处理需求。


技术研发人员：王腾 钱大君 马力斯
受保护的技术使用者：上海孤波科技有限公司
技术研发日：2023.07.24
技术公布日：2023/9/9