利用二次扰动激光的飞秒泵浦

利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统及方法
技术领域
1.本发明涉及超快时间分辨测量技术领域，尤其涉及一种利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统及方法。


背景技术：

2.自1960年成功研制出红宝石激光器，实现了脉冲激光振荡以来，激光短脉冲化的研究作为基础物理的一个领域得到稳步发展。超短脉冲激光器有了突破性进展，可以提供飞秒量级的超短脉冲作为超快过程研究中的光探针。飞秒泵浦
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探测光谱技术是一种功能强大的时间分辨光谱技术，具有高时间分辨率的特点，可用于表征各种材料的激发态动力学等相关信息，研究系统中非发射态和暗态的演变，实时跟踪系统内的能量转移过程以及新瞬态物种的形成。这使得它能够通过与其他稳态技术互补的方式研究不同系统和材料(生物复合物、无机化合物和有机材料)的结构功能特性。脉冲激光具有兆赫兹到千赫兹不等的重复频率，即每个脉冲之间存在纳秒到毫秒不等的时间间隔，远大于飞秒量级的超快过程，所以泵浦
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探测信号可以看作是在许多个脉冲周期中对样品重复激发和探测所得的信号的叠加。
3.飞秒激光光谱技术，包括泵浦
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探测光谱和荧光上转换光谱，已成为了解激子在迁移和解离形成电荷载流子的行为中不可或缺的工具。在飞秒泵浦
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探测光谱技术中，泵浦脉冲激发被研究的系统，而探测脉冲检测泵浦激发的影响。通过调制泵浦脉冲和探测脉冲之间光学延迟，透射率的变化被测量为时间的函数。传统超快泵浦
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探测主要集中于宏观样品(比如大面积薄膜、溶液等)的表征测量，其较低的空间分辨精度影响该技术应用于纳米体系中物理问题的研究。而其他光学光谱技术如显微拉曼光谱和尖端增强拉曼光谱(ters)，尽管这些技术的空间分辨率相对较低，约为10—300纳米，但它们只能提供有关晶体结构、晶格振动、层数、应变等相关信息。因此，有必要找到一种成本较低、节省探测时间、对样品无损伤且可量化的合适光谱技术来表征材料质量和相关动力学特性。


技术实现要素：

4.为克服上述问题，本发明提供一种利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统及方法。
5.本发明的第一个方面提供一种利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，包括激光产生及调节部分(ⅰ)、探测部分(ⅱ)和接收部分(ⅲ)；
6.所述激光产生及调节部分(ⅰ)包括飞秒激光器(1)和连续激光器(6)；所述飞秒激光器(1)出射的激光束经过分束镜ⅰ(2)分为两束，其中，反射的一束为第一光束(b1)，透射的一束为第二光束(b2)；所述连续激光器(6)出射的第三光束(b3)经声光调制器ⅱ(7)、电控位移台ⅰ(8)、全反镜ⅱ(9)与经声光调制器ⅰ(3)的第一光束(b1)，在二向色镜ⅰ(10)合束为第四光束(b4)；第二光束(b2)经超连续谱产生套件(5)，与经电控位移台ⅱ(12)、全反镜ⅲ(11)的第四光束(b4)，在二向色镜ⅱ(13)处合束为第五光束(b5)；
7.所述探测部分(ⅱ)包括第五光束(b5)，所述第五光束(b5)经全反镜ⅳ(14)、二向色镜ⅲ(15)、反射式物镜(16)汇聚到样品台(17)上设置的样品，产生的信号光为第六光束(b6)；第六光束(b6)经反射式物镜(16)收集、二向色镜ⅲ(15)反射进入接收部分(ⅲ)；
8.所述接收部分(ⅲ)包括第六光束(b6)，所述第六光束(b6)经分束镜ⅱ(18)分为第七光束(b7)和第八光束(b8)；第七光束(b7)经凸透镜ⅰ(19)、单色仪(20)、光电探测器(21)和锁相放大器(22)与计算机(27)端口相连；第八光束(b8)经滤光片(24)、凸透镜ⅱ(25)和光纤光谱仪(26)与计算机(27)端口相连。
9.进一步，第一光束(b1)经声光调制器进行时域调制作为泵浦光。
10.进一步，第二光束(b2)经连续谱产生套件产生超连续谱作为探测光。
11.进一步，第三光束(b3)经声光调制器进行时域调制作为二次扰动激光。
12.进一步，经过调制的泵浦光通过反射式物镜汇聚激发待测样品，使样品分子从基态激发到激发态。
13.进一步，二次扰动激光与泵浦光合束，再对激发态分子进行二次扰动，得到二次扰动飞秒泵浦
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探测信号光.
14.进一步，探测光与泵浦光之间的相对延时通过电控位移台实现，用于探测有无泵浦光时样品吸光度的变化；所述信号光经收集后进入光电倍增管转换为电信号，锁相放大器用于从电信号中提取信号成分，信号输入计算机生成不同波长的动力学结果曲线；信号光汇聚进入光纤光谱仪，输入计算机经过计算生成不同延迟时间下的瞬态吸收光谱。
15.本发明的第二个方面提供一种利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统的测量方法，包括以下步骤：
16.步骤1，调整各光学器件中心高度，使得飞秒激光器(1)、分束镜ⅰ(2)、声光调制器ⅰ(3)、全反镜ⅰ(4)、超连续谱产生套件(5)、连续激光器(6)、声光调制器ⅱ(7)、电控位移台ⅰ(8)、全反镜ⅱ(9)、二向色镜ⅰ(10)、全反镜ⅲ(11)、电控位移台ⅱ(12)、二向色镜ⅱ(13)、全反镜ⅳ(14)和二向色镜ⅲ(15)在同一水平面上；
17.步骤2，飞秒激光器(1)发出的激光，经分束镜ⅰ(2)分束为第一光束(b1)与第二光束(b2)；
18.步骤3，连续激光器(6)发出第三光束(b3)为二次扰动激光，经声光调制器ⅱ(7)进行时域调制频率后，再经过电控位移台ⅰ(8)调控与第一光束(b1)的时间延迟；
19.步骤4，第一光束(b1)经声光调制器ⅰ(3)进行时域调制频率后作为泵浦光，与经全反镜ⅱ(9)反射的第三光束(b3)在二向色镜ⅰ(10)处合束为第四光束(b4)，再经过电控位移台ⅱ(12)调控与第二光束(b2)的时间延迟；
20.步骤5，第二光束(b2)经超连续谱产生套件(5)产生超连续谱作为探测光，与经全反镜ⅲ(11)反射的第四光束(b4)在二向色镜ⅱ(13)处合束为第五光束(b5)；
21.步骤6，第五光束(b5)进入探测部分(ⅱ)，经全反镜ⅳ(14)反射，进入反射式物镜(16)，聚焦到样品台(17)夹持的样品上，样品产生信号光经反射式物镜(16)收集为第六光束(b6)；
22.步骤7，第六光束(b6)经二向色镜ⅲ(15)反射进入接收部分(ⅲ)，分束镜ⅱ(18)将第六光束(b6)分为第七光束(b7)与第八光束(b8)；
23.步骤8，第七光束(b7)经凸透镜ⅰ(19)汇聚后，经单色仪(20)筛选波长，入射到光电
倍增管(21)，光电倍增管(21)将获得的光信号转换为电信号后输入到锁相放大器(22)，用于提取信号成分，信号被输入计算机(27)形成动力学结果曲线；
24.步骤9，第八光束(b8)经滤光片(24)过滤泵浦光和扰动光后，经凸透镜ⅱ(25)汇聚进入光纤光谱仪(26)，采集光谱信号输入计算机27形成泵浦
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探测光谱数据。
25.进一步，步骤2中，经分束镜ⅰ(2)后入射光束反射与透射的能量比例为9:1。
26.进一步，步骤7中，经分束镜ⅱ(18)后入射光束反射与透射的能量比例为1:1。
27.本发明的有益效果是：将飞秒泵浦
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探测光谱技术与微区测量相结合，搭建显微超快光学泵浦
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探测系统，提高空间分辨精度，实现纳米尺度的纳米结构定位以及原位光谱收集。保证纳米结构光学测量条件的一致性和稳定性，为后续有关微纳光学和量子光学的研究奠定基础。
附图说明
28.图1是本发明的结构示意图。
29.图2是本发明中激光产生及调节部分的结构示意图。
30.图3是本发明中探测部分的结构示意图。
31.图4是本发明中接收部分的结构示意图。
32.图5是为荧光分子的能级及吸收、自发辐射、基态漂白(gsb)、受激发射(se)和激发态吸收(esa)的示意图。
33.图6是系统同步时序图。
34.附图标记说明：ⅰ.激光产生及调节部分，ⅱ.探测部分，ⅲ.接收部分，1.飞秒激光器，2.分束镜ⅰ，3.声光调制器ⅰ，4.全反镜ⅰ，5.超连续谱产生套件，6.连续激光器，7.声光调制器ⅱ，8.电控位移台ⅰ，9.全反镜ⅱ，10.二向色镜ⅰ，11.全反镜ⅲ，12.电控位移台ⅱ，13.二向色镜ⅱ，14.全反镜ⅳ，15.二向色镜ⅲ，16.反射式物镜，17.样品台，18.分束镜ⅱ，19凸透镜ⅰ，20.单色仪，21.光电倍增管，22.锁相放大器，23.全反镜
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，24.滤光片，25.凸透镜ⅱ，26.光纤光谱仪，27.计算机。
具体实施方式
35.下面将结合附图对本发明专利的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
36.在本发明的描述中，需要说明的是，如出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，如出现术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
37.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，如出现术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，
可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
38.实施例一
39.如图1所示，本发明提供一种利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，由图2所示的激光产生及调节部分ⅰ、图3所示的探测部分ⅱ和图4所示的接收部分ⅲ组成；激光产生及调节部分ⅰ、探测部分ⅱ和接收部分ⅲ置于同一光学平台上，从左到右依次排序。
40.所述激光产生及调节部分ⅰ包括飞秒激光器1和连续激光器6；所述飞秒激光器1出射的激光束经过分束镜ⅰ2分为两束，其中，反射的一束为第一光束b1，透射的一束为第二光束b2；所述连续激光器6出射的第三光束b3经声光调制器ⅱ7、电控位移台ⅰ8、全反镜ⅱ9与经声光调制器ⅰ3的第一光束b1，在二向色镜ⅰ10合束为第四光束b4；第二光束b2经超连续谱产生套件5，与经电控位移台ⅱ12、全反镜ⅲ11的第四光束b4，在二向色镜ⅱ13处合束为第五光束b5；
41.所述探测部分ⅱ包括第五光束b5，所述第五光束b5经全反镜ⅳ14、二向色镜ⅲ15、反射式物镜16汇聚到样品台17夹持的样品上，产生的信号光为第六光束b6；第六光束b6经反射式物镜16收集、二向色镜ⅲ15反射进入接收部分ⅲ；
42.所述接收部分ⅲ包括第六光束b6，所述第六光束b6经分束镜ⅱ18分为第七光束b7和第八光束b8；第七光束b7经凸透镜ⅰ19、单色仪20、光电倍增管21和锁相放大器22与计算机27端口相连；第八光束b8经滤光片24、凸透镜ⅱ25和光纤光谱仪26与计算机27端口相连。
43.本实施例中，第一光束b1经声光调制器进行时域调制作为泵浦光。第二光束b2经连续谱产生套件产生超连续谱作为探测光。第三光束b3经声光调制器进行时域调制作为二次扰动激光。
44.经过调制的泵浦光通过反射式物镜汇聚激发待测样品，使样品分子从基态激发到激发态。二次扰动激光与泵浦光合束，再对激发态分子进行二次扰动，得到二次扰动飞秒泵浦
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探测信号光。探测光与泵浦光之间的相对延时通过电控位移台实现，用于探测有无泵浦光时样品吸光度的变化；所述信号光经收集后进入光电倍增管转换为电信号，锁相放大器用于从电信号中提取出信号成分，信号输入计算机生成不同波长的动力学结果曲线；信号光进入光纤光谱仪，输入计算机经过计算生成不同延迟时间下的瞬态吸收光谱。
45.以上发明实施的原理如下：
46.飞秒泵浦
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探测光谱技术中，泵浦脉冲将一部分粒子从基态激发到激发态。一束能量较弱的探测脉冲以相对于泵浦脉冲的时间延迟发送通过样品，然后计算有无泵浦脉冲时样品对探测光的吸收度变化或探测光的透射率变化。利用电控位移台改变泵浦光和探测光光程上的距离，调控两者的相对延时，并对每个延迟时间处的光谱进行记录，最终获得了延迟时间和波长响应的飞秒泵浦
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探测光谱。飞秒泵浦
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探测技术探测到的光谱数据中包含基态漂白(gsb)、受激发射(se)、激发态吸收(esa)过程的贡献，相应能级图如图5所示。
47.基于传统飞秒泵浦
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探测光谱技术，在探测部分利用反射式物镜替换凸透镜汇聚激发光和收集信号光，提高飞秒泵浦
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探测技术空间分辨精度，实现纳米尺度的纳米结构定位以及原位光谱收集。在受激发射损耗显微技术中，需要两束光源，激发光和损耗光。前者激发荧光标记的样品，其电子跃迁到激发态；后者形成中空型的面包光圈，使得部分处于激
发光斑外围的电子以受激发射的方式回到基态，用于淬灭激发光斑周围的激发态荧光分子，进而减小有效荧光发光面积，获得小于衍射极限的发光点。利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测系统，模拟受激发射损耗情况，分析连续激光对样品激发态弛豫过程的影响，提供对复杂光物理行为的进一步理解，进而优化材料设计方案。
48.如图6所示，首先利用声光调制器调制泵浦光频率，用以探测有无泵浦光时探测光的变化。利用声光调制器将连续光系统中的二次扰动激光调制与泵浦光同频，通过时序控制系统，调控连续光同泵浦光照射到样品上的时间延迟。
49.实施例二
50.基于实施例一所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统的测量方法，包括以下步骤：
51.步骤1，调节各光学器件中心高度，使得飞秒激光器1、分束镜ⅰ2、声光调制器ⅰ3、全反镜ⅰ4、超连续谱产生套件5、连续激光器6、声光调制器ⅱ7、电控位移台ⅰ8、全反镜ⅱ9、二向色镜ⅰ10、全反镜ⅲ11、电控位移台ⅱ12、二向色镜ⅱ13、全反镜ⅳ14和二向色镜ⅲ15在同一水平面上；
52.步骤2，飞秒激光器1发出的激光，经分束镜ⅰ2分束为第一光束b1与第二光束b2；经分束镜ⅰ2后入射光束反射与透射的能量比例为9:1。
53.步骤3，连续激光器6发出第三光束b3为二次扰动激光，经声光调制器ⅱ7进行时域调制频率后，再经过电控位移台ⅰ8调控与第一光束b1的时间延迟；
54.步骤4，第一光束b1经声光调制器ⅰ3进行时域调制频率后作为泵浦光，与经全反镜ⅱ9反射的第三光束b3在二向色镜ⅰ10处合束为第四光束b4，再经过电控位移台ⅱ12调控与第二光束b2的时间延迟；
55.步骤5，第二光束b2经超连续谱产生套件5产生超连续谱作为探测光，与经全反镜ⅲ11反射的第四光束b4在二向色镜ⅱ13处合束为第五光束b5；
56.步骤6，第五光束b5进入探测部分ⅱ，经全反镜ⅳ14反射，进入反射式物镜16，聚焦到样品台17夹持的样品上，样品产生信号光经反射式物镜16收集为第六光束b6；
57.步骤7，第六光束b6经二向色镜ⅲ15反射进入接收部分ⅲ，分束镜ⅱ18将第六光束b6分为第七光束b7与第八光束b8；经分束镜ⅱ18后入射光束反射与透射的能量比例为1:1。
58.步骤8，第七光束b7经凸透镜ⅰ19汇聚后，通过单色仪20筛选波长，入射到光电倍增管21，光电倍增管21将获得的光信号转换为电信号后输入到锁相放大器22，用于提取信号成分，信号被输入计算机27形成动力学结果曲线；
59.步骤9，第八光束b8经滤光片24过滤泵浦光和扰动光后，经凸透镜ⅱ25汇聚进入光纤光谱仪26，采集光谱信号输入计算机27形成泵浦
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探测光谱数据。
60.步骤10，精确调整各光学器件中心多维度位置，调整激光产生及调节部分ⅰ中各镜片和反射式物镜16的位置，在探测部分内形成稳定的荧光。微调所有设备和镜架的高度、左右和前后位置、倾角和俯仰，保证出现强度值在竖直和水平方向上均匀分布的光谱，同时控制飞秒激光器1出射实验能量脉冲激光。由探测部分ⅱ中反射式物镜16完成样品台17上的各物种飞秒泵浦-探测微区光谱的探测，经过接收部分ⅲ主程序内的数据处理程序，最终输出这种实验条件下的飞秒泵浦
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探测光谱和相应动力学过程。
61.本说明书实施例所述的内容仅仅是对发明构思的实现形式的列举，本发明的保护
范围不应当被视为仅限于实施例所陈述的具体形式，本发明的保护范围也及于本领域技术人员根据本发明构思所能够想到的等同技术手段。

技术特征：
1.利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：包括激光产生及调节部分(ⅰ)、探测部分(ⅱ)和接收部分(ⅲ)；所述激光产生及调节部分(ⅰ)包括飞秒激光器(1)和连续激光器(6)；所述飞秒激光器(1)出射的激光束经过分束镜ⅰ(2)分为两束，其中，反射的一束为第一光束(b1)，透射的一束为第二光束(b2)；所述连续激光器(6)出射的第三光束(b3)经声光调制器ⅱ(7)、电控位移台ⅰ(8)、全反镜ⅱ(9)与经声光调制器ⅰ(3)的第一光束(b1)，在二向色镜ⅰ(10)合束为第四光束(b4)；第二光束(b2)经超连续谱产生套件(5)，与经电控位移台ⅱ(12)、全反镜ⅲ(11)的第四光束(b4)，在二向色镜ⅱ(13)处合束为第五光束(b5)；所述探测部分(ⅱ)包括第五光束(b5)，所述第五光束(b5)经全反镜ⅳ(14)、二向色镜ⅲ(15)、反射式物镜(16)汇聚到样品台(17)夹持的样品，产生的信号光为第六光束(b6)；第六光束(b6)经反射式物镜(16)收集、二向色镜ⅲ(15)反射进入接收部分(ⅲ)；所述接收部分(ⅲ)包括第六光束(b6)，所述第六光束(b6)经分束镜ⅱ(18)分为第七光束(b7)和第八光束(b8)；第七光束(b7)经凸透镜ⅰ(19)、单色仪(20)、光电倍增管(21)和锁相放大器(22)与计算机(27)端口相连；第八光束(b8)经滤光片(24)、凸透镜ⅱ(25)和光纤光谱仪(26)与计算机(27)端口相连。2.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：第一光束(b1)经声光调制器进行时域调制作为泵浦光。3.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：第二光束(b2)经连续谱产生套件产生超连续谱作为探测光。4.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：第三光束(b3)经声光调制器进行时域调制作为二次扰动激光。5.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：经过调制的泵浦光通过反射式物镜汇聚激发待测样品，使样品分子从基态激发到激发态。6.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：二次扰动激光与泵浦光合束，再对激发态分子进行二次扰动，得到二次扰动飞秒泵浦
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探测信号光。7.如权利要求1所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统，其特征在于：探测光与泵浦光之间的相对延时通过电控位移台实现，用于探测有无泵浦光时样品吸光度的变化；所述信号光经收集后进入光电倍增管转换为电信号，锁相放大器用于从电信号中提取出信号成分，信号输入计算机生成不同波长的动力学结果曲线；信号光进入光纤光谱仪，输入计算机经过计算生成不同延迟时间下的瞬态吸收光谱。8.基于权利要求7所述的利用二次扰动激光的飞秒泵浦
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探测微区测量系统的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，调整各光学器件中心高度，使得飞秒激光器(1)、分束镜ⅰ(2)、声光调制器ⅰ(3)、全反镜ⅰ(4)、超连续谱产生套件(5)、连续激光器(6)、声光调制器ⅱ(7)、电控位移台ⅰ(8)、全反镜ⅱ(9)、二向色镜ⅰ(10)、全反镜ⅲ(11)、电控位移台ⅱ(12)、二向色镜ⅱ(13)、全反镜ⅳ(14)和二向色镜ⅲ(15)在同一水平面上；步骤2，飞秒激光器(1)发出的激光，经分束镜ⅰ(2)分束为第一光束(b1)与第二光束
(b2)；步骤3，连续激光器(6)发出第三光束(b3)为二次扰动激光，经声光调制器ⅱ(7)进行时域调制频率后，再经过电控位移台ⅰ(8)调控与第一光束(b1)的时间延迟；步骤4，第一光束(b1)经声光调制器ⅰ(3)进行时域调制频率后作为泵浦光，与经全反镜ⅱ(9)反射的第三光束(b3)在二向色镜ⅰ(10)处合束为第四光束(b4)，再经过电控位移台ⅱ(12)调控与第二光束(b2)的时间延迟；步骤5，第二光束(b2)经超连续谱产生套件(5)产生超连续谱作为探测光，与经全反镜ⅲ(11)反射的第四光束(b4)在二向色镜ⅱ(13)处合束为第五光束(b5)；步骤6，第五光束(b5)进入探测部分(ⅱ)，经全反镜ⅳ(14)反射，进入反射式物镜(16)，聚焦到样品台(17)夹持的样品上，样品产生信号光经反射式物镜(16)收集为第六光束(b6)；步骤7，第六光束(b6)经二向色镜ⅲ(15)反射进入接收部分(ⅲ)，分束镜ⅱ(18)将第六光束(b6)分束为第七光束(b7)与第八光束(b8)；步骤8，第七光束(b7)经凸透镜ⅰ(19)汇聚后，经单色仪(20)筛选波长，入射到光电倍增管(21)，光电倍增管(21)将获得的光信号转换为电信号输入到锁相放大器(22)，用于提取信号成分，信号被输入计算机(27)形成动力学结果曲线；步骤9，第八光束(b8)经滤光片(24)过滤泵浦光和扰动光后，经凸透镜ⅱ(25)汇聚进入光纤光谱仪(26)，采集光谱信号输入计算机(27)形成泵浦
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探测光谱数据。9.如权利要求8所述的测量方法，其特征在于：步骤2中，经分束镜ⅰ(2)后入射光束反射与透射的能量比例为9:1。10.如权利要求8所述的测量方法，其特征在于：步骤7中，经分束镜ⅱ(18)后入射光束反射与透射的能量比例为1:1。

技术总结
利用二次扰动激光的飞秒泵浦


技术研发人员：匡翠方 高秀君 王权 张祖鑫 张嘉晨 丁晨良
受保护的技术使用者：浙江大学
技术研发日：2023.05.29
技术公布日：2023/8/24