测试方法及装置与流程

1.本技术涉及器件测试技术领域，尤其涉及一种测试方法及装置。


背景技术：

2.目前，为了保证电子设备的质量，在电子设备出厂前对电子设备中的各器件进行测试。测试过程可以是：通过产线操作员按照器件测试指导文本，对器件测试指导文本指向的器件进行测试，但是产线操作员存在操作不规范的问题，导致测试结果有误，降低了测试准确度。


技术实现要素：

3.本技术提供了一种测试方法及装置，目的在于解决因产线操作员操作不规范导致的测试结果有误，降低测试准确度的问题。为了实现上述目的，本技术提供了以下技术方案：
4.第一方面，本技术提供一种测试方法，方法应用于电子设备，电子设备具有人机交互测试系统，人机交互测试系统存储至少一个测试流程，测试流程用于对电子设备中的器件的功能进行测试，方法包括：调用测试流程中的校准流程，对器件进行校准，得到校准结果；响应于校准结果指示器件正常，对测试流程中的每个测试子流程按照如下方式进行处理：确定电子设备满足测试条件；调用测试流程中与测试条件匹配的测试子流程，对器件中与测试子流程对应的功能进行测试，以通过测试流程完成器件的自动测试。并且在对器件自动测试过程中，调用与测试条件匹配的测试子流程，对满足该测试条件时执行的功能进行测试，使得测试条件与要测试的功能匹配，保证测试结果是正确的，提高测试准确度。人机交互测试系统可以存储不同器件的测试流程，以预先为不同器件设置测试流程，统一器件的测试规范，以利用统一的测试规范进行测试，提高测试准确度。
5.一些示例中，测试流程包括校准流程和多个测试子流程，对每个测试子流程设置测试条件和要测试的功能，在电子设备满足该测试子流程对应的测试条件时，调用该测试子流程对要测试的功能进行测试。例如多个测试子流程包括第一测试子流程和第二测试子流程，第一测试子流程对应第一测试条件和器件的第一功能，第二测试子流程对应第二测试条件和器件的第二功能，在确定电子设备满足第一测试条件时，调用测试流程中与第一测试条件匹配的第一测试子流程，对器件的第一功能进行测试；在确定电子设备满足第二测试条件时，调用测试流程中与第二测试条件匹配的第二测试子流程，对器件的第二功能进行测试，使得测试条件与要测试的功能匹配，防止功能的误测试，提高测试准确度。对于校准流程，电子设备也可以设置校准流程的测试条件，在电子设备满足校准流程的测试条件时，调用校准流程对器件进行校准，以确定器件是否能够正常运行。
6.可选的，响应于校准结果指示器件正常，确定电子设备满足测试条件包括：响应于校准结果指示器件正常，确定电子设备中的组件被控制设备触控，控制设备用于在电子设备满足预设条件时触控组件。即在电子设备测试器件的功能的过程中，控制设备可以对电
子设备进行控制，使得电子设备满足测试条件。例如控制设备控制电子设备运动，改变电子设备与测试对象之间的距离等等，又例如调整电子设备的姿态、调整电子设备所处环境等等，具体视测试流程中各测试子流程对应的测试条件而定。在按照任一测试子流程对应的测试条件，完成对电子设备的控制后(此时电子设备满足测试条件)，控制设备可以触发电子设备中的组件(如音量下键等)，电子设备确定满足测试条件，调用与测试条件匹配的测试子流程进行测试。
7.可选的，调用测试流程中与测试条件匹配的测试子流程包括：在确定电子设备中的组件被控制设备触控后，延迟第一预设时长调用测试流程中与测试条件匹配的测试子流程。延迟第一预设时长的目的是为了等待控制设备复位，降低控制设备对测试的影响，其中第一预设时长的取值不进行限定，如第一预设时长可以是0.2秒，等待0.2秒使控制设备的气缸复位。
8.可选的，响应于校准结果指示器件正常，确定电子设备满足测试条件包括：响应于校准结果指示器件正常，获取电子设备的测试影响参数的参数值，测试影响参数包括电子设备的位置、电子设备的姿态和电子设备所处环境的环境参数中的至少一种；若电子设备的测试影响参数的参数值为预设参数值，确定电子设备满足测试条件。测试影响参数的预设参数值可以在测试条件中指定，对于不同类型的测试影响参数来说，其预设参数值不同。例如测试条件用于指示电子设备当前的位置在预设位置、指示电子设备当前的姿态为预设姿态，在电子设备处于预设位置，且电子设备处于预设姿态时，确定满足测试条件，使得电子设备可以根据测试影响参数确定是否满足预设条件。
9.可选的，在调用测试流程中的校准流程之前，方法还包括：对电子设备进行防呆检查，得到防呆检查结果，在防呆检查结果指示防呆检查成功时调用校准流程；和/或，在调用测试子流程之前，方法还包括：对电子设备进行防呆检查，得到防呆检查结果，在防呆检查结果指示防呆检查成功时调用测试子流程，以在校准之前和/或功能测试之前，确定电子设备是否准备好，提高测试准确度。一些示例中，防呆检查包括但不限于二维码防呆、重力感应防呆和环境光防呆等，二维码防呆用于检查电子设备显示的二维码是否正确，重力感应防呆用于确定电子设备是否固定在固定装置上，环境光防呆用于确定电子设备所处环境的光照是否满足预设光照测试要求，如确定光的亮度是否满足预设亮度要求。在电子设备通过上述防呆检查后，说明电子设备完成测试准备，以提高测试准确度。
10.可选的，在调用测试流程中的校准流程，对器件进行校准之前，方法还包括：以第一显示方式显示电子设备的设备信息，控制设备用于在获取到设备信息后且电子设备满足预设条件时，触发设备信息指向的电子设备的组件；在对器件中与测试子流程对应的功能进行测试之后，方法还包括：以第一显示方式显示电子设备的测试结果。其中，显示电子设备的设备信息是为了使得控制设备可以确定当前所控制的电子设备，这样在确定电子设备满足预设条件时，控制设备可以触发当前所控制的电子设备的组件，以指示电子设备满足测试条件，降低控制设备错误触发组件的可能性，提高准确度。第一显示方式包括二维码方式，如第一显示方式可以是二维码方式、也可以是二维码和字符串相结合方式，如在二维码显示设备信息的同时显示指向设备信息的字符串，又例如字符串可以是对二维码的说明等，对第一显示方式不进行限定。
11.可选的，方法还包括：在设备信息和/或测试结果显示第二预设时长后，以第二显
示方式显示设备信息和/或测试结果，第一显示方式的功耗大于第二显示方式的功耗。如第二显示方式可以是字符串，因第一显示方式的功耗大于第二显示方式，在以第一显示方式显示设备信息和/或测试结果第二预设时长后，电子设备以第二显示方式显示设备信息和/或测试结果，以降低功耗。在第一显示方式包括二维码方式时，电子设备长时间显示二维码，存在烧屏现象，在第二预设时长后不再显示二维码，从而解决烧屏现象，第二预设时长的取值不进行限定。
12.可选的，人机交互测试系统设置在电子设备的应用程序层，人机交互测试系统包括入口管理模块、校准测试流程控制模块；入口管理模块用于设置测试流程中各流程的启动条件，在满足启动条件时确定满足测试条件；校准测试流程控制模块，用调用测试流程中的校准流程，对器件进行校准，得到校准结果；响应于校准结果指示器件正常，对测试流程中的每个测试子流程按照如下方式进行处理：确定电子设备满足测试条件；调用测试流程中与测试条件匹配的测试子流程，对器件中与测试子流程对应的功能进行测试。
13.可选的，人机交互测试系统还包括：防呆功能模块；防呆功能模块，用于从多重防呆检查中选择测试流程对应的防呆检查，在调用测试流程时进行防呆检查；入口管理模块，还用于提供多种启动条件，从多种启动条件中选择测试流程中各流程的启动条件。
14.可选的，人机交互测试系统还包括：测试显示模块和屏幕保护设计模块；测试显示模块，用于显示电子设备的设备信息和/或测试结果；屏幕保护设计模块，用于控制设备信息和/或测试结果的显示方式。
15.可选的，测试流程为电子设备中比吸收率传感器的测试流程(对应下面的sar传感器测试流程)，比吸收率传感器的测试流程包括校准流程、接近功能测试子流程和远离功能测试子流程；在确定电子设备接近测试对象后，调用接近功能测试子流程，对比吸收率传感器的接近功能进行测试；在确定电子设备远离测试对象后，调用远离功能测试子流程，对比吸收率传感器的远离功能进行测试。测试对象可以是控制设备中用于模拟人体的对象，如电子设备被固定在控制设备的夹具上，控制设备的挡板用于模拟人体，夹具控制电子设备远离挡板或接近挡板，在接近挡板后调用接近功能测试子流程，在远离挡板后调用远离功能测试子流程，从而根据电子设备与挡板之间的位置关系，调用正确的测试子流程进行测试，提高测试准确度。
16.第二方面，本技术提供一种电子设备，电子设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器；存储器存储有一个或多个程序，当一个或者多个程序被处理器执行时，使得电子设备执行上述测试方法。
17.第三方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储了计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述测试方法。
附图说明
18.图1为本技术提供的sar传感器的结构示意图；
19.图2为本技术提供的sar传感器的cdc随距离变化的示意图；
20.图3为本技术提供的电子设备的硬件结构图；
21.图4为本技术提供的电子设备的软件架构图；
22.图5为本技术提供的mmi测试系统的结构图以及与控制设备的交互示意图；
23.图6为本技术提供的显示设备信息的示意图；
24.图7为本技术提供的显示测试成功的测试结果的示意图；
25.图8为本技术提供的显示测试失败的测试结果的示意图；
26.图9为本技术提供的测试方法的流程图；
27.图10为本技术提供的并行测试多个电子设备的示意图；
28.图11为本技术提供的固定电子设备的示意图；
29.图12为本技术提供的测试过程中电子设备和控制设备的交互图。
具体实施方式
30.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。以下实施例中所使用的术语只是为了描述特定实施例的目的，而并非旨在作为对本技术的限制。如在本技术的说明书和所附权利要求书中所使用的那样，单数表达形式“一个”、“一种”、“所述”、“上述”、“该”和“这一”旨在也包括例如“一个或多个”这种表达形式，除非其上下文中明确地有相反指示。还应当理解，在本技术实施例中，“一个或多个”是指一个、两个或两个以上；“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系；例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b的情况，其中a、b可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
31.在本说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
32.本技术实施例涉及的多个，是指大于或等于两个。需要说明的是，在本技术实施例的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。
33.为了保证电子设备的质量，对电子设备中各器件进行测试是非常必要的。在一些示例中，电子设备的测试可通过产线操作员手动完成，产线操作员可按照电子设备中各器件的器件测试指导文本，对器件测试指导文本指向的器件进行测试。但是不同器件的器件测试指导文本之间存在差异，产线操作员按照器件测试指导文本对器件进行测试时容易出现问题，如操作不规范，导致测试结果有误，降低了测试准确度。
34.以比吸收率(specific absorption ratio，sar)传感器为例，sar传感器的结构图如图1所示，sar传感器包括：金属面(metal surface)、隔离面(isolation)、电极(shield electrode)、印刷电路板(pcb)、传感器(sensor)。sensor设置在pcb上，metal surface连接接地(earth ground)线，从metal surface向上依次是isolation、shield electrode和pcb。该sar传感器是一种电容传感器，用于检测人体是否接近电子设备。sar传感器设置在电子设备中时，sar传感器的感应区和电子设备中天线的辐射区可以是同一个区域，当人体靠近天线时sar传感器中各层结构作用形成电容，如图1中箭头所示，各层结构作用形成电容的原理，此处不再赘述。
35.人体距离电子设备越近，电容越大，如图2中所示，横坐标为距离，纵坐标为cdc(电容数字转换)值，以数字值表示sar传感器检测到的电容变化量，距离的单位可以根据sar传感器的要求设定，此处不进行限定。由此sar传感器通过电容变化量可以判断人体与电子设备之间的距离。天线的功率可以根据人体与电子设备之间的距离确定，在人体与电子设备之间的距离较近时，天线的功率可以降低，以降低对人体的辐射伤害。
36.对于sar传感器来说，在电子设备出厂之前，产线操作员可以按照sar传感器的器件测试指导文本，对sar传感器进行测试，若操作不规范会导致sar校准值有误。例如在测试sar传感器过程中，将具有sar传感器的电子设备固定在夹具(一种固定装置)上，通过夹具控制电子设备向挡板移动。理想情况下，电子设备向挡板靠近时，sar传感器执行近距离测试，近距离测试用于测试sar传感器的接近功能；电子设备远离挡板时，sar传感器执行远距离测试，远距离测试用于测试sar传感器的远离功能。但是产线操作员若操作不规范，可能出现夹具与电子设备之间的配合存在问题的情况，如夹具控制电子设备向挡板靠近时，sar传感器执行远距离测试；夹具控制电子设备远离挡板时，sar传感器执行近距离测试，即在电子设备满足近距离测试条件时对sar传感器进行了远离功能测试，在电子设备满足远距离测试条件时对sar传感器进行了接近功能测试，出现了测试条件与该测试条件下测试的功能不匹配的情况，导致接近功能和远离功能的测试有误，降低测试准确度。
37.为此，本技术提供一种测试方法，该测试方法应用于电子设备中，电子设备具有人机交互(man machine interaction，mmi)测试系统，mmi测试系统包括至少一个测试流程，测试流程对应电子设备中的一个器件，用于对该器件的功能进行测试，也就是说电子设备运行mmi测试系统中的测试流程，对测试流程对应的器件的功能进行自动测试。
38.相对应的，测试方法可以调用mmi测试系统中的测试流程，在确定开始对测试流程对应的器件进行测试时，对器件进行校准，校准的目的是为了确定器件正常；在确定电子设备满足第一测试条件时，调用测试流程中与第一测试条件匹配的第一测试子流程，对器件的第一功能进行测试；在确定电子设备满足第二测试条件时，调用测试流程中与第二测试条件匹配的第二测试子流程，对器件的第二功能进行测试，从而通过测试流程完成器件的自动测试。并且在对器件自动测试过程中，调用与测试条件匹配的测试子流程，对满足该测试条件时执行的功能进行测试，使得测试条件与要测试的功能匹配，保证测试结果是正确的，提高测试准确度。
39.其中，测试条件用于指示电子设备当前的测试影响参数满足一定要求，例如测试条件用于指示电子设备当前的位置在预设位置、指示电子设备当前的姿态为预设姿态，等等。电子设备的位置和姿态可以通过控制设备控制，电子设备中不同器件的测试条件可能不同，此处不再一一赘述。电子设备是否满足测试条件可以由电子设备判断或者由控制设备判断，控制设备在判断电子设备满足条件时，可以触发电子设备中的组件(如音量下键)，在触发电子设备的组件后，电子设备可以调用测试子流程，对器件的功能进行测试。在由控制设备控制电子设备调用测试子流程的场景下，控制设备和电子设备可以协商测试子流程的执行顺序，按照测试子流程的执行顺序控制电子设备满足不同测试子流程对应的测试条件，然后再触发组件后，根据测试子流程的执行顺序，选择匹配的测试子流程。
40.在一些示例中，确定开始对测试流程对应的器件进行测试的方式是：确定是否进行了预设启动操作，如果进行了预设启动操作，确定开始对测试流程对应的器件进行测试。
预设启动操作指向用于开启测试流程的启动类型，例如通过按压按键开启测试流程，那么在确定按键被按下，确定开始测试。例如预设启动操作为按下音量下键，在确定按下音量下键时，确定开始测试。又例如预设启动操作可以是电子设备的角度变化满足预设启动条件，确定开始测试，电子设备的角度变化可通过电子设备中的指南针得到。预设启动操作可由用户配置，根据用户配置的预设启动操作来启动测试，实现测试启动入口的可定制化。
41.在一些示例中，测试方法还可以包括：在对器件进行校准之前，对电子设备进行防呆检查，以确定电子设备是否完成测试准备。可选的，防呆检查包括但不限于二维码防呆、重力感应防呆和环境光防呆等，二维码防呆用于检查电子设备显示的二维码是否正确，重力感应防呆用于确定电子设备是否固定在固定装置上，环境光防呆用于确定电子设备所处环境的光照是否满足预设光照测试要求，如确定光的亮度是否满足预设亮度要求。在电子设备通过上述防呆检查后，说明电子设备完成测试准备，此时可以对器件进行校准，从而提高测试准确度。
42.在一些示例中，测试方法还可以包括：在电子设备上显示设备信息和/或测试结果。例如以二维码形式显示设备信息、在完成任意一个功能的测试后以二维码形式显示该功能的测试结果。控制设备可以扫描二维码，获取到设备信息和/或测试结果，设备信息和/或测试结果可以上传到监控方，由监控方根据测试结果监控整个测试流程。在得到测试成功的测试结果后，测试结果可以在下一功能开始之前一直显示，这样在下一功能开始的任意时间点，控制设备都可以获取到该测试结果，且通过这种方式可以确定成功完成一个功能的测试。在得到测试失败的测试结果后，电子设备禁止以二维码形式显示该测试结果，因为控制设备没有扫描到二维码，控制设备可通过扫描超时确定测试失败。
43.可选的，电子设备长时间显示二维码存在烧屏现象，为此，在电子设备显示二维码一定时长后，将二维码携带的信息转换成字符串显示。其中烧屏现象是指电子设备的显示屏长时间显示静止状态的二维码，在显示屏上可以留下二维码的残影。
44.上述测试方法可以应用于电子设备中，在一些实施例中，该电子设备可以是手机、平板电脑、桌面型、膝上型、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，umpc)、手持计算机、上网本、个人数字助理(personal digital assistant，pda)、可穿戴电子设备、智能手表等设备。本技术对电子设备的具体形式不做特殊限定。
45.如图3所示，该电子设备可以包括：处理器，外部存储器接口，内部存储器，通用串行总线(universal serial bus，usb)接口，充电管理模块，电源管理模块，电池，天线1，天线2，移动通信模块，无线通信模块，传感器模块，按键，马达，指示器，摄像头，显示屏，以及用户标识模块(subscriber identification module，sim)卡接口等。其中音频模块可以包括扬声器，受话器，麦克风，耳机接口等，传感器模块可以包括压力传感器，陀螺仪传感器，气压传感器，磁传感器，加速度传感器，距离传感器，接近光传感器，指纹传感器，温度传感器，触摸传感器，环境光传感器，骨传导传感器等。
46.处理器可以包括一个或多个处理单元，例如：处理器可以包括应用处理器(application processor，ap)，调制解调处理器，图形处理器(graphics processing unit，gpu)，图像信号处理器(image signal processor，isp)，控制器，视频编解码器，数字信号处理器(digital signal processor，dsp)，基带处理器，和/或神经网络处理器(neural-network processing unit，npu)等。其中，不同的处理单元可以是独立的器件，也
multiple access，cdma)，宽带码分多址(wideband code division multiple access，wcdma)，时分码分多址(time-division code division multiple access，td-scdma)，长期演进(long term evolution，lte)，bt，gnss，wlan，nfc，fm，和/或ir技术等。所述gnss可以包括全球卫星定位系统(global positioning system，gps)，全球导航卫星系统(global navigation satellite system，glonass)，北斗卫星导航系统(beidou navigation satellite system，bds)，准天顶卫星系统(quasi-zenith satellite system，qzss)和/或星基增强系统(satellite based augmentation systems，sbas)。
54.电子设备通过gpu，显示屏，以及应用处理器等实现显示功能。gpu为图像处理的微处理器，连接显示屏和应用处理器。gpu用于执行数学和几何计算，用于图形渲染。处理器可包括一个或多个gpu，其执行程序指令以生成或改变显示信息。
55.显示屏用于显示图像，视频等。显示屏包括显示面板。显示面板可以采用液晶显示屏(liquid crystal display，lcd)，有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体(active-matrix organic light emitting diode的，amoled)，柔性发光二极管(flex light-emitting diode，fled)，miniled，microled，micro-oled，量子点发光二极管(quantum dot light emitting diodes，qled)等。在一些实施例中，电子设备可以包括1个或n个显示屏，n为大于1的正整数。
56.电子设备的显示屏上可以显示一系列图形用户界面(graphical user interface，gui)，这些gui都是该电子设备的主屏幕。一般来说，电子设备的显示屏的尺寸是固定的，只能在该电子设备的显示屏中显示有限的控件。控件是一种gui元素，它是一种软件组件，包含在应用程序中，控制着该应用程序处理的所有数据以及关于这些数据的交互操作，用户可以通过直接操作(direct manipulation)来与控件交互，从而对应用程序的有关信息进行读取或者编辑。一般而言，控件可以包括图标、按钮、菜单、选项卡、文本框、对话框、状态栏、导航栏、widget等可视的界面元素。例如，在本技术实施例中，显示屏可以以二维码形式显示设备信息和/或测试结果。
57.可以理解的是，本实施例示意的结构并不构成对电子设备的具体限定。在另一些实施例中，电子设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件，软件或软件和硬件的组合实现。
58.另外，在上述部件之上，运行有操作系统。例如苹果公司所开发的ios操作系统，谷歌公司所开发的android开源操作系统，微软公司所开发的windows操作系统等。
59.电子设备的操作系统可以采用分层架构，事件驱动架构，微核架构，微服务架构，或云架构。本技术实施例以分层架构的android系统为例，示例性说明电子设备的软件结构。图4是电子设备的软件结构框图。分层架构将软件分成若干个层，每一层都有清晰的角色和分工。层与层之间通过软件接口通信。以android系统为例，在一些实施例中，将android系统分为四层，从上至下分别为应用程序层，应用程序框架层(framework)，硬件抽象层(hal)以及系统内核层(kernel)。
60.其中，应用程序层可以包括一系列应用程序包，应用程序包可以包括相机，图库，日历，通话，地图，导航，wlan，音乐，短信息等应用程序。应用程序层还可以包括mmi测试系统，mmi测试系统用于对电子设备中的器件进行测试。应用程序框架层为应用程序层的应用
程序提供应用编程接口(application programming interface，api)和编程框架。应用程序框架层包括一些预先定义的函数。如图4所示，应用程序框架层可以包括窗口管理器，内容提供器，视图系统，电话管理器，资源管理器，通知管理器等。例如应用程序框架层可以包括mmi测试服务接口等，通过这些接口可以向hal层传递应用程序层下发的各条指令，以及向应用程序层传递hal层从内核层获得的硬件数据等。
61.hal运行于用户空间(user space)，对内核层驱动进行封装，向上层提供调用接口，如向应用程序层和应用程序架构层提供调用接口，使得应用程序层和应用程序架构层可以从内核层中获取到硬件数据。例如hal层可以包括多个so文件，so文件可以封装成调用接口，使应用程序层和应用程序框架层可以调用so文件中编译好的代码等，通过这些代码实现对内核层中硬件数据的采集等等。例如hal层调用so文件可以从内核层中读取到重力传感器数据、环境光传感器数据和sar传感器数据等等。内核层至少包含器件驱动，如内核层包括显示驱动，摄像头驱动，音频驱动，传感器驱动。
62.图5示出了mmi测试系统的结构，如mmi测试系统可以包括：防呆功能模块、入口管理模块、校准测试流程控制模块、测试显示模块和屏幕保护设计模块。防呆功能模块用于提供多重防呆检查，以确定电子设备满足预设测试环境条件，预设测试环境条件用于指示电子设备固定在控制设备上且电子设备当前所处环境满足测试要求。一些示例中，防呆功能模块用于提供二维码防呆、重力感应防呆、环境光防呆等至少三重防呆，二维码防呆用于检测电子设备是否可以正常显示二维码，重力感应防呆用于检测电子设备是否固定在控制设备上，环境光防呆用于检测电子设备所处环境的光照是否满足预设光照测试要求，如确定光的亮度是否满足预设亮度要求，三重防呆测试通过后，确定可以对测试流程指向的器件进行测试；如果三重防呆测试中的至少一种防呆项没有通过，则禁止测试，即按照防呆失败处理。
63.防呆功能模块中的至少一种防呆可以增加容错处理，如重力感应防呆增加了容错处理，例如在开启测试之前(如测试环境准备好)进行一次重力感应防呆，在开启测试进行校准前进行一次重力感应防呆等等，任意一次重力感应防呆不通过，测试不通过。若重力感应防呆没有通过，消耗了一次启动操作。又例如在对测试流程中的每项功能进行测试之前，进行一次重力感应防呆，如针对sar传感器的测试，在校准、接近功能测试和远离功能测试之前，进行一次重力感应防呆，任意一次重力感应防呆不通过，测试不通过，且任意一次重力感应防呆不通过，终止测试。
64.入口管理模块用于设置测试流程的启动条件，如对于测试流程，通过按键或者指南针方式启动，实现启动类型的可定制。校准测试流程控制模块用于控制测试流程，以通过校准测试流程控制模块实现自动测试。测试显示模块用于进入测试及测试结束后显示二维码，二维码中携带有设备信息和/或测试结果。屏幕保护设计模块用于控制屏幕的显示，如控制屏幕显示二维码的时长，以防止二维码长时间存在烧坏屏幕，即出现烧屏现象。二维码在显示一段时长后，电子设备可以将二维码转换成字符串显示，相对应的，屏幕保护设计模块还用于该字符串。
65.上述防呆功能模块中的防呆项、入口管理模块设置的启动条件、校准测试流程控制模块对应的测试流程、测试显示模块显示数据时的格式、屏幕保护设计模块设置的二维码显示时长以及转换后的字符串中的至少一种设置可以记录在配置文件中，配置文件可以
是可扩展标记语言(extensible markup language，xml)格式。
66.在图5中，入口管理模块包括入口模式定制单元、按键处理单元和指南针数据处理单元，入口模式定制单元用于指示测试启动以及控制测试流程的方式，如以按键和/或指南针方式，按键启动和指南针启动可以通过mmi属性配置文件配置，不同电子设备可以配置不同的启动类型，实现个性化定制。按键处理单元用于设置以按键启动测试以及控制测试流程，指南针数据处理单元用于设置以指南针启动测试以及控制测试流程。
67.防呆功能模块可以包括防呆模式定制单元、重力感应防呆单元、环境光防呆单元和二维码防呆单元。防呆模式定制单元用于设置防呆项，如从重力感应防呆、环境光防呆和二维码防呆中选择至少一种防呆项。重力感应防呆单元用于进行重力感应防呆检查，以检测电子设备是否固定在控制设备上。环境光防呆用于检测电子设备所处环境的光照是否满足预设光照测试要求，如确定光的亮度是否满足预设亮度要求。二维码防呆单元用于检测电子设备是否可以正常显示二维码。二维码防呆单元也可以设置在测试显示模块中。
68.防呆功能模块中各单元的开关可从mmi属性配置文件配置转移到底层管控(如各单元对应的驱动管控)，在底层管控完成配置后，配置结果上报至mmi测试系统，上报规则如下，每个数据中间可以用空格隔开：
69.threshold_gravity:0threshold_xyz:0threshold_light:8
70.第1位上报重力防呆开关，0表示开启重力防呆，1表示关闭重力防呆；
71.第2位上报重力防呆过程中应使用哪个轴(xyz)数据进行计算；
72.第3位上报光感防呆门限，如果门限大于1，说明开启了环境光防呆，如果为0，说明关闭了环境光防呆。
73.测试显示模块包括二维码信息显示单元，二维码信息显示单元用于以二维码形式显示设备信息和/或测试结果。二维码显示的内容格式可以是：bsn|测试结果|diff|offset，例如agef01226a000143|1|-5|10304。其中bsn为设备信息的一种示例，测试结果包括0和1，0表示测试成功，1表示测试失败，diff为校准后的门限，offset为补偿值，指示diff与初始门限之间的差值。例如在sar传感器测试流程中，diff为用于判断接近还是远离的门限，若电子设备与人体之间的距离大于该门限，则视为接近，如果小于该门限，则视为远离。
74.在进入某个测试流程后，调用该测试显示模块显示二维码信息，该二维码信息的主要作用是将设备信息告诉控制设备，那么该二维码信息中的测试结果可以为空，该二维码信息可以在屏幕的中间位置显示。测试过程中若测试失败，测试显示模块可以显示失败界面(包含错误码)，因为测试显示模块没有显示携带bsn和测试结果的二维码信息，控制设备无法扫描到二维码信息，控制设备确定扫描超时，通过超时判断测试失败。测试成功后显示成功界面，成功界面可以显示指示测试成功的信息，该信息可以一直显示，并在进入下一个测试时显示下一个测试的测试结果。
75.测试显示模块还可以包括字符串显示单元，在二维码显示一段时长后，二维码被转换为字符串，则字符串显示单元可以显示该字符串。
76.屏幕保护设计模块包括二维码烧屏处理单元和弹窗防烧屏处理单元，二维码烧屏处理单元用于控制屏幕显示二维码的时长，以防止二维码长时间存在烧坏屏幕。弹窗防烧屏处理单元用于在屏幕显示弹窗信息一段时长后启动屏保。例如测试过程中若一直处于测试成功状态，测试显示模块可以显示二维码信息，如在屏幕的中间位置显示二维码信息。但
是显示时长较长，屏幕可能出现烧屏现象，为此，二维码信息在屏幕上显示1分钟(示例，实际中可以限定其他时间)后二维码信息，在屏幕上显示字符串。若在测试过程中测试异常，则在屏幕上显示弹窗，该弹窗显示5分钟后启动屏保，5分钟也是一个示例。
77.如图6所示，在进入测试流程后，按照图6中的(1)所示，显示携带设备信息的二维码信息，在显示二维码信息的同时也可以显示字符串。在图6中的(1)的二维码信息显示1分钟后，二维码信息消息，仅显示字符串，如图6中的(2)所示。
78.在完成测试流程中一个功能的测试，且测试成功后，按照图7中的(1)所示，显示携带设备信息和测试结果的二维码信息，同样也可以显示字符串。在图7中的(1)的二维码信息显示1分钟后，二维码信息消息，仅显示字符串，如图7中的(2)所示。图8示出了测试失败的二维码信息的示例。控制设备可以通过二维码扫描，实现与电子设备的信息交互。
79.校准测试流程控制模块包括校准单元、第一测试功能处理单元和第二测试功能处理单元等，校准测试流程控制模块中测试功能处理单元的数量与测试流程中需要测试的功能数量相同，校准测试流程控制模块可以按照测试流程调用该模块中的各单元。如测试流程为sar传感器测试流程，校准测试流程控制模块包括sar传感器校准单元、sar传感器接近功能测试单元和sar传感器远离功能测试单元，sar传感器校准单元用于对sar传感器进行校准，sar传感器接近功能测试单元用于对sar传感器进行接近功能测试，sar传感器远离功能测试单元用于对sar传感器进行远离功能测试。
80.在调用mmi测试系统中各模块进行测试时，mmi测试系统中各模块可以通过应用程序架构层(如传感器管理模块(sensormanager))、hal层(如传感器hal模块(sensorhal))从内核层中获取数据，如获取sar传感器检测到的cdc等等。在一些情况下，mmi测试系统中各模块可以跳过应用程序架构层，直接与hal层交互，从hal层中获取数据，对于mmi测试系统中各模块如何获取数据，本实施例不再详述也不限定数据获取方式、数据经过的传输路径等，在各测试流程测试过程中，控制设备可以控制电子设备按照测试流程中需要测试的功能运动，以使得电子设备满足测试流程中需要测试的功能的测试条件。
81.其中控制设备包括：流程控制模块、二维码解析模块、夹具动作流程控制模块和数据上传处理模块，如图5所示。流程控制模块用于控制电子设备运行mmi测试系统中的测试流程，如在控制设备按下电子设备的按键(如音量下键)，电子设备可以运行mmi测试系统中的sar传感器测试流程，以按照sar传感器测试流程对电子设备中的sar传感器进行测试。
82.夹具动作流程控制模块用于在电子设备固定在夹具上后，调整电子设备的姿态、位置等中的至少一种，以使得电子设备能够处于器件所需的测试条件下。例如对sar传感器测试时，夹具动作控制流程可以控制电子设备远离或接近挡板，以模拟人体远离电子设备或接近电子设备，挡板用于模拟人体。
83.夹具动作流程控制模块的控制流程与测试流程中各子流程相匹配，仍以sar传感器测试流程为例，sar传感器测试流程是：先对sar传感器进行校准，再测试接近功能，最后测试远离功能；夹具动作流程控制模块的控制流程是：先将电子设备固定在夹具上，再在夹具的动作下控制电子设备接近挡板，最后在夹具的动作下控制电子设备远离挡板。
84.二维码解析模块可以获取电子设备显示的二维码，对二维码进行解码，以得到设备信息和/或测试结果，设备信息和/或测试结果可以通过数据上传处理模块上传到云端。监控设备可以从云端下载，由监控设备处的监控人员对设备信息和/或测试结果进行监控。
数据上传处理模块还用于对设备信息和/或测试结果进行压缩、格式转换等处理，将处理结果上传至云端。
85.下面以测试流程为sar传感器测试流程为例，阐述电子设备调用图5所示测试流程中各模块时执行的测试方法，测试方法的流程图如图6所示，可以包括以下步骤：
86.s101、获取sar传感器测试流程的启动类型，启动类型可以从入口模式定制单元中得到。
87.s102、判断启动类型是否包括指南针启动，如果是，执行步骤s103、如果否，执行步骤s104。
88.s103、注册指南针事件监听，指南针事件监听是为了能够从指南针处获取到数据，以监测指南针的使用。
89.s104、判断初始化布局是否成功，如果是，执行步骤s105，如果否，执行步骤s129。
90.初始化布局可以是对二维码信息的显示进行配置等等，如配置二维码信息在屏幕中的显示位置，又例如配置二维码信息在屏幕上显示的时长等等。初始化布局也可以对防呆功能模块中各防呆的门限以及各门限的开关进行设置，此处不对初始化布局设计的内容进行一一说明。
91.s105、更新界面信息，以在界面上显示携带设备信息的二维码信息，这样控制设备通过扫描方式可以从二维码信息中提取到设备信息，在显示二维码信息后等待控制设备的扫描。
92.s106、获取sar传感器测试列表以及防呆功能模块中各防呆的门限。sar传感器测试列表中记录了sar传感器需要测试的功能，如对sar传感器进行校准、接近功能测试和远离功能测试。
93.s107、判断是否支持重力感应防呆，如果是，执行步骤s108，如果否，执行步骤s109。
94.s108、注册加速度事件监听，以通过加速度事件监听获取到加速度传感器采集的数据，通过加速度传感器采集的数据进行重力感应防呆。
95.s109、判断是否支持环境光防呆，如果是，执行步骤s110，如果否，执行步骤s111。
96.s110、注册环境光事件监听，以通过环境光事件监听获取到环境光传感器采集的数据，通过环境光传感器采集的数据进行环境光感应防呆。
97.s111、获取sar传感器校准列表。sar传感器校准列表中记录了对sar传感器进行校准的方式、对sar传感器执行哪些校准以及对哪几个sar传感器进行校准。如一些示例中，通过检测sar传感器测得的电容值来确认电子设备的天线以及sar传感器的外围电路是否正常，以及通过当前远离状态的初始门限，得到校准后的门限，校准后的门限用于判断是接近还是远离，sar传感器的外围电路是为了支撑sar传感器正常工作的电路，如供电电路等。sar传感器校准列表可以记录sar传感器的数量，对这些sar传感器进行校准，每个sar传感器串行校准，即在一个sar传感器完成校准后对另一个sar传感器校准，任一sar传感器的校准不通过(即失败)，终止对其他sar传感器的校准，以终止测试。
98.在这里需要说明的一点是：电子设备对sar传感器进行接近功能测试和远离功能测试时，多个sar传感器的测试结果融合为一个测试结果，将融合后的测试结果作为电子设备的测试结果。
99.s112、准备开始对sar传感器进行测试。
100.s113、判断启动类型是否为按键启动，如果是，执行步骤s114，如果否，执行步骤s131。如果启动类型是按键启动，说明通过按下某个按键可以启动对sar传感器的测试，则执行步骤s114，通过控制设备按下sar传感器测试流程对应的按键来启动。如果启动类型不是按键启动，说明启动类型是指南针启动，执行步骤s131，启动指南针，在获取指南针数据后，确定指南针数据是否满足启动条件，在满足启动条件时，执行s115。指南针启动可以控制第一个功能的启动，但是后续功能可通过按下音量下键来启动，当然也可以继续获取指南针数据，在指南针数据满足后续功能的启动条件时触发后续功能。
101.s114、通过控制设备按下音量下键以启动测试，第一次按下音量下键表示要对sar传感器中的功能进行测试，测试之前，需要对电子设备是否满足预设测试环境条件进行监测，使得在一定环境下测试sar传感器。
102.s115、开启电子设备的防呆检查，如注册了加速度事件监听和环境光事件监听，则对电子设备进行重力感应防呆和环境光感应防呆。防呆检查的过程可以是步骤s116至步骤s121。
103.s116、判断sar传感器测试列表中的功能是否还没有结束测试，如果是，执行步骤s117，如果否，执行步骤s130。
104.s117、判断电子设备是否已经准备好开始环境检查，如果是，执行步骤s119，如果否，执行步骤s118。环境检查可以包括重力感应防呆和环境光感应防呆，具体视当前待测试的功能而定。
105.s118、等待一段时间后开始环境检查，如等待2秒后开始环境检查。
106.s119、判断是否支持环境检查，如果是，执行步骤s120，如果否，执行步骤s122。
107.s120、执行环境检查。
108.s121、判断环境检查是否成功，如果成功，执行步骤s122，如果否，执行步骤s129。
109.s122、判断完成测试的功能数量是否大于sar传感器测试列表中记录的功能数量，如果否，执行步骤s123，如果是，执行步骤s130。
110.s123、确定要测试的功能，对该功能进行测试，并对功能数量进行加1操作。功能数量可通过某个字段的取值表示，如字段为index，在完成一个功能的测试后，执行index++。
111.s124、判断测试是否成功，如果是，执行步骤s125，如果否，执行步骤s129。
112.s125、判断sar传感器测试列表中的所有功能是否都完成测试，如果否，执行步骤s126，如果是，执行步骤s127。
113.s126、等待下一个要测试的功能，并返回步骤s114，以通过音量下键的再次按下，启动下一个要测试的功能。
114.s127、更新界面信息，此时界面上可显示携带有测试结果的二维码信息。
115.s128、在二维码信息显示1分钟后，不再显示该二维码信息。
116.s129、显示测试失败界面，并执行s130。在环境检查阶段，测试失败界面显示环境检查失败，在功能测试阶段，测试失败界面显示测试失败。
117.s130、显示测试结束界面，测试结束界面用于指示停止测试，此外还指示状态还原和解注册等，状态还原是否将电子设备中各器件的状态还原，解注册可以是解除加速度事件监听和环境光事件监听。
118.一些示例中，多个电子设备可以固定在同一个控制设备上，每个电子设备可以分别运行mmi测试系统，对电子设备中的器件进行测试，实现多个电子设备并行测试，以完成对多个电子设备的并行校准。例如，每个电子设备可以运行mmi测试系统中的sar传感器测试流程，对电子设备中的sar传感器进行测试，sar传感器的测试主要是测试接近功能和远离功能，通过功能测试实现对多个电子设备中的sar传感器的并行校准。
119.图10示出了多个电子设备并行测试的示意图，多个电子设备通过控制设备的夹具固定，在完成固定后，通过控制设备按下每个电子设备的音量下键，启动对电子设备中器件的测试，如启动对电子设备中sar传感器的测试。在电子设备固定到控制设备上时，电子设备可以以二维码形式显示电子设备的设备信息，电子设备得到测试结果后，测试结果也可以以二维码形式显示。控制设备中的二维码解析模块可以获取电子设备显示的二维码，对二维码进行解码，以得到设备信息和/或测试结果，设备信息和/或测试结果可以上传到云端。监控设备可以从云端下载，由监控设备处的监控人员对设备信息和/或测试结果进行监控。
120.电子设备通过夹具固定的示意图如图11所示，在完成固定后，电子设备可以对sar传感器进行测试，在对sar传感器测试过程中，夹具可以控制电子设备接近或远离挡板，也可以控制电子设备与挡板之间的距离不变，这一系列的控制要与sar传感器测试流程匹配。如夹具动作流程控制模块指示夹具控制电子设备远离挡板，如夹具移动至与挡板距离70毫米的位置，电子设备与挡板之间的距离为70毫米，说明满足了sar传感器测试流程中校准流程对应的测试条件，此时控制设备第一次按下电子设备的音量下键，对sar传感器进行校准，并且夹具动作流程控制模块控制夹具固定不变，使得电子设备与挡板之间的距离不变，在这种情况下对sar传感器进行一定时长的校准(如5.5秒的校准)；在控制设备第二次按下电子设备的音量下键时，对sar传感器进行接近功能的测试，在第二次按下电子设备的音量下键之前，夹具动作流程控制模块可以控制夹具移动，在夹具移动下电子设备已经接近挡板，如已经运动到距离挡板5毫米的位置，说明满足了sar传感器测试流程中接近功能测试子流程对应的测试条件，控制设备可以第二次按下电子设备的音量下键，电子设备调用接近功能测试子流程对sar传感器进行接近功能的测试；在控制设备第三次按下电子设备的音量下键时，对sar传感器进行远离功能的测试，在第三次按下电子设备的音量下键之前，夹具动作流程控制模块可以控制夹具移动，在夹具移动下电子设备已经远离挡板，如已经运动到距离挡板7毫米的位置，说明满足了sar传感器测试流程中远离功能测试子流程对应的测试条件，控制设备可以第三次按下电子设备的音量下键，电子设备调用远离功能测试子流程对sar传感器进行远离功能的测试。在完成sar传感器的测试后，夹具复位，为下一次测试做准备。
121.在对多个电子设备并行测试过程中，第一次按下音量下键，多个电子设备可以并行校准，即一次按键操作触发多个电子设备进行校准。同样的第二次按下音量下键，触发多个电子设备进行sar传感器的接近功能测试，第三次按下音量下键，触发多个电子设备进行sar传感器的远离功能测试。任一电子设备的测试流程如下：
122.1)电子设备放入夹具，夹具处于远离挡板的状态(简称远离状态)，如夹具与挡板之间的距离为70毫米；
123.2)控制设备按下电子设备的音量下键，如可以由夹具按下音量下降，电子设备启
动防呆检查以及对sar传感器进行校准；
124.3)夹具先移动电子设备到近距离位置，即夹具从远离挡板的状态切换至接近挡板的状态；
125.4)夹具按音量下键，电子设备启动接近功能测试；
126.5)夹具再移动电子设备到远距离位置，重新回到远离挡板的状态；
127.6)夹具按音量下键，电子设备启动远离功能测试；
128.7)电子设备以二维码形式显示测试结果，测试结果包括校准、接近功能测试和远离功能测试的测试结果，在实际应用中，可以完成一个功能测试显示一次测试结果；
129.8)电子设备进行防烧屏处理。
130.在该测试流程下，电子设备和控制设备之间的交互图如图12所示，可以包括以下步骤：
131.s201、夹具运动至与挡板距离70毫米的位置。
132.s202、夹具完成对电子设备的固定。
133.s203、电子设备进入sar传感器测试流程，以开始对sar传感器进行测试。
134.s204、电子设备完成初始化布局，在初始化布局成功后显示携带电子设备的设备信息的二维码，如携带产品序列号(sn)的二维码。
135.s205、扫描装置在确定夹具固定好电子设备后，开始扫描，扫描装置可以是控制设备中的装置，也可以是与控制设备进行交互的一个设备。
136.s206、控制设备从二维码中获取到电子设备的设备信息，控制电子设备进入测试空间，这个过程称为在线管控入站。
137.s207、夹具确定对sar传感器进行5.5秒的校准，在校准过程中，夹具可以控制电子设备的位置不变。
138.s208、夹具按下电子设备的音量下键，sar传感器开始进行校准。
139.s209、夹具移动至与挡板距离5毫米的位置。夹具移动可以是在完成校准后，也可以由夹具根据历史数据决定接近挡板的时机。又例如夹具在按下电子设备的音量下键后，夹具等待一段时间后，移动至与挡板距离5毫米的位置，等待的时间下夹具认为sar传感器完成了校准。
140.s210、夹具移动到与挡板距离5毫米的位置后，确定可以对sar传感器进行接近功能测试。
141.s211、夹具再次按下电子设备的音量下键，sar传感器开始接近功能测试。
142.s212、夹具移动至与挡板距离70毫米的位置。夹具移动可以是在完成接近功能测试后，也可以由夹具根据历史数据决定远离挡板的时机。又例如夹具在按下电子设备的音量下键后，夹具等待一段时间后，移动至与挡板距离70毫米的位置，等待的时间下夹具认为sar传感器完成了接近功能测试。
143.s213、夹具移动到与挡板距离70毫米的位置后，确定可以对sar传感器进行远离功能测试。
144.s214、夹具再次按下电子设备的音量下键，sar传感器开始远离功能测试，在完成远离功能测试后，更新二维码信息，在更新后的二维码信息中显示测试结果。
145.s215、电子设备在二维码信息显示一段时间后不再显示该二维码信息。
146.s216、夹具复位，测试结束。
147.s217、扫描装置根据夹具的动作流程等待一定时间，主要是等待夹具控制电子设备完成对sar传感器的功能测试。
148.s218、扫描装置在确定夹具动作结束后，扫描电子设备显示的二维码信息，以得到测试结果。
149.s219、在完成测试后，电子设备从测试空间中移走，这一过程称为在线管控出站。
150.在夹具每次按下电子设备的音量下键后，延迟一段时间再开始进行测试，延迟的目的是为了等待夹具的气缸复位，如等待0.2秒使气缸复位，降低将气缸视为挡板的可能性，从而降低对sar传感器测试的影响，提高测试的准确度。除了通过按下电子设备的按键启动测试之外，电子设备和控制设备还可以通过信息交互方式来控制测试，如夹具固定好电子设备后，向电子设备发送指示完成固定，可以开始校准测试的指令。电子设备在接收到指令后开始进行校准；又例如在电子设备完成一个功能测试后，向控制设备发送一个功能测试完成的指令，控制设备在接收到该指令后，可以通过夹具改变电子设备的姿态和位置等，在完成后向电子设备发送指令，电子设备可以通过指令中携带的姿态数据确定是否满足要测试的功能的测试条件，如果满足可以开启该功能的测试。
151.本技术提供一种电子设备，电子设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器；存储器存储有一个或多个程序，当一个或者多个程序被处理器执行时，使得电子设备执行上述测试方法。
152.本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储了计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述测试方法。

技术特征：
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备，所述电子设备具有人机交互测试系统，所述人机交互测试系统存储至少一个测试流程，所述测试流程用于对所述电子设备中的器件的功能进行测试，所述方法包括：调用所述测试流程中的校准流程，对所述器件进行校准，得到校准结果；响应于所述校准结果指示所述器件正常，对所述测试流程中的每个测试子流程按照如下方式进行处理：确定所述电子设备满足测试条件；调用所述测试流程中与所述测试条件匹配的测试子流程，对所述器件中与所述测试子流程对应的功能进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应于所述校准结果指示所述器件正常，确定所述电子设备满足测试条件包括：响应于所述校准结果指示所述器件正常，确定所述电子设备中的组件被控制设备触控，所述控制设备用于在所述电子设备满足预设条件时触控所述组件。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调用所述测试流程中与所述测试条件匹配的测试子流程包括：在确定所述电子设备中的组件被控制设备触控后，延迟第一预设时长调用所述测试流程中与所述测试条件匹配的测试子流程。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应于所述校准结果指示所述器件正常，确定所述电子设备满足测试条件包括：响应于所述校准结果指示所述器件正常，获取所述电子设备的测试影响参数的参数值，所述测试影响参数包括所述电子设备的位置、所述电子设备的姿态和所述电子设备所处环境的环境参数中的至少一种；若所述电子设备的测试影响参数的参数值为预设参数值，确定所述电子设备满足所述测试条件。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于，在所述调用所述测试流程中的校准流程之前，所述方法还包括：对所述电子设备进行防呆检查，得到防呆检查结果，在所述防呆检查结果指示防呆检查成功时调用校准流程；和/或，在所述调用测试子流程之前，所述方法还包括：对所述电子设备进行防呆检查，得到防呆检查结果，在所述防呆检查结果指示防呆检查成功时调用测试子流程。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述调用所述测试流程中的校准流程，对所述器件进行校准之前，所述方法还包括：以第一显示方式显示所述电子设备的设备信息，所述控制设备用于在获取到设备信息后且所述电子设备满足预设条件时，触发设备信息指向的电子设备的组件；在所述对所述器件中与所述测试子流程对应的功能进行测试之后，所述方法还包括：以所述第一显示方式显示所述电子设备的测试结果。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述设备信息和/或所述测试结果显示第二预设时长后，以第二显示方式显示所述设备信息和/或所述测试结果，所述第一显示方式的功耗大于所述第二显示方式的功耗。8.根据权利要求1至7中任意一项所述的方法，其特征在于，所述人机交互测试系统设
置在所述电子设备的应用程序层，所述人机交互测试系统包括入口管理模块、校准测试流程控制模块；所述入口管理模块用于设置测试流程中各流程的启动条件，在满足所述启动条件时确定满足所述测试条件；所述校准测试流程控制模块，用调用所述测试流程中的校准流程，对所述器件进行校准，得到校准结果；响应于所述校准结果指示所述器件正常，对所述测试流程中的每个测试子流程按照如下方式进行处理：确定所述电子设备满足测试条件；调用所述测试流程中与所述测试条件匹配的测试子流程，对所述器件中与所述测试子流程对应的功能进行测试。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述人机交互测试系统还包括：防呆功能模块；所述防呆功能模块，用于从多重防呆检查中选择所述测试流程对应的防呆检查，在调用所述测试流程时进行防呆检查；所述入口管理模块，还用于提供多种启动条件，从所述多种启动条件中选择所述测试流程中各流程的启动条件。10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述人机交互测试系统还包括：测试显示模块和屏幕保护设计模块；所述测试显示模块，用于显示所述电子设备的设备信息和/或测试结果；所述屏幕保护设计模块，用于控制所述设备信息和/或所述测试结果的显示方式。11.根据权利要求1至10中任意一项所述的方法，其特征在于，所述测试流程为所述电子设备中比吸收率传感器的测试流程，所述比吸收率传感器的测试流程包括校准流程、接近功能测试子流程和远离功能测试子流程；在确定所述电子设备接近测试对象后，调用所述接近功能测试子流程，对所述比吸收率传感器的接近功能进行测试；在确定所述电子设备远离所述测试对象后，调用所述远离功能测试子流程，对所述比吸收率传感器的远离功能进行测试。12.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器；所述存储器存储有一个或多个程序，当所述一个或者多个程序被所述处理器执行时，使得所述电子设备执行如权利要求1至11中任意一项所述的测试方法。13.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储了计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至11中任意一项所述的测试方法。

技术总结
本申请提供一种测试方法及装置，测试方法应用于电子设备，电子设备具有人机交互测试系统，人机交互测试系统存储至少一个测试流程，测试流程用于对电子设备中的器件的功能进行测试，方法包括：调用测试流程中的校准流程，对器件进行校准，得到校准结果；响应于校准结果指示器件正常，对测试流程中的每个测试子流程按照如下方式进行处理：确定电子设备满足测试条件；调用测试流程中与测试条件匹配的测试子流程，对器件中与测试子流程对应的功能进行测试，以通过测试流程完成器件的自动测试。并且在对器件自动测试过程中，调用与测试条件匹配的测试子流程，对满足该测试条件时执行的功能进行测试，使得测试条件与要测试的功能匹配，提高测试准确度。提高测试准确度。提高测试准确度。


技术研发人员：付海静
受保护的技术使用者：荣耀终端有限公司
技术研发日：2022.10.20
技术公布日：2023/9/11