显示装置和驱动显示装置的方法与流程

1.本发明的实施例涉及显示装置和驱动显示装置的方法。更具体地，本发明的实施例涉及执行感测操作的显示装置和驱动该显示装置的方法。


背景技术：

2.通常，显示装置可以包括显示面板、驱动控制器、栅极驱动器和数据驱动器。显示面板可以包括多条栅极线、多条数据线以及电连接到栅极线和数据线的多个像素。栅极驱动器可以将栅极信号提供到栅极线。数据驱动器可以将数据电压提供到数据线。驱动控制器可以控制栅极驱动器和数据驱动器。


技术实现要素：

3.随着显示装置的驱动时间的增加，像素(或包括在像素中的每一个中的发光元件)可能劣化。为了补偿像素的劣化，显示装置可以执行用于感测像素中的每一个的驱动晶体管的特性(例如，阈值电压和/或迁移率)以及像素中的每一个的发光元件的特性(例如，电压-电流特性)的感测操作。显示装置可以通过基于由感测操作生成的感测数据补偿输入图像数据来显示具有均匀亮度的图像。
4.本发明的实施例提供一种显示装置，该显示装置通过反映在劣化时间期间施加到发光元件的应力的强度来确定发光元件的劣化率。
5.本发明的实施例还提供了一种驱动显示装置的方法。
6.根据本发明的实施例，一种显示装置包括：显示面板，包括多个像素；以及显示面板驱动器，被配置为执行第一感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据，执行第二感测操作以从所述多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据，以及基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率。
7.在实施例中，显示面板驱动器可以被配置为基于第一感测数据计算驱动晶体管的阈值电压。
8.在实施例中，显示面板驱动器可以被配置为在第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于阈值电压与参考电压之和的电压施加到驱动晶体管的控制电极，显示面板驱动器可以被配置为在第二感测操作的第一时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极，显示面板驱动器可以被配置为在第二感测操作的第三时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极，并且显示面板驱动器可以被配置为在第二感测操作的第四时段中接收与多个像素的驱动电流值对应的第二感测数据。
9.在实施例中，可以在执行第一感测操作之后执行第二感测操作。
10.在实施例中，显示面板驱动器可以被配置为计算驱动晶体管的阈值电压的变化量，计算第二感测数据的变化率，以及基于第二感测数据的变化率和驱动晶体管的阈值电压的变化量来确定发光元件的劣化率。
11.在实施例中，可以使用等式和来确定发光元件的劣化率，其中，rsd2是第二感测数据的变化率，sd2是第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是发光元件的劣化率，δvth是驱动晶体管的阈值电压的变化量，并且k是驱动晶体管的电流特性系数。
12.根据本发明的实施例，一种驱动显示装置的方法包括：执行第一感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据；执行第二感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据；以及基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率。
13.在实施例中，该方法还可以包括：基于第一感测数据计算驱动晶体管的阈值电压。
14.在实施例中，接收第二感测数据可以包括：在第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于阈值电压与参考电压之和的电压施加到驱动晶体管的控制电极；在第二感测操作的第一时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；在第二感测操作的第三时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；以及在第二感测操作的第四时段中接收与多个像素的驱动电流值对应的第二感测数据。
15.在实施例中，可以在执行第一感测操作之后执行第二感测操作。
16.在实施例中，确定发光元件的劣化率可以包括：计算驱动晶体管的阈值电压的变化量；计算第二感测数据的变化率；以及基于第二感测数据的变化率和驱动晶体管的阈值电压的变化量来确定发光元件的劣化率。
17.在实施例中，可以使用等式和来确定发光元件的劣化率，其中，rsd2是第二感测数据的变化率，sd2是第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是发光元件的劣化率，δvth是驱动晶体管的阈值电压的变化量，并且k是驱动晶体管的电流特性系数。
18.根据本发明的实施例，一种驱动显示装置的方法包括：执行第一感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据；执行第二感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据；测量包括多个像素的显示面板的环境温度；以及基于第一感测数据、第二感测数据和环境温度来确定发光元件的劣化率。
19.在实施例中，该方法还可以包括：基于第一感测数据计算驱动晶体管的阈值电压。
20.在实施例中，接收第二感测数据可以包括：在第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于阈值电压与参考电压之和的电压施加到驱动晶体管的控制电极；在第二感测操作的第一时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；在第二感测操作的第三时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；以及在第二感测操作的第四时段中接收与多个像素的驱动电流值对应的第二感测数据。
21.在实施例中，可以在执行第一感测操作之后执行第二感测操作。
22.在实施例中，确定发光元件的劣化率可以包括：计算驱动晶体管的阈值电压的变化量；计算第二感测数据的变化率；以及基于第二感测数据的变化率、驱动晶体管的阈值电压的变化量和环境温度来确定发光元件的劣化率。
23.在实施例中，确定发光元件的劣化率还可以包括：基于用于根据温度的驱动电流的变化率的温度-驱动电流查找表来确定由于当第二感测数据被接收时的环境温度引起的所述驱动电流的第一变化率；以及基于温度-驱动电流查找表来确定由于当初始第二感测数据被接收时的环境温度引起的驱动电流的第二变化率，并且可以基于驱动晶体管的阈值电压的变化量、第二感测数据的变化率、驱动电流的第一变化率和驱动电流的第二变化率来确定发光元件的劣化率。
24.在实施例中，可以使用等式和来确定发光元件的劣化率，其中，rsd2是第二感测数据的变化率，sd2是第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是发光元件的劣化率，δvth是驱动晶体管的阈值电压的变化量，k是驱动晶体管的电流特性系数，cr1是驱动电流的第一变化率，并且cr2是驱动电流的第二变化率。
25.因此，通过执行第一感测操作以从像素接收用于像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据，执行第二感测操作以接收用于发光元件的第二感测数据以及基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率，显示装置可以通过反映在劣化时间期间施加到发光元件的应力的强度来确定发光元件的劣化率。因此，显示装置可以在确定发光元件的劣化率时减少施加到发光元件的应力的强度的影响。
26.此外，通过经由反映在劣化时间期间施加到发光元件的应力的强度来确定发光元件的劣化率，驱动显示装置的方法可以在补偿输入图像数据时减少施加到发光元件的应力的强度的影响。
27.另外，通过执行第一感测操作以从像素接收用于像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据，执行第二感测操作以从像素接收用于像素中的每一个的发光元件的第二感测数据，测量包括像素的显示面板的环境温度以及基于第一感测数据、第二感测数据和环境温度确定发光元件的劣化率，驱动显示装置的方法可以通过反映在劣化时间期间施加到发光元件的应力的强度以及显示面板的环境温度来确定发光元件的劣化率。因此，显示装置可以在确定发光元件的劣化率时有效地减少施加到发光元件的应力的强度的影响。
28.然而，本发明的效果不限于上述效果，并且可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下进行各种扩展。
附图说明
29.图1是示出根据本发明的实施例的显示装置的框图。
30.图2是示出图1的显示装置的像素的示例的电路图。
31.图3和图4是示出图1的显示装置执行第一感测操作的示例的图。
32.图5是示出图1的显示装置执行第二感测操作的示例的时序图。
33.图6是示出根据本发明的实施例的驱动显示装置的方法的流程图。
34.图7是示出根据图6的方法确定发光元件的劣化率的示例的流程图。
35.图8是示出根据本发明的实施例的驱动显示装置的方法的流程图。
36.图9是示出根据图8的方法确定发光元件的劣化率的示例的流程图。
37.图10是示出根据图8的方法的温度-驱动电流查找表的示例的曲线图。
具体实施方式
38.将理解的是，尽管在本文中可以使用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种元件、组件、区域、层和/或部分，但这些元件、组件、区域、层和/或部分不应受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件、组件、区域、层或部分与另一元件、组件、区域、层或部分区分开。因此，在不脱离本文中的教导的情况下，下面讨论的“第一元件”、“第一组件”、“第一区域”、“第一层”或“第一部分”可被命名为“第二元件”、“第二组件”、“第二区域”、“第二层”或“第二部分”。
39.在本文中使用的专业术语是出于描述特定实施例的目的，并且不旨在进行限制。如在本文中所使用的，除非上下文另外明确指出，否则“一个”、“一种”、“所述(该)”和“至少一个(者)(种)”不指示对数量的限制，并且旨在包括单数形式和复数形式两者。例如，除非上下文另外明确指出，否则“一个元件”与“至少一个元件”具有相同的含义。“至少一个(者)(种)”不被解释为限制“一个”或“一种”。“或”表示“和/或”。如在本文中所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列项的任意组合和所有组合。还将理解的是，当在本说明书中使用时，术语“包括”和/或“包含”或者“具有”和/或“具备”说明存在所陈述的特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但是不排除存在或附加一个或多个其它特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。在下文中，将参照附图详细说明本发明。
40.图1是示出根据本发明的实施例的显示装置1000的框图。
41.参照图1，显示装置1000可以包括显示面板100和显示面板驱动器10。显示面板驱动器10可以包括驱动控制器200、栅极驱动器300和数据驱动器400。在实施例中，驱动控制器200和数据驱动器400可以被集成到一个芯片中。
42.显示面板100具有在其上显示图像的显示区域以及与显示区域相邻的外围区域。在实施例中，栅极驱动器300可以安装在显示面板100的外围区域上。
43.显示面板100可以包括多条栅极线gl、多条数据线dl、多条感测线sl以及电连接到数据线dl、栅极线gl和感测线sl的多个像素p。栅极线gl可以在第一方向d1上延伸，并且数据线dl和感测线sl可以在与第一方向d1交叉的第二方向d2上延伸。
44.驱动控制器200可以从主机处理器(例如，图形处理单元(gpu))接收输入图像数据img和输入控制信号cont。例如，输入图像数据img可以包括红色图像数据、绿色图像数据和蓝色图像数据。在实施例中，输入图像数据img还可以包括白色图像数据。又例如，输入图像数据img可以包括品红色图像数据、黄色图像数据和青色图像数据。输入控制信号cont可以包括主时钟信号和数据使能信号。输入控制信号cont还可以包括垂直同步信号和水平同步信号。驱动控制器200可以从数据驱动器400接收第一感测数据sd1和第二感测数据sd2。
45.驱动控制器200可以基于输入图像数据img、第一感测数据sd1、第二感测数据sd2和输入控制信号cont生成第一控制信号cont1、第二控制信号cont2和输出图像数据oimg。
46.驱动控制器200可以基于输入控制信号cont生成用于控制栅极驱动器300的操作
的第一控制信号cont1，并且将第一控制信号cont1输出到栅极驱动器300。第一控制信号cont1可以包括垂直起始信号和栅极时钟信号。
47.驱动控制器200可以基于输入控制信号cont生成用于控制数据驱动器400的操作的第二控制信号cont2，并且将第二控制信号cont2输出到数据驱动器400。第二控制信号cont2可以包括水平起始信号和负载信号。
48.驱动控制器200可以接收输入图像数据img、第一感测数据sd1、第二感测数据sd2和输入控制信号cont，并且生成输出图像数据oimg。驱动控制器200可以将输出图像数据oimg输出到数据驱动器400。
49.栅极驱动器300可以响应于从驱动控制器200输入的第一控制信号cont1生成用于驱动栅极线gl的栅极信号。栅极驱动器300可以将栅极信号输出到栅极线gl。例如，栅极驱动器300可以将栅极信号顺序地输出到栅极线gl。
50.数据驱动器400可以从驱动控制器200接收第二控制信号cont2和输出图像数据oimg。数据驱动器400可以将输出图像数据oimg转换为具有模拟类型的电压的数据电压。数据驱动器400可以将数据电压输出到数据线dl。数据驱动器400可以从像素p接收第一感测数据sd1和第二感测数据sd2。稍后将给出其详细描述。在实施例中，数据驱动器400可以将所接收的第一感测数据sd1和所接收的第二感测数据sd2从模拟信号格式转换为数字信号格式，以将其应用于驱动控制器200。
51.图2是示出图1的显示装置1000的像素p的示例的电路图。
52.参照图2，像素p中的每一个可以包括用于响应于第一栅极信号s1将数据电压施加到驱动晶体管dt的控制电极(即，第一节点n1)的第一开关晶体管t1、用于存储数据电压的存储电容器cst、用于响应于数据电压产生驱动电流的驱动晶体管dt、用于基于驱动电流发光的发光元件ee以及用于响应于第二栅极信号s2使驱动电流流到感测线sl的第二开关晶体管t2。例如，第一开关晶体管t1可以包括用于接收第一栅极信号s1的控制电极、连接到数据线dl的第一电极以及连接到第一节点n1的第二电极，存储电容器cst可以包括连接到第一节点n1的第一电极以及连接到第二节点n2的第二电极，驱动晶体管dt可以包括连接到第一节点n1的控制电极、用于接收第一电源电压elvdd的第一电极以及连接到第二节点n2的第二电极，第二开关晶体管t2可以包括用于接收第二栅极信号s2的控制电极、连接到第二节点n2的第一电极以及连接到感测线sl的第二电极，并且发光元件ee可以包括连接到第二节点n2的阳极电极anode以及用于接收第二电源电压elvss的阴极电极。
53.图3和图4是示出图1的显示装置1000执行第一感测操作的示例的图。
54.参照图1、图3和图4，显示面板驱动器10可以通过执行第一感测操作从像素p接收用于驱动晶体管dt的第一感测数据sd1。在实施例中，显示面板驱动器10可以基于第一感测数据sd1计算像素p中的每一个的驱动晶体管dt的阈值电压vth。
55.在实施例中，例如，显示面板驱动器10可以通过感测线sl将初始化电压vint施加到发光元件ee的阳极电极anode(即，第二节点n2)，并且通过数据线dl将参考电压vref施加到驱动晶体管dt的控制电极。例如，第一开关晶体管t1可以由具有激活电平的第一栅极信号s1导通，通过数据线dl施加的参考电压vref可以通过第一开关晶体管t1写入存储电容器cst中，第二开关晶体管t2可以通过具有激活电平的第二栅极信号s2导通，并且通过感测线sl施加的初始化电压vint可以通过第二开关晶体管t2施加到发光元件ee的阳极电极
anode。
56.在实施例中，例如，在参考电压vref被施加到存储电容器cst之后，显示面板驱动器10可以通过数据线dl将参考电压vref施加到驱动晶体管dt的控制电极，并且接收通过感测线sl施加到发光元件ee的阳极电极anode的感测电压vsen。例如，第一开关晶体管t1可以由具有激活电平的第一栅极信号s1导通，驱动晶体管dt可以由参考电压vref导通，第二开关晶体管t2可以由具有激活电平的第二栅极信号s2导通，并且然后，感测电压vsen可以通过第二开关晶体管t2施加到感测线sl。感测电压vsen可以是通过从参考电压vref中减去驱动晶体管dt的阈值电压vth而获得的电压vref-vth。从像素p接收的感测电压vsen可以是第一感测数据sd1。显示面板驱动器10可以通过感测线sl接收通过从参考电压vref中减去驱动晶体管dt的阈值电压vth而获得的电压vref-vth(即，第一感测数据sd1)。
57.在实施例中，在接收第一感测数据sd1之前，显示面板驱动器10可以使第一开关晶体管t1导通以确保用于将参考电压vref写入存储电容器cst的时间，并且可以使第二开关晶体管t2截止。
58.图5是示出图1的显示装置1000执行第二感测操作的示例的时序图。
59.参照图1、图2和图5，显示面板驱动器10可以通过执行第二感测操作从像素p接收用于像素p的发光元件ee的第二感测数据sd2。在实施例中，显示面板驱动器10可以在第二感测操作的第一时段p1和第二时段p2中通过数据线dl将等于阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth施加到驱动晶体管dt的控制电极，在第二感测操作的第一时段p1中将初始化电压vint施加到发光元件ee的阳极电极anode，在第二感测操作的第三时段p3中通过感测线sl将初始化电压vint施加到发光元件ee的阳极电极anode，并且在第二感测操作的第四时段p4中接收与像素p的驱动电流值对应的第二感测数据sd2。在实施例中，可以在执行第一感测操作之后执行第二感测操作。在图2至图5中，用于执行第一感测操作的参考电压vref与用于执行第二感测操作的参考电压vref使用相同的附图标记，但是可以具有不同的电压。
60.在实施例中，例如，在第一时段p1中，第一栅极信号s1和第二栅极信号s2可以具有激活电平。在第二感测操作的第一时段p1中，显示面板驱动器10可以通过感测线sl将初始化电压vint施加到发光元件ee的阳极电极anode，并且通过数据线dl将等于阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth施加到驱动晶体管dt的控制电极。因此，第一开关晶体管t1可以由具有激活电平的第一栅极信号s1导通，等于阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth可以通过第一开关晶体管t1施加到驱动晶体管dt的控制电极，第二开关晶体管t2可以由具有激活电平的第二栅极信号s2导通，并且通过感测线sl施加的初始化电压vint可以通过第二开关晶体管t2施加到发光元件ee的阳极电极anode。
61.在实施例中，例如，在第二时段p2中，第一栅极信号s1可以保持激活电平，并且第二栅极信号s2可以具有禁用电平。在显示装置1000的驱动方法中，显示面板驱动器10可以在第二感测操作的第二时段p2中仍然通过数据线dl将等于阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth施加到驱动晶体管dt的控制电极。因此，第一开关晶体管t1可以由具有激活电平的第一栅极信号s1保持导通状态，通过数据线dl施加的等于阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth可以仍然通过第一开关晶体管t1施加到驱动晶体管dt的控制电极，并且第二开关晶体管t2可以由具有禁用电平的第二栅极信号截止。因此，等于驱动
晶体管dt的阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth可以被写入存储电容器cst中，并且驱动晶体管dt的第二电极(即，第二节点n2或发光元件ee的阳极电极anode)的电压可以在第二时段p2中通过使上升宽度逐渐减小而从初始化电压vint逐渐上升并且达到饱和(即，可以是饱和电压vsat)。
62.在实施例中，例如，在第三时段p3中，第一栅极信号s1可以具有禁用电平，并且第二栅极信号s2可以具有激活电平。显示面板驱动器10可以在第二感测操作的第三时段p3中通过感测线sl将初始化电压vint施加到发光元件ee的阳极电极anode。因此，第一开关晶体管t1可以由具有禁用电平的第一栅极信号s1截止，驱动晶体管dt的控制电极可以处于浮置状态，第二开关晶体管t2可以由具有激活电平的第二栅极信号s2导通，并且通过感测线sl施加的初始化电压vint可以通过第二开关晶体管t2施加到发光元件ee。由于驱动晶体管dt的控制电极处于浮置状态，因此驱动晶体管dt的控制电极的电压可以减少得与发光元件ee的阳极电极anode的电压减少得一样多。因此，可以在第三时段p3和第四时段p4中保持处于饱和状态的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2(在本示例中，vgs2＝vref+vth-vsat)。
63.在实施例中，例如，在第四时段p4中，第一栅极信号s1可以保持禁用电平，并且第二栅极信号s2可以保持激活电平。显示面板驱动器10可以在第二感测操作的第四时段p4中通过感测线sl接收驱动电流。因此，第一开关晶体管t1可以由具有禁用电平的第一栅极信号s1保持截止状态，并且驱动晶体管dt可以产生驱动电流，该驱动电流与通过从处于饱和状态的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2中减去驱动晶体管dt的阈值电压vth而得到的电压的平方(即，(vgs2-vth)2)成比例，第二开关晶体管t2可以由具有激活电平的第二栅极信号s2保持导通状态，并且驱动电流可以通过第二开关晶体管t2施加到感测线sl。从像素p接收的驱动电流可以是第二感测数据sd2。因此，显示面板驱动器10可以接收与通过从处于饱和状态的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2(即，与驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2)中减去驱动晶体管dt的阈值电压vth而得到的电压的平方(即，(vgs2-vth)2)成比例的第二感测数据sd2。由于与驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2是通过从等于驱动晶体管dt的阈值电压vth与参考电压vref之和的电压vref+vth中减去饱和电压vsat而得到的电压，因此驱动电流可以不受驱动晶体管dt的阈值电压vth的影响(因为，sd2
∝
(vgs2-vth)2＝((vref+vth-vsat)-vth)2＝(vref-vsat)2)。
64.随着发光元件ee劣化，发光元件ee的电阻可能增加，使得与当执行初始第二感测操作时相比，发光元件ee的阳极电极anode的电压上升(即，增加了δv)。因此，通过将通过执行第二感测操作而接收的第二感测数据sd2与通过执行初始第二感测操作而接收的初始第二感测数据isd2进行比较(即，计算第二感测数据sd2的变化率)，可以感测发光元件ee的劣化程度。初始第二感测操作可以表示第一次执行的第二感测操作。也就是说，初始第二感测操作可以是在发光元件ee劣化之前执行的第二感测操作。
65.然而，第二感测数据sd2可能不代表在劣化时间期间施加到发光元件ee的应力的强度。即使发光元件ee的阳极电极anode的电压相同，通过发光元件ee显示的图像的亮度也可能根据施加到发光元件ee的应力的强度而变化。因此，当基于仅基于第二感测数据sd2确定的发光元件ee的劣化率来补偿输入图像数据img时，由于应力的强度，可能无法执行准确的补偿。当显示低灰度级图像(即，低应力图像)时，驱动晶体管dt的阈值电压vth可能几乎不变化，而当显示高灰度级图像(即，高应力图像)时，驱动晶体管dt的阈值电压vth可能显
著地变化。因此，驱动晶体管dt的劣化的程度(即，驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量)越大，施加到发光元件ee的应力的强度越大。也就是说，通过将驱动晶体管dt的阈值电压的变化量反映到发光元件ee的劣化率，可以更准确地补偿输入图像数据img。
66.参照图1至图5，显示面板驱动器10可以计算驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量，可以计算第二感测数据sd2的变化率，并且可以基于第二感测数据sd2的变化率和驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量来确定发光元件ee的劣化率。
67.如上所述，驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量越大，施加到发光元件ee的应力的强度越大。因此，驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量可以是代表施加到发光元件ee的应力的强度的值。例如，随着施加到发光元件ee的应力的强度增加，像素p的亮度可能降低。因此，驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量越大，发光元件ee的劣化率越大。结果是，即使第二感测数据sd2的变化率相同，发光元件ee的劣化率可能根据施加到发光元件ee的应力的量而改变。然而，代表施加到发光元件ee的应力的强度的值可以不仅包括驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量，而且还包括第一栅极信号s1的导通占空比(on-duty ratio)和每次的第二感测数据sd2的变化率。
68.在实施例中，例如，驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量(δvth)可以是通过初始第一感测操作计算的驱动晶体管dt的初始阈值电压(ivth)与在当前时间通过第一感测操作计算的驱动晶体管dt的阈值电压vth之间的差。初始第一感测操作可以表示第一次执行的第一感测操作。也就是说，初始第一感测操作可以是在发光元件ee劣化之前执行的第一感测操作。
69.在实施例中，例如，第二感测数据sd2的变化率可以是通过执行初始第二感测操作接收的初始第二感测数据(isd2)与通过在当前时间执行第二感测操作接收的第二感测数据sd2之比。例如，可以使用等式1计算第二感测数据sd2的变化率。
70.[等式1]
[0071]
其中，rsd2是第二感测数据sd2的变化率，sd2是第二感测数据，并且isd2是初始第二感测数据。在本文中，在等式1至等式8中，所出现的附图标记可以表示该附图标记所代表的名称的值。例如，在等式1中，“sd2”可以表示第二感测数据sd2的值。为了简洁起见，本文将省略其详细描述。如上所述，第二感测数据sd2可以与通过从与驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2中减去驱动晶体管dt的阈值电压vth而得到的电压的平方(即，(vgs2-vth)2)成比例。例如，当驱动晶体管dt的电流特性系数为k时，可以使用等式2计算第二感测数据sd2。
[0072]
[等式2]
[0073]
sd2＝k
×
(vgs2-vth)2，其中，sd2是第二感测数据，k是驱动晶体管的电流特性系数，vgs2是与第二感测操作中的驱动电流对应的驱动晶体管的栅极-源极电压，并且vth是驱动晶体管的阈值电压。与第二感测数据sd2同样地，初始第二感测数据可以与通过从与驱动电流对应的驱动晶体管dt的初始栅极-源极电压(vgs1)中减去驱动晶体管dt的初始阈值电压(ivth)而得到的电压的平方(即，(vgs1-ivth)2，其中，vgs1是与初始第二感测操作中的驱动电流对应的驱动晶体管dt的初始栅极-源极电压，并且ivth是驱动晶体管dt的初始阈值电压)成比例。驱动晶体管dt的电流特性系数可以是依据驱动晶体管dt的规格而改变
的值。全部像素p包括相同类型的驱动晶体管dt，并且上述驱动晶体管dt的电流特性系数可以是作为相同类型的驱动晶体管dt的代表的驱动晶体管dt的电流特性系数。
[0074]
在实施例中，例如，当驱动晶体管dt的电流特性系数为k时，可以使用等式3计算初始第二感测数据。
[0075]
[等式3]
[0076]
isd2＝k
×
(vgs2-ivth(tdt))2，其中，isd2是初始第二感测数据，k是驱动晶体管dt的电流特性系数，vgs2是与第二感测操作中的驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压，并且ivth是驱动晶体管dt的初始阈值电压。驱动晶体管dt的初始阈值电压可以是基于通过执行初始第一感测操作而接收的初始第一感测数据计算的驱动晶体管dt的阈值电压。也就是说，驱动晶体管dt的初始阈值电压可以是在驱动晶体管dt劣化之前的阈值电压。如上所述，随着发光元件ee劣化，与驱动电流对应的栅极-源极电压vgs2可能降低，使得第二感测数据sd2的变化率可以具有1或更小的值。
[0077]
在实施例中，例如，由于像素p的亮度随着施加到发光元件ee的应力的强度增加而降低，因此发光元件ee的劣化率可以随着驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量增加而增加。例如，可以使用等式4确定发光元件ee的劣化率。
[0078]
[等式4]
[0079]
其中，dr是发光元件ee的劣化率，vgs2是与第二感测操作中的驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压，vth是驱动晶体管dt的阈值电压，δvth是驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量，vgs1是与初始第二感测操作中的驱动电流对应的驱动晶体管dt的初始栅极-源极电压，并且ivth是基于通过执行初始第一感测操作而接收的初始第一感测数据计算的驱动晶体管dt的初始阈值电压。也就是说，通过将驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量增加到与驱动电流对应的驱动晶体管dt的栅极-源极电压vgs2，可以反映施加到发光元件ee的应力的强度。
[0080]
而且，当整理以上等式时，可以使用等式5和等式6确定发光元件ee的劣化率。
[0081]
[等式5]
[0082]
以及
[0083]
[等式6]
[0084]
其中，rsd2是第二感测数据的变化率，sd2是第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是发光元件ee的劣化率，δvth是驱动晶体管dt的阈值电压vth的变化量，k是驱动晶体管dt的电流特性系数。
[0085]
显示面板驱动器10可以基于发光元件ee的劣化率来补偿输入图像数据img。显示面板驱动器10可以基于其中反映了施加到发光元件ee的应力的强度的发光元件ee的劣化率来补偿输入图像数据img。所以，可以更准确地补偿输入图像数据img。
[0086]
在实施例中，显示面板驱动器10可以基于劣化-亮度模型来补偿输入图像数据img。可以从显示装置之中的为提取劣化-亮度模型而选择的代表性显示装置生成劣化-亮
度模型。代表性显示装置可以与图1的显示装置1000以相同的方式确定代表性显示装置的发光元件的劣化率，并且根据代表性显示装置的发光元件的劣化率测量亮度。代表根据发光元件ee的劣化率的亮度的劣化-亮度模型可以基于测量的亮度和代表性显示装置的发光元件的劣化率生成。显示装置1000可以根据基于劣化-亮度模型确定的发光元件ee的劣化率来预测亮度，以及基于预测的亮度来补偿输入图像数据img。由于代表性显示装置与图1的显示装置1000以相同的方式确定代表性显示装置的发光元件的劣化率，因此可以增强劣化-亮度模型的一致性。因此，显示装置1000可以显示具有均匀亮度的图像，而无论施加到发光元件ee的应力如何。
[0087]
图6是示出根据本发明的实施例的驱动显示装置的方法的流程图，并且图7是示出根据图6的方法确定发光元件的劣化率的示例的流程图。
[0088]
参照图6，图6的方法可以包括：执行第一感测操作以从像素接收用于像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据(s100)；执行第二感测操作以从像素接收用于像素的发光元件的第二感测数据(s200)；以及基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率(s300)。图6的方法可以基于第一感测数据计算驱动晶体管的阈值电压。
[0089]
具体地，图6的方法可以包括执行第二感测操作以从像素接收用于像素的发光元件的第二感测数据(s200)。在实施例中，执行第二感测操作可以包括：在第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于阈值电压与参考电压之和的电压施加到驱动晶体管的控制电极；在第二感测操作的第一时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；在第二感测操作的第三时段中将初始化电压施加到发光元件的阳极电极；以及在第二感测操作的第四时段中接收与像素的驱动电流值对应的第二感测数据。在实施例中，可以在执行第一感测操作之后执行第二感测操作。
[0090]
参照图6和图7，具体地，图6的方法可以包括基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率(s300)。在实施例中，图7的方法(即，根据图6的方法确定发光元件的劣化率)可以包括：计算驱动晶体管的阈值电压的变化量(s310)；计算第二感测数据的变化率(s320)；以及基于第二感测数据的变化率和驱动晶体管的阈值电压的变化量确定发光元件的劣化率(s330)。
[0091]
图8是示出根据本发明的实施例的驱动显示装置的方法的流程图，图9是示出根据图8的方法确定发光元件的劣化率的示例的流程图，并且图10是示出根据图8的方法的温度-驱动电流查找表的示例的曲线图。
[0092]
除了测量环境温度和确定劣化率之外，根据本实施例的显示装置的操作与图1的显示装置1000的操作基本相同。因此，使用相同的附图标记来指代相同或相似的元件，并且将省略任何重复的说明。
[0093]
参照图8，图8的方法可以包括：执行第一感测操作以从像素接收用于像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据(s400)；执行第二感测操作以从像素接收用于像素的发光元件的第二感测数据(s500)；测量包括像素的显示面板的环境温度(s600)；以及基于第一感测数据、第二感测数据和环境温度确定发光元件的劣化率(s700)。在实施例中，根据本实施例的显示装置还可以包括温度传感器，并且温度传感器可以测量显示面板的环境温度。
[0094]
参照图8和图9，图8的方法可以包括基于第一感测数据、第二感测数据和环境温度
确定发光元件的劣化率(s700)。图9的方法(即，根据图8的方法确定发光元件的劣化率)可以包括：计算驱动晶体管的阈值电压的变化量(s710)；计算第二感测数据的变化率(s720)；以及基于第二感测数据的变化率、驱动晶体管的阈值电压的变化量和环境温度确定发光元件的劣化率(s730)。在实施例中，图9的方法还可以包括：基于根据温度的驱动电流的变化率的温度-驱动电流查找表来确定针对当第二感测数据被接收时的环境温度的驱动电流的第一变化率；以及基于温度-驱动电流查找表来确定针对当初始第二感测数据被接收时的环境温度的驱动电流的第二变化率，以及可以基于驱动晶体管的阈值电压的变化量、第二感测数据的变化率、驱动电流的第一变化率以及驱动电流的第二变化率来确定发光元件的劣化率。
[0095]
当环境温度变化时，像素p(参见图1)的驱动电流可能变化。因此，如果当第二感测数据被接收时的环境温度和当初始第二感测数据被接收时的环境温度不同，那么第二感测数据sd2(参见图1)的变化率可能变化。因此，通过由变化的环境温度来补偿第二感测数据sd2的变化率以及基于补偿后的第二感测数据sd2的变化率来确定发光元件的劣化率，可以根据温度在没有偏差的情况下补偿输入图像数据img(参见图1)。
[0096]
参照图8至图10，温度-驱动电流查找表可以包括关于根据温度的晶体管的驱动电流的变化率的信息。例如，可以通过在改变环境温度的同时测量驱动晶体管dt(或为生成温度-驱动电流查找表而选择的代表性驱动晶体管)的驱动电流的值来生成温度-驱动电流查找表。
[0097]
温度-驱动电流查找表可以包括关于根据温度的驱动电流的变化率cr的信息。例如，基于25摄氏度(℃)，在25℃下的驱动电流的变化率cr可以是1。而且，假设当温度t从25℃升高到30℃时，驱动电流增加了20个百分点(％)，则在30℃下的驱动电流的变化率cr可以是1.2。在这种情况下，如果当第二感测数据sd2(参见图1)被接收时的环境温度为30℃并且当初始第二感测数据被接收时的环境温度为25℃，那么第二感测数据sd2的变化率可以是当第二感测数据sd2被接收时的环境温度为25℃并且当初始第二感测数据被接收时的环境温度为25℃的情况下的第二感测数据sd2的变化率的1.2倍。因此，通过变化的环境温度来补偿第二感测数据sd2的变化率是可取的。
[0098]
在实施例中，例如，可以使用等式7和等式8来确定发光元件的劣化率。
[0099]
[等式7]
[0100]
以及
[0101]
[等式8]
[0102]
其中，rsd2是第二感测数据的变化率，sd2是第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是发光元件的劣化率，δvth是驱动晶体管的阈值电压的变化量，k是驱动晶体管的电流特性系数，cr1是驱动电流的第一变化率，并且cr2是驱动电流的第二变化率。例如，基于当初始第二感测数据被接收时的环境温度为25℃，在25℃下的驱动电流的变化率cr可以是1。而且，假设当温度t从25℃升高到30℃时，驱动电流增加了20％，则在30℃下的驱动电流变化率cr可以是1.2。在这种情
况下，如果当第二感测数据sd2被接收时的环境温度为30℃并且当初始第二感测数据被接收时的环境温度为25℃，则第二感测数据sd2的变化率可以是当第二感测数据sd2被接收时的环境温度为25℃并且当初始第二感测数据被接收时的环境温度为25℃的情况下的第二感测数据sd2的变化率的1.2倍。因此，通过将与第二感测数据sd2的变化率cr相乘的处理，可以通过变化的环境温度来补偿第二感测数据sd2的变化率。
[0103]
本发明可以应用于包括显示装置的任意电子装置。例如，本发明可以应用于电视机(“tv”)、数字tv、3d tv、移动电话、智能电话、平板计算机、虚拟现实(“vr”)装置、可穿戴电子装置、个人计算机(“pc”)、家用电器、笔记本计算机、个人数字助理(“pda”)、便携式多媒体播放器(“pmp”)、数码相机、音乐播放器、便携式游戏机、导航装置等。
[0104]
前述内容是对本发明的说明，并且不被解释为对本发明的限制。尽管已经描述了本发明的几个示例性实施例，但是本领域技术人员将容易理解的是，在实质上不脱离本发明的新颖教导和优点的情况下，示例性实施例中的许多修改是可能的。因此，所有这些修改都旨在被包括在如权利要求中所限定的本发明的范围内。在权利要求中，装置加功能条款旨在涵盖在本文中描述为执行所记载的功能的结构，并且不仅涵盖结构上的等同物而且涵盖等同的结构。因此，将理解的是，前述内容是对本发明的说明，并且不被解释为限于所公开的具体的示例性实施例，并且对所公开的示例性实施例以及其它示例性实施例的修改旨在被包括在所附权利要求的范围内。本发明由具有将被包括在其中的权利要求的等同物的所附权利要求限定。

技术特征：
1.一种显示装置，其中，所述显示装置包括：显示面板，包括多个像素；以及显示面板驱动器，被配置为执行第一感测操作以从所述多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据，执行第二感测操作以从所述多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据，以及基于所述第一感测数据和所述第二感测数据确定所述发光元件的劣化率。2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示面板驱动器被配置为基于所述第一感测数据计算所述驱动晶体管的阈值电压。3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述显示面板驱动器被配置为在所述第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于所述阈值电压与参考电压之和的电压施加到所述驱动晶体管的控制电极，其中，所述显示面板驱动器被配置为在所述第二感测操作的所述第一时段中将初始化电压施加到所述发光元件的阳极电极，其中，所述显示面板驱动器被配置为在所述第二感测操作的第三时段中将所述初始化电压施加到所述发光元件的所述阳极电极，并且其中，所述显示面板驱动器被配置为在所述第二感测操作的第四时段中接收与所述多个像素的驱动电流值对应的所述第二感测数据。4.根据权利要求3所述的显示装置，其中，在执行所述第一感测操作之后执行所述第二感测操作。5.根据权利要求3所述的显示装置，其中，所述显示面板驱动器被配置为计算所述驱动晶体管的所述阈值电压的变化量，计算所述第二感测数据的变化率，以及基于所述第二感测数据的所述变化率和所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量来确定所述发光元件的所述劣化率。6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，使用等式和来确定所述发光元件的所述劣化率，其中，rsd2是所述第二感测数据的所述变化率，sd2是所述第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是所述发光元件的所述劣化率，δvth是所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量，并且k是所述驱动晶体管的电流特性系数。7.一种驱动显示装置的方法，其中，所述方法包括：执行第一感测操作以从多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据；执行第二感测操作以从所述多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据；以及基于所述第一感测数据和所述第二感测数据确定所述发光元件的劣化率。8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述方法还包括：基于所述第一感测数据计算所述驱动晶体管的阈值电压。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述接收所述第二感测数据包括：在所述第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于所述阈值电压与参考电压之和的电压施加到所述驱动晶体管的控制电极；在所述第二感测操作的所述第一时段中将初始化电压施加到所述发光元件的阳极电极；在所述第二感测操作的第三时段中将所述初始化电压施加到所述发光元件的所述阳极电极；以及在所述第二感测操作的第四时段中接收与所述多个像素的驱动电流值对应的所述第二感测数据。10.根据权利要求9所述的方法，其中，在执行所述第一感测操作之后执行所述第二感测操作。11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述确定所述发光元件的所述劣化率包括：计算所述驱动晶体管的所述阈值电压的变化量；计算所述第二感测数据的变化率；以及基于所述第二感测数据的所述变化率和所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量来确定所述发光元件的所述劣化率。12.根据权利要求11所述的方法，其中，使用等式和来确定所述发光元件的所述劣化率，其中，rsd2是所述第二感测数据的所述变化率，sd2是所述第二感测数据，isd2是初始第二感测数据，dr是所述发光元件的所述劣化率，δvth是所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量，并且k是所述驱动晶体管的电流特性系数。13.一种驱动显示装置的方法，其中，所述方法包括：执行第一感测操作以从多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据；执行第二感测操作以从所述多个像素接收用于所述多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据；测量包括所述多个像素的显示面板的环境温度；以及基于所述第一感测数据、所述第二感测数据和所述环境温度来确定所述发光元件的劣化率。14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述方法还包括：基于所述第一感测数据计算所述驱动晶体管的阈值电压。15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述接收所述第二感测数据包括：在所述第二感测操作的第一时段和第二时段中将等于所述阈值电压与参考电压之和的电压施加到所述驱动晶体管的控制电极；在所述第二感测操作的所述第一时段中将初始化电压施加到所述发光元件的阳极电极；在所述第二感测操作的第三时段中将所述初始化电压施加到所述发光元件的所述阳
极电极；以及在所述第二感测操作的第四时段中接收与所述多个像素的驱动电流值对应的所述第二感测数据。16.根据权利要求15所述的方法，其中，在执行所述第一感测操作之后执行所述第二感测操作。17.根据权利要求15所述的方法，其中，所述确定所述发光元件的所述劣化率包括：计算所述驱动晶体管的所述阈值电压的变化量；计算所述第二感测数据的变化率；以及基于所述第二感测数据的所述变化率、所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量和所述环境温度来确定所述发光元件的所述劣化率。18.根据权利要求17所述的方法，其中，所述确定所述发光元件的所述劣化率还包括：基于用于根据温度的驱动电流的变化率的温度-驱动电流查找表来确定由于当所述第二感测数据被接收时的所述环境温度引起的所述驱动电流的第一变化率；以及基于所述温度-驱动电流查找表来确定由于当初始第二感测数据被接收时的所述环境温度引起的所述驱动电流的第二变化率，并且其中，基于所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量、所述第二感测数据的所述变化率、所述驱动电流的所述第一变化率和所述驱动电流的所述第二变化率来确定所述发光元件的所述劣化率。19.根据权利要求18所述的方法，其中，使用等式和来确定所述发光元件的所述劣化率，其中，rsd2是所述第二感测数据的所述变化率，sd2是所述第二感测数据，isd2是所述初始第二感测数据，dr是所述发光元件的所述劣化率，δvth是所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述变化量，k是所述驱动晶体管的电流特性系数，cr1是所述驱动电流的所述第一变化率，并且cr2是所述驱动电流的所述第二变化率。

技术总结
本公开涉及一种显示装置和一种驱动显示装置的方法。所述显示装置包括：显示面板，包括多个像素；以及显示面板驱动器，被配置为执行第一感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的驱动晶体管的第一感测数据，执行第二感测操作以从多个像素接收用于多个像素中的每一个的发光元件的第二感测数据，以及基于第一感测数据和第二感测数据确定发光元件的劣化率。的劣化率。的劣化率。


技术研发人员：潘硕奎 金京满
受保护的技术使用者：三星显示有限公司
技术研发日：2023.01.03
技术公布日：2023/9/13