内存颗粒性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质与流程

1.本技术涉及性能测试技术领域，特别涉及一种内存颗粒性能测试方法，还涉及一种内存颗粒性能测试装置、电子设备以及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.服务器在实际运行过程中，存在着由于内存颗粒故障导致的整体性能降低甚至无法开机的情况。根据实际统计情况来看，每年由于维修内存所带来的人力损耗和财力损耗是一个非常庞大的数值，因此，确定内存的质量以及可靠性是在整机系统里非常重要的一道关卡。其中，内存颗粒对于内存整体质量的好坏起着决定性作用，所以保证内存颗粒的良品率在内存应用甚至服务器应用方面都是非常关键的一步。
3.相关技术中，对于内存的测试基本分为两大类，一类是将内存条插到主板上让服务器开机，通过与内存相关的信号质量来判定内存的好坏。另一类是将单根内存条放入专用的测试工具里，然后通过模拟主板上的工作环境来对内存条进行性能测试。然而，前者只能基于主板的配置需求来测试内存在特定配置下的功能，局限性比较大，并且只能定位到内存问题，无法再向下(内存颗粒)进行更加精确地定位；后者即便可以定位到出现问题的内存颗粒，但是由于内存条已经出产，在定位到出现问题的内存颗粒时也只能放弃整个内存条，对于其中的良性元器件就不可避免的造成了浪费。
4.因此，如何实现更为精准的内存颗粒性能测试，同时避免资源浪费是本领域技术人员亟待解决的问题。


技术实现要素：

5.本技术的目的是提供一种内存颗粒性能测试方法，该内存颗粒性能测试方法可以实现更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费；本技术的另一目的是提供一种内存颗粒性能测试装置、电子设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。
6.第一方面，本技术提供了一种内存颗粒性能测试方法，应用于客户端，包括：
7.根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；
8.根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；
9.按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；
10.将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。
11.可选地，所述根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则，包括：
12.根据预设映射关系查询确定所述元件信息对应的测试规则；其中，所述预设映射关系为各内存颗粒的元件信息与测试规则之间的对应关系。
13.可选地，所述按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息，包括：
14.按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号；其中，所述模拟信号包括时钟信号、复位信号、数据信号中的一种或多种的组合；
15.采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；其中，所述工作信息包括时钟信号响应信息、所述复位信号相应信息、数据信号响应信息中的一种或多种的组合。
16.可选地，所述根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息之前，还包括：
17.接收目标测试工具发送的所述性能测试指令；其中，所述性能测试指令由所述目标测试工具响应于所述待测内存颗粒的插入信号。
18.可选地，所述内存颗粒性能测试方法还包括：
19.当接收到关于所述待测内存颗粒的查询命令时，根据所述查询命令确定所述待测内存颗粒的元件类型；
20.根据所述元件类型确定所述待测内存颗粒对应的所述目标测试工具和工具连接规则；
21.输出所述工具连接规则，以便于基于所述工具连接规则实现所述待测内存颗粒与所述目标测试工具的连接。
22.第二方面，本技术提供了另一种内存颗粒性能测试方法，应用于云端平台，包括：
23.接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，所述工作信息为所述待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，所述模拟信号由所述客户端按照测试规则向所述待测内存颗粒发起，所述测试规则由所述客户端根据所述待测内存颗粒的元件信息确定，所述元件信息由所述客户端响应于性能测试指令对所述待测内存颗粒进行信息采集获得；
24.对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。
25.可选地，所述对所述工作信息进行诊断，获得测试结果，包括：
26.调取所述待测内存颗粒的产品规范数据；
27.利用所述产品规范数据对所述工作信息进行对比分析，获得所述测试结果。
28.可选地，所述内存颗粒性能测试方法还包括：
29.当所述测试结果为测试通过时，输出合格提示；
30.当所述测试结果为测试不通过时，输出不合格提示、告警提示、对比分析报告。
31.第三方面，本技术公开了一种内存颗粒性能测试装置，应用于客户端，包括：
32.获取模块，用于根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；
33.确定模块，用于根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；
34.发起模块，用于按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；
35.上传模块，用于将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。
36.第四方面，本技术公开了一种内存颗粒性能测试装置，应用于云端平台，包括：
37.接收模块，用于接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，所述工作信息为所述待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，所述模拟信号由所述客户端按照测试规则向所述待测内存颗粒发起，所述测试规则由所述客户端根据所述待测内存颗粒的元件信息确定，所述元件信息由所述客户端响应于性能测试指令对所述待测内存颗粒进行信息采集获得；
38.诊断模块，用于对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。
39.第五方面，本技术还公开了一种电子设备，包括：
40.存储器，用于存储计算机程序；
41.处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述的任一种内存颗粒性能测试方法的步骤。
42.第六方面，本技术还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的任一种内存颗粒性能测试方法的步骤。
43.本技术提供了一种内存颗粒性能测试方法，包括：根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。
44.应用本技术所提供的技术方案，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
45.在一种实施例中，关于待测内存颗粒的性能测试指令自动响应于预先设定的触发条件，即基于测试工具关于插入信号的自动感应，也就是说，在测试工具感应到待测内存颗粒的插入信号后，即可自动触发性能测试指令并上传至客户端，实现客户端对于性能测试指令的获取，整个实现流程自动化执行，无需人工操作，有助于提高内存颗粒性能测试效率，节省人工成本。
46.在一种实施例中，预先创建了不同的内存颗粒与其对应的测试工具之间的连接规则，在确定待测内存颗粒之后，即可通过信息查询确定待测内存颗粒与目标测试工具之间的工具连接规则，使得技术人员可以直接根据该工具连接规则实现待测内存颗粒与目标测试工具之间的连接，使得内存颗粒的性能测试方法不再局限于人工知识经验，有效地提高了内存颗粒性能测试的可用性。
47.本技术所提供的内存颗粒性能测试装置、电子设备以及计算机可读存储介质，同样具有上述技术效果，本技术在此不再赘述。
附图说明
48.为了更清楚地说明现有技术和本技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和本技术实施例描述中需要使用的附图作简要的介绍。当然，下面有关本技术实施例的附图描述的仅仅是本技术中的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图，所获得的其他附图也属于本技术
的保护范围。
49.图1为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图；
50.图2为本技术所提供的另一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图；
51.图3为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试系统的框架图；
52.图4为本技术所提供的又一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图；
53.图5为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试装置的结构示意图；
54.图6为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试装置的结构示意图；
55.图7为本技术所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
56.本技术的核心是提供一种内存颗粒性能测试方法，该内存颗粒性能测试方法以实现更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费；本技术的另一核心是提供一种内存颗粒性能测试装置、电子设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。
57.为了对本技术实施例中的技术方案进行更加清楚、完整地描述，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行介绍。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
58.本技术实施例提供了一种内存颗粒性能测试方法。
59.请参考图1，图1为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图，该内存颗粒性能测试方法应用于客户端，可以包括如下s101至s104。
60.s101：根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；
61.本步骤旨在实现待测内存颗粒的元件信息的获取。具体而言，当接收到性能测试指令时，即可根据该性能测试指令确定待测内存颗粒，即需要进行性能测试的内存颗粒，然后对该待测内存颗粒进行信息采集，获得其元件信息。其中，元件信息的具体内容并不唯一，可以根据实际情况进行设定，例如，可以为待测内存颗粒的型号、种类、id等信息，该元件信息用于实现测试规则的确定，以便于后续可以利用适用于待测内存颗粒的测试规则对待测内存颗粒进行性能测试。此外，性能测试指令的获取方式也不唯一，可以由用户基于客户端发起，也可以自动响应于预先设定的触发条件，本技术对此不做限定。
62.s102：根据元件信息确定待测内存颗粒对应的测试规则；
63.本步骤旨在实现测试规则的确定。具体而言，不同类型的内存颗粒对应于不同的测试规则，可以预先创建并预存于相应的存储空间，在使用时直接调用即可。在实现过程中，在获得待测内存颗粒的元件信息后，即可根据该元件信息查询得到该待测内存颗粒对应的测试规则，该测试规则即上述适用于待测内存颗粒的测试规则，其主要用于实现待测内存颗粒的性能测试，然后在存储空间中调取该测试规则，以基于该测试规则对待测内存颗粒进行后续处理。
64.s103：按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，并采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息；
65.本步骤旨在实现待测内存颗粒的工作模拟，以便于采集得到待测内存颗粒在模拟工作时的工作信息，从而利用该工作信息确定待测内存颗粒的性能测试结果。具体而言，在
调取得到测试规则之后，即可按照该测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，可以理解的是，不同类型的内存颗粒对应于不同的测试规则，也即不同类型的内存颗粒对应于不同类型的工作模拟方式，相应的，在工作模拟过程中则是可能发起不同类型的模拟信号。进一步，在将模拟信号发送至待测内存颗粒之后，即可采样待测内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，以便于基于该工作信息确定待测内存颗粒的性能测试结果。
66.s104：将工作信息上传至云端平台，以使云端平台对工作信息进行诊断，获得测试结果。
67.本步骤旨在实现工作信息诊断，也即实现待测内存颗粒性能测试结果的确定，其具体诊断过程可以由云端平台实现。具体而言，在采样获得待测内存颗粒的工作信息之后，即可将其上传至云端平台，由云端平台对其进行诊断分析，从而确定最终的测试结果。显而易见地，上述测试结果为性能测试通过或性能测试不通过。至此，完成对于待测内存颗粒的性能测试。
68.可见，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
69.在上述实施例的基础上：
70.在本技术的一个实施例中，上述根据元件信息确定待测内存颗粒对应的测试规则，可以包括：
71.根据预设映射关系查询确定元件信息对应的测试规则；其中，预设映射关系为各内存颗粒的元件信息与测试规则之间的对应关系。
72.本技术实施例提供了一种测试规则的确定方法。如上所述，不同类型的内存颗粒对应于不同的测试规则，对此，可以创建各个内存颗粒的元件信息与测试规则之间的映射关系，即上述预设映射关系，由此，在读取获得待测内存颗粒的元件信息之后，即可通过查询该预设映射关系确定待测内存颗粒对应的测试规则，从而实现内存颗粒性能测试。
73.在本技术的一个实施例中，上述按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，并采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，可以包括如下步骤：
74.按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号；其中，模拟信号包括时钟信号、复位信号、数据信号中的一种或多种的组合；
75.采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息；其中，工作信息包括时钟信号响应信息、复位信号相应信息、数据信号响应信息中的一种或多种的组合。
76.本技术实施例提供了一种基于测试规则实现待测内存颗粒性能测试的方法。具体而言，可以按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，该模拟信号可以包括时钟信号、复位信号、数据信号中的一种或多种的组合，上述已经提到，不同类型的内存颗粒对应于不同
的测试规则，因此，在此实现过程中，针对不同类型的待测内存颗粒，对应发起的模拟信号或者模拟信号的组合可能各不相同，例如，针对a类型的待测内存颗粒，需要向其发送时钟信号、复位信号、数据信号这三种类型的模拟信号，而针对b类型的待测内存颗粒，则可能只需要向其发送时钟信号和复位信号这两种类型的模拟信号。进一步，则可以采集待测内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，对应于上述时钟信号、复位信号、数据信号，工作信息可以包括时钟信号响应信息、复位信号相应信息、数据信号响应信息中的一种或多种的组合。
77.在本技术的一个实施例中，上述根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息之前，还可以包括：
78.接收目标测试工具发送的性能测试指令；其中，性能测试指令由目标测试工具响应于待测内存颗粒的插入信号。
79.本技术实施例提供了一种获取性能测试指令的实现方法。具体而言，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法可以基于测试工具实现，当然，不同类型的内存颗粒可能对应于不同的测试工具，上述目标测试工具即当前待测内存颗粒对应的测试工具。在上述根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息之前，需要先进行性能测试指令的获取，此处性能测试指令则是目标测试工具发送的性能测试指令。进一步，对于目标测试工具而言，其可以设定连接端口，该连接端口旨在实现待测内存颗粒与目标测试工具之间的连接，以便于基于该目标测试工具对待测内存颗粒进行性能测试。在实际运行过程中，目标测试工具与客户端连接，可以利用自身的连接端口进行实时监测，一旦感应到待测内存颗粒的插入信号，即可自动响应性能测试指令，并将其上传至客户端，由此，实现客户端对于性能测试指令的获取。
80.可见，关于待测内存颗粒的性能测试指令自动响应于预先设定的触发条件，即基于测试工具关于插入信号的自动感应，也就是说，在测试工具感应到待测内存颗粒的插入信号后，即可自动触发性能测试指令并上传至客户端，实现客户端对于性能测试指令的获取，整个实现流程自动化执行，无需人工操作，有助于提高内存颗粒性能测试效率，节省人工成本。
81.在本技术的一个实施例中，该内存颗粒性能测试方法还可以包括如下步骤：
82.当接收到关于待测内存颗粒的查询命令时，根据查询命令确定待测内存颗粒的元件类型；
83.根据元件类型确定待测内存颗粒对应的目标测试工具和工具连接规则；
84.输出工具连接规则，以便于基于工具连接规则实现待测内存颗粒与目标测试工具的连接。
85.本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法还可以实现测试工具连接规则的查询，以便于技术人员可以基于工具连接规则实现待测内存颗粒与目标测试工具之间的连接。
86.具体而言，当技术人员不清楚待测内存颗粒与目标测试工具之间的连接方式时，可以向客户端发起关于该待测内存颗粒的查询命令，然后根据该查询命令确定待测内存颗粒的元件类型，然后根据该元件类型查询到当前待测内存颗粒对应的目标测试工具以及相应的工具连接规则，并将工具连接规则进行输出，由此，技术人员则可以按照该工具连接规
则实现待测内存颗粒与目标测试工具的连接。
87.其中，工具连接规则即待测内存颗粒的引脚与目标测试工具的连接端口的引脚之间的连接规则。例如，请参考表1，表1为本技术所提供的一种内存颗粒的引脚说明：
88.表1为本技术所提供的一种内存颗粒的引脚说明
89.pininformationpininformationck_t，ck_c时钟差分tdqs_t，tdqs_c终止数据闪频cke时钟始能par+a14a14：d24奇偶校验cs_n芯片选择alert_n警告信号odt模具终止ten连通性测试使能act_n激活命令nc不连接的引脚bgo-bg1bank组织的地址vddq数据电压提供bao-ba1bank地址vssq数据地a0-a16行列地址vdd电压提供reset_n复位信号vss地dq数据信号vpp颗粒电源提供dqs_t，dqs_c数据闪频vrefcaca参考电压zq校准参考引脚zq校准参考引脚
90.可见，通过预先创建不同的内存颗粒与其对应的测试工具之间的连接规则，在确定待测内存颗粒之后，即可通过信息查询确定待测内存颗粒与目标测试工具之间的工具连接规则，使得技术人员可以直接根据该工具连接规则实现待测内存颗粒与目标测试工具之间的连接，使得内存颗粒的性能测试方法不再局限于人工知识经验，有效地提高了内存颗粒性能测试的可用性。
91.本技术实施例提供了另一种内存颗粒性能测试方法。
92.请参考图2，图2为本技术所提供的另一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图，该内存颗粒性能测试方法应用于云端平台，可以包括如下s101和s102。
93.s101：接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，工作信息为待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，模拟信号由客户端按照测试规则向待测内存颗粒发起，测试规则由客户端根据待测内存颗粒的元件信息确定，元件信息由客户端响应于性能测试指令对待测内存颗粒进行信息采集获得；
94.s102：对工作信息进行诊断，获得测试结果。
95.可见，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
96.在上述实施例的基础上：
97.在本技术的一个实施例中，上述对工作信息进行诊断，获得测试结果，可以包括如下步骤：
98.调取待测内存颗粒的产品规范数据；
99.利用产品规范数据对工作信息进行对比分析，获得测试结果。
100.本技术实施例提供了一种基于云端平台对工作信息进行诊断的实现方法。具体而言，可以通过云端平台存储各类内存颗粒的产品规范数据，如spec(specification，产品规范)，其中包括有各类内存颗粒的运行标准数据，用于对待测内存颗粒的工作信息进行对比分析。由此，云端平台在接收到待测内存颗粒的工作信息时即可将其与相应的产品规范数据进行对比分析，得到测试结果，显然，当工作信息满足于产品规范数据时，说明当前待测内存颗粒性能合格，反之则说明性能测试不合格。
101.在本技术的一个实施例中，该内存颗粒性能测试方法还可以包括如下步骤：
102.当测试结果为测试通过时，输出合格提示；
103.当测试结果为测试不通过时，输出不合格提示、告警提示、对比分析报告。
104.本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法，还可以进一步实现测试结果的输出。具体而言，测试结果分为测试通过和测试不通过，相对应的，当测试结果为测试通过时，可以直接输出合格提示，用于告知技术人员当前待测内存颗粒的性能测试通过；当测试结果为测试不通过时，则可以同时输出不合格提示、告警提示、对比分析报告，其中，不合格提示用于告知技术人员当前待测内存颗粒性能测试不通过，告警提示用于保证不合格提示的及时性，进而保证技术人员及时知晓测试不通过的测试结果，便于及时维护或替换，对比分析报告则方便技术人员清楚直观的知晓当前待测内存颗粒的不合格内容。
105.在上述实施例的基础上，本技术实施例提供了另一种内存颗粒性能测试方法。
106.首先，请参考图3，图3为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试系统的框架图，该内存颗粒性能测试系统包括云数据中心(云端平台)，电脑端(客户端)，测试工具以及需要进行性能测试的内存颗粒(以ddr4(double data rate，双倍速率)颗粒为例)。
107.1、待测试内存颗粒：
108.将待测试ddr4颗粒接入相应的测试工具(目标测试工具)，在连接处，ddr4颗粒与测试工具角对角连接。
109.2、电脑端：
110.(1)与测试工具相连接用于读取ddr4颗粒的信息(元件信息)；
111.(2)通过串口向ddr4颗粒发送模拟信号，以模拟ddr4颗粒正常工作的情况；
112.(3)收集ddr4颗粒的工作信息并上传至云数据中心；
113.(4)输出云数据中心反馈的分析结果，并输出测试报告。
114.3、云数据中心：
115.用于存放ddr4颗粒的spec，且能够随时调取，可以通过对比分析确定ddr4颗粒的实际性能。
116.进一步，请参考图4，图4为本技术所提供的又一种内存颗粒性能测试方法的流程示意图，其具体实现流程如下：
117.1、将需要测试的ddr4颗粒接入测试工具；
118.2、将测试工具通过串口协议连接到客户端，并且由客户端对ddr4颗粒做出信息读取的操作；
119.3、基于usb传输协议，客户端通过串口将模拟信号发送到ddr4颗粒上；
120.4、ddr4颗粒得到相对应的模拟信号之后，进入正常的工作状态；
121.5、客户端对ddr4颗粒进行采样，得到时钟、复位、数据等重要信号的工作信息；
122.6、客户端将采集到的工作信息上传到云数据中心；
123.7、通过与云数据中心spec数据的对比来判断测试的ddr4颗粒是否符合要求；
124.8、如果符合要求，则判为该ddr4颗粒合格并且进行后续的安装；若对比的结果不符合要求，则换下一个ddr4颗粒继续进行测试。
125.可见，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试方法，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
126.本技术实施例提供了一种内存颗粒性能测试装置。
127.请参考图5，图5为本技术所提供的一种内存颗粒性能测试装置的结构示意图，该内存颗粒性能测试装置应用于客户端，可以包括：
128.获取模块1，用于根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；
129.确定模块2，用于根据元件信息确定待测内存颗粒对应的测试规则；
130.发起模块3，用于按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，并采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息；
131.上传模块4，用于将工作信息上传至云端平台，以使云端平台对工作信息进行诊断，获得测试结果。
132.可见，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试装置，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
133.在本技术的一个实施例中，上述确定模块2可具体用于根据预设映射关系查询确定元件信息对应的测试规则；其中，预设映射关系为各内存颗粒的元件信息与测试规则之间的对应关系。
134.在本技术的一个实施例中，上述发起模块3可具体用于按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号；其中，模拟信号包括时钟信号、复位信号、数据信号中的一种或多种的组合；采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息；其中，工作信息包括时钟信号响应信息、复位信号相应信息、数据信号响应信息中的一种或多种的组合。
135.在本技术的一个实施例中，该内存颗粒性能测试装置还可以包括响应模块，用于在上述根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息之前，接收目标测试工具发送的性能测试指令；其中，性能测试指令由目标测试工具响应于待测内存颗粒的插入信号。
136.在本技术的一个实施例中，该内存颗粒性能测试装置还可以包括查询模块，用于当接收到关于待测内存颗粒的查询命令时，根据查询命令确定待测内存颗粒的元件类型；根据元件类型确定待测内存颗粒对应的目标测试工具和工具连接规则；输出工具连接规则，以便于基于工具连接规则实现待测内存颗粒与目标测试工具的连接。
137.对于本技术实施例提供的装置的介绍请参照上述方法实施例，本技术在此不做赘述。
138.本技术实施例提供了一种内存颗粒性能测试装置。
139.请参考图6，图6为本技术所提供的另一种内存颗粒性能测试装置的结构示意图，该内存颗粒性能测试装置应用于云端平台，可以包括：
140.接收模块5，用于接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，工作信息为待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，模拟信号由客户端按照测试规则向待测内存颗粒发起，测试规则由客户端根据待测内存颗粒的元件信息确定，元件信息由客户端响应于性能测试指令对待测内存颗粒进行信息采集获得；
141.诊断模块6，用于对工作信息进行诊断，获得测试结果。
142.可见，本技术实施例所提供的内存颗粒性能测试装置，对于需要进行性能测试的待测内存颗粒，当接收到性能测试指令时，即可读取其元件信息，然后根据该元件信息调取对应于待测内存颗粒的测试规则，以便于利用该测试规则对待测内存颗粒进行测试，在测试过程中，可以按照测试规则向待测试内存颗粒发送模拟信号，同时采样待测试内存颗粒在响应模拟信号时的工作信息，最后再将工作信息上传至云端平台，由云端平台对待测内存颗粒的工作信息进行分析诊断，得到最终的测试结果，从而完成内存颗粒性能测试。可见，该种方式可以直接确定需要进行性能测试的内存颗粒并对其进行性能测试，而无需出产内存条后再进行测试，相较于传统技术，实现了更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。
143.在本技术的一个实施例中，上述诊断模块6可具体用于调取待测内存颗粒的产品规范数据；利用产品规范数据对工作信息进行对比分析，获得测试结果。
144.在本技术的一个实施例中，该内存颗粒性能测试装置还可以包括输出模块，用于当测试结果为测试通过时，输出合格提示；当测试结果为测试不通过时，输出不合格提示、告警提示、对比分析报告。
145.对于本技术实施例提供的装置的介绍请参照上述方法实施例，本技术在此不做赘述。
146.本技术实施例提供了一种电子设备。
147.请参考图7，图7为本技术所提供的一种电子设备的结构示意图，该电子设备可包
括：
148.存储器，用于存储计算机程序；
149.处理器，用于执行计算机程序时可实现如上述任意一种内存颗粒性能测试方法的步骤。
150.如图7所示，为电子设备的组成结构示意图，电子设备可以包括：处理器10、存储器11、通信接口12和通信总线13。处理器10、存储器11、通信接口12均通过通信总线13完成相互间的通信。
151.在本技术实施例中，处理器10可以为中央处理器(central processing unit，cpu)、特定应用集成电路、数字信号处理器、现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件等。
152.处理器10可以调用存储器11中存储的程序，具体的，处理器10可以执行内存颗粒性能测试方法的实施例中的操作。
153.存储器11中用于存放一个或者一个以上程序，程序可以包括程序代码，程序代码包括计算机操作指令，在本技术实施例中，存储器11中至少存储有用于实现以下功能的程序：
154.根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；
155.根据元件信息确定待测内存颗粒对应的测试规则；
156.按照测试规则向待测内存颗粒发起模拟信号，并采样待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息；
157.将工作信息上传至云端平台，以使云端平台对工作信息进行诊断，获得测试结果。
158.在一种可能的实现方式中，存储器11可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统，以及至少一个功能所需的应用程序等；存储数据区可存储使用过程中所创建的数据。
159.此外，存储器11可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件或其他易失性固态存储器件。
160.通信接口12可以为通信模块的接口，用于与其他设备或者系统连接。
161.当然，需要说明的是，图7所示的结构并不构成对本技术实施例中电子设备的限定，在实际应用中电子设备可以包括比图7所示的更多或更少的部件，或者组合某些部件。
162.本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质。
163.本技术实施例所提供的计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如上述任意一种内存颗粒性能测试方法的步骤。
164.该计算机可读存储介质可以包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
165.对于本技术实施例提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本技术在此不做赘述。
166.说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明
即可。
167.专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
168.结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(ram)、内存、只读存储器(rom)、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、cd-rom或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
169.以上对本技术所提供的技术方案进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以对本技术进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本技术的保护范围内。

技术特征：
1.一种内存颗粒性能测试方法，其特征在于，应用于客户端，包括：根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。2.根据权利要求1所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，所述根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则，包括：根据预设映射关系查询确定所述元件信息对应的测试规则；其中，所述预设映射关系为各内存颗粒的元件信息与测试规则之间的对应关系。3.根据权利要求1所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，所述按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息，包括：按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号；其中，所述模拟信号包括时钟信号、复位信号、数据信号中的一种或多种的组合；采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；其中，所述工作信息包括时钟信号响应信息、所述复位信号相应信息、数据信号响应信息中的一种或多种的组合。4.根据权利要求1至3任意一项所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，所述根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息之前，还包括：接收目标测试工具发送的所述性能测试指令；其中，所述性能测试指令由所述目标测试工具响应于所述待测内存颗粒的插入信号。5.根据权利要求4所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，还包括：当接收到关于所述待测内存颗粒的查询命令时，根据所述查询命令确定所述待测内存颗粒的元件类型；根据所述元件类型确定所述待测内存颗粒对应的所述目标测试工具和工具连接规则；输出所述工具连接规则，以便于基于所述工具连接规则实现所述待测内存颗粒与所述目标测试工具的连接。6.一种内存颗粒性能测试方法，其特征在于，应用于云端平台，包括：接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，所述工作信息为所述待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，所述模拟信号由所述客户端按照测试规则向所述待测内存颗粒发起，所述测试规则由所述客户端根据所述待测内存颗粒的元件信息确定，所述元件信息由所述客户端响应于性能测试指令对所述待测内存颗粒进行信息采集获得；对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。7.根据权利要求6所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，所述对所述工作信息进行诊断，获得测试结果，包括：调取所述待测内存颗粒的产品规范数据；利用所述产品规范数据对所述工作信息进行对比分析，获得所述测试结果。8.根据权利要求6所述的内存颗粒性能测试方法，其特征在于，还包括：
当所述测试结果为测试通过时，输出合格提示；当所述测试结果为测试不通过时，输出不合格提示、告警提示、对比分析报告。9.一种内存颗粒性能测试装置，其特征在于，应用于客户端，包括：获取模块，用于根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；确定模块，用于根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；发起模块，用于按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；上传模块，用于将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。10.一种内存颗粒性能测试装置，其特征在于，应用于云端平台，包括：接收模块，用于接收客户端上传的待测内存颗粒的工作信息；其中，所述工作信息为所述待测内存颗粒响应模拟信号时的工作信息，所述模拟信号由所述客户端按照测试规则向所述待测内存颗粒发起，所述测试规则由所述客户端根据所述待测内存颗粒的元件信息确定，所述元件信息由所述客户端响应于性能测试指令对所述待测内存颗粒进行信息采集获得；诊断模块，用于对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。11.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述的内存颗粒性能测试方法的步骤。12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的内存颗粒性能测试方法的步骤。

技术总结
本申请公开了一种内存颗粒性能测试方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质，方法包括：根据性能测试指令获取待测内存颗粒的元件信息；根据所述元件信息确定所述待测内存颗粒对应的测试规则；按照所述测试规则向所述待测内存颗粒发起模拟信号，并采样所述待测内存颗粒响应所述模拟信号时的工作信息；将所述工作信息上传至云端平台，以使所述云端平台对所述工作信息进行诊断，获得测试结果。应用本申请所提供的技术方案，以实现更为精准的内存颗粒性能测试，同时也可以有效避免资源浪费。同时也可以有效避免资源浪费。同时也可以有效避免资源浪费。


技术研发人员：吴涛
受保护的技术使用者：苏州浪潮智能科技有限公司
技术研发日：2023.05.31
技术公布日：2023/9/14