一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统及方法

1.本发明涉及纳米颗粒粒径信息测量技术领域，特别是涉及一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统及方法。


背景技术：

2.随着纳米材料技术的高速发展，纳米颗粒在化学工程、环境监测、生物医药、国防军事等技术领域中有广泛的应用，而纳米颗粒粒度是表征颗粒性能的重要指标。测量纳米颗粒粒度信息的测量方法有很多，而动态光散射技术凭借其操作简单、非接触性和实时性好等优点成为纳米颗粒粒径测量的主要方法。动态光散射技术是通过探测器测量悬浮液中纳米颗粒的布朗运动引起的随时间涨落的散射光强信号，对散射光信号进行相关分析得到相关函数，再通过反演算法获取颗粒的粒度信息。
3.现有的动态光散射技术为数字型，采用光电倍增管对单光子进行计数，将微弱散射光信号转换为电信号，进而通过数据处理获得颗粒的粒度信息。采用光电倍增管进行探测的动态光散射技术呈现出以下不足：首先，抗干扰能力差。由于光电倍增管为光子计数型探测器，灵敏度较高，所以环境光噪声会对检测结果产生较大影响；其次，使用寿命低。由于光电倍增管在入射光强度过大或照射时间过长时会出现光电流衰减、灵敏度骤降的疲劳现象，不利于动态光散射技术在现场工程的应用，使得传统动态光系统的可靠性和使用寿命大幅降低；最后，由于光电倍增管价格昂贵，极大地影响了动态光散射系统的可量产性和生产成本(cn02134926.6(cn1403797a)_低强度激光动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法及其装置)。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于克服现有数字型动态光散射技术所呈现的抗干扰能力差、使用寿命低和价格昂贵等问题，提供一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统及方法，设计相对应模拟型光电探测器单元及系统，保证纳米颗粒粒径检测结果的准确性的同时增强动态光散射测量系统的抗干扰能力、可靠性以及使用寿命，降低动态光散射系统的生产成本，并优化结构使测量系统得到有效的小型化。
5.本发明的目的至少通过如下技术方案之一实现。
6.一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，包括散射光获取单元、光电转换处理单元、信号相关处理单元和上位机处理显示单元；
7.所述散射光获取单元包括激光器、样品池、准直器和光纤；
8.所述光电转换处理单元包括模拟型光电探测器、转换放大电路；
9.所述信号相关处理单元包括模数转换器和模拟信号相关器；
10.所述激光器发射激光汇聚到装有样品的样品池中，散射光信号通过准直器和光纤被模拟型光电探测器所探测到并转换成光电流，再经过转换放大电路完成电流信号转电压信号的转换和倍增，而得到的模拟量电压信号经过模数转换器转换后给模拟信号相关器进
行相关处理得到散射光强的自相关曲线数据；最终所述上位机处理显示单位接收到自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。
11.进一步地，所述散射光获取单元还包括第一凸透镜，第一凸透镜在所述激光器和所述样品池中间，所述第一凸透镜可以汇聚激光入射到所述样品池中；通过该方案可以提高散射光的强度。
12.进一步地，所述散射光获取单元还包括第二凸透镜，第二凸透镜在所述样品池和所述准直器中间，所述第二凸透镜在散射光前向将散射光汇聚到所述准直器当中，使用前向散射角进行接收可以有效提高散射光的光强信号。
13.进一步地，所述准直器与所述第二凸透镜放置在同一直线路径，第二凸透镜中心所在的散射角与准直器接收端所在的散射角相同，可以实现将所述第二凸透镜汇聚的散射光从发散角较大束腰小的光束转换为发散角较小束腰大的光束，从而以较低损耗耦合进所述光纤中，提高散射光的采集效率。
14.进一步地，所述光纤可以将准直器输出的散射光传输到所述模拟型光电探测器进行探测，由于光纤在传输过程中损耗极低，抗干扰能力强等优点，既保证了散射光的空间相干性，又提高了散射光的接收和传输效率，配合以上光学系统可以减少系统的复杂度。
15.进一步地，所述模拟型光电探测器将接收的散射光转换为光电流，具备较高的响应速度，可以满足动态光散射中高速采样相关的要求，并且在较强环境光噪声干扰下不会产生疲劳现象。
16.进一步地，所述转换放大电路包括顺次连接的t型反馈网络、跨阻放大电路、二级可调反向放大电路和减法器电路；
17.所述t型反馈网络是将光电流转换为电压信号，再将微弱的电压信号经过跨阻放大电路和二级可调反向放大电路进行可调节性放大，这样使得可检测信号范围大大扩展，而减法器电路可以调节输出电压零点，防止模拟型光电探测器本身暗电流的影响，方便所述模数转换器的采集；
18.而所述模拟型光电探测器与所述转换放大电路已设计为同一单元模块，尽量降低其他干扰信号，提高信噪比。
19.进一步地，光电转换处理单元中设置有第一端口和第二端口，经过放大后的电压信号经过第一端口输出到模数转换器中，其中第二端口为光电转换处理单元的正负9伏电源输入接口。
20.一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法，包括如下步骤：
21.s1、散射光获取单元中，采用激光器向装有纳米颗粒的样品池中发射入射光，散射光经过准直器和光纤耦合至光电转换处理单元，光电转换处理单元中的模拟型光电探测器对散射光进行探测并产生光电流；
22.s2、此时调节减法器电路使输出达到电压零点并调节转换放大电路至设定的放大倍数；
23.s3、然后将经过放大的散射光电压信号输入到信号相关处理单元进行信号的模数转换和相关处理得散射光强的自相关曲线数据；所述上位机处理显示单元接收到自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。
24.进一步地，光电转换处理单元接收到的散射光强信号i(t)和输出的模拟电压信号
ua(t)存在以下关系：
25.ua(t)＝pl2rrg i(t)
26.其中，ua(t)为光电转换处理单元t时刻输出的模拟电压信号，p为激光器(11)的输出功率；l为模拟型光电探测器的感光面边长，l2需在光纤输出散射光斑面积范围；r为t型反馈网络中的电阻阻值，r为模拟型光电探测器的响应度，g为转换放大电路的放大倍数，i(t)为t时刻的散射光强信号，对该信号做自相关运算可以得到散射光强自相关函数g
(2)
(τ)：
27.g
(2)
(τ)＝《ub(t)ub(t-τ)》
28.其中，τ为延迟时间，《》表示对时间求平均；将散射光强自相关函数g
(2)
(τ)进行归一化得到归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)：
[0029][0030]
散射光的归一化电场自相关函数为g
(1)
(τ)具体如下：
[0031][0032]
其中，e(t)为t时刻颗粒观测点的电场，e
*
(t)为t时刻相邻另一颗粒观测点的电场；
[0033]
根据散射光符合高斯分布，散射光归一化电场自相关函数g
(1)
(τ)和归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)具有以下关系：
[0034]g(2)
(τ)＝1+f2|g
(1)
(τ)|2[0035]
其中，f2为相干因子；联立上式可得：
[0036]
|g
(1)
(τ)|＝e-γτ
[0037]
因此，获取颗粒的散射光强自相关函数可以获得衰减率γ，再由衰减率γ、散射矢量q以及扩散系数d，根据stokes-einstein函数关系，可以得到纳米颗粒的粒径d信息：
[0038][0039]
其中，n为样品溶液折射率，λ为激光波长，θ为散射角，kb为玻尔兹曼常数，t为样品溶液温度，η为粘滞系数，d为纳米颗粒粒径。
[0040]
相比与现有技术，本发明的优点在于：
[0041]
相对于现有技术，本发明提供一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统及方法，采用模拟型光电探测器并设计相对应的转换放大电路替代传统动态光散射中的光电倍增管探测器，将散射光信号转换为模拟电压信号进行处理，提高了信噪比，可以有效减少环境光噪声对于动态光散射测量系统的干扰且不会产生疲劳现象，能够适应复杂的在线使用环境，提高系统的可靠性和寿命的同时降低了生产成本；采用准直器和光纤一体化光学系统在前向接收散射光使得动态光散射测量系统机构紧凑，易于调节，有利于系统小型化的发展；同时配合信号相关处理单元和上位机处理显示单位可以快速准确测量纳米颗粒的粒径信息。
附图说明
[0042]
图1为本发明实施例中模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统的结构示意图；
[0043]
图2为本发明实施例中光电转换处理单元的原理结构图；
[0044]
图3为本发明实施例中模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统测量纳米颗粒散射光强经模数转换后得到的数字型电压值示意图；
[0045]
图4为本发明实施例中传统动态光散射纳米颗粒测量系统在较强环境光噪声下测量纳米颗粒获得的自相关函数曲线示意图；
[0046]
图5为本发明实施例中模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统在较强环境光噪声下测量纳米颗粒获得的自相关函数曲线示意图。
具体实施方式
[0047]
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图并举实施例，对本发明的具体实施进行详细说明。
[0048]
实施例：
[0049]
本发明研究采用模拟型动态光散射纳米颗粒测量技术，设计相对应信号探测单元及系统，可以在较强环境光噪声下实现对纳米颗粒粒径的准确测量。具体地，本技术通过激光经过有样品溶液的样品池，并将散射光信号转换为模拟的电压信号进行转换放大和相关处理，获得散射光的自相关函数进行反演可以准确测量纳米颗粒的粒径信息。具体通过以下实施例进行说明。
[0050]
如图1所示，其为模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统的结构示意图。该系统包括散射光获取单元10、光电转换处理单元20、信号相关处理单元30和上位机处理显示单元40。具体地所述散射光获取单元10进一步包括激光器11、第一凸透镜12、样品池13、第二凸透镜14、准直器15和光纤16；所述信号相关处理单元30进一步包括模数转换器31和模拟信号相关器32。
[0051]
其中激光器11用于产生入射光束，所选激光器焦距可调节，可根据实际情况调节焦距使得焦点落于样品池中间，增强散射光。在本实施例中，所述激光器11选用655nm、100mw的小型高稳定红光激光器。
[0052]
在入射光的光路上依入射顺序设置所述第一凸透镜12、样品池13，所述第一凸透镜12将入射激光汇聚到样品池13中，同时产生入射光和散射光，从而增强样品池13中纳米颗粒的散射光强。在本实施例中，所述样品池13选用的是通光性良好的圆柱形样品池。
[0053]
所述第二凸透镜14设置在散射光前向45
°
的散射角将散射光汇聚到所述准直器15当中，使用前向45
°
散射角进行接收可以有效提高散射光的光强信号，而45
°
角是经过各类角度实验最适合本系统的，在这个角度下在保证有足够散射光强的情况下，杂散光最少，信噪比较高。
[0054]
在散射光路上依次设置所述准直器15、所述光纤16。所述第二凸透镜14汇聚的散射光从发散角较大束腰小的光束转换为发散角较小束腰大的光束，从而以较低损耗耦合进所述光纤16中，提高散射光的采集效率。所述光纤16可以将准直器15输出的散射光传输到所述光电转换处理单元20进行信号处理。在本实施例中，所述准直器15选用的是损耗低、高效率耦合的多模光纤准直器。在本实施例中，所述光纤16选用的是传输特性良好，背向反射
低的多模光纤。
[0055]
经过所述光电转换处理单元20进行光电信号的处理和放大后得到散射光模拟量电压信号，将模拟量电压信号输入到模数转换器31进行散射光模拟量电压值到散射光数字量电压值的转换，并输入给模拟信号相关器32进行相关运算得到散射光强的自相关函数曲线数据，最终所述上位机处理显示单位40接收到自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。在本实施例中，所述模数转换器31选用12位数据输出，数据速率可达到65msps的高速模数转换器，以此可以满足动态光散射中相关器对采样时间的要求。所述模拟信号相关器32选用基于fpga的高速硬件相关器进行数据的高速相关处理。所述上位机处理显示单位40选用的是树莓派小型计算机，以方便实现系统的小型化和在现场工程的应用。
[0056]
进一步地，如图2所示，光电转换处理单元20包括模拟型光电探测器21、t型反馈网络22、跨阻放大电路23、二级可调反向放大电路24和减法器电路25。其中模拟型光电探测器21将接收到散射光转换为光电流信号后，t型反馈网络22是将光电流转换为电压信号，再将微弱的电压信号经过跨阻放大电路23和二级可调反向放大电路24进行可调节性放大，而减法器25电路可以调节输出电压零点，防止模拟型光电探测器本身暗电流的影响，方便所述模数转换器31的采集。经过放大后的电压信号经过第一端口26输出到模数转换器31中，其中第二端口27为光电转换处理单元20的正负9伏电源输入接口。在本实施例中，所述模拟型光电探测器21选用在655nm波长有高响应度、低暗电流的硅光电二极管，其感光面边长l为2mm，所述跨阻放大电路23选用高输入阻抗的运算放大器以放大微弱信号。
[0057]
其中模拟型动态光散射技术基本原理如下：
[0058]
光电转换处理单元接收到的散射光强信号和输出的模拟电压信号存在以下关系：
[0059]
ua(t)＝pl2rrg i(t)
[0060]
得到的模拟电压信号经过模数转换器31的模数转换后得到数字式的散射光强信号ub(t)，对该信号做自相关运算可以得到散射光强自相关函数g
(2)
(τ)：
[0061]g(2)
(τ)＝《ub(t)ub(t-τ)》
[0062]
式中，τ为延迟时间，《》表示对时间求平均。将散射光强自相关函数g
(2)
(τ)进行归一化得到归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)：
[0063][0064]
而散射光的归一化电场自相关函数为g
(1)
(τ)：
[0065][0066]
式中e(t)为颗粒观测点的电场。
[0067]
根据散射光符合高斯分布，散射光归一化电场自相关函数g
(1)
(τ)和归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)具有以下关系：
[0068]g(2)
(τ)＝1+f2|g
(1)
(τ)|2[0069]
式中f2为相干因子。联立上式可得：
[0070]
|g
(1)
(τ)|＝e-γτ
[0071]
因此，获取颗粒的散射光强自相关函数可以获得衰减率γ，再由衰减率γ、散射矢
量q以及扩散系数d，根据stokes-einstein函数关系，可以得到纳米颗粒的粒径d信息：
[0072][0073]
其中，n为样品溶液折射率，λ为激光波长，θ为散射角，kb为玻尔兹曼常数，t为样品溶液温度，η为粘滞系数，d为纳米颗粒粒径。
[0074]
本发明的模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法，包括如下步骤：
[0075]
s1：向装有纳米颗粒的样品池中发射入射光，散射光经过准直器和光纤耦合至模拟型光电探测器进行探测；
[0076]
s2：调节减法器电路使输出达到电压零点并调节转换放大电路至合适的放大倍数输出散射光强电压信号；
[0077]
s3：放大的散射光强电压信号经过模数转换和相关处理得散射光强的自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。
[0078]
关于所述模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法的具体实施细节与上述模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统相同，在此不再赘述。
[0079]
以下为本发明的模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法和传统动态光散射纳米颗粒测量方法在较强环境光噪声下测量纳米颗粒的粒径信息实验。
[0080]
在实际实验过程中，采用粒径为201nm的标准纳米颗粒样品溶液进行测量，调节的二级可调反向放大电路放大倍数为80倍。如图3、图4和图5所示，图3为模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统测量纳米颗粒散射光强经模数转换后得到的数字型电压值，图4为传统动态光散射纳米颗粒测量系统在较强环境光噪声下测量纳米颗粒获得的自相关函数曲线，图5为模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统在较强环境光噪声下测量纳米颗粒获得的自相关函数曲线。可以看出，在较强的非相干光和杂散光等环境光噪声影响下，传统动态光散射纳米颗粒测量方法得到的自相关函数曲线发生畸变，严重影响了曲线的质量和测量结果；而本发明的模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法在较强环境光噪声下测量纳米颗粒具备有效的抗干扰性，呈现出质量较好的自相关函数曲线。除此之外，传统动态光散射纳米颗粒测量方法在较强环境光噪声影响下测得的纳米颗粒粒径信息为341.5nm，误差为140.5nm，而本发明的模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法在较强环境光噪声影响下测得的纳米颗粒粒径信息为204.2nm，误差为3.2nm。由此可见，在较强环境光噪声影响下，传统动态光散射纳米颗粒测量方法无法对纳米颗粒进行准确测量，而本发明的模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法可以对纳米颗粒进行准确测量。

技术特征：
1.一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，包括散射光获取单元(10)、光电转换处理单元(20)、信号相关处理单元(30)和上位机处理显示单元(40)；所述散射光获取单元(10)包括激光器(11)、样品池(13)、准直器(15)和光纤(16)；所述光电转换处理单元(20)包括模拟型光电探测器(21)、转换放大电路；所述信号相关处理单元(30)包括模数转换器(31)和模拟信号相关器(32)；所述激光器(11)发射激光汇聚到装有样品的样品池(13)中，散射光信号通过准直器(15)和光纤(16)被模拟型光电探测器(21)所探测到并转换成光电流，再经过转换放大电路完成电流信号转电压信号的转换和倍增，而得到的模拟量电压信号经过模数转换器(31)转换后给模拟信号相关器(32)进行相关处理得到散射光强的自相关曲线数据；最终所述上位机处理显示单位(40)接收到自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。2.根据权利要求1所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述散射光获取单元(10)还包括第一凸透镜(12)，第一凸透镜(12)在所述激光器(11)和所述样品池(13)中间，所述第一凸透镜(12)可以汇聚激光入射到所述样品池(13)中；通过该方案可以提高散射光的强度。3.根据权利要求1所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述散射光获取单元(10)还包括第二凸透镜(14)，第二凸透镜(14)在所述样品池(13)和所述准直器(15)中间，所述第二凸透镜(14)在散射光前向将散射光汇聚到所述准直器(15)当中，使用前向散射角进行接收可以有效提高散射光的光强信号。4.根据权利要求3所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述准直器(15)与所述第二凸透镜(14)放置在同一直线路径，第二凸透镜(14)中心所在的散射角与准直器(15)接收端所在的散射角相同，可以实现将所述第二凸透镜(14)汇聚的散射光从发散角较大束腰小的光束转换为发散角较小束腰大的光束，从而以较低损耗耦合进所述光纤中，提高散射光的采集效率。5.根据权利要求1所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述光纤(16)可以将准直器(15)输出的散射光传输到所述模拟型光电探测器(21)进行探测，由于光纤(16)在传输过程中损耗极低，抗干扰能力强等优点，既保证了散射光的空间相干性，又提高了散射光的接收和传输效率，配合以上光学系统可以减少系统的复杂度。6.根据权利要求1所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述模拟型光电探测器(21)将接收的散射光转换为光电流，具备较高的响应速度，可以满足动态光散射中高速采样相关的要求，并且在较强环境光噪声干扰下不会产生疲劳现象。7.根据权利要求1所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，所述转换放大电路包括顺次连接的t型反馈网络(22)、跨阻放大电路(23)、二级可调反向放大电路(24)和减法器电路(25)；所述t型反馈网络(22)是将光电流转换为电压信号，再将微弱的电压信号经过跨阻放大电路(23)和二级可调反向放大电路(24)进行可调节性放大，这样使得可检测信号范围大大扩展，而减法器电路(25)可以调节输出电压零点，防止模拟型光电探测器(21)本身暗电流的影响，方便所述模数转换器(31)的采集；而所述模拟型光电探测器(21)与所述转换放大电路已设计为同一单元模块，尽量降低其他干扰信号，提高信噪比。
8.根据权利要求7所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统，其特征在于，光电转换处理单元(20)中设置有第一端口(26)和第二端口(27)，经过放大后的电压信号经过第一端口(26)输出到模数转换器(31)中，其中第二端口(27)为光电转换处理单元(20)的正负9伏电源输入接口。9.基于权利要求1～8任一项所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法，其特征在于，包括如下步骤：s1、散射光获取单元(10)中，采用激光器(11)向装有纳米颗粒的样品池(13)中发射入射光，散射光经过准直器(15)和光纤(16)耦合至光电转换处理单元(20)，光电转换处理单元(20)中的模拟型光电探测器(21)对散射光进行探测并产生光电流；s2、此时调节减法器电路(25)使输出达到电压零点并调节转换放大电路至设定的放大倍数；s3、然后将经过放大的散射光电压信号输入到信号相关处理单元(30)进行信号的模数转换和相关处理得散射光强的自相关曲线数据；所述上位机处理显示单元(40)接收到自相关曲线数据并拟合输出纳米颗粒的粒径信息。10.根据权利要求9所述的一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量方法，其特征在于，光电转换处理单元(20)接收到的散射光强信号i(t)和输出的模拟电压信号u
a
(t)存在以下关系：u
a
(t)＝pl2rrgi(t)其中，u
a
(t)为光电转换处理单元(20)t时刻输出的模拟电压信号，p为激光器(11)的输出功率；l为模拟型光电探测器(21)的感光面边长，l2需在光纤输出散射光斑面积范围；r为t型反馈网络(22)中的电阻阻值，r为模拟型光电探测器(21)的响应度，g为转换放大电路的放大倍数，i(t)为t时刻的散射光强信号，对该信号做自相关运算可以得到散射光强自相关函数g
(2)
(τ)：g
(2)
(τ)＝<u
b
(t)u
b
(t-τ)>其中，τ为延迟时间，<>表示对时间求平均；将散射光强自相关函数g
(2)
(τ)进行归一化得到归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)：而散射光的归一化电场自相关函数为g
(1)
(τ)：其中，e(t)为t时刻颗粒观测点的电场，e
*
(t)为t时刻相邻另一颗粒观测点的电场；根据散射光符合高斯分布，散射光归一化电场自相关函数g
(1)
(τ)和归一化光强自相关函数g
(2)
(τ)具有以下关系：g
(2)
(τ)＝1+f2|g
(1)
(τ)|2其中，f2为相干因子；联立上式可得：|g
(1)
(τ)|＝e-γτ
因此，获取颗粒的散射光强自相关函数可以获得衰减率γ，再由衰减率γ、散射矢量q
以及扩散系数d，根据stokes-einstein函数关系，可以得到纳米颗粒的粒径d信息：γ＝dq2；d＝k
b
t/3πηd其中，n为样品溶液折射率，λ为激光波长，θ为散射角，k
b
为玻尔兹曼常数，t为样品溶液温度，η为粘滞系数，d为纳米颗粒粒径。

技术总结
本发明公开了一种模拟型动态光散射纳米颗粒测量系统及方法。本发明通过设计相对应模拟型光电探测器单元及系统，相对于现有技术，本发明采用模拟型光电探测器并设计相对应的转换放大电路替代传统动态光散射中的光电倍增管探测器，将散射光信号转换为模拟电压信号进行处理，提高了信噪比，可以有效减少环境光噪声对于动态光散射测量系统的干扰且不会产生疲劳现象，能够适应复杂的在线使用环境，提高系统的可靠性和寿命的同时降低了生产成本；采用准直器和光纤一体化光学系统在前向接收散射光使得动态光散射测量系统机构紧凑，易于调节，有利于系统小型化的发展；同时配合信号相关处理单元和上位机处理显示单位可以快速准确测量纳米颗粒的粒径信息。准确测量纳米颗粒的粒径信息。准确测量纳米颗粒的粒径信息。


技术研发人员：韩鹏 邱斯杰 邱健 骆开庆 彭力 刘冬梅 陈淼
受保护的技术使用者：华南师范大学
技术研发日：2023.02.09
技术公布日：2023/7/11