一种测试框架机构的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，具体是一种测试框架机构。


背景技术：

2.近年来随着电子科技技术的进步，个人计算机、多媒体、工作站、网络、通信相关设备等电子产品的需求量激增，带动整个世界半导体产业蓬勃发展，各种功能的集成电路芯片成为电子产品硬件电路的核心，各厂商对集成电路芯片采购标准也较为严苛，在现行对集成电路芯片需求大增的前提下，供货商除了确保最终测试合格外，还必须能够迅速大量出货。
3.集成电路芯片生产之后需要对其进行测试以保证其功能性，常见的做法是将待测试的芯片放置在放置台上，再通过手持测试设备或通过支架结构对测试设备进行承载和位置调节并进行测试，测试设备通过光学测试探头对芯片表面的各个电路连接节点进行测试，具有简单易操作的优点，但是在实际使用时依然发现下面问题，常规的放置台只能对单一形状尺寸的芯片进行承载放置，使用灵活性较低，因此需要设计一种能够对多种类型芯片进行承载并方便调节检测设备位置的测试机构来满足使用需求，为此本领域技术人员提出了一种测试框架机构，以解决上述背景中提出的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种测试框架机构，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种测试框架机构，包括框架板，所述框架板内腔顶部连接设置有轨道杆，所述轨道杆上安装有滑轨板，所述滑轨板在所述轨道杆上的位置可调，所述滑轨板底端通过安装夹可拆卸安装设置有测试设备，所述框架板两侧均设置有活动槽，所述活动槽内滑动连接设置有活动块，所述框架板一侧外壁通过固定板安装设置有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆顶端连接设置有第一转把，所述第一螺纹杆上螺纹配合连接有螺纹块，所述螺纹块侧壁与其中一个所述活动块的一侧侧壁相连，两个所述活动块位于同一高度位置上，两个所述活动块之间设置有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆两端通过轴承套分别与两个所述活动块转动连接，所述第二螺纹杆远离所述第一螺纹杆一端连接有第二转把，所述第二转把置于所述框架板外围，所述第二螺纹杆上对称且螺纹配合连接有两个螺纹套，所述螺纹套顶部外壁与连接杆底端相连，所述连接杆顶端连接有放置板，所述放置板侧端与所述框架板内侧壁滑动贴合。
7.作为本实用新型再进一步的方案：所述螺纹块的设置宽度大于所述活动槽宽度，所述螺纹块靠近所述第二螺纹杆一侧侧端与所述框架板一侧外侧壁滑动贴合。
8.作为本实用新型再进一步的方案：所述放置板呈直角状，两个所述放置板关于所述第二螺纹杆对称分布设置，所述放置板内围连接设置有弹性垫。
9.作为本实用新型再进一步的方案：所述框架板位于所述第二螺纹杆两侧的内壁均设置有矩形槽，所述放置板的侧端连接有定位杆，所述定位杆端部与所述矩形槽内侧壁滑动贴合，所述定位杆的设置长度与所述矩形槽的设置深度一致。
10.作为本实用新型再进一步的方案：所述活动槽呈长条矩形状，所述活动块为一矩形块，所述活动块的两侧内壁分别与对应的所述活动槽的两侧内壁滑动贴合。
11.本实用新型具有以下有益之处：该测试框架通过设置第二螺纹杆、螺纹套、连接杆、第二转把等配合来对两个放置板间的距离进行调节，使得两个放置板能够配合对不同形状尺寸的芯片进行放置，通过设置第一螺纹杆、第一转把、螺纹块等配合来对第二螺纹杆的高度位置进行调节，进而对放置板和放置板上放置的芯片的高度位置进行调节，使得芯片与测试设备间的距离可调，通过轨道杆与滑轨板配合调节测试设备的水平方向位置，以便根据需求对芯片的不同位置进行测试，使用灵活方便，泛用性高，对芯片的放置和检测更加方便快捷。
附图说明
12.图1为本实用新型实施例的整体内部结构正视图。
13.图2为本实用新型实施例中框架板的右视图。
14.图3为本实用新型实施例中放置板的结构示意图。
15.图中：框架板-1，轨道杆-2，滑轨板-3，安装夹-4，测试设备-5，活动槽-6，固定板-7，第一螺纹杆-8，第一转把-9，螺纹块-10，活动块-11，第二螺纹杆-12，螺纹套-13，连接杆-14，放置板-15，弹性垫-16，定位杆-17，矩形槽-18，第二转把-19，轴承套-20。
实施方式
16.下面结合具体实施方式对本实用新型的技术方案作进一步详细地说明。
实施例
17.请参阅图1、2，一种测试框架机构，包括框架板1，所述框架板1内腔顶部连接设置有轨道杆2，所述轨道杆2上安装有滑轨板3，所述滑轨板3在所述轨道杆2上的位置可调，所述滑轨板3底端通过安装夹4可拆卸安装设置有测试设备5，所述框架板1两侧均设置有活动槽6，所述活动槽6内滑动连接设置有活动块11，所述框架板1一侧外壁通过固定板7安装设置有第一螺纹杆8，所述第一螺纹杆8顶端连接设置有第一转把9，所述第一螺纹杆8上螺纹配合连接有螺纹块10，所述螺纹块10侧壁与其中一个所述活动块11的一侧侧壁相连，两个所述活动块11位于同一高度位置上，两个所述活动块11之间设置有第二螺纹杆12，所述第二螺纹杆12两端通过轴承套20分别与两个所述活动块11转动连接，所述第二螺纹杆12上具有方向相反且对称的两组外螺纹，所述第二螺纹杆12远离所述第一螺纹杆8一端连接有第二转把19，所述第二转把19置于所述框架板1外围，所述第二螺纹杆12上对称且螺纹配合连接有两个螺纹套13，所述螺纹套13顶部外壁与连接杆14底端相连，所述连接杆14顶端连接有放置板15，所述放置板15侧端与所述框架板1内侧壁滑动贴合。
18.请参阅图1、3，所述螺纹块10的设置宽度大于所述活动槽6宽度，所述螺纹块10靠近所述第二螺纹杆12一侧侧端与所述框架板1一侧外侧壁滑动贴合，所述放置板15呈直角
状，两个所述放置板15关于所述第二螺纹杆12对称分布设置，所述放置板15内围连接设置有弹性垫16，芯片两端分别放置在两个放置板15上，放置板15用于对矩形状的芯片进行夹持放置，放置板15的侧部能够对芯片进行夹持阻挡，防止芯片脱离，提高夹持稳定性。
实施例
19.参阅图1、3，在实施例一的基础上，所述框架板1位于所述第二螺纹杆12两侧的内壁均设置有矩形槽18，所述放置板15的侧端连接有定位杆17，所述定位杆17端部与所述矩形槽18内侧壁滑动贴合，所述定位杆17的设置长度与所述矩形槽18的设置深度一致，通过定位杆17在矩形槽18内滑动，提高放置板15在框架板1内的移动稳定性，当通过第一螺纹杆8带动螺纹块10移动进而带动放置板15进行竖直方向移动时、及通过第二螺纹杆12带动螺纹套13移动进而带动放置板15进行水平方向移动时，均能够带动定位杆17在矩形槽18内滑动。
20.请参阅图1、2，所述活动槽6呈长条矩形状，所述活动块11为一矩形块，所述活动块11的两侧内壁分别与对应的所述活动槽6的两侧内壁滑动贴合。
21.工作原理：使用时，根据芯片形状尺寸调节两个放置板15间的距离，通过转动第二转把19带动第二螺纹杆12转动，进而带动两个螺纹套13相互靠近，进而带动放置板15相互靠近，将芯片两端放置在两个放置板15上，进一步控制两个放置板15相互靠近来使放置板15侧部对芯片端部进行夹持，通过转动第一转把9带动第一螺纹杆8转动，进而带动螺纹块10移动，进而带动活动杆和第二螺纹杆12移动来进行对放置板15和芯片的竖直方向位置调节，以此控制芯片与测试设备5间的距离，测试设备5可从现有技术中的光学测试机器中进行选择，通过控制滑轨板3在轨道杆2上的位置来对测试设备5的位置进行调节，以此来对芯片的不同位置进行测试。
22.对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
23.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

技术特征：
1.一种测试框架机构，包括框架板，其特征在于，所述框架板内腔顶部连接设置有轨道杆，所述轨道杆上安装有滑轨板，所述滑轨板在所述轨道杆上的位置可调，所述滑轨板底端通过安装夹可拆卸安装设置有测试设备，所述框架板两侧均设置有活动槽，所述活动槽内滑动连接设置有活动块，所述框架板一侧外壁通过固定板安装设置有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆顶端连接设置有第一转把，所述第一螺纹杆上螺纹配合连接有螺纹块，所述螺纹块侧壁与其中一个所述活动块的一侧侧壁相连，两个所述活动块位于同一高度位置上，两个所述活动块之间设置有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆两端通过轴承套分别与两个所述活动块转动连接，所述第二螺纹杆远离所述第一螺纹杆一端连接有第二转把，所述第二转把置于所述框架板外围，所述第二螺纹杆上对称且螺纹配合连接有两个螺纹套，所述螺纹套顶部外壁与连接杆底端相连，所述连接杆顶端连接有放置板，所述放置板侧端与所述框架板内侧壁滑动贴合。2.根据权利要求1所述的一种测试框架机构，其特征在于，所述螺纹块的设置宽度大于所述活动槽宽度，所述螺纹块靠近所述第二螺纹杆一侧侧端与所述框架板一侧外侧壁滑动贴合。3.根据权利要求2所述的一种测试框架机构，其特征在于，所述放置板呈直角状，两个所述放置板关于所述第二螺纹杆对称分布设置，所述放置板内围连接设置有弹性垫。4.根据权利要求3所述的一种测试框架机构，其特征在于，所述框架板位于所述第二螺纹杆两侧的内壁均设置有矩形槽，所述放置板的侧端连接有定位杆，所述定位杆端部与所述矩形槽内侧壁滑动贴合，所述定位杆的设置长度与所述矩形槽的设置深度一致。5.根据权利要求1所述的一种测试框架机构，其特征在于，所述活动槽呈长条矩形状，所述活动块为一矩形块，所述活动块的两侧内壁分别与对应的所述活动槽的两侧内壁滑动贴合。

技术总结
本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，具体是一种测试框架机构，包括框架板，所述框架板两侧设置有活动槽，所述活动槽内设置有活动块，两个活动块间通过设置第二螺纹杆、螺纹套、连接杆等对称设置有两个放置板，两个放置板间的距离可调以对不同形状尺寸的芯片进行放置，框架板一侧外壁设置有第一螺纹杆、第一转把、螺纹块等配合来对第二螺纹杆的高度位置进行调节，进而对放置板和放置板上放置的芯片的高度位置进行调节，使得芯片与测试设备间的距离可调，通过轨道杆与滑轨板配合调节测试设备的水平方向位置，使得测试设备能够灵活方便的调节位置并对芯片进行测试。节位置并对芯片进行测试。节位置并对芯片进行测试。


技术研发人员：韩建雄
受保护的技术使用者：上海隆兴旺电子科技有限公司
技术研发日：2023.02.07
技术公布日：2023/7/14