一种MEMS声传感芯片测试设备的制作方法

一种mems声传感芯片测试设备
技术领域
1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种mems声传感芯片测试设备。


背景技术：

2.芯片在量产测试过程中通常会进行上电工作，对于低功耗芯片来说，由于其功耗低，发热问题基本可以不用考虑，对于大功率芯片来说，由于其功耗高，发热问题往往会影响测试的准确性。
3.在公开号为cn209570667u的中国实用新型专利中公开了一种芯片在量产测试过程中通常会进行上电工作，对于低功耗芯片来说，由于其功耗低，发热问题基本可以不用考虑，对于大功率芯片来说，由于其功耗高，发热问题往往会影响测试的准确性。
4.为了提高测试的效率，上述装置通过两个设置在测试台上表面的pcba板分别对两个芯片进行测试，当测试中的芯片为不合格品时，测试过程中声光报警器发出蜂鸣声。此时，工作人员只能等到另一个芯片检测完成后方可取出不合格品，从而不利于提高检测的效率。


技术实现要素：

5.为了解决上述问题，本实用新型提供一种mems声传感芯片测试设备。
6.本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种mems声传感芯片测试设备，包括上端开口的检测箱，所述检测箱的上表面开设有安装槽，所述安装槽内设置有用于封闭检测箱的上盖，所述检测箱相对的两个内壁上均开设有滑槽，两个滑槽内均滑动设置有滑块，两个所述滑块相互靠近的侧壁上共同安装有安装板，所述安装板的上表面开设有两个相互对称的滑动槽，所述滑动槽内滑动设置有滑动块，所述滑动块的上表面固定有用于检测芯片的检测装置，所述检测箱的侧壁上设置有两个指示灯，所述指示灯与检测装置一一对应并电连接，所述检测箱上设置有用于对滑块进行限位的限位组件，所述安装板上设置有用于驱动滑动块的驱动组件。
7.通过采用上述技术方案，当工作人员需对多个芯片同时进行检测时，工作人员需使芯片与检测装置一一对应并相互连接。随后，工作人员需向下滑动安装板，即可使限位组件自动对安装板进行固定，从而使检测装置保持稳定。此时，工作人员只需启动检测装置，即可对芯片进行检测。随后，当其中一个检测中的芯片为不合格品时，检测装置检测到芯片不合格的信号并使对应的指示灯亮起。此时，工作人员只需启动驱动组件，即可使滑动块向靠近检测槽的方向运动，进而使芯片跟随滑动块移动并最终移动至检测箱外，此时，工作人员只需对芯片进行更换，并使滑动块复位，即可对新的芯片进行检测，无需等待其余芯片检测完成，从而提高了工作人员的检测效率。
8.进一步的，所述滑槽的内壁上开设有限位槽，所述检测箱的内壁上开设有安置槽，所述限位组件包括滑动设置在限位槽内的限位杆、一端固定在限位杆远离滑块侧壁上的限位弹簧、一端固定在限位杆远离滑块侧壁上的固定绳以及滑动设置在安置槽内的滑杆，所
述限位弹簧的另一端固定在限位槽远离滑块的内壁上，所述固定绳的另一端延伸至安置槽内并与滑杆相互固定。
9.进一步的，所述限位杆的上表面与其远离固定绳的侧壁相交的棱边上开设有第一倾斜面。
10.通过采用上述技术方案，当工作人员使芯片与检测装置相互连接后，工作人员需向下滑动安装板，此时，滑块逐渐靠近限位杆并抵紧第一倾斜面，从而使限位杆在滑块的作用下完全移动至限位槽内，当滑块抵紧滑槽的内底壁时，限位杆恰好与滑块相互分离，从而使限位杆的一端在限位弹簧的作用下移出限位槽并的抵紧滑块，进而使滑块保持稳定。随后，当工作人员需取出安装板时，工作人员需按动滑杆，即可使固定绳跟随滑杆移动，从而使限位杆在固定绳的作用下完全移动至限位槽内，此时，工作人员只需向上滑动安装板即可。
11.进一步的，所述检测箱的侧壁上贯穿开设有与检测装置正对的检测槽，所述检测槽的内顶壁上开设有封闭槽，所述驱动组件包括滑动设置在封闭槽内的隔板、一端固定在滑动块远离隔板侧壁上的驱动弹簧以及设置在安装板上用于阻挡滑动块的限位装置，所述驱动弹簧的另一端固定在滑动槽远离检测槽的内壁上。
12.通过采用上述技术方案，当工作人员需取出不合格的芯片时，工作人员需向上滑动隔板，并关闭限位装置，即可使滑动块在驱动弹簧的作用下向靠近检测槽的方向移动，进而使芯片越过检测槽，从而降低了此时工作人员更换芯片的难度。
13.进一步的，所述滑动槽的内壁上开设有第一固定槽，所述第一固定槽的内壁上开设有第二固定槽，所述检测箱的侧壁上开设有与第二固定槽正对的第三固定槽，所述限位装置包括滑动设置在第一固定槽内的第一固定杆、一端固定在第一固定杆远离滑动块侧壁上的固定弹簧、滑动设置在第二固定槽内的第二固定杆以及滑动设置在第三固定槽内的第三固定杆；
14.所述第一固定杆靠近第二固定杆的侧壁上开设有连接槽，所述连接槽远离滑动块的内壁与第一固定杆靠近第二固定杆的侧壁相交的棱边上开设有第二倾斜面。
15.通过采用上述技术方案，当工作人员需取出芯片时，工作人员只需按动第三固定杆，即可使第三固定杆抵紧第二倾斜面，从而使第一固定杆完全移动至第一固定槽内，进而使第一固定杆与滑动块相互分离，从而使滑动块在驱动弹簧的作用下移动。
16.进一步的，所述第一固定杆靠近检测槽的侧壁与其远离驱动弹簧的侧壁相交的棱边上开设有第三倾斜面。
17.通过采用上述技术方案，当工作人员松开第三固定杆时，第一固定杆在固定弹簧的作用下复位。此时，若工作人员需使滑动块复位，工作人员只需推动检测装置，即可使滑动块抵紧第三倾斜面，从而使第一固定杆滑动，无需工作人员持续对第三固定杆施加作用力，进而降低了工作人员的操作难度。
18.进一步的，所述检测槽的内底壁上开设有与隔板相互匹配的容纳槽。
19.通过采用上述技术方案，提高了隔板对检测槽的密封效果，进而减小了检测箱内热量流失的速率。
20.进一步的，所述隔板的侧壁上设置有用于降低工作人员滑动隔板难度的连接块。
21.综上所述，本实用新型具有以下有益效果：
22.1、本技术中，当工作人员需对多个芯片同时进行检测时，工作人员需使芯片与检测装置一一对应并相互连接。随后，工作人员需向下滑动安装板，即可使限位组件自动对安装板进行固定，从而使检测装置保持稳定。此时，工作人员只需启动检测装置，即可对芯片进行检测。随后，当其中一个检测中的芯片为不合格品时，检测装置检测到芯片不合格的信号并使对应的指示灯亮起。此时，工作人员只需启动驱动组件，即可使滑动块向靠近检测槽的方向运动，进而使芯片跟随滑动块移动并最终移动至检测箱外，此时，工作人员只需对芯片进行更换，并使滑动块复位，即可对新的芯片进行检测，无需等待其余芯片检测完成，从而提高了工作人员的检测效率；
23.2、本技术中，当工作人员使芯片与检测装置相互连接后，工作人员需向下滑动安装板，此时，滑块逐渐靠近限位杆并抵紧第一倾斜面，从而使限位杆在滑块的作用下完全移动至限位槽内，当滑块抵紧滑槽的内底壁时，限位杆恰好与滑块相互分离，从而使限位杆的一端在限位弹簧的作用下移出限位槽并的抵紧滑块，进而使滑块保持稳定。随后，当工作人员需取出安装板时，工作人员需按动滑杆，即可使固定绳跟随滑杆移动，从而使限位杆在固定绳的作用下完全移动至限位槽内，此时，工作人员只需向上滑动安装板即可；
24.3、本技术中，当工作人员需取出不合格的芯片时，工作人员需向上滑动隔板，并关闭限位装置，即可使滑动块在驱动弹簧的作用下向靠近检测槽的方向移动，进而使芯片越过检测槽，从而降低了此时工作人员更换芯片的难度。
附图说明
25.图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；
26.图2是本实用新型实施例的限位槽及其连接结构示意图；
27.图3是本实用新型实施例的限位组件及其连接结构示意图；
28.图4是本实用新型实施例的检测装置及其连接结构示意图；
29.图5是本实用新型实施例的限位装置及其连接结构示意图。
30.图中：1、检测箱；11、安装槽；2、上盖；21、滑槽；3、滑块；31、安装板；32、滑动槽；4、滑动块；41、检测装置；5、指示灯；51、限位槽；52、安置槽；6、限位组件；61、限位杆；62、限位弹簧；63、固定绳；64、滑杆；65、第一倾斜面；66、检测槽；67、封闭槽；7、驱动组件；71、隔板；72、驱动弹簧；73、第一固定槽；74、第二固定槽；75、第三固定槽；8、限位装置；81、第一固定杆；82、固定弹簧；83、第二固定杆；84、第三固定杆；85、连接槽；86、第二倾斜面；87、第三倾斜面；9、容纳槽；91、连接块。
具体实施方式
31.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
32.如图1至图5所示，本技术实施例公开一种mems声传感芯片测试设备，包括检测箱1、上盖2、滑块3、安装板31、滑动块4、检测装置41、指示灯5、限位组件6以及驱动组件7。检测箱1为上端开口的长方体形结构，检测箱1的上表面开设有安装槽11。上盖2为长方形板状结
构，上盖2设置在安装槽11内，用于封闭检测箱1。检测箱1相对的两个内壁上均开设有滑槽21，滑块3为长方形块状结构，滑块3设有两个并分别滑动设置在两个滑槽21内。安装板31为长方形板状结构，安装板31与两个滑块3相互靠近的侧壁均相互连接。安装板31的上表面开设有两个相互对称的滑动槽32，滑动块4为长方形块状结构，滑动块4滑动设置在滑动槽32内。检测装置41固定在滑动块4的上表面，用于检测芯片。指示灯5设有两个并设置在检测箱1的侧壁上，且指示灯5与检测装置41一一对应并电连接。
33.滑槽21的内壁上开设有限位槽51，检测箱1的内壁上开设有安置槽52，限位组件6设置在检测箱1上，用于对滑块3进行限位，限位组件6包括限位杆61、限位弹簧62、固定绳63以及滑杆64。限位杆61为长方形杆状结构，限位杆61滑动设置在限位槽51内，且限位杆61的上表面与其远离固定绳63的侧壁相交的棱边上开设有第一倾斜面65。限位弹簧62的一端固定在限位杆61远离滑块3的侧壁上，限位弹簧62的另一端固定在限位槽51远离滑块3的内壁上。固定绳63的一端固定在限位杆61远离滑块3的侧壁上，固定绳63的另一端延伸至安置槽52内并与滑杆64相互固定。滑杆64为长方形杆状结构，滑杆64滑动设置在安置槽52内。
34.当工作人员使芯片与检测装置41相互连接后，工作人员需向下滑动安装板31，此时，滑块3逐渐靠近限位杆61并抵紧第一倾斜面65，从而使限位杆61在滑块3的作用下完全移动至限位槽51内，当滑块3抵紧滑槽21的内底壁时，限位杆61恰好与滑块3相互分离，从而使限位杆61的一端在限位弹簧62的作用下移出限位槽51并的抵紧滑块3，进而使滑块3保持稳定。随后，当工作人员需取出安装板31时，工作人员需按动滑杆64，即可使固定绳63跟随滑杆64移动，从而使限位杆61在固定绳63的作用下完全移动至限位槽51内，此时，工作人员只需向上滑动安装板31即可。
35.检测箱1的侧壁上贯穿开设有与检测装置41正对的检测槽66，检测槽66的内顶壁上开设有封闭槽67，驱动组件7设置在安装板31上，用于驱动滑动块4，驱动组件7包括隔板71、驱动弹簧72以及限位装置8。隔板71为长方形板状结构，隔板71滑动设置在封闭槽67内。驱动弹簧72的一端固定在滑动块4远离隔板71的侧壁上，驱动弹簧72的另一端固定在滑动槽32远离检测槽66的内壁上。
36.当工作人员需取出不合格的芯片时，工作人员需向上滑动隔板71，并关闭限位装置8，即可使滑动块4在驱动弹簧72的作用下向靠近检测槽66的方向移动，进而使芯片越过检测槽66，从而降低了此时工作人员更换芯片的难度。
37.滑动槽32的内壁上开设有第一固定槽73，第一固定槽73的内壁上开设有第二固定槽74，且检测箱1的侧壁上开设有与第二固定槽74正对的第三固定槽75。限位装置8设置在安装板31上，用于阻挡滑动块4，限位装置8包括第一固定杆81、固定弹簧82、第二固定杆83以及第二固定杆83。第一固定杆81为长方形杆状结构，第一固定杆81滑动设置在第一固定槽73内，第一固定杆81靠近第二固定杆83的侧壁上开设有连接槽85，且连接槽85远离滑动块4的内壁与第一固定杆81靠近第二固定杆83的侧壁相交的棱边上开设有第二倾斜面86。固定弹簧82的一端固定在第一固定杆81远离滑动块4的侧壁上，第二固定杆83为长方形杆状结构，第二固定杆83滑动设置在第二固定槽74内。第三固定杆84为长方形杆状结构，第三固定杆84滑动设置在第三固定槽75内。
38.当工作人员需取出芯片时，工作人员只需按动第三固定杆84，即可使第三固定杆84抵紧第二倾斜面86，从而使第一固定杆81完全移动至第一固定槽73内，进而使第一固定
杆81与滑动块4相互分离，从而使滑动块4在驱动弹簧72的作用下移动。
39.为了降低工作人员的操作难度，第一固定杆81靠近检测槽66的侧壁与其远离驱动弹簧72的侧壁相交的棱边上开设有第三倾斜面87。当工作人员松开第三固定杆84时，第一固定杆81在固定弹簧82的作用下复位。此时，若工作人员需使滑动块4复位，工作人员只需推动检测装置41，即可使滑动块4抵紧第三倾斜面87，从而使第一固定杆81滑动，无需工作人员持续对第三固定杆84施加作用力，进而降低了工作人员的操作难度。
40.为了提高隔板71对检测槽66的密封效果，进而减小检测箱1内热量流失的速率，检测槽66的内底壁上开设有与隔板71相互匹配的容纳槽9。
41.为了降低工作人员滑动隔板71的难度，隔板71的侧壁上设置有连接块91。
42.本实施例中一种mems声传感芯片测试设备的使用原理为：
43.当工作人员需对多个芯片同时进行检测时，工作人员需使芯片与检测装置41一一对应并相互连接。随后，工作人员需向下滑动安装板31，即可使限位组件6自动对安装板31进行固定，从而使检测装置41保持稳定。此时，工作人员只需启动检测装置41，即可对芯片进行检测。随后，当其中一个检测中的芯片为不合格品时，检测装置41检测到芯片不合格的信号并使对应的指示灯5亮起。此时，工作人员只需启动驱动组件7，即可使滑动块4向靠近检测槽66的方向运动，进而使芯片跟随滑动块4移动并最终移动至检测箱1外，此时，工作人员只需对芯片进行更换，并使滑动块4复位，即可对新的芯片进行检测，无需等待其余芯片检测完成，从而提高了工作人员的检测效率。
44.以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

技术特征：
1.一种mems声传感芯片测试设备，包括上端开口的检测箱(1)，其特征是：所述检测箱(1)的上表面开设有安装槽(11)，所述安装槽(11)内设置有用于封闭检测箱(1)的上盖(2)，所述检测箱(1)相对的两个内壁上均开设有滑槽(21)，两个滑槽(21)内均滑动设置有滑块(3)，两个所述滑块(3)相互靠近的侧壁上共同安装有安装板(31)，所述安装板(31)的上表面开设有两个相互对称的滑动槽(32)，所述滑动槽(32)内滑动设置有滑动块(4)，所述滑动块(4)的上表面固定有用于检测芯片的检测装置(41)，所述检测箱(1)的侧壁上设置有两个指示灯(5)，所述指示灯(5)与检测装置(41)一一对应并电连接，所述检测箱(1)上设置有用于对滑块(3)进行限位的限位组件(6)，所述安装板(31)上设置有用于驱动滑动块(4)的驱动组件(7)。2.根据权利要求1所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述滑槽(21)的内壁上开设有限位槽(51)，所述检测箱(1)的内壁上开设有安置槽(52)，所述限位组件(6)包括滑动设置在限位槽(51)内的限位杆(61)、一端固定在限位杆(61)远离滑块(3)侧壁上的限位弹簧(62)、一端固定在限位杆(61)远离滑块(3)侧壁上的固定绳(63)以及滑动设置在安置槽(52)内的滑杆(64)，所述限位弹簧(62)的另一端固定在限位槽(51)远离滑块(3)的内壁上，所述固定绳(63)的另一端延伸至安置槽(52)内并与滑杆(64)相互固定。3.根据权利要求2所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述限位杆(61)的上表面与其远离固定绳(63)的侧壁相交的棱边上开设有第一倾斜面(65)。4.根据权利要求1所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述检测箱(1)的侧壁上贯穿开设有与检测装置(41)正对的检测槽(66)，所述检测槽(66)的内顶壁上开设有封闭槽(67)，所述驱动组件(7)包括滑动设置在封闭槽(67)内的隔板(71)、一端固定在滑动块(4)远离隔板(71)侧壁上的驱动弹簧(72)以及设置在安装板(31)上用于阻挡滑动块(4)的限位装置(8)，所述驱动弹簧(72)的另一端固定在滑动槽(32)远离检测槽(66)的内壁上。5.根据权利要求4所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述滑动槽(32)的内壁上开设有第一固定槽(73)，所述第一固定槽(73)的内壁上开设有第二固定槽(74)，所述检测箱(1)的侧壁上开设有与第二固定槽(74)正对的第三固定槽(75)，所述限位装置(8)包括滑动设置在第一固定槽(73)内的第一固定杆(81)、一端固定在第一固定杆(81)远离滑动块(4)侧壁上的固定弹簧(82)、滑动设置在第二固定槽(74)内的第二固定杆(83)以及滑动设置在第三固定槽(75)内的第三固定杆(84)；所述第一固定杆(81)靠近第二固定杆(83)的侧壁上开设有连接槽(85)，所述连接槽(85)远离滑动块(4)的内壁与第一固定杆(81)靠近第二固定杆(83)的侧壁相交的棱边上开设有第二倾斜面(86)。6.根据权利要求5所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述第一固定杆(81)靠近检测槽(66)的侧壁与其远离驱动弹簧(72)的侧壁相交的棱边上开设有第三倾斜面(87)。7.根据权利要求4所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述检测槽(66)的内底壁上开设有与隔板(71)相互匹配的容纳槽(9)。8.根据权利要求7所述的一种mems声传感芯片测试设备，其特征是：所述隔板(71)的侧壁上设置有用于降低工作人员滑动隔板(71)难度的连接块(91)。

技术总结
本申请属于芯片测试技术领域，公开了一种MEMS声传感芯片测试设备，包括上端开口的检测箱，所述检测箱的上表面开设有安装槽，所述安装槽内设置有用于封闭检测箱的上盖，所述检测箱相对的两个内壁上均开设有滑槽，两个滑槽内均滑动设置有滑块，两个所述滑块相互靠近的侧壁上共同安装有安装板，所述安装板的上表面开设有两个相互对称的滑动槽，所述滑动槽内滑动设置有滑动块，所述滑动块的上表面固定有用于检测芯片的检测装置，所述检测箱的侧壁上设置有两个指示灯，所述指示灯与检测装置一一对应并电连接，所述检测箱上设置有用于对滑块进行限位的限位组件，所述安装板上设置有用于驱动滑动块的驱动组件。本申请具有提高检测效率的效果。效果。效果。


技术研发人员：徐红星 姜巍 张福平 王文强 曹凯强
受保护的技术使用者：苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
技术研发日：2023.03.13
技术公布日：2023/7/19