光模块灵敏度测试方法和系统与流程

1.本技术涉及通讯技术领域，尤其涉及一种光模块灵敏度测试方法和系统。


背景技术：

2.随着通信系统对光模块传输速率及容量要求的提高，大容量高速光模块得到迅速发展，为了能更好的应用光模块，在光模块应用之前需要对其进行灵敏度测试，但目前对光模块进行灵敏度测试的过程中受到干扰信号的影响导致光模块灵敏度测试质量较差，无法得到精准度较高的测试结果。


技术实现要素：

3.为了解决上述技术问题，本技术提供了一种光模块灵敏度测试方法和系统。
4.第一方面，本技术提供了一种光模块灵敏度测试方法，包括：
5.在获取到光信号时，将所述光信号转换为相应的基准电信号；
6.在接收到衰减控制信号时，对所述基准电信号进行衰减放大处理，得到衰减放大电信号；
7.基于所述基准电信号确定相应的第一灵敏度，并基于所述衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度；
8.根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果。
9.第二方面，本技术提供了一种光模块灵敏度测试系统，所述系统包括光模块、误码仪设备、灵敏度测试板、灵敏度设备和计算机设备，所述光模块通过光纤为所述灵敏度测试板提供光信号，所述误码仪设备为所述灵敏度测试板提供预设误码值，所述灵敏度测试板按照所述预设误码值对所述光信号进行灵敏度测试得到测试信号，并将测试信号通过所述灵敏度设备传输至所述计算机设备，所述计算机设备根据所述测试信号确定灵敏度测试结果，所述测试信号包括所述光信号经过光电转换后的基准电信号以及所述基准电信号经过衰减放大处理后的衰减放大电信号。
10.基于上述光模块灵敏度测试方法，在接收到光信号时将光信号转换为相应的基准电信号，并在接收到衰减控制信号时对基准电信号进行衰减放大处理以得到衰减放大电信号，基于基准电信号确定相应的第一灵敏度，而基于衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度，由于衰减放大电信号是经过了信号衰减处理的信号，因此衰减放大电信号相较于基准电信号所存在的干扰信号较少，所以基于衰减放大电信号所得到的第二灵敏度相较于第一灵敏度的精准性较高，将经过不同信号处理后得到的第一灵敏度、第二灵敏度和预设灵敏度范围进行比对，从而择优确定最终的灵敏度测试结果，以此提高灵敏度测试质量。
附图说明
11.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施
例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
12.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
13.图1为一个实施例中光模块灵敏度测试系统的结构框图；
14.图2为一个实施例中灵敏度测试板的内部结构框图；
15.图3为一个实施例中控制电路的结构示意图；
16.图4为一个实施例中灵敏度测试板的内部结构框图；
17.图5为一个实施例中第一降压子电路的结构示意图；
18.图6为一个实施例中第二降压子电路的结构示意图；
19.图7为一个实施例中灵敏度测试板的内部结构框图；
20.图8为一个实施例中指示灯电路的结构示意图；
21.图9为一个实施例中接头电路的结构示意图；
22.图10为一个实施例中接头电路的结构示意图；
23.图11为一个实施例中光器件接口电路的结构示意图；
24.图12为一个实施例中衰减放大电路的结构示意图；
25.图13为一个实施例中光模块灵敏度测试方法的流程示意图；
26.图14为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
27.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
28.在一个实施例中，本实施例提供了一种光模块灵敏度测试系统，所述系统包括光模块、误码仪设备、灵敏度测试板、灵敏度设备和计算机设备，所述光模块通过光纤为所述灵敏度测试板提供光信号，所述误码仪设备为所述灵敏度测试板提供预设误码值，所述灵敏度测试板按照所述预设误码值对所述光信号进行灵敏度测试得到测试信号，并将测试信号通过所述灵敏度设备传输至所述计算机设备，所述计算机设备根据所述测试信号确定灵敏度测试结果，所述测试信号包括所述光信号经过光电转换后的基准电信号以及所述基准电信号经过衰减放大处理后的衰减放大电信号。
29.具体的，如图1所示，光模块通过光纤与灵敏度测试板相连，误码仪设备、灵敏度设备(cdr)与灵敏度测试板电性连接，而灵敏度设备通过无线或有线连接方式与计算机设备建立通信连接，无线连接方式包括蓝牙连接、wifi连接或nfc射频连接等，有线连接方式包括通过数据传输线连接，在本实施例中灵敏度设备通过usb数据传输线与计算机设备建立通信连接。
30.光模块为灵敏度测试板提供光信号，测试人员可通过调试误码仪设备来调整预设误码值，令灵敏度测试板在给定预设误码值的情况下对光信号进行灵敏度测试，预设误码值可以根据测试需求进行自定义调整，在不同预设误码值的情况下测试所得的灵敏度也不
同，光信号经过灵敏度测试板会输出一个指示灵敏度的测试信号，测试信号包括光信号经过光电转换后的基准电信号以及基准电信号经过衰减放大处理的衰减放大电信号，即灵敏度测试板会对光信号进行光电转换处理输出光信号对应的基准电信号，还会对基准电信号进行衰减放大处理输出衰减放大电信号，灵敏度测试板通过灵敏度设备将测试信号传递至计算机设备，灵敏度设备还可以对测试信号进行可视化展示，即灵敏度设备用于起到示波器的作用进行信号展示，令测试人员直观地看到基准电信号以及衰减放大电信号的波动情况，计算机设备会根据基准电信号以及衰减放大电信号分析确定最终的灵敏度测试结果，计算机设备基于经过衰减放大处理的衰减放大电信号和未经过衰减放大处理的基准电信号进行对照分析，可以更加精准地确定光模块对应的灵敏度测试结果，即提高光模块灵敏度测试质量。
31.在一个实施例中，所述灵敏度测试板包括光器件接口电路、衰减放大电路、控制电路、降压电路和接头电路，其中：
32.所述降压电路分别为所述控制电路和所述衰减放大电路提供相应的工作电压；
33.所述光器件接口电路将所述光信号转换为基准电信号并传递至接头电路、所述衰减放大电路；
34.所述衰减放大电路在接收到来自所述控制电路的衰减控制信号时对所述基准电信号进行衰减放大处理生成衰减放大电信号，并将所述衰减放大电信号传递至所述接头电路；
35.所述接头电路将所述基准电信号和所述衰减放大电信号通过灵敏度设备传递至计算机设备；
36.所述计算机设备根据所述基准电信号对应的第一灵敏度、所述衰减放大信号对应的第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果确定灵敏度测试结果。
37.具体的，如图2所示，衰减放大电路分别与光器件接口电路、控制电路、降压电路、接头电路电性连接，降压电路还与控制电路相连，而光器件接口电路还与接头电路相连，测试人员可以直接操作控制电路以控制其向衰减放大电路输出衰减控制信号，亦或者通过计算机设备向控制电路传递操作指令以控制其向衰减放大电路输出衰减控制信号，衰减控制信号用于驱动衰减放大电路工作，衰减放大电路在接收到衰减控制信号时对光器件接口电路传递的基准电信号进行信号衰减放大处理，而衰减放大电路在未接收到衰减控制信号时禁止工作，即测试人员可以根据测试需求通过控制电路启动或关闭衰减放大电路。
38.如图3所示，控制电路主要是由控制芯片u2和外围器件组成，控制芯片具体可以采用任意型号具有数据处理控制功能的芯片，在本实施例中采用型号为aduc7023的芯片，以实现对整个25g光模块接收灵敏度测试板电路的控制和分析；aduc7023芯片的sda0引脚是用于接i2c的sda数据线，aduc7023芯片的scl0引脚是用于接i2c的scl时钟线，主要用于下载代码和调制。aduc7023芯片的scl1/sda1端口用于与衰减放大电路进行i2c通信，以更改衰减放大电路内部寄存器值。aduc7023芯片的rsi端口用于监控电压。
39.aduc7023芯片是一款完全集成的1msps、12位数据采集系统，在单芯片内集成高性能多通道adc、16位/32位mcu和flash/ee存储器，这就使得该芯片可以在基于固定和可调谐频率激光的光收发器和模块应用中实现数字诊断，并能确保精确控制光驱动器和诊断过程。
40.光器件接口电路用于将光信号转换为相应的基准电信号，即对光信号进行光电转换处理，之后将基准电信号分别传递至接头电路和衰减放大电路。
41.衰减放大电路在工作状态下会对基准电信号进行衰减放大处理，可以过滤掉基准电信号中的干扰信号，以提高基准信号的有效精度。衰减放大电路将衰减过滤处理后的衰减放大电信号传递至接头电路。
42.接头电路将基准电信号和衰减放大电信号传递至灵敏度设备，灵敏度设备具体可以为示波器或其他能够进行信号展示的器件或设备，灵敏度设备将基准电信号和衰减放大电信号进行可视化展示，以便于测试人员可以直观地看到基准电信号和衰减放大电信号的波动情况，灵敏度设备还将基准电信号和衰减放大电信号同步至计算机设备，令计算机设备根据基准电信号和衰减放大电信号确定最终的灵敏度测试结果。
43.结合上述各个器件可知，25g光模块接收灵敏度测试板由于取消了较多突发接收的分立元件，从而节约了生产成本。
44.在一个实施例中，如图4所示，所述降压电路包括第一降压子电路和第二降压子电路，所述第一降压子电路将电源电压转换为第一工作电压，并将所述第一工作电压传递至所述控制电路；所述第二降压子电路将所述电源电压转换为第二工作电压，并将所述第二工作电压传递至所述衰减放大电路。
45.具体的，电源电压是由所选择的电源来决定的，可以根据测试场景进行自定义选择，在本实施例中令电源电压为5v，而第一降压子电路将5v的电源电压转换为第一工作电压，第一工作电压为控制电路的工作电压，因此第一工作电压与控制电路的选型相匹配，在本实施例中令第一工作电压为3.3v，即第一降压子电路将5v降压转换为3.3v。
46.第二降压子电路将5v的电源电压转换为第二工作电压，第二工作电压为衰减放大电路的工作电压，同理，第二工作电压与衰减放大电路的选型相匹配，在本实施例中令第二工作电压为1.8v，即第二降压子电路将5v降压转换为1.8v。
47.在一个具体实施例中，第一降压子电路包括第一降压转换芯片、第一电源滤波电路、第一反馈电路和第一高频滤波电路，第一降压转换芯片具体可以为任意具有电压转换功能的芯片，在本实施例中采用az1117ih-3.3trg1 dc-dc转换ic作为第一降压转换芯片，如图5所示，第一降压转换芯片的输入端vin与第一电源滤波电路、接口子电路j5的1号引脚、电源电压电性连接，第一电源滤波电路包括并联接地的电容c34和电解电容c26，即电容c34、电解电容c26的第一端与第一降压转换芯片的输入端vin电性连接，电容c34、电解电容c26的第二端接地，第一电源滤波电路用于对电源电压进行滤波处理后为第一降压转换芯片供电。第一降压转换芯片的反馈引脚与第一输出引脚之间并联有第一反馈电路与第一高频滤波电路，第一降压转换芯片的第一输出引脚还与第二输出引脚相连且输出第一工作电压。第一反馈电路用于调整第一降压转换芯片的输出电压，在本实施例中第一反馈电路将输出电压设置到3.3v。第一高频滤波电路用于对输出电压进行滤波处理以提高工作电压质量。
48.第一反馈电路包括电阻r21、电阻r27、电容c33，电阻r21和电阻r27串联，而电容c33与电阻r21并联，电阻r21和电阻r27之间的连接点与第一降压转换芯片的反馈引脚相连，且电容c33的第一端也与第一降压转换芯片的反馈引脚相连，电容c33的第二端、电阻r21的第二端接地，电阻r27的第一端与第一降压转换芯片的第一输出引脚相连。
49.第一高频滤波电路是由电容c27、电容c35、电阻r20和发光二极管d3组成，电阻r20和发光二极管d3串联后与电容c27、电容c35并联在一起，并联后的一端与第一降压转换芯片的第一输出端电性连接，并联后的另一端与第一反馈电路中的电阻r21的第二端电性连接且接地。
50.在一个具体实施例中，第二降压子电路包括第二降压转换芯片、第二电源滤波电路、第二反馈电路和第二高频滤波电路，第二降压转换芯片具体可以为任意具有电压转换功能的芯片，在本实施例中采用az1117ih-1.8trg1 dc-dc转换ic作为第二降压转换芯片，如图6所示，第二降压转换芯片、第二电源滤波电路、第二反馈电路和第二高频滤波电路之间的连接关系与第一降压子电路的连接结构相同。即电阻r17、电阻r22、电容c30组成第二反馈电路，用于将第二降压子电路的输出电压设置到1.8v。电容c29、电容c32、电阻r16组成第二高频滤波电路，第二高频滤波电路用于对输出电压进行滤波处理以提高工作电压质量。
51.在一个实施例中，如图7所示，所述灵敏度测试板还包括指示灯电路，所述指示灯电路与所述衰减放大电路电性连接，所述指示灯电路根据所述衰减放大电路对于所述衰减控制信号的接收状态确定相应的指示灯状态。
52.具体的，指示灯电路用于显示衰减放大电路的工作状态，便于测试人员直观地观察到衰减放大电路的工作状态，具体根据衰减放大电路对于所述衰减控制信号的接收状态确定相应的指示灯状态，在衰减放大电路接收到衰减控制信号时，即衰减放大电路对于衰减控制信号的接收状态为已接收，则指示灯电路的指示灯状态用于指示衰减放大电路处于工作状态。在衰减放大电路未接收到衰减控制信号时，即衰减放大电路对于衰减控制信号的接收状态为未接收，则指示灯电路的指示灯状态用于指示衰减放大电路处于关闭状态。
53.在一个实施例中，所述指示灯电路在所述衰减放大电路接收到所述衰减控制信号时的指示灯状态为显示状态，所述指示灯电路在所述衰减放大电路未接收到所述衰减控制信号时的指示灯状态为熄灭状态。
54.具体的，衰减放大电路在接收到衰减控制信号时向指示灯电路传递低电平信号，从而令指示灯状态为显示状态；衰减放大电路在未接收到衰减控制信号时向指示灯电路传递高电平信号，从而令指示灯状态为熄灭状态。
55.在一个具体实施例中，指示灯电路包括电阻r13、电阻r14、电阻r15、发光二极管d2、场效应管q1，场效应管具体可以选用任意型号的mos管，在本实施例中选用si2312bds-t1-ge3 mos管作为场效应管q1，如图8所示，电阻r14的第一端、电阻r15的第一端与第一降压子电路的输出端电信连接，电阻r14的第二端、电阻r13的第一端与衰减放大电路电性连接，电阻r15的第二端经发光二极管d2与场效应管的漏极电性连接，场效应管的栅极与电阻r13的第二端电性连接，场效应管的源极接地。
56.场效应管可以选择任意型号的mos管，在本实施例中选择si2312bds-t1-ge3的mos管，主要用于判断指示灯工作状态，在接收到高电平信号时场效应管处于截止状态，那么发光二极管就不亮；在场效应管接收到低电平信号时处于导通状态，那么发光二极管就亮。
57.在一个实施例中，所述接头电路包括第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路，所述第一子接头电路、第二子接头电路的第一引脚与所述衰减放大电路相连，所述第三子接头电路、所述第四子接头电路的第一引脚与所述光器件接口
电路相连，且所述第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路的第二引脚与所述误码仪设备相连。
58.具体的，如图9和图10所示，第一子接头电路记为j1，第二子接头电路记为j2，第三子接头电路记为j4，第四子接头电路记为j7，第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路均为7接口(pin)的25g_sma接头电路。第一子接头电路和第二子接头电路的第一引脚(2号引脚)与衰减放大电路电性连接，第三子接头电路和第四子接头电路的第一引脚(2号引脚)与光器件接口电路相连，第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路的第二引脚(4号引脚和5号引脚)与误码仪设备电性连接。
59.第一子接头电路和第二子接头电路用于将衰减放大电路传递的衰减放大电信号传递至误码仪设备，第三子接头电路和第四子接头电路用于将光器件接口电路传递的基准电信号传递至误码仪设备。
60.在一个实施例中，如图11所示，光器件接口电路包括光器件接收端rosa1、铁氧体磁珠fb4以及多个电容(c10、c11、c12、c13、c14、c15、c36、c37)，光器件接收端用于将光信号转换为电信号，c13、c14、fb4、c15组成滤波电路，同时对高频信号和低频信号进行滤波处理以减少干扰，光器件接收端的4号引脚和5号引脚将光信号转换为差分形式的电信号经限幅放大后传递至衰减放大电路，从而提高灵敏度质量。
61.此光模块灵敏度测试板采用软板形式使rosa1的柔性印制板(pcb)和沉金焊盘有效接触实现电路连接，有利于rosa1和灵敏度测试板之间实现高速信号的传输，使得该灵敏度测试板在性能方面具有高度一致性，功率范围可控制在2db之内、批量生产的高低温性能可控制在
±
0.8db之内，从而，相比之前的光模块灵敏度测试版，检测的准确性有了较大地提升。为尽量降低高速信号传输带来的电磁辐射，在灵敏度测试板上将信号线两侧就近布置较多的接地过孔，信号线是指接头电路与光器件接口电路、衰减放大电路之间的连接线，即光器件接口电路通过两个信号线与两个sma接头电路相连，衰减放大电路亦通过两个信号线与另外的两个sma接头电路相连，通过两条支路获取不同的电信号以进行灵敏度测试对照分析，可以提高测试质量。
62.在一个实施例中，如图12所示，衰减放大电路包括激光驱动芯片以及外围器件，激光驱动芯片可以采用任意具有双cdr的收发器芯片，用于远程直调激光(dml)应用，在本实施例中选择型号为mald37030芯片作为激光驱动芯片，其具有自适应/可编程均衡的ctle和一个灵活的输出驱动器，使用mald37030芯片将以最小化功耗、器件数量少提供设计灵活性并简化制造过程。mald37030芯片的32号引脚和33号引脚分别通过交流耦合电容直接连接到rosa1软板上，用于接收调制信号输入端。mald37030芯片的5号引脚和6号引脚分别通过交流耦合电容(c1、c2)直接连接到25g_sma接头电路上，用于接收调制信号输出端。而电容c6、铁氧体磁珠fb2、电容c4、电容c5组成一个高频滤波电路用于对进入激光驱动芯片的信号进行滤波处理。mald37030芯片的15号引脚和16号引脚与前述控制芯片相接以实现i2c通信功能。mald37030芯片的39号引脚与指示灯电路相连，主要用于指示衰减放大电路是否接收到衰减控制信号。mald37030芯片的46号引脚和35号引脚用于接第二降压子电路输出的1.8v电压。铁氧体磁珠fb3和电容c9主要用于过滤干扰信号。
63.在一个具体实施例中，光模块给出光信号经可调光衰减器进入待测试的rosa1，从rosa1出来的差分信号通过1uf的滤波电容进入激光驱动芯片。用程序实施高频去加重并控
制激光驱动芯片的输出幅度为1.8v。激光驱动芯片对基准电信号进行衰减放大处理，经过放大后的衰减放大信号通过接头电路输出至灵敏度设备(cdr)后再进入计算机设备的接收端，计算机设备可以同步控制误码设备和可调光衰减仪，实时监测灵敏度测试板在规定预设误码率条件下，rosa1可以接受到的最小光功率值，即灵敏度值，这样测出的灵敏度值不仅相对准确，而且也可以相对提升光模块灵敏度检测质量。
64.在一个实施例中，图13为一个实施例中一种光模块灵敏度测试方法的流程示意图，参照图13，提供了一种光模块灵敏度测试方法。本实施例主要以该方法应用于光模块灵敏度测试系统，该光模块灵敏度测试方法具体包括如下步骤：
65.步骤s210，在获取到光信号时，将所述光信号转换为相应的基准电信号。
66.具体的，光器件接口电路接收25g光模块提供的光信号，并将光信号转换为相应的基准电信号，之后将基准电信号分别传递至接头电路和衰减放大电路。
67.步骤s220，在接收到衰减控制信号时，对所述基准电信号进行衰减放大处理，得到衰减放大电信号。
68.具体的，控制电路向衰减放大电路传递衰减控制信号时，衰减放大电路会对基准电信号进行衰减放大处理，输出衰减放大电信号至接头电路，接头电路通过灵敏度设备再将基准电信号和衰减放大电信号传递至计算机设备。
69.步骤s230，基于所述基准电信号确定相应的第一灵敏度，并基于所述衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度。
70.具体的，计算机设备会根据基准电信号分析确定相应的第一灵敏度，并根据衰减放大电信号分析确定相应的第二灵敏度。
71.步骤s240，根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果。
72.具体的，计算机设备将第一灵敏度和第二灵敏度分别与预设灵敏度范围进行比对，第一灵敏度和第二灵敏度为经过了不同信号处理流程后所得的灵敏度，将两个灵敏度与相同的预设灵敏度范围进行比对，预设灵敏度范围用于指示指定预设误码值所对应的灵敏度范围，即不同的预设误码值所对应的预设灵敏度范围是不同的，正常情况下可以对照发现两个灵敏度中经过了信号衰减放大处理所得的第二灵敏度的准确性高于第一灵敏度，以此可以对照筛选出测试质量更高的测试灵敏度作为灵敏度测试结果。
73.在一个实施例中，所述根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果，包括：
74.在所述第一灵敏度和所述第二灵敏度都位于所述预设灵敏度范围内时，基于所述第一灵敏度、所述第二灵敏度与目标灵敏度之间的差值，确定所述灵敏度测试结果，其中，所述目标灵敏度为所述预设灵敏度范围内与预设误码值对应的灵敏度。
75.具体的，若第一灵敏度和第二灵敏度都位于预设灵敏度范围内，表示对于光模块的灵敏度测试相对准确，但为了提高测试精度则继续将第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围内的目标灵敏度进行比对，从而在第一灵敏度和第二灵敏度中选择一个灵敏度作为灵敏度测试结果，即可以选择距离目标灵敏度更近的灵敏度作为灵敏度测试结果，亦或者选择距离目标灵敏度更远的灵敏度作为灵敏度测试结果。
76.在一个实施例中，所述基于所述第一灵敏度、所述第二灵敏度与目标灵敏度之间
的差值，确定所述灵敏度测试结果，包括：
77.分别确定所述第一灵敏度与目标灵敏度之间的第一差值，以及所述第二灵敏度与目标灵敏度之间的第二差值；
78.在所述第一差值小于所述第二差值时，产生衰减异常信号，并将所述第一灵敏度和所述衰减异常信号确定为所述灵敏度测试结果，或，
79.在所述第二差值小于所述第一差值时，将所述第二灵敏度确定为所述灵敏度测试结果。
80.具体的，分别计算第一灵敏度、第二灵敏度与目标灵敏度之间的差值，得到相应的第一差值和第二差值，选择数值较小的差值所对应的灵敏度作为灵敏度测试结果，也就是选择距离目标灵敏度更近的灵敏度作为灵敏度测试结果，表示测试所得的灵敏度与期望灵敏度更接近。
81.正常情况下经过信号衰减放大处理的衰减放大电信号所对应的第二灵敏度与目标灵敏度之间的第二差值，要小于未经信号衰减放大处理的基准电信号所对应的第一灵敏度与目标灵敏度之间的第一差值，表示经过信号衰减放大处理的衰减放大电信号相较于基准电信号中的干扰信号较少，因此衰减放大电信号所对应的第二灵敏度更接近于目标灵敏度，则将第二灵敏度作为灵敏度测试结果。但在第一差值小于或等于第二差值的情况下，表示经过衰减放大处理的衰减放大信号中的干扰量多于或等于基准电信号中的干扰量，确定衰减放大电路出现故障，无法过滤掉基准电信号中的干扰信号，则产生衰减异常信号，衰减异常信号指示衰减放大电路工作异常，将第二灵敏度和衰减异常信号作为灵敏度测试结果。
82.在一个实施例中，所述根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果，包括：
83.在所述第一灵敏度位于所述预设灵敏度范围内而所述第二灵敏度位于所述预设灵敏度范围外时，将所述第一灵敏度确定为所述灵敏度测试结果；或，
84.在所述第二灵敏度位于所述预设灵敏度范围而所述第一灵敏度位于所述预设灵敏度范围之外时，产生衰减异常信号，并将所述第二灵敏度和所述衰减异常信号确定为所述灵敏度测试结果。
85.具体的，在第一灵敏度或第二灵敏度位于预设灵敏度范围内时，仅选择位于预设灵敏度范围内的灵敏度作为灵敏度测试结果，即测试所得的灵敏度只有在位于预设灵敏度范围内才符合测试要求。
86.上述光模块灵敏度测试方法，利用光模块灵敏度测试方法独权的技术特征进行推导，实现能够解决背景技术中所提出技术问题的有益效果。
87.图13为一个实施例中光模块灵敏度测试方法的流程示意图。应该理解的是，虽然图13的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图13中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
88.在一个实施例中，提供了一种光模块灵敏度测试装置，包括多个虚拟模块，用于实现上述计算机设备所要执行的方法步骤。
89.图14示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。如图14所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、输入装置和显示屏。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现光模块灵敏度测试方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行光模块灵敏度测试方法。计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
90.本领域技术人员可以理解，图14中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
91.在一个实施例中，本技术提供的光模块灵敏度测试装置可以实现为一种计算机程序的形式，计算机程序可在如图14所示的计算机设备上运行。计算机设备的存储器中可存储组成该光模块灵敏度测试装置的各个程序模块。各个程序模块构成的计算机程序使得处理器执行本说明书中描述的本技术各个实施例的光模块灵敏度测试方法中的步骤。
92.在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一项实施例所述的方法。
93.在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一项实施例所述的方法。
94.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指示相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双倍速率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
95.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
96.以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：
1.一种光模块灵敏度测试方法，其特征在于，所述方法包括：在获取到光信号时，将所述光信号转换为相应的基准电信号；在接收到衰减控制信号时，对所述基准电信号进行衰减放大处理，得到衰减放大电信号；基于所述基准电信号确定相应的第一灵敏度，并基于所述衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度；根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果，包括：在所述第一灵敏度和所述第二灵敏度都位于所述预设灵敏度范围内时，基于所述第一灵敏度、所述第二灵敏度与目标灵敏度之间的差值，确定所述灵敏度测试结果，其中，所述目标灵敏度为所述预设灵敏度范围内与预设误码值对应的灵敏度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一灵敏度、所述第二灵敏度与目标灵敏度之间的差值，确定所述灵敏度测试结果，包括：分别确定所述第一灵敏度与目标灵敏度之间的第一差值，以及所述第二灵敏度与目标灵敏度之间的第二差值；在所述第一差值小于所述第二差值时，产生衰减异常信号，并将所述第一灵敏度和所述衰减异常信号确定为所述灵敏度测试结果，或，在所述第二差值小于所述第一差值时，将所述第二灵敏度确定为所述灵敏度测试结果。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果，包括：在所述第一灵敏度位于所述预设灵敏度范围内而所述第二灵敏度位于所述预设灵敏度范围外时，将所述第一灵敏度确定为所述灵敏度测试结果；或，在所述第二灵敏度位于所述预设灵敏度范围而所述第一灵敏度位于所述预设灵敏度范围之外时，产生衰减异常信号，并将所述第二灵敏度和所述衰减异常信号确定为所述灵敏度测试结果。5.一种光模块灵敏度测试系统，其特征在于，所述系统包括光模块、误码仪设备、灵敏度测试板、灵敏度设备和计算机设备，所述光模块通过光纤为所述灵敏度测试板提供光信号，所述误码仪设备为所述灵敏度测试板提供预设误码值，所述灵敏度测试板按照所述预设误码值对所述光信号进行灵敏度测试得到测试信号，并将测试信号通过所述灵敏度设备传输至所述计算机设备，所述计算机设备根据所述测试信号确定灵敏度测试结果，所述测试信号包括所述光信号经过光电转换后的基准电信号以及所述基准电信号经过衰减放大处理后的衰减放大电信号。6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述灵敏度测试板包括光器件接口电路、衰减放大电路、控制电路、降压电路和接头电路，其中：所述降压电路分别为所述控制电路和所述衰减放大电路提供相应的工作电压；所述光器件接口电路将所述光信号转换为基准电信号并传递至接头电路、所述衰减放
大电路；所述衰减放大电路在接收到来自所述控制电路的衰减控制信号时对所述基准电信号进行衰减放大处理生成衰减放大电信号，并将所述衰减放大电信号传递至所述接头电路；所述接头电路将所述基准电信号和所述衰减放大电信号通过灵敏度设备传递至计算机设备；所述计算机设备根据所述基准电信号对应的第一灵敏度、所述衰减放大信号对应的第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果确定灵敏度测试结果。7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述降压电路包括第一降压子电路和第二降压子电路，所述第一降压子电路将电源电压转换为第一工作电压，并将所述第一工作电压传递至所述控制电路；所述第二降压子电路将所述电源电压转换为第二工作电压，并将所述第二工作电压传递至所述衰减放大电路。8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述灵敏度测试板还包括指示灯电路，所述指示灯电路与所述衰减放大电路电性连接，所述指示灯电路根据所述衰减放大电路对于所述衰减控制信号的接收状态确定相应的指示灯状态。9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述指示灯电路在所述衰减放大电路接收到所述衰减控制信号时的指示灯状态为显示状态，所述指示灯电路在所述衰减放大电路未接收到所述衰减控制信号时的指示灯状态为熄灭状态。10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述接头电路包括第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路，所述第一子接头电路、第二子接头电路的第一引脚与所述衰减放大电路相连，所述第三子接头电路、所述第四子接头电路的第一引脚与所述光器件接口电路相连，且所述第一子接头电路、第二子接头电路、第三子接头电路和第四子接头电路的第二引脚与所述误码仪设备相连。

技术总结
本申请涉及一种光模块灵敏度测试方法和系统。所述方法包括：在接收到光信号时将光信号转换为相应的基准电信号，并在接收到衰减控制信号时对基准电信号进行衰减放大处理以得到衰减放大电信号，基于基准电信号确定相应的第一灵敏度，而基于衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度，由于衰减放大电信号是经过了信号衰减处理的信号，因此衰减放大电信号相较于基准电信号所存在的干扰信号较少，所以基于衰减放大电信号所得到的第二灵敏度相较于第一灵敏度的精准性较高，将经过不同信号处理后得到的第一灵敏度、第二灵敏度和预设灵敏度范围进行比对，从而择优确定最终的灵敏度测试结果，以此提高灵敏度测试质量。以此提高灵敏度测试质量。以此提高灵敏度测试质量。


技术研发人员：金海亮 王四俊 熊福胜 张向辉 伍林 具佶勋
受保护的技术使用者：深圳市力子光电科技有限公司
技术研发日：2023.05.25
技术公布日：2023/7/27