一种硬盘固件调试方法、系统、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及硬盘测试技术领域，尤其涉及一种硬盘固件调试方法、系统、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.随着ssd的高速发展和广泛应用，安全性和稳定性是ssd的重要指标。
3.可靠性开发测试(reliability development test，简称rdt)是对固态硬盘(solid state disk，简称ssd)安全性和稳定性的测试，分为endurance(耐力)和quality(质量)两个测试部分，其中，endurance测试主要用于检测nand(闪存)耐用性和固件纠错手段。endurance测试需要在指定测试时间内将ssd磨损到生命周期末期，这对大容量盘来说都很难实现，因此，现有技术中通常采用将ssd容量调小的方式，实现endurance测试，但是由此会导致ssd原容量的部分特性发生改变，并且调试困难、效率低。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本发明提出了一种硬盘固件调试方法、系统、电子设备及存储介质，解决了硬盘容量调小时，导致硬盘原容量的特性发生改变，并且调试困难、效率低的问题，能够高效率调整用于测试的硬盘的固件，并且在硬盘容量调低的同时保持原容量的部分特性，由此达到测试目的，提高测试准确性。
5.基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了一种硬盘固件调试方法，具体包括如下步骤：
6.确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；
7.使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；
8.基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；
9.在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；
10.基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。
11.在一些实施方式中，所述使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量的步骤包括：
12.使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽和写放大；
13.根据所述平均写带宽、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量；
14.基于所述第二物理容量和所述第一硬盘的块的容量计算块的个数；
15.根据所述第一硬盘的预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量。
16.在一些实施方式中，所述使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽和写放大的步骤包括：
17.使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽，并根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大；
18.所述根据所述平均写带宽、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量的步骤包括：
19.根据所述平均写带宽计算所述第一硬盘单位时间内的写入量；
20.根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量；
21.所述根据所述第一硬盘的预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量的步骤包括：
22.根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间；
23.基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量。
24.在一些实施方式中，所述基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求的步骤包括：
25.判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度；
26.若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤。
27.在一些实施方式中，所述基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求的步骤包括：
28.判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度并且未超过阈值；
29.若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度或达到所述第一平均擦写磨损速度并且超过所述阈值，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤。
30.在一些实施方式中，方法还包括：
31.在所述第二硬盘测试过程中，监测实际擦写磨损速度；
32.当所述实际擦写磨损速度达到所述第一平均擦写磨损速度时，停止测试过程中的数据写入操作。
33.在一些实施方式中，所述根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量的步骤包括：
34.根据物理容量计算公式以及所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算所述第二物理容量，其中，所述物理容量计算公式为：
35.第二物理容量＝写入量
×
写放大/第一平均擦写磨损速度。
36.在一些实施方式中，所述根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大的步骤包括：
37.基于写放大计算公式以及所述主机写入量增量和所述垃圾回收量增量计算所述
写放大，其中，所述写放大计算公式为：
38.写放大＝(主机写入量增量+垃圾回收量增量)/主机写入量增量；
39.所述根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间的步骤包括：
40.根据预留空间计算公式以及所述第一物理容量和所述第一用户容量计算所述预留空间，其中，所述预留空间计算公式为：
41.预留空间＝第一物理容量/第一用户容量-1；
42.所述基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量的步骤包括：
43.基于用户容量计算公式以及所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量，其中，所述用户容量计算公式为：
44.第二用户容量＝第一物理容量/(1+预留空间)。
45.本发明实施例的另一方面，还提供了一种硬盘固件调试系统，包括：
46.确定模块，所述确定模块配置为确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；
47.第一测试模块，所述第一测试模块配置为使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；
48.修改模块，所述修改模块配置为基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；
49.第二测试模块，所述第二测试模块配置为在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；
50.调整模块，所述调整模块配置为基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。
51.本发明实施例的又一方面，还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
52.本发明实施例的再一方面，还提供了一种存储介质，存储介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
53.本发明至少具有以下有益技术效果：通过本发明的方案，能够高效率调整用于测试的硬盘的固件，并且在将硬盘容量调低的同时保持原容量硬盘的部分特性，并且调整好的固件参数可以用于和硬盘安全性和稳定性相关的测试，例如，endurance测试，由此提高测试准确性和测试效率。
附图说明
54.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
55.图1为本发明提供的硬盘固件调试方法的一实施例的流程图；
56.图2为本发明提供的硬盘固件调试方法的又一实施例的流程图；
57.图3为本发明提供的硬盘固件调试系统的一实施例的示意图；
58.图4为本发明提供的电子设备的一实施例的结构示意图；
59.图5为本发明提供的存储介质的一实施例的结构示意图。
具体实施方式
60.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
61.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
62.基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提出了一种硬盘固件调试方法。在如图1所示的实施例中，该方法包括如下步骤：
63.s10、确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；
64.s20、使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；
65.s30、基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；
66.s40、在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；
67.s50、基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。
68.具体的，在步骤s10中，确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度，硬盘可以为固态硬盘，根据固态硬盘的nand寿命和ea特性，确定测试温度和测试时长，进而确定固态硬盘在正常容量时的平均擦写磨损速度，即第一平均擦写磨损速度；
69.在步骤s20中，使用耐力测试脚本，即endurance测试脚本，对正常容量盘，即第一硬盘，进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；
70.在步骤s30中，基于第二用户容量和所述块的个数修改第一硬盘的固件，由此调整正常容量盘的容量，将其调整为小容量盘，即第二硬盘；
71.在步骤s40和s50中，在固件修改完成后，使用耐力测试脚本对小容量盘进行测试，并获取第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度，观测第二平均擦写磨损速度是否达到第一平均擦写磨损速度，若有差距，再对第二用户容量和/或块的个数进行调整，使得第二平均擦写磨损速度达到第一平均擦写磨损速度，由此保证了硬盘容量调整后，仍能保持正常容量时的部分特征。
72.通过上述方案，能够高效率调整用于测试的硬盘的固件，并且在将硬盘容量调低的同时保持原容量硬盘的部分特性。
73.更进一步的，调整好的固件参数可以用于和硬盘安全性和稳定性相关的测试，例如，endurance测试，由此提高测试准确性和测试效率。
74.在一些实施方式中，步骤s20包括：
75.s21、使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带
宽和写放大；
76.s22、根据所述平均写带宽、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量；
77.s23、基于所述第二物理容量和所述第一硬盘的块的容量计算块的个数；
78.s24、根据所述第一硬盘的预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量。
79.通过上述方案可以得到用于调整硬盘固件的第二用户容量。
80.在一些实施方式中，步骤s21包括：
81.使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽，并根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大，写放大＝(主机写入量增量+垃圾回收量增量)/主机写入量增量。
82.步骤s22包括：
83.根据所述平均写带宽计算所述第一硬盘单位时间内的写入量；
84.根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量，第二物理容量＝写入量
×
写放大/第一平均擦写磨损速度。
85.步骤s24包括：
86.根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间；
87.基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量，第二用户容量＝第一物理容量/(1+预留空间)。
88.在一些实施方式中，步骤s50可以包括如下步骤：
89.s51、判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度；
90.s52、若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤；
91.s53、若所述第二平均擦写磨损速度达到所述第一平均擦写磨损速度，则结束所述方法。
92.在一些实施方式中，步骤s50还可以包括如下步骤：
93.s55、判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度并且未超过阈值，其中阈值可以设置为(1+20％)的第一平均擦写磨损速度，但不限于此；
94.s56、若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度或达到所述第一平均擦写磨损速度并且超过所述阈值，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤；
95.s57、若所述第二平均擦写磨损速度达到所述第一平均擦写磨损速度并且未超过所述阈值，则结束所述方法。
96.在一些实施方式中，方法还包括：
97.在所述第二硬盘测试过程中，监测实际擦写磨损速度；
98.当所述实际擦写磨损速度达到所述第一平均擦写磨损速度时，停止测试过程中的数据写入操作。
99.在一些实施方式中，所述根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量的步骤包括：
100.根据物理容量计算公式以及所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算所述第二物理容量，其中，所述物理容量计算公式为：
101.第二物理容量＝写入量
×
写放大/第一平均擦写磨损速度。
102.在一些实施方式中，所述根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大的步骤包括：
103.基于写放大计算公式以及所述主机写入量增量和所述垃圾回收量增量计算所述写放大，其中，所述写放大计算公式为：
104.写放大＝(主机写入量增量+垃圾回收量增量)/主机写入量增量；
105.所述根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间的步骤包括：
106.根据预留空间计算公式以及所述第一物理容量和所述第一用户容量计算所述预留空间，其中，所述预留空间计算公式为：
107.预留空间＝第一物理容量/第一用户容量-1；
108.所述基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量的步骤包括：
109.基于用户容量计算公式以及所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量，其中，所述用户容量计算公式为：
110.第二用户容量＝第一物理容量/(1+预留空间)。
111.以下结合具体的硬盘固件调试过程阐述本发明的构思，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
112.如图2所示，具体的硬盘固件调试流程为：
113.s1、根据nand寿命和ea特性，确定测试的温度和测试时长，进而确定每个小时平均的pe(program&erase，写编程擦除，简称擦写)磨损速度s
pe
(即本发明实施例中的第一平均擦写磨损速度)，下面对s
pe
的计算过程进行举例说明：
114.当nand寿命为10000pe，ea＝1.0时，在测试nand温度80.8℃下，需测试1000h，则spe＝10000pe/1000h＝10pe/h，即需要一个小时磨损10pe，可以在测试1000h后使nand磨损到生命周期末期。
115.s2、稳态下的正常容量盘，使用endurance测试脚本，测试出平均写带宽bw，并根据host(主机)写入量增量和gc(垃圾回收)写入量增量，计算出写放大wa，其中，写放大计算公式为：
116.wa＝(host_write_cnt增量+gc_write_cnt增量)/host_write_cnt增量；
117.其中，host_write_cnt表示主机写入量，gc_write_cnt表示垃圾回收写入量。
118.s3、根据正常容量盘，计算预留空间op，op＝物理容量/用户容量-1。
119.s4、根据写带宽bw计算1个小时的写入量write_count_per_hour。
120.s5、计算平均增长1pe的写入量，即将正常容量盘调整为小容量盘(即本发明实施例中的第二硬盘)后，小容量盘的物理容量c
phy
＝write_count_per_hour*wa/s
pe
，进而再根据每个block的容量大小，计算出block的个数。
121.s6、通过op和小容量盘的物理容量c
phy
来计算出用户容量c
user
，c
user
＝c
phy
/(op+1)。
122.s7、由此初步确定了小容量盘的用户容量c
user
和block个数，修改硬盘固件后，再使用endurance测试脚本进行测试，观测实际平均pe磨损速度s
pe_real
是否能达到s
pe
，若有些
许差距，再对用户容量c
user
和block个数进行微调，直到满足pe磨损速度条件。
123.s8、为了进一步保证实际测试的pe磨损速度，同时对endurance测试脚本进行写入量控制，当一小时内pe增长达到s
pe
，则不再进行数据写入，进行只读操作，通过对测试脚本进行pe增长控制，能有效保证单位时间内测试的pe磨损增长比较均匀。
124.上述方案，通过正常容量盘的实际的测试结果和计算初步获得小容量盘的用户容量和block个数，再对小容量盘测试后进行微调，直到满足测试条件，由此能够高效率调整用于测试的硬盘的固件，并且在将硬盘容量调低的同时保持正常容量硬盘的部分特性。
125.更进一步的，调整好的固件参数可以用于和硬盘安全性和稳定性相关的测试，例如，endurance测试，由此提高测试准确性和测试效率。
126.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图2所示，本发明的实施例还提供了一种硬盘固件调试系统，包括：
127.确定模块110，所述确定模块110配置为确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；
128.第一测试模块120，所述第一测试模块120配置为使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；
129.修改模块130，所述修改模块130配置为基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；
130.第二测试模块140，所述第二测试模块140配置为在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；
131.调整模块150，所述调整模块150配置为基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。
132.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图3所示，本发明的实施例还提供了一种电子设备30，在该电子设备30中包括处理器310以及存储器320，存储器320存储有可在处理器上运行的计算机程序321，处理器310执行程序时执行如上的方法的步骤。
133.其中，存储器作为一种非易失性存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本技术实施例中的所述硬盘固件调试方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行系统的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例的硬盘固件调试方法。
134.存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据系统的使用所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至本地模块。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
135.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图4所示，本发明的实施例还提供了一种存储介质40，存储介质40存储有被处理器执行时执行如上方法的计算机程序410。
136.最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取
存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，程序的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(rom)或随机存储记忆体(ram)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
137.本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
138.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
139.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
140.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

技术特征：
1.一种硬盘固件调试方法，其特征在于，包括：确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量的步骤包括：使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽和写放大；根据所述平均写带宽、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量；基于所述第二物理容量和所述第一硬盘的块的容量计算块的个数；根据所述第一硬盘的预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽和写放大的步骤包括：使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，得到所述第一硬盘的平均写带宽，并根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大；所述根据所述平均写带宽、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量的步骤包括：根据所述平均写带宽计算所述第一硬盘单位时间内的写入量；根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量；所述根据所述第一硬盘的预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量的步骤包括：根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间；基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求的步骤包括：判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度；若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求的步骤包括：判断所述第二平均擦写磨损速度是否达到所述第一平均擦写磨损速度并且未超过阈
值；若所述第二平均擦写磨损速度未达到所述第一平均擦写磨损速度或达到所述第一平均擦写磨损速度并且超过所述阈值，则调整所述第二用户容量和/或所述块的个数，并返回所述基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件的步骤。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：在所述第二硬盘测试过程中，监测实际擦写磨损速度；当所述实际擦写磨损速度达到所述第一平均擦写磨损速度时，停止测试过程中的数据写入操作。7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算第二物理容量的步骤包括：根据物理容量计算公式以及所述写入量、所述写放大和所述第一平均擦写磨损速度计算所述第二物理容量，其中，所述物理容量计算公式为：第二物理容量＝写入量
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写放大/第一平均擦写磨损速度。8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据测试过程中的主机写入量增量和垃圾回收量增量计算写放大的步骤包括：基于写放大计算公式以及所述主机写入量增量和所述垃圾回收量增量计算所述写放大，其中，所述写放大计算公式为：写放大＝(主机写入量增量+垃圾回收量增量)/主机写入量增量；所述根据所述第一硬盘的第一物理容量和第一用户容量计算所述预留空间的步骤包括：根据预留空间计算公式以及所述第一物理容量和所述第一用户容量计算所述预留空间，其中，所述预留空间计算公式为：预留空间＝第一物理容量/第一用户容量-1；所述基于所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量的步骤包括：基于用户容量计算公式以及所述预留空间和所述第二物理容量计算所述第二用户容量，其中，所述用户容量计算公式为：第二用户容量＝第一物理容量/(1+预留空间)。9.一种硬盘固件调试系统，其特征在于，包括：确定模块，所述确定模块配置为确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；第一测试模块，所述第一测试模块配置为使用耐力测试脚本对所述第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；修改模块，所述修改模块配置为基于所述第二用户容量和所述块的个数修改所述第一硬盘的固件；第二测试模块，所述第二测试模块配置为在所述固件修改完成后，使用所述耐力测试脚本对所述固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取所述第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；调整模块，所述调整模块配置为基于所述第二平均擦写磨损速度与所述第一平均擦写磨损速度之间的差距调整所述第二用户容量和/或所述块的个数以使所述第二平均擦写磨损速度满足要求。
10.一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行如权利要求1至8任意一项所述的方法的步骤。11.一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行如权利要求1至8任意一项所述的方法的步骤。

技术总结
本发明涉及硬盘测试技术领域，并具体公开了一种硬盘固件调试方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：确定第一硬盘的第一平均擦写磨损速度；使用耐力测试脚本对第一硬盘进行测试，并基于测试结果计算需要修改的块的个数和第二用户容量；基于第二用户容量和块的个数修改第一硬盘的固件；在固件修改完成后，使用耐力测试脚本对固件修改后的第二硬盘进行测试，并获取第二硬盘在测试过程中的第二平均擦写磨损速度；基于第二平均擦写磨损速度与第一平均擦写磨损速度之间的差距调整第二用户容量和/或块的个数以使第二平均擦写磨损速度满足要求。通过本发明的方案，能够高效率的调整硬盘的固件，使得固件调整后硬盘的容量以及特性能够满足测试需求。性能够满足测试需求。性能够满足测试需求。


技术研发人员：钱翔 邵文豪 苏军
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：2023.05.12
技术公布日：2023/8/4