存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质与流程

1.本技术涉及检测技术，尤其涉及一种存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质。


背景技术：

2.随着大数据和云计算的发展，企业、科研单位等组织对于存储设备的容量需求越来越大，硬盘作为存储设备的类型之一，也得到了业界内广泛的关注。
3.一般的，硬盘在进行数据传输以及存储之前，需要检测硬盘的在位情况，以保证后续可以进行数据传输即存储。在实际使用的过程中，硬盘插入需要一定的插入时间，在这个过程中，可能硬盘已插接在位但还未插稳，在此过程中若cpu等设备与硬盘进行数据传输，则会造成一些传输数据的获取或输出出现错误。
4.但是，目前对于硬盘的检测技术仅可识别硬盘是否在位，无法检测到硬盘是否已插稳。


技术实现要素：

5.本技术提供一种存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质，用以解决现有技术中无法侦测硬盘等存储设备是否插稳的问题，通过识别存储设备的插稳状态，可以提升存储设备进行数据传输时的可靠性。
6.一方面，本技术提供一种存储设备在位稳定状态检测装置，包括：逻辑模块；逻辑模块设置有第一接口和第二接口；
7.第一接口，用于与待检测存储设备的接地引脚连接；
8.第二接口，用于与待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；
9.逻辑模块，用于根据第一接口接入的第一信号，或者根据第一信号和第二接口接入的第二信号确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
10.在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
11.可选的，逻辑模块，具体用于：
12.根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位；
13.在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定。
14.可选的，检测装置还包括：上拉电阻，上拉电阻的第一端和电源连接，上拉电阻的第二端与第一接口连接；
15.逻辑模块根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位，包括：
16.检测第一信号的电平状态；
17.若第一信号的电平状态为高电平状态，则确定待检测存储设备未插接在位；或者，
18.若第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定待检测存储设备插接在位。
19.可选的，逻辑模块在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定，包括：
20.若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接稳定；或者，
21.若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
22.可选的，逻辑模块包括cpld芯片；相应的，第一接口为cpld芯片的第一gpio引脚，第二接口为cpld芯片的第二gpio引脚。
23.可选的，检测装置还包括：提示模块；提示模块，与逻辑模块连接；
24.逻辑模块，用于输出待检测存储设备的在位稳定状态信号；
25.提示模块，用于根据在位稳定状态信号生成待检测存储设备的插接提示信号。
26.可选的，提示模块为bmc芯片；bmc芯片具体用于：在待检测存储设备未插接稳定时，生成插接提示信号，以提示用户重新对待检测存储设备进行插接。
27.在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并对第一信号的电平状态进行检测，基于电平状态确定待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过在基于第一信号确定待检测存储设备插接在位时，对预设时间段内第二信号中出现的脉冲序列进行检测，基于是否出现预设的脉冲序列确定待检测存储设备的插接稳定检测情况，进一步实现了提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性的技术效果。
28.另一方面，本技术还提供一种电子设备，包括：上述实施方式任一项的检测装置以及至少一个待检测存储设备。
29.在上述技术方案中，电子设备中包括的检测装置通过不同的接口获取待检测存储设备中接地引脚对应的信号和设备活动信号引脚对应的信号，并通过对上述两种信号进行检测额，得到待检测存储设备的插接在位稳定情况，从而实现了提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性的技术效果。
30.另一方面，本技术还提供一种存储设备在位稳定状态检测方法，应用于逻辑模块，逻辑模块设置有第一接口和第二接口；第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，第二接口用于与待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；方法包括：
31.检测第一接口接入的第一信号和第二接口接入的第二信号；
32.根据第一信号，或者根据第一信号和第二信号，确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
33.在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信
号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
34.可选的，根据第一接口接入的第一信号，或者根据第一信号和第二接口接入的第二信号确定待检测存储设备的在位稳定状态，包括：
35.根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位；
36.在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定。
37.可选的，逻辑模块设置于存储设备在位稳定状态检测装置，装置还包括：上拉电阻，上拉电阻的第一端和电源连接，上拉电阻的第二端与第一接口连接；
38.根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位，包括：
39.检测第一信号的电平状态；
40.若第一信号的电平状态为高电平状态，则确定待检测存储设备未插接在位；或者，
41.若第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定待检测存储设备插接在位。
42.可选的，在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定，包括：
43.若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接稳定；或者，
44.若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
45.可选的，装置还包括：提示模块；相应的，方法还包括：
46.基于逻辑模块输出待检测存储设备的在位稳定状态信号；
47.基于提示模块根据在位稳定状态信号生成待检测存储设备的插接提示信号。
48.可选的，提示模块为bmc芯片；方法还包括：
49.基于bmc芯片在待检测存储设备未插接稳定时，生成插接提示信号，以提示用户重新对待检测存储设备进行插接。
50.另一方面，本技术还提供一种逻辑模块，用于执行存储设备在位稳定状态检测方法，逻辑模块设置有第一接口和第二接口，第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，第二接口用于与待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；包括：
51.信号检测单元，用于检测第一接口接入的第一信号和第二接口接入的第二信号；
52.状态检测单元，用于根据第一信号，或者根据第一信号和第二信号，确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
53.在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
54.可选的，状态检测单元，具体用于：
55.根据所述第一信号确定所述待检测存储设备是否插接在位；
56.在插接在位时，根据所述第二信号确定所述待检测存储设备是否插接稳定。
57.可选的，所述检测装置还包括：上拉电阻，所述上拉电阻的第一端和电源连接，所述上拉电阻的第二端与所述第一接口连接；状态检测单元，具体用于：
58.检测所述第一信号的电平状态；
59.若所述第一信号的电平状态为高电平状态，则确定所述待检测存储设备未插接在位；或者，
60.若所述第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定所述待检测存储设备插接在位。
61.可选的，状态检测单元，具体用于：
62.若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接稳定；或者，
63.若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
64.可选的，所述逻辑模块包括cpld芯片；相应的，所述第一接口为所述cpld芯片的第一gpio引脚，所述第二接口为所述cpld芯片的第二gpio引脚。
65.可选的，所述装置还包括：提示模块；所述提示模块，与所述逻辑模块连接；
66.所述逻辑模块，用于输出所述待检测存储设备的在位稳定状态信号；
67.所述提示模块，用于根据所述在位稳定状态信号生成所述待检测存储设备的插接提示信号。
68.另一方面，本技术还提供一种逻辑模块，包括：存储器，处理器；
69.存储器，用于存储处理器可执行指令的存储器；
70.其中，处理器执行存储器存储的可执行指令，以实现上述实施方式的存储设备在位稳定状态检测方法。
71.另一方面，本技术还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，计算机执行指令被处理器执行时用于实现如上述实施方式的存储设备在位稳定状态检测方法。
72.另一方面，本技术实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机指令，该计算机指令被处理器执行时实现上述实施例中信息提醒方法中的各个步骤。
73.本技术提供的技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
附图说明
74.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
75.图1为本技术提供的存储设备在位稳定检测装置的应用场景图；
76.图2为本技术根据一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图；
77.图3为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图；
78.图4为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备的插接在位状态检测方法的流程示意图；
79.图5为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备的插接稳定状态检测方法的流程示意图；
80.图6为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图；
81.图7为本技术中提供的一种电子设备的结构示意图；
82.图8为本技术根据本优选示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图；
83.图9为本技术根据本优选示例性实施例提供的一种cpld的在位稳定状态检测过程的流程示意图；
84.图10为本技术根据本优选示例性实施例提供的另一种cpld的在位稳定状态检测过程的流程示意图；
85.图11为根据另一示例性实施例提供的一种存储设备在位稳定状态检测方法的流程示意图；
86.图12为本技术根据一实施例提供的一种逻辑模块的结构示意图；
87.图13为本技术根据一实施例提供的另一种逻辑模块的结构示意图。
88.通过上述附图，已示出本技术明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本技术构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本技术的概念。
具体实施方式
89.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
90.一般的，硬盘在进行数据传输以及存储之前，需要检测硬盘的在位情况，以保证后续可以进行数据传输及存储。在实际使用的过程中，硬盘插入需要一定的插入时间，在这个过程中，可能硬盘已插接在位但还未插稳，在此过程中若cpu等设备与硬盘进行数据传输，则会造成一些传输数据的获取或输出出现错误。
91.但是，目前对于硬盘的检测技术仅可识别硬盘是否在位，无法侦测硬盘是否已插稳。
92.针对上述技术问题，本技术实施例提供了一种存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质，旨在解决现有技术中无法侦测硬盘等存储设备是否插稳的问题，通过识别存储设备的插稳状态，可以提升存储设备进行数据传输时的可靠性。本技术的技术构思是：检测装置中的逻辑模块通过不同的接口分别接收待检测存储设备的接地引脚和设备活动信号引脚的检测信号，进而通过接地引脚传输的信号以及设备活动信号引脚传输的
信号确定待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定，以此通过对待检测存储设备的两个引脚信号进行检测实现对待检测存储设备的在位稳定状态进行检测，从而实现提升后续存储设备在进行数据传输以及存储过程中的可靠性。
93.图1为本技术提供的存储设备在位稳定检测装置的应用场景图。如图1所示，包括：检测装置和待检测存储设备，检测装置包括逻辑模块，逻辑模块中设置有至少两个接口，具体的，通过预设的第一接口接入待检测存储设备中接地引脚对应的第一信号，以及通过预设的第二接口接入待检测存储设备中设备活动信号引脚对应的第二信号，进而根据第一接口接入的第一信号，或者根据第一接口接入的第一信号和第二接口接入的第二信号确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。具体的，可以根据第一信号确定待检测存储设备的插接在位状态；进而在待检测存储设备处于插接在位时，通过第二接口接入的第二信号确定待检测存储设备的插接稳定状态。
94.值得注意的是，本技术实施例中的逻辑模块中可以包括多个接口，接入第一信号和第二信号的接口可以为实现信号输入/输出的任意接口，对此不做限定。可选的，待检测存储设备中在包括多个接地引脚的情况下，逻辑模块的接口可以与待检测存储设备中的任一接地引脚的信号进行连接，以实现获取待检测存储设备中的第一信号。
95.图2为本技术根据一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图。如图2所示，本技术提供的检测装置1包括：逻辑模块11；逻辑模块11设置有第一接口和第二接口；第一接口，用于与待检测存储设备2的接地引脚连接；第二接口，用于与待检测存储设备2的设备活动信号引脚连接；逻辑模块11，用于根据第一接口接入的第一信号，或者根据第一信号和第二接口接入的第二信号确定待检测存储设备2的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备2是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
96.其中，检测装置1可以是具备信号接入以及信号检测功能的板卡或者集成电路芯片等。可选的，检测装置1可以是外置单独的装置，也可以是内置于预设电子设备或者服务器中的检测装置1，进一步的，检测装置1通过预设接口与待检测存储设备2的预设引脚进行连接，以实现获取对应的检测信号，实现对待检测存储设备2的在位稳定状态进行检测。相应的，逻辑模块11可以是具备逻辑处理功能的电路模块或者逻辑芯片等。需要说明的是，为了实现对待检测存储设备2是否在位以及是否插稳进行检测，本技术中逻辑模块11可以设置多个接口，即可以实现分别接入待检测存储设备2不同引脚对应的信号。具体的，接口数量可以根据待检测存储设备2中的待检测引脚的数量所确定。
97.在本技术实施例中，待检测存储设备2可以设置于电子设备或者服务器中的存储设备，也可以是单独外置的，可以与电子设备或者服务器进行连接的存储设备，以实现对电子设备或者服务器所产生的数据进行存储。需要说明的是，本技术实施例中的待检测存储设备2为使用预设的接口协议，例如预设接口协议可以是u.2(sff-8639)接口协议、m.2接口协议、sas(serial attached scsi，串行连接scsi接口)协议，以及sata(serial advanced technology attachment，串行高级技术附件，一种基于行业标准的串行硬件驱动器接口)协议以及等接口协议的存储设备。可选的，在上述接口协议的基础上，存储设备可以是使用上述任一协议的hdd(hard disk drive，机械硬盘)或者是ssd(solid state disk或solid state drive，固态硬盘)等。在此基础上，待检测存储设备2中的引脚可以是硬盘电源接口
中预设的接地引脚以及设备活动信号引脚，将上述接地引脚和设备活动信号引脚的信号通过逻辑模块11的接口进行传输，从而逻辑模块11可以根据上述两引脚的信号进行待检测存储设备2的在位稳定状态检测。
98.在一种可选实施方式中，为了实现待检测存储设备2可以将接地引脚和设备活动信号引脚的信号传输至逻辑模块11，因此，逻辑模块11中需要设置分别接入上述两种信号的接口，即第一接口和第二接口，相应的，第一接口，用于与接地引脚连接，以实现接入接地引脚对应的第一信号；第二接口用于与设备活动信号引脚连接，以实现接入设备活动信号引脚对应的第二信号。当然，在其他实施方式中，若确定上述两引脚的信号为不同时刻传输的信号，可以在逻辑模块11中仅设置一个接口，换言之，第一接口和第二接口为同一接口。具体的，该接口用于分别与上述两引脚连接，实现在不同时刻分别接入上述两引脚分别对应的第一信号和第二信号。
99.在本技术中，通过逻辑模块11对第一接口接入接地引脚对应的第一信号进行检测，并将得到的检测结果作为待检测存储设备2的prsnt#(在位)检测结果，实现了对待检测存储设备2的插接在位状态进行检测。
100.可选的，可以在存储设备中预先设置多个接地引脚。以待检测存储设备2为sata硬盘为例，硬盘包括电源接口和数据接口，电源接口用于为设备获取电源，数据接口是用于和电子设备或者服务器的主板和其他部件进行数据交换。
101.示例性的，sata硬盘中电源接口和数据接口中各接口引脚的引脚信号定义示意图可以参见表1。
102.在表1中，数据接口(signal segment)包括7个引脚。
103.具体的，s1、s4和s7接地引脚，一般与负极相连；s2为数据发送正极信号引脚；s3为数据发送负极信号引脚；s5为数据接收负极信号引脚；s6为数据接收正极信号引脚。
104.在表1中，电源接口(power segment)包括15个引脚。
105.具体的，p1-p2为正极电源引脚，具体可以接低压电源；p3为devslpe/或者pwdise引脚，可以管理电源的接入以及接出；p1-p6为接地引脚，一般与负极相连；p7-p9为正极电源引脚，具体可以接直流5v的电源；p10和p12为接地引脚，一般与负极相连；p11为保留引脚，可以接das、dss、dhu中任一信号；p13-p15为正极电源引脚，具体可以接直流12v的电源。
106.表1sata接口管脚信号定义表
107.[0108][0109]
基于上述内容可知，待检测第一信号的接地引脚可以是电源接口中的p4-p6、p10和p12中任一接地引脚的信号，所以本技术中逻辑模块11可以通过接入上述任意接接地引脚对应的信号进行检测。优选的，基于各接地引脚在电源接口中的位置，本技术实施例中的逻辑模块11的第一接口，可以通过和p4接地引脚进行连接，以获取到接地引脚对应的第一信号。
[0110]
现有技术中，sata硬盘中还设置在保留引脚，其功能取决于具体的应用场景和实现。通常情况下，此引脚为p11引脚，该引脚的功能一般是由设计师根据外部设备自行定义。在一些特殊情况下，p11引脚也可以用于实现某些特定的功能，如用于充电等。总的来说，p11引脚的具体功能是由实际应用和硬件设计决定的。
[0111]
在实际应用中，p11引脚可以被配置为device activity signal(设备活动信号，das)信号。具体的，该信号指示硬盘驱动器是否正在使用的信号。当硬盘驱动器处于使用状态时，此信号处于活动状态，反之则为非活动状态。但是现有技术中，通过该引脚的状态也仅能确定待检测存储设备2是否在位，并不能确定其是否插接稳定。
[0112]
因此，在申请中的逻辑模块11通过第一信号已经确定待检测存储设备2已经插接在位时，可以通过第二接口接入设备活动信号引脚对应的第二信号进行检测，并将得到的检测结果作为但检测存储设备的插接稳定检测结果；进而实现了根据第一接口接入的第一信号，或者根据第一信号和第二接口接入的第二信号实现了对待检测存储设备2的在位稳定状态进行检测。
[0113]
在上述技术方案中，逻辑模块11通过接入待检测存储设备2的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备2的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备2的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备2的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备2在后续数据传输过程中的可靠性。
[0114]
在一种可选实施方式中，逻辑模块11基于第一信号，或者基于第一信号和第二信号输出待检测存储设备2是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定分别对应的状态信号。具体可以是：根据第一信号确定待检测存储设备2是否插接在位；在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备2是否插接稳定。
[0115]
具体的，获取第一信号的电平状态，并根据逻辑模块11中预先存储的电平状态和在位状态的对应关系确定待检测存储设备2是否插接在位。进一步的，在确定待检测存储设备2插接在位时，接收第二信号，并根据第二信号以及逻辑模块11中预先存储的信号判断条件确定待检测存储设备2是否插接稳定。
[0116]
在一种可选实施方式中，本技术的逻辑模块11包括cpld芯片；相应的，第一接口为cpld芯片的第一gpio引脚，第二接口为cpld芯片的第二gpio引脚。
[0117]
具体的，cpld(complex programmable logic device,复杂可编程逻辑器件)芯片，是一种用户根据各自需要而自行构造逻辑功能的数字集成电路。该元件具有编程灵活、集成度高、设计开发周期短、适用范围宽、开发工具先进、设计制造成本低、对设计者的硬件经验要求低、标准产品无需测试、保密性强、价格大众化等特点，可实现较大规模的电路设计，因此被广泛应用。具体的，cpld芯片中包括gpio引脚，即输入/输出接口，可以用于接收外部信号，并进行逻辑处理得到的结果信号进行输出。
[0118]
在本技术实施例中，可以采用cpld中的任意两个gpio引脚作为第一接口和第二接口。优选的，由于各gpio接口在cpld芯片的接口位置以及与外部组件的连接关系，可以选择gpio1引脚作为第一gpio接口，用于与待检测存储设备2的接地引脚连接，以实现接入该引脚对应的第一信号。同样的，选择gpio2引脚作为第二gpio接口，用于与待检测存储设备2的设备活动信号引脚连接，以实现接入该引脚对应的第二信号。
[0119]
需要说明的是，本技术实施例中的逻辑模块11还可以是其它可以进行判断处理的模块，例如是fpga(field－programmable gate array,现场可编程逻辑阵列)芯片等器件，相应的，第一接口和第二接口分别为fpga芯片中具备输入/输出功能的两个接口。本技术实施例对于逻辑模块11不做限定。
[0120]
图3为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图。如图3所示，本技术提供的检测装置1还包括：上拉电阻12，上拉电阻12的第一端和电源连接，上拉电阻12的第二端与第一接口连接。
[0121]
在实际应用中，在上拉电阻12所连接的导线上，如果外部组件未启用，上拉电阻12则“微弱地”将输入电压信号“拉高”。当外部组件未连接时，对输入端来说，外部“看上去”就是高阻抗的。这时，通过上拉电阻12可以将输入端口处的电压拉高到高电平。如果外部组件启用，它将取消上拉电阻12所设置的高电平。通过这样，上拉电阻12可以使引脚即使在未连接外部组件的时候也能保持确定的逻辑电平。
[0122]
基于上述原理，为了可以准确确定接地引脚对应的第一信号的电平状态，在现有接地引脚连接关系的基础上接入了上拉电阻12。在一具体实施方式中可以是，将上拉电阻12的第一端接入电源，将上拉电阻12的第二端接入接地引脚。
[0123]
具体的，在接入上拉电阻12后，若检测到第一信号的电平状态为低电平，则说明接地引脚为已连接；反之，若检测到为高电平在，则说明接地引脚未连接。进而可以得到的第一信号的电平状态确定待检测存储设备2的插接在位状态。
[0124]
在上述技术方案中，通过接入上拉电阻12，进一步实现了准确的对接地引脚对应的信号进行检测，从而提高了对于待检测存储设备2的插接是否在位检测结果的准确性。
[0125]
下面结合图4-5，就逻辑模块进行检测过程进行具体的说明。需要说明的是，下述实施方式不作为对本技术技术方案的限定。
[0126]
图4为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备的插接在位状态检测的流程示意图。参见图4，在上述各实施方式的基础上，逻辑模块在判断是否在位的方法具体可以包括：检测第一信号的电平状态；若第一信号的电平状态为高电平状态，则确定待检测存储设备未插接在位；或者，若第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定待检测存储设备插接在位。
[0127]
具体的，基于第一接口接收接地引脚对应的第一信号。在此基础上，判断第一信号的电平状态是否为低电平状态。可选的，若第一信号的电平状态为高电平状态，则说明待检测存储设备的接地引脚未连接，进一步可说明待检测存储设备目前未插接在位。即，目前还不能与待检测存储设备可靠地进行数据传输。反之，若第一信号的电平状态为低电平状态，则说明检测到存储设备的接地引脚已连接，进一步说明待检测存储设备目前插接在位，可以在此基础上对待检测存储设备是否插接稳定进行检测。
[0128]
在一种可选实施方式中，第一信号的电平为低电平状态可包括多种情况。具体的，可以是在预设检测时长过程中持续低电平状态或者，是由高电平状态翻转至低电平状态。在实际应用中，对于第一信号持续为低电平状态的情况可以包括但不限于：待检测存储设备处于ac电源上电过程，在此过程中持续对第一信号的电平进行检测，直至上电完成结束检测。在上述过程中待检测存储设备在成功上电后，第一信号的电平状态会持续保持低电平状态，可以表明待检测存储设备处于插接在位状态。可选的，对于第一信号由高电平状态转换至低电平状态的情况可以包括但不限于：待检测存储设备处于热插拔的过程。在此过程中，当待检测存储设备处于拔下时，检测到第一信号保持高电平状态，在此基础上，直接将待检测存储设备进行热插接，在热插接后持续对第一信号进行检测，若检测到第一信号由高电平状态转换至低电平状态，则说明待检测存储设备已热插接在位；反之，若将待检测存储设备插接后，检测到第一信号依旧保持高电平状态，则说明待检测存储设备未插接在位。需要说明的是，上述对于第一信号的电平状态的解释只是作为对本技术技术方案示例性的介绍，并不能作为对本技术技术方案的限定。
[0129]
图5为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备的插接稳定状态检测的流程示意图。参见图5，在上述各实施方式的基础上，逻辑模块判断是否插接稳定的方法具体可以包括：若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接稳定；或者，若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
[0130]
由于待检测存储设备插接稳定的前提是先要插接在位，所以本技术实施例中，可以在检测到待检测存储设备目前处于插接在位状态时，再进行是否插接稳定的检测过程。反之，若检测到待检测存储设备目前未插接在位，则可以不用进行是否插接稳定的检测，以减少无效的检测流程，提高检测效率。
[0131]
具体的，在待检测存储设备插接在位的情况下，基于第二接口获取设备活动信号引脚对应的第二信号，并进行插接稳定检测。由于存储设备的插接过程需要时间，所以在对
第二信号进行检测时，需要获取预设时长内的第二信号进行检测。其理由在于，若在检测到插接在位时在当前时刻立即对第二信号进行检测，则可能得到未插接稳定的检测结果，并将当前时刻的检测结果进行输出；在下一时刻若待检测存储设备已插接稳定，但是由于在上一时刻已经输出了检测结果，所以在此刻并不会再次对第二信号进行检测，因此会导致最终得到的是否插接稳定的检测结果并不准确。进一步的，若后续基于此检测结果对待检测存储设备进行设备维护，会导致无效维护，浪费维护时间，增加维护成本，并且过多的维护也会损坏存储设备的设备使用寿命。可选的，若在检测到插件在位时，获取预设时间段内的第二信号，并对获取到的上述预设时间段内的信号进行检测，则最后得到的检测结果为待检测存储设备最终状态所对应的检测结果，以此达到提高检测结果的准确性的技术效果。
[0132]
在此基础上，可对预设时间段内第二信号出现的脉冲序列进行检测，基于脉冲序列的检测结果确定待检测存储设备是否插接稳定。可选的，若第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接稳定；反正，若第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接在位但未插接稳定。示例性的，预设的脉冲序列可以包括但不限于连续2个以上脉冲序列。
[0133]
需要说明的是，上述对待检测存储设备的在位稳定状态检测中，可选的，若检测到待检测存储设备未插接在位，则在当前轮次的检测可以结束，生成当前轮次对应的状态检测结果，直至待检测存储设备下一次系统上电、重启恢复以及热插拔等情况出现时才会重新启动在位稳定状态检测；可选的，若检测到待检测存储设备插接在位时，在此基础上需要对其进行进一步的插接稳定状态检测。可选的，若检测到待检测存储设备未插接稳定，则结束当前轮次的状态检测，并生成当前轮次对应的检测结果，同样的直至待检测存储设备下一次系统上电、重启恢复以及热插拔等情况出现时才会重新启动在位稳定状态检测；反之，若检测到待检测存储设备插接稳定，则同样生成对应检测结果，并结束状态检测。
[0134]
在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并对第一信号的电平状态进行检测，基于电平状态确定待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过在基于第一信号确定待检测存储设备插接在位时，对预设时间段内第二信号中出现的脉冲序列进行检测，基于是否出现预设的脉冲序列确定待检测存储设备的插接稳定检测情况，进一步实现了提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性的技术效果。
[0135]
图6为本技术根据另一示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图。如图6所示，本技术提供的检测装置1还包括：提示模块13；提示模块13，与逻辑模块11连接；逻辑模块11，用于输出待检测存储设备2的在位稳定状态信号；提示模块13，用于根据在位稳定状态信号生成待检测存储设备2的插接提示信号。
[0136]
为了能使维护人员或者存储设备的使用人员获知存储设备的插接情况，本技术实施例提供的检测装置1在原有基础上，还增加了提示模块13，以实现及时通知待检测存储设备2的在位稳定状态检测结果，以便于可以及时对存储设备进行维护或者，可以实现与存储设备可靠地进行数据传输。
[0137]
在一种可选实施例中，提示模块13与逻辑模块11连接，用于接收逻辑模块11输出的状态检测信号，并基于状态检测信号生成待检测存储设备2的插接提示信号。
[0138]
具体的，根据逻辑模块11输出的状态检测信号不同，生成的插接提示信号也不同。可选的，在逻辑模块11输出未插接在位的状态信号时，对应生成未插接在位的提示信号；以及在逻辑模块11输出插接在位但未插接稳定的状态信号时，对应生成未插接稳定的提示信号，在此基础上，设备维护人员可以基于上述未插接在位和未插接稳定的提示信号对待检测存储设备2进行热维护，提高维护效率。可选的，在逻辑模块11输出插接在位且稳定的状态信号时，对应生成待检测存储设备2插接稳定的提示信号，此时说明待检测存储设备2已经具备数据传输的基础条件，可以直接与其进行数据传输。
[0139]
在一种可选实施方式中，提示模块13为bmc芯片；bmc芯片具体用于：在待检测存储设备2未插接稳定时，生成插接提示信号，以提示用户重新对待检测存储设备2进行插接。
[0140]
具体的，bmc(baseboard management controller，基板管理控制器)芯片，是独立于服务器系统之外的小型操作系统，是一个集成在主板上的芯片，也有产品是通过pcie等形式插在主板上，对外表现形式只是一个标准的rj45网口，拥有独立ip的固件系统。在本技术实施例中，bmc芯片具备信号接入以及信号处理功能，从而可以基于逻辑模块11输入的状态检测信号生成对应的提示信号。
[0141]
在上述方案中，在逻辑模块11输出待检测存储设备2各状态检测结果对应的检测信号后，提示模块13基于检测信号生成对应的提示信号进行对应的提示，从而可以实现及时对存储设备进行维护，提高设备的维护效率；或者，可以实现与存储设备及时可靠地进行数据传输，提高设备的数据传输可靠性与传输效率。
[0142]
本技术还提供了一种电子设备，包括如本技术任意实施例提供的检测装置1以及至少一个待检测存储设备2。本实施例中的检测装置1与上述各实施例中介绍的检测装置1具有相同的有益效果，在此不再进行赘述。
[0143]
图7为本技术中提供的一种电子设备01的结构示意图。参见图7，该电子设备01包括检测装置1和至少一个待检测存储设备2。
[0144]
需要说明的是，本技术实施例中的电子设备01也可以是服务器。具体的，电子设备01可以包括但不限于电子设备01旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台等产品，还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。服务器包括但不限于刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机等。待检测存储设备2可以设置于电子设备01或者服务器中的存储设备，也可以是单独外置的，可以与电子设备01或者服务器进行连接的存储设备，以实现对电子设备01或者服务器所产生的数据进行存储。需要说明的是，本技术实施例中的待检测存储设备2为使用预设的接口协议，例如预设接口协议可以是u.2(sff-8639)接口协议、m.2接口协议、sas(serial attached scsi，串行连接scsi接口)协议，以及sata(serial advanced technology attachment，串行高级技术附件，一种基于行业标准的串行硬件驱动器接口)协议以及等接口协议的存储设备。可选的，在上述接口协议的基础上，存储设备可以是使用上述任一协议的机械硬盘或者是固态硬盘等。
[0145]
具体的，检测装置对待检测存储设备2的状态在检测过程在上述各实施方式中已经进行详细的介绍，因此此处不再进行赘述。
[0146]
在上述技术方案中，电子设备01中包括的检测装置通过不同的接口获取待检测存储设备2中接地引脚对应的信号和设备活动信号引脚对应的信号，并通过对上述两种信号
进行检测额，得到待检测存储设备2的插接在位稳定情况，从而实现了提升待检测存储设备2在后续数据传输过程中的可靠性的技术效果。
[0147]
在上述各实施方式的基础上，本技术的技术方案还提供了一种优选实施方式。图8为本技术根据本优选示例性实施例提供的存储设备在位稳定状态检测装置的结构示意图。参见图8，该优选实施例中以逻辑模块为cpld芯片，待检测存储设备为sas/sata硬盘为例在不同常见下对上述在位稳定状态的检测过程进行了具体的介绍。
[0148]
具体的在图8中，cpld芯片包括gpio1管脚和gpio2管脚。将goip1管脚与硬盘的p4管脚，即gnd管脚连接，以实现向cpld发送prsnt#信号；将gpoi2管脚与硬盘的p11管脚，即das管脚连接，以实现向cpld发送das信号。进一步的，cpld芯片还与bmc芯片连接，以实现基于检测结果进行插接信号提示。
[0149]
可选的，若在当前时刻硬盘首次ac电源上电，cpld的在位稳定状态检测过程可以参见图9。具体的，cpld在上电bios post过程中检测p4和p11管脚的信号输出状态。其中，若检测到p4管脚一直为低电平状态且p11管脚输出连续2个以上脉冲，则可以判断硬盘已经插稳；若检测到p4管脚不是低电平状态，则cpld判断为硬盘未在位，或者若检测到p4管脚一直为低电平状态，但p11管脚并没有连续输出2个以上脉冲，则cpld判断为硬盘未插稳。在此基础上，将未在位或者未插稳的相关故障信息传递到bmc芯片，以使bmc芯片生成告警信息，这样用户在识别到故障错误时能够进行快速热维护。进一步的，在bios post完成后停止检测直到下一次出现系统上电或重启后重新进行硬盘在位插稳检测。
[0150]
可选的，若在当前时刻硬盘进行热插拔，cpld的在位稳定状态检测过程可以参见图10。具体的，cpld若检测到硬盘p4管脚信号逻辑出现翻转(由高电平切换到低电平)，且在2分钟内(插入硬盘被os识别过程)检测到p11管脚输出连续2个以上脉冲，则可以判断硬盘已经插稳；否则，cpld若没有检测到硬盘p4管脚信号逻辑出现翻转(持续保持高电平)，则cpld判断为硬盘未在位；或者，cpld若检测到硬盘p4管脚信号逻辑出现翻转(由高电平切换到低电平)，但在2分钟内(插入硬盘被os识别过程)并没有检测到p11管脚输出连续2个以上脉冲，则判断为硬盘未插稳。在此基础上，将未在位或者未插稳的相关故障信息传递到bmc芯片，以使bmc芯片生成告警信息，这样用户在识别到故障错误时能够进行快速热维护。
[0151]
上述技术方案中，cpld基于检测到的p4管脚对应的信号判断硬盘是否在位，以及在硬盘在位时，基于p11管脚对应的信号判断硬盘是否插稳，从而得到硬盘的插接在位稳定检测结果，提升硬盘在后续数据传输过程中的可靠性。
[0152]
本技术还提供了一种存储设备在位稳定状态检测方法。该方法应用于上述任意实施方式所介绍的逻辑模块，逻辑模块设置于检测装置中，逻辑模块设置有第一接口和第二接口；第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，第二接口用于与待检测存储设备的设备活动信号引脚连接。
[0153]
图11为本技术实施例提供的一种存储设备在位稳定状态检测方法的流程示意图。参见图11，方法包括：
[0154]
s810、检测第一接口接入的第一信号和第二接口接入的第二信号。
[0155]
在本技术实施例中，第一信号为接地引脚对应的信号，第一信号可以通过第一接口传输至逻辑模块进行检测。具体的，对第一信号进行检测，可以确定待检测存储设备是否插接在位。第二信号为设备活动信号引脚对应的信号，第二信号可以通过第二接口传输至
逻辑模块进行检测。具体的，对第二信号进行检测，可以确定待检测存储设备是否插接稳定。
[0156]
s820、根据第一信号，或者根据第一信号和第二信号，确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
[0157]
在本技术中，逻辑模块根据第一信号，或者根据第一信号和第二信号，确定待检测存储设备的在位稳定状态的方法可以包括：根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位；在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定。
[0158]
可选的，根据第一信号确定待检测存储设备是否插接在位的方法可以包括：检测第一信号的电平状态；若第一信号的电平状态为高电平状态，则确定待检测存储设备未插接在位；或者，若第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定待检测存储设备插接在位。
[0159]
可选的，在插接在位时，根据第二信号确定待检测存储设备是否插接稳定，包括：若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接稳定；或者，若待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
[0160]
在上述实施方式的基础上，检查装置还包括提示模块，提示模块与逻辑模块连接，用于根据逻辑模块输出的在位稳定状态信号生成待检测存储设备的插接提示信号。
[0161]
在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
[0162]
本技术还提供了一种逻辑模块。该逻辑模块用于执行存储设备在位稳定状态检测方法，逻辑模块设置有第一接口和第二接口，第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，第二接口用于与待检测存储设备的设备活动信号引脚连接。
[0163]
图12为本技术根据一实施例提供的一种逻辑模块的结构示意图。参见图12，该逻辑模块包括：信号检测单元910和状态检测单元920；其中，
[0164]
信号检测单元910，用于检测第一接口接入的第一信号和第二接口接入的第二信号；
[0165]
状态检测单元920，用于根据第一信号，或者根据第一信号和第二信号，确定待检测存储设备的在位稳定状态；其中，在位稳定状态包括待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
[0166]
在上述技术方案中，逻辑模块通过接入待检测存储设备的接地引脚对应的第一信号，以及接入待检测存储设备的设备活动信号引脚对应的第二信号，并基于第一信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接在位检测情况；进一步的，通过对第一信号以及第二信号的检测结果，得到待检测存储设备的插接稳定检测情况，从而可以提升待检测存储设备在后续数据传输过程中的可靠性。
[0167]
可选的，状态检测单元920，具体用于：
[0168]
根据所述第一信号确定所述待检测存储设备是否插接在位；
[0169]
在插接在位时，根据所述第二信号确定所述待检测存储设备是否插接稳定。
[0170]
可选的，所述检测装置还包括：上拉电阻，所述上拉电阻的第一端和电源连接，所述上拉电阻的第二端与所述第一接口连接；状态检测单元920，具体用于：
[0171]
检测所述第一信号的电平状态；
[0172]
若所述第一信号的电平状态为高电平状态，则确定所述待检测存储设备未插接在位；或者，
[0173]
若所述第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定所述待检测存储设备插接在位。
[0174]
可选的，状态检测单元920，具体用于：
[0175]
若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接稳定；或者，
[0176]
若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接在位但未插接稳定。
[0177]
可选的，所述逻辑模块包括cpld芯片；相应的，所述第一接口为所述cpld芯片的第一gpio引脚，所述第二接口为所述cpld芯片的第二gpio引脚。
[0178]
可选的，所述检测装置还包括：提示模块；所述提示模块，与所述逻辑模块连接；
[0179]
所述逻辑模块，用于输出所述待检测存储设备的在位稳定状态信号；
[0180]
所述提示模块，用于根据所述在位稳定状态信号生成所述待检测存储设备的插接提示信号。
[0181]
本技术还提供了另一种逻辑模块。图13为本技术根据一实施例提供的另一种逻辑模块的示意图。参见图13，该逻辑模块100包括存储器1001和处理器1002。
[0182]
其中，存储器用于存储处理器可执行的计算机指令。
[0183]
处理器在执行计算机指令时实现上述实施例中以处理服务器为执行主体的存储设备在位稳定状态检测方法中的各个步骤。具体可以参见前述方法实施例中的相关描述。
[0184]
可选地，上述存储器既可以是独立的，也可以跟处理器集成在一起。当存储器独立设置时，该服务器还包括总线，用于连接存储器和处理器。
[0185]
本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行计算机执行指令时，实现上述实施例中存储设备在位稳定状态检测方法中的各个步骤。
[0186]
本技术实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机指令，该计算机指令被处理器执行时实现上述实施例中存储设备在位稳定状态检测方法中的各个步骤。
[0187]
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本技术的其它实施方案。本技术旨在涵盖本技术的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本技术的一般性原理并包括本技术未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本技术的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。
[0188]
应当理解的是，本技术并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本技术的范围仅由所附的权利要求书来限制。

技术特征：
1.一种存储设备在位稳定状态检测装置，其特征在于，包括：逻辑模块；所述逻辑模块设置有第一接口和第二接口；所述第一接口，用于与待检测存储设备的接地引脚连接；所述第二接口，用于与所述待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；所述逻辑模块，用于根据所述第一接口接入的第一信号，或者根据所述第一信号和所述第二接口接入的第二信号确定所述待检测存储设备的在位稳定状态；其中，所述在位稳定状态包括所述待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述逻辑模块，具体用于：根据所述第一信号确定所述待检测存储设备是否插接在位；在插接在位时，根据所述第二信号确定所述待检测存储设备是否插接稳定。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：上拉电阻，所述上拉电阻的第一端和电源连接，所述上拉电阻的第二端与所述第一接口连接；所述逻辑模块根据所述第一信号确定所述待检测存储设备是否插接在位，包括：检测所述第一信号的电平状态；若所述第一信号的电平状态为高电平状态，则确定所述待检测存储设备未插接在位；或者，若所述第一信号的电平状态由高电平状态转换至低电平状态或者为持续低电平状态，则确定所述待检测存储设备插接在位。4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述逻辑模块在插接在位时，根据所述第二信号确定所述待检测存储设备是否插接稳定，包括：若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号中出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接稳定；或者，若所述待检测存储设备插接在位，且在预设时间段内所述第二信号未出现预设的脉冲序列，则确定所述待检测存储设备插接在位但未插接稳定。5.根据权利要求1-4任一项所述的检测装置，其特征在于，所述逻辑模块包括cpld芯片；相应的，所述第一接口为所述cpld芯片的第一gpio引脚，所述第二接口为所述cpld芯片的第二gpio引脚。6.根据权利要求1-4任一项所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：提示模块；所述提示模块，与所述逻辑模块连接；所述逻辑模块，用于输出所述待检测存储设备的在位稳定状态信号；所述提示模块，用于根据所述在位稳定状态信号生成所述待检测存储设备的插接提示信号。7.一种存储设备在位稳定状态检测方法，其特征在于，应用于逻辑模块，所述逻辑模块设置有第一接口和第二接口；所述第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，所述第二接口用于与所述待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；所述方法包括：检测所述第一接口接入的第一信号和所述第二接口接入的第二信号；根据所述第一信号，或者根据所述第一信号和所述第二信号，确定所述待检测存储设备的在位稳定状态；其中，所述在位稳定状态包括所述待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。
8.一种逻辑模块，其特征在于，用于执行存储设备在位稳定状态检测方法，所述逻辑模块设置有第一接口和第二接口，所述第一接口用于与待检测存储设备的接地引脚连接，所述第二接口用于与所述待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；包括：信号检测单元，用于检测所述第一接口接入的第一信号和所述第二接口接入的第二信号；状态检测单元，用于根据所述第一信号，或者根据所述第一信号和所述第二信号，确定所述待检测存储设备的在位稳定状态；其中，所述在位稳定状态包括所述待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。9.一种逻辑模块，其特征在于，包括：存储器，处理器；存储器，用于存储所述处理器可执行指令；其中，所述处理器执行所述存储器存储的可执行指令，以实现如权利要求7所述的存储设备在位稳定状态检测方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求7所述的存储设备在位稳定状态检测方法。

技术总结
本申请提供一种存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质。该装置包括：逻辑模块；所述逻辑模块设置有第一接口和第二接口；所述第一接口，用于与待检测存储设备的接地引脚连接；所述第二接口，用于与所述待检测存储设备的设备活动信号引脚连接；所述逻辑模块，用于根据所述第一接口接入的第一信号，或者根据所述第一信号和所述第二接口接入的第二信号确定所述待检测存储设备的在位稳定状态；其中，所述在位稳定状态包括所述待检测存储设备是否插接在位以及在插接在位时是否插接稳定。本申请的装置，解决了现有技术中无法侦测硬盘等存储设备是否插稳的问题，通过识别存储设备的插稳状态，可以提升存储设备进行数据传输时的可靠性。据传输时的可靠性。据传输时的可靠性。


技术研发人员：张晓梅 肖朝晖
受保护的技术使用者：广东东勤科技有限公司
技术研发日：2023.05.08
技术公布日：2023/8/6