一种半导体三极管生产用测试工装的制作方法

1.本发明涉及测试工装技术领域，具体为一种半导体三极管生产用测试工装。


背景技术：

2.三极管，全称应为半导体三极管，也称双极型晶体管、晶体三极管，是一种控制电流的半导体器件；其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号，也用作无触点开关；三极管是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件；三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的pn结，两个pn结把整块半导体分成三部分，中间部分是基区，两侧部分是发射区和集电区，排列方式有pnp和npn两种。
3.在检测三极管的好坏与电极时，除了检测三极管是否导通外，还会依据正负压降和放大倍数是否在合理的误差范围内来判断，本技术针对npn型硅三极管，对其进行测量pn结正向压降时，首先将红表笔与b极接通，然后用黑表笔依次接通c极和e极，数值显示范围通常在0.500-0.700之间为正常，对其测量pn结负向压降时，首先用黑表笔与b极接通，然后用红表笔依次接通c极和e极，数值显示皆为1，表示正常；当测量其放大倍数时，将万用表档位切换成hfe档，然后观察放大倍数，确定是否在误差范围内。
4.目前在利用万用表对三极管的引脚进行检测时，由人工手持红、黑表笔分别对三个引脚进行接触测量，当需要对多个三极管进行检测时，操作步骤较为繁琐，容易出现重复测试的情况，不便于检测；在检测时由于三极管引脚尺寸较小，容易发生表笔与引脚接触不良，需要重复检测，影响检测的速度。为此，我们提出一种半导体三极管生产用测试工装。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种半导体三极管生产用测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种半导体三极管生产用测试工装，包括：中空底座、三极管，底座上可拆卸连接有数字万用表和数字万用表上的旋钮。
7.夹持支撑组件，夹持支撑组件连接在底座上，用于对三极管进行固定，并将三极管的三个引脚进行延伸转换；
8.周期测试组件，周期测试组件连接在底座上并且与夹持支撑组件配合，用于对三极管进行压降检测；
9.换挡组件，换挡组件连接在底座上并与周期测试组件配合，用于对旋钮进行转动，测试三极管的放大倍数。
10.优选的，夹持支撑组件包括开设在底座远离地面一侧的圆孔，圆孔与底座内部连通，圆孔中间设置有圆形支撑板，支撑板通过支撑杆与底座远离地面一侧固定连接，支撑板上固定连接有插座，插座上开设有与三极管三个引脚配合的l形插槽，插槽的侧壁固定连接有与引脚侧壁配合的弧形板，插槽的槽底固定连接有与引脚电性连接的连接片，支撑板的边缘等角度固定连接有截面形状均为l形且向外延伸的b极杆、c极杆和e极杆，且b极杆、c极
杆和e极杆分别与三个连接片电性连接。
11.优选的，周期测试组件包括固定连接在底座内部的固定板，卡合组件、摆动测试组件和间歇转动组件，间歇转动组件连接在固定板上，用于带动支撑板进行180
°
间歇转动，摆动测试组件连接在支撑板上，用于驱动卡合组件进行往复摆动，卡合组件连接在摆动测试组件上，用于和b极杆、c极杆或e极杆进行电性配合。
12.优选的，间歇转动组件包括固定连接在固定板远离地面一侧的电机一，电机一的输出端固定连接有驱动轴，驱动轴的自由端与底座靠近地面一侧转动连接，驱动轴上固定连接有不完全齿轮一，底座内转动连接有转动轴，转动轴的自由端固定连接有安装板，转动轴上固定连接有与不完全齿轮一配合的齿轮一。
13.优选的，摆动测试组件设置有两组，且对称分布在安装板上，摆动测试组件包括固定连接在安装板一侧的顶板，顶板与安装板之间固定连接有立柱，安装板与顶板之间转动连接有相互平行的转轴一、转轴二、转轴三、转轴四和转轴五，转轴一、转轴二、转轴三和转轴四上分别均固定连接有齿轮二，其中转轴三和转轴四上分别固定连接有不完全齿轮二和不完全齿轮三，转轴五上固定连接有与不完全齿轮二和不完全齿轮三均配合的齿轮三，安装板上固定连接有与转轴二固定连接的电机二。
14.优选的，卡合组件包括固定连接在转轴五上的l形摆动杆，摆动杆的自由端固定连接有抵触头，抵触头的两侧开设有移动槽，抵触头上连接有与b极杆、c极杆或e极杆电性配合的且向上凸起的抵触片，抵触片的两端分别位于两侧的移动槽内部，且抵触片的两端均固定连接有弹簧，弹簧的自由端与移动槽的槽壁固定连接，通孔的边缘分别固定连接有连接环一和连接环二，两侧抵触头上固定连接有分别与连接环一和连接环二电性配合的连接杆。
15.优选的，换挡组件包括固定连接在驱动轴上的不完全齿轮四，底座与固定板之间转动连接有传动轴一、传动轴二、传动三和传动轴四，传动轴一和传动轴四上固定连接有与不完全齿轮四啮合的齿轮四，传动轴二和传动轴三上固定连接有相互啮合的齿轮五，其中传动轴二上的齿轮五和传动轴三上的齿轮五分别与传动轴四上的齿轮四和传动轴一上的齿轮四啮合，旋钮外周固定连接有齿轮圈，底座内部转动连接有转筒，转筒内部螺纹连接有螺杆，螺杆的自由端转动连接有与齿轮圈啮合的齿条，转筒与传动轴四之间传动连接有皮带轮组件。
16.优选的，连接环一和连接环二的直径尺寸相同，且相互垂直错开分布。
17.优选的，齿条与数字万用表的表壳滑动连接。
18.优选的，抵触片的截面形状为m形。
19.本发明至少具备以下有益效果：
20.1、本发明在使用时，利用夹持支撑组件对三极管的三个引脚进行固定，并且对三个引脚进行电性延伸，便于测量的同时，能够对引脚进行保护，利用周期测试组件能够连续的对多组三极管的正压降和负压降进行测量，提升了测量的速度和稳定性，使得测量更加的方便；在单独的三极管正负压降测量完毕之后，利用换挡组件能够对数字万用表的二极管档和hfe档进行切换，从而实现对三极管放大倍数的测量，从而利用正负压降的竖直和放大倍数来判断三极管的好坏。
21.2、本发明中抵触片的截面形状为m形，即弹性抵触片的顶部有凹陷，此凹陷能够对
b极杆、c极杆和e极杆进行限位，提升卡合时候的稳定性。
附图说明
22.图1为本发明整体立体结构示意图之一；
23.图2为本发明整体立体结构示意图之二；
24.图3为本发明侧视剖面立体结构示意图之一；
25.图4为本发明侧视剖面立体结构示意图之二；
26.图5为本发明侧视剖面立体结构示意图之三；
27.图6为本发明侧视剖面立体结构示意图；
28.图7为本发明俯视剖面立体结构示意图之一；
29.图8为本发明俯视剖面立体结构示意图之二；
30.图9为本发明俯视剖面立体结构示意图之三；
31.图10为本发明俯视剖面立体结构示意图之四；
32.图11为本发明中抵触头内部的平面结构示意图。
33.图中：1-底座；2-数字万用表；21-旋钮；3-三极管；4-夹持支撑组件；41-圆孔；42-支撑板；43-支撑杆；44-b极杆；45-c极杆；46-e极杆；47-插座；48-插槽；49-弧形板；401-连接片；5-周期测试组件；51-固定板；52-间歇转动组件；521-电机一；522-不完全齿轮一；523-转动轴；524-齿轮一；525-安装板；526-驱动轴；53-摆动测试组件；531-电机二；532-顶板；533-立柱；534-转轴一；535-转轴二；536-转轴三；537-转轴四；538-齿轮二；539-不完全齿轮二；5301-不完全齿轮三；5302-齿轮三；5303-转轴五；54-卡合组件；541-摆动杆；542-抵触头；543-抵触片；544-弹簧；545-连接杆；546-连接环一；547-连接环二；548-移动槽；6-换挡组件；61-不完全齿轮四；62-传动轴一；63-齿轮四；64-传动轴二；65-传动轴三；66-传动轴四；68-齿轮五；69-皮带轮组件；601-齿轮圈；602-齿条；603-转筒；604-螺杆。
具体实施方式
34.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
35.请参阅图1-11，本发明提供一种技术方案：实施例一，一种半导体三极管生产用测试工装，包括：中空底座1、三极管3，底座1上可拆卸连接有数字万用表2和数字万用表2上的旋钮21，数字万用表2以插入的方式卡合连接在底座1上。
36.夹持支撑组件4，夹持支撑组件4连接在底座1上，用于对三极管3进行固定，并将三极管3的三个引脚进行延伸转换；
37.周期测试组件5，周期测试组件5连接在底座1上并且与夹持支撑组件4配合，用于对三极管3进行压降检测；
38.换挡组件6，换挡组件6连接在底座1上并与周期测试组件5配合，用于对旋钮21进行转动，测试三极管3的放大倍数。
39.在使用时，利用夹持支撑组件4对三极管3的三个引脚进行固定，并且对三个引脚
进行电性延伸，便于测量的同时，能够对引脚进行保护，利用周期测试组件5能够连续的对多组三极管3的正压降和负压降进行测量，提升了测量的速度和稳定性，使得测量更加的方便；在单独的三极管3正负压降测量完毕之后，利用换挡组件6能够对数字万用表2的二极管档和hfe档进行切换，从而实现对三极管3放大倍数的测量，从而利用正负压降的竖直和放大倍数来判断三极管3的好坏。
40.夹持支撑组件4包括开设在底座1远离地面一侧的圆孔41，圆孔41与底座1内部连通，圆孔41中间设置有圆形支撑板42，支撑板42的直径小于圆孔41的直径，支撑板42通过支撑杆43与底座1远离地面一侧固定连接，本实施例中支撑杆43的数量为三个，且为开口向下的匚形结构，支撑板42上固定连接有插座47，插座47为圆柱形，插座47上开设有与三极管3三个引脚配合的l形插槽48，插槽48数量为三个，插槽48的侧壁固定连接有与引脚侧壁配合的弹性弧形板49，弧形板49设置有两对，且沿着竖直方向分布，插槽48的槽底固定连接有与引脚电性连接的连接片401，支撑板42的边缘等角度固定连接有截面形状均为l形且向外延伸的b极杆44、c极杆45和e极杆46，具体为等120度角，且b极杆44、c极杆45和e极杆46分别与三个连接片401电性连接；在使用时，将三极管3的三个引脚分别插入到相应的插槽48中，在插入的过程中，弧形板49会对引脚进行夹持，从而实现对引脚的限位，当引脚底部与连接片401接触时，此时该引脚通过连接片401与相应的b极杆44、c极杆45或者e极杆46电性接通，提升了测量的稳定性的同时，也对引脚进行了保护。
41.周期测试组件5包括固定连接在底座1内部的固定板51、卡合组件54、摆动测试组件53和间歇转动组件52，间歇转动组件52连接在固定板51上，用于带动支撑板42进行180
°
间歇转动，摆动测试组件53连接在支撑板42上，用于驱动卡合组件54进行往复摆动，卡合组件54连接在摆动测试组件53上，用于和b极杆44、c极杆45或e极杆46进行电性配合；
42.摆动测试组件53设置有两组，且对称分布在安装板525上，摆动测试组件53包括固定连接在安装板525一侧的顶板532，顶板532与安装板525之间固定连接有立柱533，安装板525与顶板532之间转动连接有相互平行的转轴一534、转轴二535、转轴三536、转轴四537和转轴五5303，转轴一534、转轴二535、转轴三536和转轴四537上分别均固定连接有齿轮二538，其中转轴三536和转轴四537上分别固定连接有不完全齿轮二539和不完全齿轮三5301，转轴五5303上固定连接有与不完全齿轮二539和不完全齿轮三5301均配合的齿轮三5302，安装板525上固定连接有与转轴二535固定连接的电机二531，其中不完全齿轮二539有两个光滑段和两个带轮齿段，不完全齿轮三5301有一个光滑段和一个带轮齿段，卡合组件54包括固定连接在转轴五5303上的l形摆动杆541，摆动杆541的自由端固定连接有抵触头542，抵触头542的两侧开设有移动槽548，抵触头542上连接有与b极杆44、c极杆45或e极杆46电性配合的且向上凸起的抵触片543，抵触片543的两端分别位于两侧的移动槽548内部，且抵触片543的两端均固定连接有弹簧544，弹簧544的自由端与移动槽548的槽壁固定连接，通孔的边缘分别固定连接有连接环一546和连接环二547，其中连接环一546和连接环二547分别与红表笔测量端和黑表笔测量端电性连接，(或者连接环一546和连接环二547分别与黑表笔测量端和红表笔测量端电性连接)图中未画出红黑表笔，但在底座1顶部开设有插孔，用于连接红黑表笔，两侧抵触头542上固定连接有分别与连接环一546和连接环二547电性配合的连接杆545；在使用时，初始状态下，数字万用表2为二极管档，即蜂鸣档，且与红表笔电性连接的一侧抵触片543与b极杆44电性连接，此时另一侧抵触片543处于c极杆45和
e极杆46中间的位置，启动远离b极杆44一侧的电机二531，电机二531通过四个齿轮二538的传递能够带动不完全齿轮二539和不完全齿轮三5301朝着相反的方向转动，进而通过不完全齿轮二539和不完全齿轮三5301与齿轮三5302的配合实现另一侧抵触片543先向一侧偏转60度，再向另一侧偏转120度，最后再回转60
°
，完成pn节正向压降的测量并记录数据，回到初始位置，此时利用间歇转动组件52带动摆动测试组件53进行180度旋转，此时与黑表笔电性连接的与b极杆44电性连接，开启另一侧电机二531，此时，另一侧抵触片543重复上述与c极杆45和e极杆46之间的测量，即pn结负向压降，并记录数据；在抵触片543转动的过程中，会与b极杆44、c极杆45和e极杆46发生接触，此时抵触片543的两端会向两侧延伸，弹簧544被压缩，接触之后，抵触片543又会恢复原状。
43.间歇转动组件52包括固定连接在固定板51远离地面一侧的电机一521，电机一521的输出端固定连接有驱动轴526，驱动轴526的自由端与底座1靠近地面一侧转动连接，驱动轴526上固定连接有不完全齿轮一522，所述不完全齿轮一522具有三个光滑段和三个带轮齿段，三个光滑段和三个带齿轮段实现的功能是：第一光滑段：在红表笔测量b极杆44时，安装板525保持静止，为测量留出时间，方便测量和读数；第一轮齿段：用于带动安装板525转动180度，调节红黑表笔测量b极杆44的位置；第二光滑段：为黑表笔测量b极杆44时，安装板525保持静止，为测量留出时间，方便测量和读数；第二轮齿段：用于将红黑表笔与b极杆44、c极杆45和e极杆46均脱离，为侧三极管3放大倍数做准备；第三光滑段：留出时间为二极管档换成hfe档、放大倍数测量和由hfe档再换回二极管档留出时间；第三轮齿段：用于将与红表笔电性连接的抵触片543重新恢复的初始状态，即重新与b极杆44电性连接，此为一个测量周期；底座1内转动连接有转动轴523，转动轴523的自由端固定连接有安装板525，转动轴523上固定连接有与不完全齿轮一522配合的齿轮一524，安装板525的转动与停止同时不完全齿轮一522和齿轮的配合实现。
44.换挡组件6包括固定连接在驱动轴526上的不完全齿轮四61，不完全齿轮四61有一个光滑段和一个轮齿段，其中轮齿段对应的圆心角度小于不完全齿轮一522的第三光滑段，底座1与固定板51之间转动连接有传动轴一62、传动轴二64、传动三和传动轴四66，传动轴一62和传动轴四66上固定连接有与不完全齿轮四61啮合的齿轮四63，不完全齿轮四61与两个齿轮四63啮合中间有时间间隔，用于稳定数字万用表2的读数，传动轴二64和传动轴三65上固定连接有相互啮合的齿轮五68，两个齿轮五68能够实现两侧齿轮四63之间的动力传动，即相反转动，具体为在不完全齿轮带动传动轴四66上的齿轮四63转动之后，经过间隙段的静止，传动轴一62上的齿轮四63通过两个齿轮五68的传递会带动传动轴四66上的齿轮四63反转，其中传动轴二64上的齿轮五68和传动轴三65上的齿轮五68分别与传动轴四66上的齿轮四63和传动轴一62上的齿轮四63啮合，旋钮21外周固定连接有齿轮圈601，底座1内部转动连接有转筒603，转筒603内部螺纹连接有螺杆604，螺杆604的自由端转动连接有与齿轮圈601啮合的齿条602，转筒603与传动轴四66之间传动连接有皮带轮组件69；在使用时，当非完全齿轮四63的轮齿段与传动轴四66上的齿轮四63啮合时，三极管3正负压降的一个周期测量完成，此时该齿轮四63会通过皮带轮组件69带动转筒603转动，转筒603转动会带动内部螺杆604向上移动，从而带动齿条602与齿轮圈601转动，对旋钮21进行转动，实现档位由二极管档向hfe档的转换，测量三极管3的放大倍数，在测试完之后，此时非完全齿轮四63会与传动轴一62上的齿轮四63啮合，进而通过两个齿轮五68带动传动轴四66上的齿轮四
63反转，即将旋钮21档位恢复到二极管档，整个正负压降和放大倍数的一个周期测量完毕。
45.连接环一546和连接环二547的直径尺寸相同，且相互垂直错开分布；在使用时，将连接环一546和连接环二547垂直分开分布能够方便连接和使用。
46.其中三个连接片401与数字万用表2中的hfe档代女性连接，图中未画出。
47.根据上述实施例，实施例二，
48.齿条602与数字万用表2的表壳滑动连接；在使用时，齿条602与数字万用表2表壳的滑动连接方式能够使得齿条602的移动更加的稳定，便于使用。
49.根据上述实施例，实施例三，
50.抵触片543的截面形状为m形，即弹性抵触片543的顶部有凹陷，此凹陷能够对b极杆44、c极杆45和e极杆46进行限位，提升卡合时候的稳定性。
51.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
52.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种半导体三极管生产用测试工装，包括：中空底座(1)、三极管(3)，所述底座(1)上可拆卸连接有数字万用表(2)和数字万用表(2)上的旋钮(21)；其特征在于：夹持支撑组件(4)，所述夹持支撑组件(4)连接在底座(1)上，用于对三极管(3)进行固定，并将三极管(3)的三个引脚进行延伸转换；周期测试组件(5)，所述周期测试组件(5)连接在底座(1)上并且与夹持支撑组件(4)配合，用于对三极管(3)进行压降检测；换挡组件(6)，所述换挡组件(6)连接在底座(1)上并与周期测试组件(5)配合，用于对旋钮(21)进行转动，测试三极管(3)的放大倍数。2.根据权利要求1所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述夹持支撑组件(4)包括开设在底座(1)远离地面一侧的圆孔(41)，所述圆孔(41)与底座(1)内部连通，所述圆孔(41)中间设置有圆形支撑板(42)，所述支撑板(42)通过支撑杆(43)与底座(1)远离地面一侧固定连接，所述支撑板(42)上固定连接有插座(47)，所述插座(47)上开设有与三极管(3)三个引脚配合的l形插槽(48)，所述插槽(48)的侧壁固定连接有与引脚侧壁配合的弧形板(49)，所述插槽(48)的槽底固定连接有与引脚电性连接的连接片(401)，所述支撑板(42)的边缘等角度固定连接有截面形状均为l形且向外延伸的b极杆(44)、c极杆(45)和e极杆(46)，且所述b极杆(44)、c极杆(45)和e极杆(46)分别与三个连接片(401)电性连接。3.根据权利要求2所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述周期测试组件(5)包括固定连接在底座(1)内部的固定板(51)，卡合组件(54)、摆动测试组件(53)和间歇转动组件(52)，所述间歇转动组件(52)连接在固定板(51)上，用于带动支撑板(42)进行180
°
间歇转动，所述摆动测试组件(53)连接在支撑板(42)上，用于驱动卡合组件(54)进行往复摆动，所述卡合组件(54)连接在摆动测试组件(53)上，用于和b极杆(44)、c极杆(45)或e极杆(46)进行电性配合。4.根据权利要求3所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述间歇转动组件(52)包括固定连接在固定板(51)远离地面一侧的电机一(521)，所述电机一(521)的输出端固定连接有驱动轴(526)，所述驱动轴(526)的自由端与底座(1)靠近地面一侧转动连接，所述驱动轴(526)上固定连接有不完全齿轮一(522)，所述底座(1)内转动连接有转动轴(523)，所述转动轴(523)的自由端固定连接有安装板(525)，所述转动轴(523)上固定连接有与不完全齿轮一(522)配合的齿轮一(524)。5.根据权利要求4所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述摆动测试组件(53)设置有两组，且对称分布在安装板(525)上，所述摆动测试组件(53)包括固定连接在安装板(525)一侧的顶板(532)，所述顶板(532)与安装板(525)之间固定连接有立柱(533)，所述安装板(525)与顶板(532)之间转动连接有相互平行的转轴一(534)、转轴二(535)、转轴三(536)、转轴四(537)和转轴五(5303)，所述转轴一(534)、转轴二(535)、转轴三(536)和转轴四(537)上分别均固定连接有齿轮二(538)，其中转轴三(536)和转轴四(537)上分别固定连接有不完全齿轮二(539)和不完全齿轮三(5301)，所述转轴五(5303)上固定连接有与不完全齿轮二(539)和不完全齿轮三(5301)均配合的齿轮三(5302)，所述安装板(525)上固定连接有与转轴二(535)固定连接的电机二(531)。
6.根据权利要求5所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述卡合组件(54)包括固定连接在转轴五(5303)上的l形摆动杆(541)，所述摆动杆(541)的自由端固定连接有抵触头(542)，所述抵触头(542)的两侧开设有移动槽(548)，所述抵触头(542)上连接有与b极杆(44)、c极杆(45)或e极杆(46)电性配合的且向上凸起的抵触片(543)，所述抵触片(543)的两端分别位于两侧的移动槽(548)内部，且抵触片(543)的两端均固定连接有弹簧(544)，所述弹簧(544)的自由端与移动槽(548)的槽壁固定连接，所述通孔的边缘分别固定连接有连接环一(546)和连接环二(547)，两侧所述抵触头(542)上固定连接有分别与连接环一(546)和连接环二(547)电性配合的连接杆(545)。7.根据权利要求6所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述换挡组件(6)包括固定连接在驱动轴(526)上的不完全齿轮四(61)，所述底座(1)与固定板(51)之间转动连接有传动轴一(62)、传动轴二(64)、传动三和传动轴四(66)，所述传动轴一(62)和传动轴四(66)上固定连接有与不完全齿轮四(61)啮合的齿轮四(63)，所述传动轴二(64)和传动轴三(65)上固定连接有相互啮合的齿轮五(68)，其中传动轴二(64)上的齿轮五(68)和传动轴三(65)上的齿轮五(68)分别与传动轴四(66)上的齿轮四(63)和传动轴一(62)上的齿轮四(63)啮合，所述旋钮(21)外周固定连接有齿轮圈(601)，所述底座(1)内部转动连接有转筒(603)，所述转筒(603)内部螺纹连接有螺杆(604)，所述螺杆(604)的自由端转动连接有与齿轮圈(601)啮合的齿条(602)，所述转筒(603)与传动轴四(66)之间传动连接有皮带轮组件(69)。8.根据权利要求6所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述连接环一(546)和连接环二(547)的直径尺寸相同，且相互垂直错开分布。9.根据权利要求7所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述齿条(602)与数字万用表(2)的表壳滑动连接。10.根据权利要求6所述的一种半导体三极管(3)生产用测试工装，其特征在于：所述抵触片(543)的截面形状为m形。

技术总结
本发明涉及测试工装技术领域，具体公开了一种半导体三极管生产用测试工装，包括：中空底座、三极管和数字万用表；夹持支撑组件连接在底座上，用于对三极管进行固定；周期测试组件连接在底座上并且与夹持支撑组件配合；换挡组件连接在底座上并与周期测试组件配合；本发明在使用时，利用夹持支撑组件对三极管的三个引脚进行固定，并且对三个引脚进行电性延伸，便于测量的同时，能够对引脚进行保护，利用周期测试组件能够连续的对多组三极管的正压降和负压降进行测量，提升了测量的速度和稳定性；在单独的三极管正负压降测量完毕之后，利用换挡组件能够对数字万用表的二极管档和HFE档进行切换，从而实现对三极管放大倍数的测量。量。量。


技术研发人员：张佰乐 张博
受保护的技术使用者：深圳市惟禾自动化设备有限公司
技术研发日：2023.05.04
技术公布日：2023/8/6