相控阵空中测试的制作方法

相控阵空中测试
1.相关申请本公开要求2020年12月2日提交的、名称为“system and method of phased array over the air testing using a multichannel oscilloscope”的美国临时专利申请no.63/120,689的权益，该美国临时专利申请以其全文并入本文。
技术领域
2.本公开涉及使用相控阵天线的测试设备，更具体地涉及使用具有参考天线阵列的测试装置。


背景技术：

3.毫米波(mm波)频率信号的使用持续增长。这些频率处的信号具有高路径损耗，从而导致相控阵天线(也被称作波束赋形器)的使用，以将来自发射机的em(电磁)能量导向到在其处预期接收信号的特定空间点。信号可以是射频的(rf)或光学的。波束赋形的过程常常涉及需要测试和调谐的专有方法。将mm波相控阵天线集成到波束赋形网络中以避免线缆损耗使线缆测量变得不可能。这已经使空中测量这些波束赋形器/天线网络成为必需。
4.典型地，在连接到测试和测量设备(诸如，网络分析器或谱分析器)的参考天线处指向波束赋形器ic(集成电路)及其集成相控阵天线。当前过程调整相控阵的元件天线中的每一个的相位和幅度，使得信号全部同时到达。这要求测试中设备(dut)、ic和相控阵旋转180度，以允许每当波束方向改变时都在旋转期间测量波束方向图。这耗费大量时间，且如果dut未被精确旋转则可能导致一些不准确。
5.所公开的装置和方法的实施例解决了现有技术中的缺点。
附图说明
6.图1示出了包括参考天线阵列的测试和测量系统的实施例。
7.图2-3示出了对具有参考天线阵列的测试中设备进行测试的实施例的流程图。
8.图4示出了由在单个参考天线处指向测试中设备的相控阵引起的波形的示例。
9.图5示出了用于确定参考天线阵列的中心点的波形的示例。
10.图6示出了由在参考天线阵列的中心点处指向相控阵引起的波形的示例。
11.图7示出了在一个示例中用于确定针对相控阵的天线的相位偏移的图。
12.图8示出了由在不移动测试中设备的情况下被调谐到第一参考天线的测试中设备的相控阵引起的波形的示例。
13.图9示出了由在不移动测试中设备的情况下被调谐到第二参考天线的测试中设备的相控阵引起的波形的示例。
14.图10示出了由改变测试中设备的相控阵中的天线上的幅度以找到干扰信号比引起的波形的示例。
15.图11示出了使用当前单个瞄准天线与使用参考天线阵列的比较的曲线图。
具体实施方式
16.该讨论使用如这里定义的若干术语。术语“测试和测量设备”意指用于测试诸如集成电路、电路板等之类的设备的任何件装备，所有该设备这里将被称作“测试中设备(dut)”。装备可以包括且不限于：示波器，包括多通道和混合信号(mso)示波器；包括任意波形的装备或波形发生器；分析器，包括谱、参数、网络、调制分析器；以及万用表。
17.术语“相控阵”意指连接到dut的天线的相控阵，其还可以被称作“具有”相控阵的测试中设备。术语“参考阵列”和“参考天线”指代连接测试和测量设备的天线，其从dut上的相控阵接收信号。相控阵可以发射rf信号或光学。
18.当前，测试毫米波技术通过下述操作而发生：使用相控阵以在单个参考天线处瞄准由波束赋形器dut赋形的波束，且然后旋转dut 180度以测量波束方向图。要测试的波束方向上的每个改变导致必须旋转dut 180度，因此，随着波束改变方向，它可以被调谐和测量。
19.相比而言，这里的实施例使用在dut周围利用相等间距图案化的多个参考天线。取代旋转dut，随着波束改变方向，系统调谐它并测量它。一般地，调谐过程将发生两次，一次对阵列的中心点右边并且一次对阵列的中心点左边，并且波束赋形器相控阵被调谐到的位置取决于参考天线的布置。调谐发生到的位置取决于是否存在瞄准天线而变化。
20.如果存在瞄准天线，则波束赋形器相控阵被调谐到的位置位于瞄准天线与两侧中的任一侧上的第一天线之间的半途。例如，如果两侧中的任一侧上的天线以20度角从瞄准天线偏移，则位置将是从瞄准线起10度。这种配置的示例可以具有阵列中的三个天线，在瞄准线处有一个并且在每一侧上对称地有一个。在每一侧上可以存在任何数目的天线，仅受测试和测量设备上的通道的数目限制。例如，对于8通道设备，天线阵列可以具有三个、五个或七个天线，如果要维持瞄准线的两侧中的任一侧上的对称性的话。可以使用多个测试和测量设备以提供多于8个输入通道，且因而支持多于8个参考天线。可以对多个测试和测量设备进行同步以提供所测量的信号的时间对准。
21.对于没有瞄准天线的阵列(诸如，两个、四个、六个或八个天线)，相控阵将调谐到与处于两个中心天线之间的中心点最接近的每一侧上的天线。在两种情况中的任一种情况下，波束赋形器都将被仅稍微调谐到阵列的每一侧。这在这里可以被称作“部分调谐”。如果它被过度调谐，则随着方向图将改变太多，该过程不会工作。这允许由要测试和调谐的波束赋形dut实现的波束赋形过程。
22.图1示出了用于测试由波束赋形器dut生成的波束赋形算法的测试和测量系统的实施例。dut 10具有天线12的相控阵，且可以连接到可在需要时与dut和阵列交互的一个或多个测试和测量设备。应当注意，测试和测量设备14可以包括计算机，并且尽管未示出，但测试和测量设备14将典型地包括具有与测试和测量设备20相同或相似的部件的设备。测试和测量设备14可以允许包括发射机和接收机两者的dut被测试，且因而是可选的。
23.测试和测量设备20具有参考天线阵列，诸如连接到输入通道22的天线16。所示出的实施例具有8个参考天线，每个参考天线连接到测试和测量设备20上的其自身的通道。可以使用参考阵列中的其他数目的天线，图1仅仅提供了示例。每个参考天线将典型地连接到测试和测量设备上的一个输入通道，因此，参考天线的数目的限制变为仅受可用通道的数目限制。
24.除通道22外，测试和测量设备20还将一般具有：一个或多个处理器，诸如24，被配置成执行将使处理器执行某些任务的代码；存储器26，用于存储由天线阵列的操作引起的代码和数据。设备20将包括至少一个用户接口28，其可以包括触摸屏、显示器和用户控制装置，诸如旋钮和按钮。
25.在理解了这里讨论的技术适用于均可连接到测试和测量设备(诸如，示波器)的不同输入通道的任何数目的参考天线的情况下，下面的讨论将使用两个喇叭天线的参考天线阵列而执行的实验记入文档。将连同实验结果一起讨论用于测试波束赋形器dut的一般实施例。图2示出了用于测试波束赋形器dut的方法的实施例。应当注意，在系统和方法中，dut执行过程的一部分。dut将包括板上的波束赋形器ic或波束赋形器系统，且可以在该方法之前被配置成提供下面讨论的各种信号，或可以在测试期间处于另一设备的控制之下。dut可以经历使用作为系统的一部分且图1中所示的连接到它的测试和测量设备进行的配置、编程和控制。
26.在实验中，4x相控阵天线被连接到波束赋形器ic和上变频器。如上所讨论，可以使用相控阵中的更多或更少天线，这仅仅提供了示例。任意波形发生器(awg)生成了被上变频到25ghz 5g信号的2ghz if(中频)信号。参考天线被连接到示波器的不同输入通道。
27.在该实验中，每个喇叭参考天线被连接到示波器上的其自身通道，且下变频回到2ghz。参考天线位于距相控阵约45英寸，且在它们之间具有36英寸。最初，不论参考天线的数目如何，都需要如图2中所示在30处将波束赋形器dut校准到参考天线。在初始校准之后，可能的是，可以使用相同相控阵来测试另外的dut，因此，校准可能不需要每次发生。在实验中，在具有波束赋形dut的参考天线之一处直接指向了相控阵，从而将相控阵中的所有天线设置成零相位。图4示出了结果。
28.显示器将对所有结果来说公共。顶部信号50示出了针对第一参考天线的谱视图，第二信号52示出了第二参考天线的谱视图。第三信号54示出了第一参考天线的波形视图，并且第四信号56示出了第二参考天线的波形视图。该结果可以用于通过在过程中稍后查看第一参考天线处的结果来验证校准。
29.由于实施例的方法采用多个天线，因此下一步骤可以涉及：如上所讨论，取决于参考阵列的配置，定位参考阵列的中心点。如果在瞄准线处存在天线，则可以仅针对用于校准的最大幅度而定位天线或dut。如果在瞄准线处存在天线，则为了维持对称性，偶数个参考天线将驻留在瞄准天线的两侧中的任一侧上。对于8通道测试和测量设备，其可以具有瞄准天线和处于它两侧中的任一侧上的三个参考天线。如果期望使用8通道设备的所有8个通道，则可以在没有瞄准天线的情况下在中心点的两侧中的任一侧上对四个天线进行空间排列。在没有瞄准天线的情况下，校准将如下在与中心点最接近的两个天线上具有相等幅度和相位的情况下发生。
30.dut然后发射校准信号，并且相控阵被导向直到信号相位和幅度在每个参考天线处示出相同。在实验中，正弦波被使用直到在两个参考天线处接收的信号匹配于相位和幅度，如图5中所示。图6示出了当dut发送5g信号时的所得信号。
31.在测试波束赋形器之前，需要相位调整以将波束从中心点移动到参考天线。在图7中示出了示例。对于该特定实验，针对相对于阵列平面的平面波前的到达角度等于大致18度。天线1和2之间的三角形的斜边是230密耳(25ghz处的1/2波长)。从此，直角三角形的底
等于71密耳或约55.6度。在实验中使用的波束赋形器以约5.6度增量进行调整，因此，相位设置10等于约56度。天线4具有最多延迟，因此，其相位被设置成0。针对天线3的相位延迟被设置成10，针对天线2的相位延迟被设置成20，并且针对天线1的相位延迟被设置成30。
32.在实验中，使用了模拟设备波束赋形器ic：admv4801。它是利用上面针对右参考天线的以上相位偏移来编程的。左参考天线将具有相同值，但从天线1换位到天线4。在相控阵如上面被校准那样被设置就位的情况下，波束赋形器被调谐到左喇叭天线，具有图8中所示的结果。将图8与图4中的结果进行比较，可以看出，结果与被调谐但未从其位置移动的相控阵匹配。图9示出了在波束赋形器被调谐到右喇叭之后的结果。再一次，这些结果从调谐相控阵而出现，而不是旋转它以移动通过各种角度。
33.返回到图2，重复32处的调谐、34处的接收和然后36处的测量，使得波束赋形器已经在38处被调谐到参考天线阵列的全部两侧。图3示出了与在dut处测试接收相反的该过程实质上是什么。该过程中的相位调整被应用以在40处调谐参考天线，并且然后，参考天线在42处将信号发射到相控阵/dut。这可以包括：测量在波束赋形器处接收的信号以测试dut接收能力。
34.在实验中，针对相控阵天线的evm(误差向量量值)等于约1.8％，evm是无线系统有多准确地发射其星座图内的符号的度量。
35.除波束赋形外，mimo(多入多出)的另一方面是通过调整通道的幅度来在干扰信号的方向上创建空值的能力。在实验中，右参考天线被视为干扰源。天线1和4上的发射幅度减小。所得信号从参考轨迹到通道4轨迹减小，且显现为减小图10中所示的约6db。然后，这将是信号干扰比。底部轨迹60是所保存的参考轨迹。随着天线上的幅度减小，轨迹62从轨迹60的内容改变到图中的内容62。轨迹64连接到参考天线。该过程不想要轨迹64非常多地改变幅度。然而，主瓣中的在64中损失的少量幅度使旁瓣减小多得多。这允许当轨迹62达到信号干扰比的该幅度时作出确定。
36.以该方式，在mm波频率范围中操作的dut可以经历测试，而不必针对每个波束而移动dut。调谐允许dut保持在相同地方并且针对每个参考天线而调谐相控阵。
37.图11示出了在曲线70中将dut调谐到单个天线与在曲线72处部分地调谐到多个天线之间的比较。曲线74示出了dut被旋转时的结果。这演示了：在不移动dut的情况下使用多个参考天线的技术工作得非常好。
38.本公开的方面可以在特别创建的硬件上、在固件、数字信号处理器上或者在包括根据所编程的指令进行操作的处理器的特殊编程的通用计算机上操作。如本文使用的术语控制器或处理器意在包括微处理器、微型计算机、专用集成电路(asic)和专用硬件控制器。本公开的一个或多个方面可以体现在由一个或多个计算机(包括监视模块)或其他设备执行的计算机可使用数据和计算机可执行指令中，诸如一个或多个程序模块中。一般地，程序模块包括在由计算机或其他设备中的处理器执行时执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、部件、数据结构等。计算机可执行指令可以被存储在非瞬变计算机可读介质上，该非瞬变计算机可读介质诸如是硬盘、光盘、可移除储存介质、固态存储器、随机存取存储器(ram)等。如本领域技术人员应当领会的那样，可以如在各种方面中期望的那样组合或分发程序模块的功能性。另外，功能性可以整个或部分地以固件或硬件等同物(诸如集成电路、fpga等等)体现。可以使用特定数据结构以更有效地实现本公开的一个或多个方
面，并且这种数据结构是在本文描述的计算机可执行指令和计算机可使用数据的范围内想到的。
39.在一些情况下，所公开的方面可以以硬件、固件、软件或其任何组合而实现。所公开的方面还可以被实现为由一个或多个非瞬变计算机可读介质携带或在一个或多个非瞬变计算机可读介质上存储的指令，该指令可以由一个或多个处理器读取和执行。这种指令可以被称作计算机程序产品。如本文所讨论，计算机可读介质意指可由计算设备访问的任何介质。作为示例而非限制，计算机可读介质可以包括计算机储存介质和通信介质。
40.计算机储存介质意指可以用于存储计算机可读信息的任何介质。作为示例而非限制，计算机储存介质可以包括ram、rom、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、闪速存储器或其他存储器技术、致密盘只读存储器(cd-rom)、数字视频盘(dvd)、或者其他光盘储存器、磁带盒、磁带、磁盘储存器或其他磁储存设备、以及在任何技术中实现的任何其他易失性或非易失性、可移除或不可移除介质。计算机储存介质排除了信号本身和瞬变形式的信号传输。
41.通信介质意指可以用于计算机可读信息的通信的任何介质。作为示例而非限制，通信介质可以包括同轴线缆、光纤电缆、空气、或者适于电、光、射频(rf)、红外、声或其他类型的信号的通信的任何其他介质。
42.另外，该所撰写的描述提到了特定特征。应当理解，本说明书中的公开内容包括那些特定特征的所有可能组合。例如，在特定方面的上下文中公开特定特征的情况下，还可以尽可能地在其他方面的上下文中使用该特征。
43.而且，当在本技术中提到具有两个或更多个所定义的步骤或操作的方法时，可以按任何次序或者同时实施所定义的步骤或操作，除非上下文排除了那些可能性。
44.示例下面提供了所公开的技术的说明性示例。技术的实施例可以包括下面描述的示例中的一个或多个和任何组合。
45.示例1是一种测试和测量系统，包括：测试和测量设备，具有输入通道；连接到所述输入通道的天线的参考阵列；所述测试和测量设备中的一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：从在所述参考阵列的第一侧处导向的连接到测试中设备的天线的相控阵接收第一信号；在不移动所述测试中设备、所述相控阵或所述参考阵列的情况下，从在所述参考阵列的第二侧处导向的连接到所述测试中设备的天线的相控阵接收第二信号。
46.示例2是示例1的测试和测量系统，其中所述测试和测量设备从所述参考阵列的第一侧和所述参考阵列的第二侧处的相控阵接收校准信号，直到在每一侧处接收的信号匹配于另一侧。
47.示例3是示例1或2中任一项的测试和测量系统，其中所述测试和测量设备在所述参考阵列中的瞄准天线处进行接收，直到所述校准信号的幅度被最大化。
48.示例4是示例1至3中任一项的测试和测量系统，其中所述参考阵列不具有瞄准天线，并且所述测试中设备被配置成：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；确定所述参考阵列的中心点；以及在参考天线阵列的中心点处指向所述相控阵。
49.示例5是示例1至4中任一项的测试和测量系统，其中所述测试中设备进一步被配
置成：减小相控阵天线中的一个或多个上的信号的幅度，直到主要波束开始减小；以及设置与所述幅度减小的量相等的信号干扰比。
50.示例6是示例1至5中任一项的测试和测量系统，其中所述测试和测量系统进一步包括连接到所述测试中设备的第二测试和测量设备。
51.示例7是示例6的测试和测量系统，其中所述第二测试和测量设备包括任意波形发生器。
52.示例8是示例1至8中任一项的测试和测量系统，其中所述相控阵发射作为5g rf或光学信号之一的em信号。
53.示例9是一种使用天线的相控阵对测试中设备进行测试的方法，包括：通过调整针对所述相控阵中的每个天线的相位，将所述相控阵调谐到天线的参考阵列的第一侧处的第一位置；在所述第一位置处从所述测试中设备接收第一信号；将所述相控阵调谐到天线的参考阵列的第二侧处的第二位置；以及在所述第二位置处从所述测试中设备接收第二信号。
54.示例10是示例9的方法，其中所述参考阵列不具有瞄准天线，并且所述第一位置包括与所述参考阵列的中心点最接近的所述参考阵列的第一侧上的天线的位置，并且所述第二位置包括与所述中心点最接近的所述参考阵列的第二侧上的天线的位置。
55.示例11是示例9或示例10的方法，其中所述第一位置包括瞄准天线与所述参考阵列的第一侧上与所述瞄准天线最接近的天线之间半途的位置，并且所述第二位置包括所述瞄准天线与所述参考阵列的第二侧上与所述瞄准天线最接近的天线之间半途的位置。
56.示例12是示例9至11中任一项的方法，进一步包括：利用相位调整对所述参考阵列中的每个天线进行调谐；将来自所述参考阵列的信号发射到所述相控阵；以及在dut处接收到所述信号时测量它。
57.示例13是示例9至12中任一项的方法，进一步包括通过下述操作来校准所述相控阵：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；确定所述参考阵列的中心点，所述参考阵列不具有瞄准天线；以及在所述参考阵列的中心点处指向所述相控阵。
58.示例14是示例13的方法，其中确定参考天线阵列的中心点包括：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；调整所述相控阵的位置，直到正弦信号的相位和幅度在所述参考阵列中的与所述参考阵列的每一侧上的中心点最接近的天线处相同。
59.示例15是示例9至14中任一项的方法，进一步包括通过下述操作来验证校准：在校准期间直接在指定参考天线处指向所述相控阵；测量在所述指定参考天线处接收的信号，作为校准信号；以及在测试期间将所述校准信号与在指定天线处接收的信号进行比较。
60.示例16是示例9至14中任一项的方法，进一步包括确定针对所述测试中设备的最优信号干扰比，包括：减小所述相控阵天线中的一个或多个上的信号的幅度，直到主要波束开始减小；以及设置与所述幅度减小的量相等的信号干扰比。
61.示例17是一种测试和测量设备，包括：至少两个输入通道；至少两个参考天线的阵列，每个天线连接到所述输入通道之一；以及所述测试和测量设备中的一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：从所述参考天线中的一个或多个接收输入信号；以及测量来自所述参考天线中的一个或多个的输入信号。
62.示例18是示例17的测试和测量设备，进一步包括显示器，其中所述代码进一步使所述一个或多个处理器在所述显示器上显示来自所述参考天线中的一个或多个的数据。
63.示例19是示例17或示例18中任一项的测试和测量设备，其中参考天线的阵列包括瞄准天线和所述瞄准天线的两侧中的任一侧上的相等数目的天线。
64.示例20是示例17至19中任一项的测试和测量设备，其中参考天线的阵列包括所述阵列的中心点的两侧中的任一侧上的相等数目的天线。
65.包括权利要求书、摘要和附图的说明书中公开的所有特征以及所公开的任何方法或过程中的所有步骤可以以除其中这种特征和/或步骤中的至少一些互斥的组合外的任何组合而组合。包括权利要求书、摘要和附图的说明书中公开的每个特征可以被服务于相同、等同或类似目的的可替换特征替代，除非以其他方式明确声明。
66.尽管已经出于图示的目的图示和描述了具体实施例，但应当理解，在不脱离本公开的精神和范围的情况下可以作出各种修改。相应地，本发明不应当受限制，除了受所附权利要求书限制。

技术特征：
1.一种测试和测量系统，包括：测试和测量设备，具有输入通道；连接到所述输入通道的天线的参考阵列；所述测试和测量设备中的一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：从在所述参考阵列的第一侧处导向的连接到测试中设备的天线的相控阵接收第一信号；在不移动所述测试中设备、所述相控阵或所述参考阵列的情况下，从在所述参考阵列的第二侧处导向的连接到所述测试中设备的天线的相控阵接收第二信号。2.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量设备从所述参考阵列的第一侧和所述参考阵列的第二侧处的相控阵接收校准信号，直到在每一侧处接收的信号匹配于另一侧。3.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量设备在所述参考阵列中的瞄准天线处接收校准信号，直到所述校准信号的幅度被最大化。4.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述参考阵列不具有瞄准天线，并且所述测试中设备被配置成：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；确定所述参考阵列的中心点；以及在所述参考阵列的中心点处指向所述相控阵。5.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述测试中设备进一步被配置成：减小相控阵天线中的一个或多个上的信号的幅度，直到主要波束开始减小；以及设置与所述幅度减小的量相等的信号干扰比。6.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量系统进一步包括连接到所述测试中设备的第二测试和测量设备。7.如权利要求6所述的测试和测量系统，其中所述第二测试和测量设备包括任意波形发生器。8.如权利要求1所述的测试和测量系统，其中所述相控阵发射作为5g rf或光学信号之一的em信号。9.一种使用天线的相控阵对测试中设备进行测试的方法，包括：通过调整针对所述相控阵中的每个天线的相位，将所述相控阵调谐到天线的参考阵列的第一侧处的第一位置；在所述第一位置处从所述测试中设备接收第一信号；将所述相控阵调谐到天线的参考阵列的第二侧处的第二位置；以及在所述第二位置处从所述测试中设备接收第二信号。10.如权利要求9所述的方法，其中所述参考阵列不具有瞄准天线，并且所述第一位置包括与所述参考阵列的中心点最接近的所述参考阵列的第一侧上的天线的位置，并且所述第二位置包括与所述中心点最接近的所述参考阵列的第二侧上的天线的位置。11.如权利要求9所述的方法，其中所述第一位置包括瞄准天线与所述参考阵列的第一侧上与所述瞄准天线最接近的天线之间半途的位置，并且所述第二位置包括所述瞄准天线
与所述参考阵列的第二侧上与所述瞄准天线最接近的天线之间半途的位置。12.如权利要求9所述的方法，进一步包括：利用相位调整对所述参考阵列中的每个天线进行调谐；将来自所述参考阵列的信号发射到所述相控阵；以及在dut处接收到所述信号时测量它。13.如权利要求9所述的方法，进一步包括通过下述操作来校准所述相控阵：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；确定所述参考阵列的中心点，所述参考阵列不具有瞄准天线；以及在所述参考阵列的中心点处指向所述相控阵。14.如权利要求13所述的方法，其中确定参考天线阵列的中心点包括：将所述相控阵中的每个天线设置成零相位；调整所述相控阵的位置，直到正弦信号的相位和幅度在所述参考阵列中的与所述参考阵列的每一侧上的中心点最接近的天线处相同。15.如权利要求9所述的方法，进一步包括通过下述操作来验证校准：在校准期间直接在指定参考天线处指向所述相控阵；测量在所述指定参考天线处接收的信号，作为校准信号；以及在测试期间将所述校准信号与在指定天线处接收的信号进行比较。16.如权利要求9所述的方法，进一步包括确定针对所述测试中设备的最优信号干扰比，包括：减小所述相控阵天线中的一个或多个上的信号的幅度，直到主要波束开始减小；以及设置与所述幅度减小的量相等的信号干扰比。17.一种测试和测量设备，包括：至少两个输入通道；至少两个参考天线的阵列，每个天线连接到所述输入通道之一；以及所述测试和测量设备中的一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：从所述参考天线中的一个或多个接收输入信号；以及测量来自所述参考天线中的一个或多个的输入信号。18.如权利要求17所述的测试和测量设备，进一步包括显示器，其中所述代码进一步使所述一个或多个处理器在所述显示器上显示来自所述参考天线中的一个或多个的数据。19.如权利要求17所述的测试和测量设备，其中参考天线的阵列包括瞄准天线和所述瞄准天线的两侧中的任一侧上的相等数目的天线。20.如权利要求17所述的测试和测量设备，其中参考天线的阵列包括所述阵列的中心点的两侧中的任一侧上的相等数目的天线。

技术总结
一种测试和测量系统包括：测试和测量设备，具有输入通道；连接到所述输入通道的天线的参考阵列；所述测试和测量设备中的一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：从在所述参考阵列的第一侧处导向的连接到测试中设备的天线的相控阵接收第一信号；在不移动所述测试中设备、所述相控阵或所述参考阵列的情况下，从在所述参考阵列的第二侧处导向的连接到所述测试中设备的天线的相控阵接收第二信号。备的天线的相控阵接收第二信号。备的天线的相控阵接收第二信号。


技术研发人员：D
受保护的技术使用者：特克特朗尼克公司
技术研发日：2021.12.02
技术公布日：2023/8/5