用于检测电子元件的取料设备及其方法与流程

1.本技术关于一种检测设备技术领域，尤其涉及一种用于检测电子元件的取料设备及其方法。


背景技术：

2.随着电子零组件等相关产业的蓬勃发展，各厂家除了往“轻、薄、短、小”的开发方向钻研外，也必须达到大量且快速的生产方式来提升竞争力，故近年来自动化生产和检测已逐步成为业界的发展趋势，通过投入自动化设备来提升生产和检测速度，进而能够大幅度的降低人力成本。
3.现有用于检测电子元件的取料设备，主要包括转盘结构及取料装置，各电子元件是依序摆放在转盘结构上，取料装置则对各电子元件汲取后，再同时移送至各检测站进行检测，在检测的过程中转盘结构受到取料装置的限制，只能在原位置等待，待各电子元件完成检测工作后，转盘结构再次对批量的电子元件作移送，如此的方式使得检测的效率相当的低下，而不符合经济效益。
4.有鉴于此，本发明人遂针对上述现有技术的缺陷，特潜心研究并配合学理的运用，尽力解决上述的技术问题，即成为本技术人改良的目标。


技术实现要素：

5.本技术的一个目的，在于提供一种用于检测电子元件的取料设备及其方法，其可缩短整体的作业时间，进而提升检测效率。
6.为了达成上述目的，本技术提供一种用于检测电子元件的取料设备，包括转盘结构及取料装置，该转盘结构包括驱动器及连接该驱动器并受其驱动而产生旋转的盘体，在该盘体设有供所述各电子元件置放的多个承载位，各该承载位呈环状且间隔配置；该取料装置设置在该转盘结构的一侧，该取料装置包括多个取料机构，各该取料机构沿着各该承载位配设，每一个取料机构包括基座及可移动性地连接该基座的汲取构件，每一个汲取构件设有让位空间；其中该汲取构件在汲取所述电子元件且移动后，该盘体通过各该让位空间而能够持续性地旋转。
7.在一种实施方式中，该汲取构件包括滑动板及汲取臂，该滑动板连接该基座，该汲取臂则设置在该滑动板上，该汲取臂包括臂板及自该臂板延伸的吸头，该臂板连接该滑动板并跟随移动，该让位空间则形成在该吸头、该臂板和该滑动板所围设的区域中。
8.在一种实施方式中，该吸头具有吸嘴，该臂板和该吸头内部则设有连通该吸嘴的吸气通道。
9.在一种实施方式中，该转盘结构还包括连接组件，该连接组件连接在该驱动器和该盘体之间，该盘体通过该驱动器带动该连接组件而产生旋转。
10.在一种实施方式中，该盘体为圆形盘体，各承载位设置在该圆形盘体的外周缘处。
11.在一种实施方式中，该盘体在对应于每一个承载位的角端设有连通该承载位的负
压通道。
12.为了达成上述目的，本技术提供一种用于检测电子元件的取料方法，其方法步骤包括:
13.a)提供转盘结构、取料装置及多个检测站，该转盘结构包括盘体，该盘体设有多个承载位，该取料装置包括多个汲取构件，每一个汲取构件设有让位空间；
14.b)将多个电子元件分别置入各承载位中，其中的至少一个承载位不摆放该电子元件而形成空位；
15.c)以各汲取构件将各电子元件从各承载位中汲取，并且朝着各检测站的方向做移送；
16.d)在各检测站对各电子元件做检测时，该盘体通过各让位空间而能够持续性地旋转；以及
17.e)在各检测站对各电子元件完成检测后，各汲取构件将各电子元件移回次顺位的各承载位中。
18.在一种实施方式中，各汲取构件的数量小于各承载位的数量。
19.在一种实施方式中，各汲取构件的数量为各承载位的数量的二分之一、三分之一或四分之一。
20.在一种实施方式中，各汲取构件的数量等于各检测站的数量。
21.本技术还具有以下有益效果，其可以有效地避免各汲取构件与盘体发生碰撞并造成损坏等不良情况。
附图说明
22.图1是本技术用于检测电子元件的取料设备与各检测站组合外观图。
23.图2是本技术用于检测电子元件的取料设备与检测站局部放大图。
24.图3是图2的虚线圈选区域放大图。
25.图4是本技术的取料机构局部放大图。
26.图5是本技术的盘体剖视图。
27.图6是图5的虚线圈选区域放大图。
28.图7是本技术的盘体、取料机构与检测站组合剖视图。
29.图8是本技术的盘体、取料机构与检测站使用状态剖视图(一)。
30.图9是本技术的盘体、取料机构与检测站使用状态剖视图(二)。
31.图10是本技术的转盘结构与各检测站组合俯视图。
32.附图标记说明：
33.10：转盘结构；
34.11：驱动器；
35.12：盘体；
36.121：承载位；
37.122：负压通道；
38.13：连接组件；
39.20：取料装置；
40.21：取料机构；
41.211：基座；
42.212：汲取构件；
43.2121：滑动板；
44.2122：汲取臂；
45.2123：臂板；
46.2124：吸头；
47.2125：吸嘴；
48.2126：吸气通道；
49.213：让位空间；
50.7：检测站；
51.8：电子元件；
52.a～e：步骤。
具体实施方式
53.有关本技术的详细说明及技术内容，配合附图说明如下，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本技术加以限制。
54.请参阅图1至图6所示，本技术提供一种用于检测电子元件的取料设备，其主要包括转盘结构10及取料装置20，在转盘结构10的下方设有呈环状配置的多个(包括至少两个)检测站7，各检测站7是用以分别对电子元件8作检测。
55.请先参阅图1，转盘结构10主要包括驱动器11、盘体12及连接组件13，连接组件13连接在驱动器11和盘体12之间，盘体12是通过驱动器11带动连接组件13而产生旋转，本实施例的盘体12为圆形盘体，在其外周缘设有多个承载位121，各承载位121是间隔配置，且每一个承载位121分别供一个电子元件8置放。
56.请续参阅图5和图6，盘体12在对应于每一个承载位121的角端设有连通承载位121的负压通道122，本实施例的承载位121大致呈十字状，但不以此种形状作为限制，其亦可以为其它各种不同的几何形状。所述电子元件8在被置放在承载位121内时，是通过负压通道122的汲取而定位电子元件8。
57.请续参阅图2至图4和图7，取料装置20设置在转盘结构10的上侧，且其主要包括多个取料机构21，各取料机构21是环绕在连接组件13的外周围，且对应于各承载位121配置，每一个取料机构21包括基座211及汲取构件212，汲取构件212是可移动性地连接基座211，在每一个汲取构件212设有让位空间213。同理，为了因应实际的使用需求，取料装置20也可以是设置在转盘结构10的下侧。
58.汲取构件212主要包括滑动板2121及汲取臂2122，滑动板2121连接基座211，汲取臂2122则固定在滑动板2121上，汲取臂2122主要包括臂板2123及吸头2124，臂板2123连接滑动板2121，前述让位空间213则形成在吸头2124、臂板2123和滑动板2121所围设的区域中。在吸头2124的端部具有吸嘴2125，臂板2123和吸头2124内部则设有连通吸嘴2125的吸气通道2126。
59.请参阅图7至图9所示，操作时，先将批量的各电子元件8分别对应于各承载位121
做置放，通过各负压通道122对各电子元件8汲取而定位在各承载位121中，其中盘体12受到驱动器11的驱动而旋转，在各承载位121旋移至各汲取构件212的正下方位置后，通过各汲取构件212以其吸嘴2125将各电子元件8汲取，并且朝着各检测站7的方向做移送，利用各检测站7对各电子元件8做检测，在各汲取构件212向下移动的过程中，各让位空间213位于盘体12的边缘外侧(如图8所示)，因此与盘体12不会产生干涉情况，从而使盘体12能够持续性地旋转；在各检测站7对各电子元件8完成检测工作后，各汲取构件212将各电子元件8移回次顺位的各承载位121中。
60.请参阅图10所示，本技术还提供一种用于检测电子元件的取料方法，其方法步骤包括:
61.a)提供转盘结构10、取料装置20及多个检测站7，转盘结构10包括盘体12，盘体12设有多个承载位121，取料装置20包括多个汲取构件212，每一个汲取构件212设有让位空间213；
62.b)将多个电子元件8分别置入各承载位121中，其中的至少一个承载位121不摆放电子元件8而形成空位；
63.c)以各汲取构件212将各电子元件8从各承载位121中汲取，并且朝着各检测站7的方向做移送；
64.d)在各检测站7对各电子元件8做检测时，盘体12通过各让位空间213而能够持续性地旋转；以及
65.e)在各检测站7对各电子元件8完成检测后，各汲取构件212是将各电子元件8移回次顺位的各承载位121中；其中“次顺位的各承载位121”即不摆回原来移出时的承载位121，可以是前述的空位或电子元件8被移出后的承载位121。
66.在一实施例中，若任意两个相邻的检测站7之间形成有承载位121的一格空位，承载位121也以空一格方式承接电子元件8；如此在各电子元件8完成检测后，可通过各汲取构件212将各电子元件8移回空的各承载位121中。
67.在一实施例中，若任意两个相邻的检测站7之间形成有承载位121的两格空位，(1)承载位121也以空两格方式承接电子元件8；(2)承载位121连续两格承接电子元件8，下一格承载位121不摆放电子元件8而形成空位。
68.在一实施例中，若任意两个相邻的检测站7之间形成有承载位121的三格空位，(1)承载位121也以空一格方式承接电子元件8；(2)承载位121也以空三格方式承接电子元件8；(3)承载位121连续三格承接电子元件8，下一格承载位121不摆放电子元件8而形成空位。
69.据上可得，若检测站7空缺n格，(1)承载位121连续(n+1)格，至少一格没有摆放待检测的电子元件8而形成空位；其中n为大于或等于1的整数。
70.在一实施例中，各汲取构件212的数量小于各承载位121的数量。其中各汲取构件212的数量为各承载位121的数量的二分之一、三分之一或四分之一。各汲取构件212的数量等于各检测站7的数量。
71.综上所述，本技术用于检测电子元件的取料设备及其方法，确可达到预期的使用目的，而解决现有技术的缺陷，又因极具新颖性及创造性，完全符合发明专利申请要求，现依专利法提出申请，敬请审查并授权，以保障申请人的权利。

技术特征：
1.一种用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，包括:转盘结构，包括驱动器及连接所述驱动器并受其驱动而产生旋转的盘体，在所述盘体设有供所述各电子元件置放的多个承载位，各所述承载位间隔配置；以及取料装置，设置在所述转盘结构的一侧，所述取料装置包括多个取料机构，各所述取料机构沿着各所述承载位配设，每一个所述取料机构包括基座及可移动性地连接所述基座的汲取构件，每一个所述汲取构件设有让位空间；其中所述汲取构件在汲取所述电子元件且移动后，所述盘体通过各所述让位空间而能够持续性地旋转。2.如权利要求1所述的用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，所述汲取构件包括滑动板及汲取臂，所述滑动板连接所述基座，所述汲取臂则设置在所述滑动板上，所述汲取臂包括臂板及自所述臂板延伸的吸头，所述臂板连接所述滑动板并跟随移动，所述让位空间则形成在所述吸头、所述臂板和所述滑动板所围设的区域中。3.如权利要求2所述的用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，所述吸头具有吸嘴，所述臂板和所述吸头内部则设有连通所述吸嘴的吸气通道。4.如权利要求1所述的用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，所述转盘结构还包括连接组件，所述连接组件连接在所述驱动器和所述盘体之间，所述盘体通过所述驱动器带动所述连接组件而产生旋转。5.如权利要求1所述的用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，所述盘体为圆形盘体，各所述承载位设置在所述圆形盘体的外周缘处。6.如权利要求1所述的用于检测电子元件的取料设备，其特征在于，所述盘体在对应于每一个所述承载位的角端设有连通所述承载位的负压通道。7.一种用于检测电子元件的取料方法，其特征在于，包括:a)提供转盘结构、取料装置及多个检测站，所述转盘结构包括盘体，所述盘体设有多个承载位，所述取料装置包括多个汲取构件，每一个所述汲取构件设有让位空间；b)将多个所述电子元件分别置入各所述承载位中，其中的至少一个所述承载位不摆放所述电子元件而形成空位；c)以各所述汲取构件将各所述电子元件从各所述承载位中汲取，并且朝着各所述检测站的方向做移送；d)在各所述检测站对各所述电子元件做检测时，所述盘体通过各所述让位空间而能够持续性地旋转；以及e)在各所述检测站对各所述电子元件完成检测后，各所述汲取构件将各所述电子元件移回次顺位的各所述承载位中。8.如权利要求7所述的用于检测电子元件的取料方法，其特征在于，各所述汲取构件的数量小于各所述承载位的数量。9.如权利要求8所述的用于检测电子元件的取料方法，其特征在于，各所述汲取构件的数量为各所述承载位的数量的二分之一、三分之一或四分之一。10.如权利要求7所述的用于检测电子元件的取料方法，其特征在于，各所述汲取构件的数量等于各所述检测站的数量。

技术总结
本申请提供一种用于检测电子元件的取料设备及其方法，其中该取料设备包括转盘结构及取料装置，转盘结构包括驱动器及其驱动而产生旋转的盘体，在盘体设有供电子元件置放的承载位，各承载位间隔配置；取料装置设置在转盘结构的一侧，取料装置包括取料机构，取料机构沿着承载位配设且其包括基座及可移动性地连接基座的汲取构件，汲取构件设有让位空间；其中汲取构件在汲取电子元件且移动后，盘体通过让位空间而能够持续性地旋转。借此，可缩短整体的作业时间，进而提升检测效率。进而提升检测效率。进而提升检测效率。


技术研发人员：张烘杰 李建申
受保护的技术使用者：安益隆展业股份有限公司
技术研发日：2022.01.27
技术公布日：2023/8/8