一种集中式大功率LED老化测试装置的制作方法

一种集中式大功率led老化测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及发光二极管领域，尤其涉及一种集中式大功率led老化测试装置。


背景技术：

2.发光二极管，简称为led，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛。
3.如现有技术中的公开号为cn209946334u的专利申请，其通过设置拆卸机构，起到了方便对安装板和led本体进行拆卸和固定的效果，通过设置散热机构，不仅起到了散热和进气的效果，而且起到了避免灰尘进入的效果，通过设置风机，起到了将led本体产生的热量加速置换出去，从而降低装置内的温度，缩小测试误差，解决了现有技术中，led灯在老化过程中由于其发热所产生的热量得不到有效散发，会造成老化、空间内温度过高，使得老化测试的结果差异非常大，从而降低测试精确度的问题，但是在工作时其处于一定的高度上，因此在测试前后期高度不可改变因此而不方便更换led灯泡。
4.因此，有必要提供一种集中式大功率led老化测试装置解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.本实用新型提供一种集中式大功率led老化测试装置，解决了现有技术在工作时其处于一定的高度上，因此在测试前后期高度不可改变因此而不方便更换led灯泡的问题。
6.为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置，包括：底座；
7.支撑柱，所述支撑柱固定安装于所述底座顶部的左侧，所述支撑柱的内部开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块的底部且位于所述滑槽的内部固定安装有阻尼器，所述滑块的外侧固定安装有连接柱，所述连接柱的顶部开设有第二滑槽，所述第二滑槽的内部滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的顶部固定安装有连接架；
8.安装座，所述安装座固定安装于所述连接架的底部，所述安装座的底部固定安装有大功率led。
9.优选的，所述底座的右侧设置有控制面板。
10.优选的，所述安装座的顶部固定安装有散热装置。
11.优选的，所述连接架的底部固定安装有固定块，所述固定块底部的两侧均固定安装有插块。
12.优选的，所述固定块的底部且位于所述插块的内侧开设有第一安装槽，所述第一安装槽的内部固定安装有第一磁块。
13.优选的，所述固定块的底部设置有插座。
14.优选的，所述插座的顶部开设有第二安装槽，所述第二安装槽的内部固定安装有第二磁块。
15.与相关技术相比较，本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置具有
如下有益效果：
16.本实用新型提供一种集中式大功率led老化测试装置，通过底座、支撑柱、滑槽、阻尼器、滑块、连接柱、第二滑槽、第二滑块、连接架、安装座、大功率led等结构之间的相互配合从而能够方便在测试前后进行改变其使用高度和位置故而可方便进行着安装和拆卸led灯泡的工作。
附图说明
17.图1为本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置的第一实施例的结构示意图；
18.图2为图1所示的外部立体的结构示意图；
19.图3为图1所示的整体顶部的结构示意图；
20.图4为本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置的第二实施例的结构示意图。
21.图中标号：1、底座，2、控制面板，3、支撑柱，4、滑槽，5、阻尼器，6、滑块，7、连接柱，8、第二滑槽，9、第二滑块，10、连接架，11、安装座，12、散热装置，13、大功率led，
22.14、固定块，15、第一安装槽，16、第一磁块，17、插座，18、第二安装槽，19、第二磁块，20、插块。
具体实施方式
23.下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
24.第一实施例
25.请结合参阅图1、图2、图3，其中，图1为本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置的第一实施例的结构示意图；图2为图1所示的外部立体的结构示意图；图3为图1所示的整体顶部的结构示意图。一种集中式大功率led老化测试装置，包括：底座1；
26.支撑柱3，所述支撑柱3固定安装于所述底座1顶部的左侧，所述支撑柱3的内部开设有滑槽4，所述滑槽4的内部滑动连接有滑块6，所述滑块6的底部且位于所述滑槽4的内部固定安装有阻尼器5，所述滑块6的外侧固定安装有连接柱7，所述连接柱7的顶部开设有第二滑槽8，所述第二滑槽8的内部滑动连接有第二滑块9，所述第二滑块9的顶部固定安装有连接架10；
27.安装座11，所述安装座11固定安装于所述连接架10的底部，所述安装座11的底部固定安装有大功率led13。
28.大功率led13为大功率led灯泡。
29.所述底座1的右侧设置有控制面板2。
30.控制面板2可控制其整体设备进入到测试工作中，并且能够配合显示屏而显示出测试状态。
31.所述安装座11的顶部固定安装有散热装置12。
32.通过散热装置12可在其测试期间所产生的热量进行散热工作。
33.本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置的工作原理如下：
34.当需要进行着安装大功率led13的工作时，可通过手动的向下拉动连接柱7，而通
过连接柱7的受力向下而带动滑块6，促使其滑块6在滑槽4的内部进行向下移动，而配合着阻尼器5，因此在其连接柱7不受到外力作用的情况下不会出现向下移动的情况，直至其连接柱7向下移动到合适的位置后，其安装座11移动到合适的高度，故而可进行着安装大功率led13的工作。
35.而需要改变其大功率led13的前后位置时，可通过手动的推动第二滑块9，促使其第二滑块9在第二滑槽8中的内部进行着滑动，而通过第二滑块9的移动而带动连接架10同步移动，再通过连接架10的移动而带动安装座11和散热装置12以及大功率led13进行移动，直至移动到合适的位置即可，随后可通过操作控制面板2而进行着点亮大功率led13的工作，随后使其保持点亮的状态而进行测试工作。
36.与相关技术相比较，本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置具有如下有益效果：
37.通过底座1、支撑柱3、滑槽4、阻尼器5、滑块6、连接柱7、第二滑槽8、第二滑块9、连接架10、安装座11、大功率led13等结构之间的相互配合从而能够方便在测试前后进行改变其使用高度和位置故而可方便进行着安装和拆卸led灯泡的工作。
38.第二实施例
39.请结合参阅图4，基于本技术的第一实施例提供的一种集中式大功率led老化测试装置，本技术的第二实施例提出另一种集中式大功率led老化测试装置。第二实施例仅仅是第一实施例优选的方式，第二实施例的实施对第一实施例的单独实施不会造成影响。
40.具体的，本技术的第二实施例提供的一种集中式大功率led老化测试装置的不同之处在于，一种集中式大功率led老化测试装置，所述连接架10的底部固定安装有固定块14，所述固定块14底部的两侧均固定安装有插块20。
41.所述固定块14的底部且位于所述插块20的内侧开设有第一安装槽15，所述第一安装槽15的内部固定安装有第一磁块16。
42.插座17和插块20之间相适配，因此其插块20可插进插座17中。
43.所述固定块14的底部设置有插座17。
44.所述插座17的顶部开设有第二安装槽18，所述第二安装槽18的内部固定安装有第二磁块19。
45.第一磁块16和第二磁块19之间可相互贴合而产生一定的磁吸力，配合着插块20插进插座17中，因此可将其连接架10稳定的固定在插座17上。
46.本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置的工作原理如下：
47.当需要进行拆卸连接架10的工作时，可通过手动的向上拉动连接架10，而通过连接架10的受力向上而带动固定块14向上受力，直至其力大于第一磁块16和第二磁块19之间磁吸力即可，随后会使得两者脱离磁吸状态，故而可使得其插块20脱离插在其插座17中即可，因此可将其连接架10取下。
48.与相关技术相比较，本实用新型提供的一种集中式大功率led老化测试装置具有如下有益效果：
49.通过固定块14、第一安装槽15、第一磁块16、插座17、第二安装槽18、第二磁块19、插块20等结构之间的相互配合从而能够方便对其连接架10进行着安装和拆卸的工作，因此而对其安装座11进行着拆卸工作，故而可更换能够对更多led灯泡进行检测工作，因此而调
高整体结构的使用性能。
50.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

技术特征：
1.一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，包括：底座；支撑柱，所述支撑柱固定安装于所述底座顶部的左侧，所述支撑柱的内部开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块的底部且位于所述滑槽的内部固定安装有阻尼器，所述滑块的外侧固定安装有连接柱，所述连接柱的顶部开设有第二滑槽，所述第二滑槽的内部滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的顶部固定安装有连接架；安装座，所述安装座固定安装于所述连接架的底部，所述安装座的底部固定安装有大功率led。2.根据权利要求1所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述底座的右侧设置有控制面板。3.根据权利要求1所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述安装座的顶部固定安装有散热装置。4.根据权利要求1所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述连接架的底部固定安装有固定块，所述固定块底部的两侧均固定安装有插块。5.根据权利要求4所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述固定块的底部且位于所述插块的内侧开设有第一安装槽，所述第一安装槽的内部固定安装有第一磁块。6.根据权利要求5所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述固定块的底部设置有插座。7.根据权利要求6所述的一种集中式大功率led老化测试装置，其特征在于，所述插座的顶部开设有第二安装槽，所述第二安装槽的内部固定安装有第二磁块。

技术总结
本实用新型提供一种集中式大功率LED老化测试装置，包括：底座；支撑柱，所述支撑柱固定安装于所述底座顶部的左侧，所述支撑柱的内部开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块的底部且位于所述滑槽的内部固定安装有阻尼器，所述滑块的外侧固定安装有连接柱，所述连接柱的顶部开设有第二滑槽，所述第二滑槽的内部滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的顶部固定安装有连接架；安装座，所述安装座固定安装于所述连接架的底部，所述安装座的底部固定安装有大功率LED。本实用新型提供的一种集中式大功率LED老化测试装置，能够方便在测试前后进行改变其使用高度和位置故而可方便进行着安装和拆卸LED灯泡的工作。方便进行着安装和拆卸LED灯泡的工作。方便进行着安装和拆卸LED灯泡的工作。


技术研发人员：郑秀邦
受保护的技术使用者：福建鼎坤电子科技有限公司
技术研发日：2023.01.17
技术公布日：2023/8/5