一种原子荧光光度计待测试管可调结构的制作方法

1.本技术涉及光度计检测设备技术领域，尤其是涉及一种原子荧光光度计待测试管可调结构。


背景技术：

2.原子荧光光谱分析(afs)是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，是一种优良的痕量分析技术。通常用来进行环境中重金属元素含量的检测。目前原子荧光光度计主要应用于环境样品检测、卫生防疫、食品卫生检验等领域。在利用原子荧光分光光度计检测的过程中，需要测试多组样品，进而需要使用多个试管进行检测。然而检测时使用的试管尺寸不一，并且现有的试管架通常为固定结构，导致对应型号的试管才能放置在试管架上。从而需要多个试管架对试管进行放置，但多个试管架会占据一定区域，不利于原子荧光光度计检测的进行。因此提出一种原子荧光光度计待测试管可调结构，用于解决上述背景技术中的问题。
3.本背景技术所公开的上述信息仅仅用于增加对本技术背景技术的理解，因此，其可能包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术。


技术实现要素：

4.为了解决不同尺寸型号试管的放置问题，本技术提供一种原子荧光光度计待测试管可调结构。
5.本技术提供的一种原子荧光光度计待测试管可调结构采用如下的技术方案：
6.一种原子荧光光度计待测试管可调结构，包括试管架底座，所述试管架底座顶部设有试管架顶座，所述试管架顶座通过伸缩杆固定在试管架底座顶部，所述试管架顶座顶部设有调节机构，所述调节机构包括多个第一限位杆，所述试管架顶座两侧对称开设有滑槽，多个所述第一限位杆末端分别滑动连接在滑槽内部，所述试管架顶座表面开设有凹槽，所述凹槽完全贯穿试管架顶座，所述凹槽内部设有多个第二限位杆，所述试管架底座内部竖直连接有多根第一弹绳，所述试管架底座内部横向连接有多根第二弹绳。
7.优选的，所述伸缩杆上转动连接有锁紧环，所述第一限位杆与第二限位杆末端均螺纹连接有调节旋钮。
8.优选的，所述第一弹绳设置在第二弹绳顶部，所述第一弹绳与第二弹绳呈十字形相交。
9.优选的，所述第一弹绳设置在第二弹绳顶部，所述第一弹绳与第二弹绳呈十字形相交。
10.优选的，所述第一限位杆设置在第二限位杆顶部，所述第一限位杆与第二限位杆呈十字形相交。
11.优选的，所述试管架顶座垂直设置在试管架底座顶部。
12.综上所述，本技术包括以下有益技术效果：
13.通过设计调节机构，在试管放置时，将试管插入第一限位杆与第二限位杆间隙中，通过第一限位杆与第二限位杆对试管进行限制，通过调节第一限位杆与第二限位杆之间的间隙便于不同型号试管的放置，再配合第一弹绳与第二弹绳对试管末端进行限位，通过第一弹绳与第二弹绳的弹性使得能够对不同型号的试管进行限位；采用此种设计相较于现有技术而言，无需使用过多装置便能放置不同尺寸型号的试管，方便技术人员进行原子荧光光度计检测。
附图说明
14.图1是申请实施例一种原子荧光光度计待测试管可调结构的整体结构示意图；
15.图2是申请实施例一种原子荧光光度计待测试管可调结构的正视结构示意图；
16.图3是申请实施例一种原子荧光光度计待测试管可调结构的侧视结构示意图。
17.附图标记说明：1、试管架底座；2、试管架顶座；3、伸缩杆；4、锁紧环；5、调节机构；6、第一限位杆；7、滑槽；8、调节旋钮；9、凹槽；10、第二限位杆；11、第一弹绳；12、第二弹绳。
具体实施方式
18.以下结合附图1-3对本技术作进一步详细说明。
19.本技术实施例公开一种原子荧光光度计待测试管可调结构。参照图1，一种原子荧光光度计待测试管可调结构，用于放置原子荧光光度计检测过程中的各类试管，包括试管架底座1，试管架底座1由金属制成其内部中空，通过试管架底座1便于其他部件的安装，同时便于装置整体的平稳放置，试管架底座1顶部设有试管架顶座2，试管架顶座2由金属制成且内部中空，试管架顶座2与试管架底座1尺寸一致，试管架顶座2垂直设置在试管架底座1顶部，方便放入试管后试管末端位于试管架底座1内部，试管架顶座2通过伸缩杆3固定在试管架底座1顶部，通过抽拉伸缩杆3调节试管架底座1与试管架顶座2之间的距离，伸缩杆3上转动连接有锁紧环4，通过锁紧环4对拉伸后的伸缩杆3进行固定，(伸缩杆3与锁紧环4均为现有技术不对其过多赘述)，试管架顶座2顶部设有调节机构5，通过调节机构5进行调节，便于放置对不同型号尺寸的试管，方便技术人员的拿取；
20.使用时根据试管的长度调节试管架底座1与试管架顶座2之间的距离，通过抽拉伸缩杆3并使用锁紧环4对调节后的伸缩杆3进行固定，再通过调节机构5对装置进行调节，使得不同尺寸的试管能够放置在装置内部。
21.参照图2-3，调节机构5包括多个第一限位杆6，第一限位杆6由金属制成，且第一限位杆6设置为u形，通过第一限位杆6限制试管的位置，试管架顶座2两侧对称开设有滑槽7，通过两侧滑槽7便于第一限位杆6的移动，从而调整第一限位杆6之间的距离，多个第一限位杆6末端分别滑动连接在滑槽7内部，便于第一限位杆6的移动，从而限制不同尺寸的试管，试管架顶座2表面开设有凹槽9，凹槽9完全贯穿试管架顶座2，通过凹槽9便于第二限位杆10的移动，凹槽9内部设有多个第二限位杆10，通过多个第二限位杆10与第一限位杆6配合对试管进行限位，第一限位杆6设置在第二限位杆10顶部，第一限位杆6与第二限位杆10末端均螺纹连接有调节旋钮8，通过调节旋钮8对第一限位杆6与第二限位杆10进行限制，第一限位杆6与第二限位杆10呈十字形相交，便于将试管放置在第一限位杆6与第二限位杆10间隙中，通过第一限位杆6与第二限位杆10对试管进行限制，同时通过调节第一限位杆6与第二
限位杆10之间的间隙便于不同型号试管的放置，试管架底座1内部竖直连接有多根第一弹绳11，试管架底座1内部横向连接有多根第二弹绳12，第一弹绳11设置在第二弹绳12顶部，第一弹绳11与第二弹绳12呈十字形相交，通过将试管末端插入第一弹绳11与第二弹绳12的间隙中，通过第一弹绳11与第二弹绳12对试管末端进行限位，同时通过第一弹绳11与第二弹绳12的弹性使得能够对不同型号的试管进行限位；
22.调节时根据试管的尺寸对第一限位杆6与第二限位杆10进行调节，使得多个第一限位杆6在滑槽7内部滑动，多个第二限位杆10在凹槽9内部移动，再通过调节旋钮8对移动后的第一限位杆6与第二限位杆10进行限制；试管放入时将试管放置在第一限位杆6与第二限位杆10间隙中，通过第一限位杆6与第二限位杆10对试管进行限制，并且使得试管末端插入第一弹绳11与第二弹绳12的间隙中，通过第一弹绳11与第二弹绳12对试管末端进行限位，从而能够将不同型号尺寸的试管放置在装置内部。
23.本技术实施例一种原子荧光光度计待测试管可调结构的实施原理为：使用时根据试管的长度对装置进行调节，通过抽拉伸缩杆3并使用锁紧环4对调节后的伸缩杆3进行固定，从而调节试管架底座1与试管架顶座2之间的距离，再通过移动多个在第一限位杆6以及多个第二限位杆10，使得多个第一限位杆6在滑槽7内部滑动，多个第二限位杆10在凹槽9内部移动，移动后通过调节旋钮8对第一限位杆6与第二限位杆10进行限制；
24.当试管放入时将试管插入第一限位杆6与第二限位杆10间隙中，通过第一限位杆6与第二限位杆10对试管进行限制，并且使得试管末端插入第一弹绳11与第二弹绳12的间隙中，通过第一弹绳11与第二弹绳12对试管末端进行限位，同时通过第一弹绳11与第二弹绳12的弹性使得能够对不同型号的试管进行限位，从而能够将不同型号尺寸的试管放置在装置内部。
25.最后应说明的几点是：首先，在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；
26.其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及与本公开实施例涉及的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；
27.最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
28.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所作的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。

技术特征：
1.一种原子荧光光度计待测试管可调结构，包括试管架底座(1)，其特征在于：所述试管架底座(1)顶部设有试管架顶座(2)，所述试管架顶座(2)通过伸缩杆(3)固定在试管架底座(1)顶部，所述试管架顶座(2)顶部设有调节机构(5)，所述调节机构(5)包括多个第一限位杆(6)，所述试管架顶座(2)两侧对称开设有滑槽(7)，多个所述第一限位杆(6)末端分别滑动连接在滑槽(7)内部，所述试管架顶座(2)表面开设有凹槽(9)，所述凹槽(9)完全贯穿试管架顶座(2)，所述凹槽(9)内部设有多个第二限位杆(10)，所述试管架底座(1)内部竖直连接有多根第一弹绳(11)，所述试管架底座(1)内部横向连接有多根第二弹绳(12)。2.根据权利要求1所述的一种原子荧光光度计待测试管可调结构，其特征在于：所述伸缩杆(3)上转动连接有锁紧环(4)，所述第一限位杆(6)与第二限位杆(10)末端均螺纹连接有调节旋钮(8)。3.根据权利要求1所述的一种原子荧光光度计待测试管可调结构，其特征在于：所述第一弹绳(11)设置在第二弹绳(12)顶部，所述第一弹绳(11)与第二弹绳(12)呈十字形相交。4.根据权利要求1所述的一种原子荧光光度计待测试管可调结构，其特征在于：所述第一限位杆(6)设置在第二限位杆(10)顶部，所述第一限位杆(6)与第二限位杆(10)呈十字形相交。5.根据权利要求1所述的一种原子荧光光度计待测试管可调结构，其特征在于：所述试管架顶座(2)垂直设置在试管架底座(1)顶部。

技术总结
本申请涉及光度计检测设备技术领域，且公开了一种原子荧光光度计待测试管可调结构，包括所述试管架底座顶部设有试管架顶座，所述试管架顶座通过伸缩杆固定在试管架底座顶部，所述试管架顶座顶部设有调节机构，所述调节机构包括多个第一限位杆，所述试管架顶座两侧对称开设有滑槽，多个所述第一限位杆末端分别滑动连接在滑槽内部，所述试管架顶座表面开设有凹槽，所述凹槽完全贯穿试管架顶座，所述凹槽内部设有多个第二限位杆，所述试管架底座内部竖直连接有多根第一弹绳，所述试管架底座内部横向连接有多根第二弹绳；本申请通过设计调节机构，在试管放置时无需使用过多装置便能放置不同尺寸型号的试管，方便技术人员进行原子荧光光度计检测。光度计检测。光度计检测。


技术研发人员：李刚
受保护的技术使用者：李刚
技术研发日：2023.04.07
技术公布日：2023/9/1