一种开关型光电传感器性能批量测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及传感器测试领域，具体涉及一种开关型光电传感器性能批量测试系统。


背景技术：

2.光电传感器也被称为光电接近开关，它是利用被检测物对光束的遮挡，由同步回路选通电路，从而检测物体有无的。物体不限于金属，所有能遮挡光线的物体均可被检测。光电开关将输入电流在发射器上转换为光信号射出，接收器再根据接收到的光线强弱对有无目标物体进行探测。
3.目前开关型光电传感器可以分为镜反射型光电传感器与对射型光电传感器。开关型光电传感器的检测距离、响应频率、信号丢失率将直接影响它的使用性能，因此出厂前需要进行多项测试，依靠人工测试效率低，数据记录繁琐，数据储存、分析不方便。因此，为了提高光电传感器的产品质量测试效率，需要对现有的测试系统进行改进。


技术实现要素：

4.本实用新型克服现有技术存在的不足，所要解决的技术问题为：提供一种开关型光电传感器性能批量测试系统，以提高开关型光电传感器的测试效率。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其中，包括：测试主架，所述测试主架两侧分别固定设置有第一支撑架和第二支撑架；所述第一支撑架和第二支撑架上分别均匀设置有多个卡位，所述卡位用于固定待测试开关型光电传感器；
6.所述测试主架上还设置有第一滑轨、遮光板和第二滑轨，第二滑轨位于第一滑轨的正下方，遮光板的顶部和底部分别设置在所述第一滑轨和第二滑轨内，且遮光板位于第一支撑架和第二支撑架之间，所述遮光板上设置连接部，所述第二滑轨还上设置有驱动机构，所述驱动机构的驱动端与所述连接部固定连接，用于驱动所述遮光板在所述第一滑轨和第二滑轨内滑动；
7.所述遮光板上设置有多个位置与卡位的位置对应的通光孔，所述遮光板两侧分别设置有一个行程开关，分别用于检测遮光板的遮光到位信号和漏光到位信号。
8.所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其中，还包括控制电路，所述控制电路包括信号采集模块和控制模块，所述信号采集模块的输入端与待测试开关型光电传感器的信号输出端连接，输出端与所述控制模块连接，所述行程开关的输出端与所述控制模块连接，所述控制模块的输出端与所述驱动机构连接。
9.所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其中，所述驱动机构为驱动电机，所述控制模块为工业平板计算机，所述控制电路还包括电机驱动模块和开关量输入输出模块，所述行程开关的输出端通过开关量输入输出模块与所述工业平板计算机的输入端连接，所述工业平板计算机的输出端连接通过开关量输入输出模块与所述电机驱动模块连
接。
10.所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其中，所述第一支撑架包括多个第一横杆，所述第二支撑架包括多个第二横杆，多个第一横杆和多个第二横杆使得第一支撑架和第二支撑架上的卡位呈二维分布。
11.所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其中，所述测试主架底部设置有滚轮。
12.本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果：本实用新型提供一种开关型光电传感器性能批量测试系统，通过驱动遮光板进行挡光或透光，可以实现对开关型光电传感器的批量测试和循环测试，而且，利用行程开关控制遮光板的位置，使得测试的自动化程度高，有效的提高了生产效率，大大降低了人工测试成本并保证了产品的合格率及稳定性。
附图说明
13.图1为本实用新型实施例提供的一种开关型光电传感器性能批量测试系统的结构示意图；
14.图2为图1的局部b的结构放大示意图；
15.图3为本实用新型实施例中行程开关的设置示意图；
16.图4为本实用新型实施例中控制电路的结构示意图。
17.图中：1为测试主架，2为第一支撑架，3为第二支撑架，4为第一滑轨，5为遮光板，6为驱动机构，7为第二滑轨，8为行程开关，9为滚轮，10为连接部，11为卡位。
具体实施方式
18.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.如图1~4所示，本实用新型实施例提供了一种开关型光电传感器性能批量测试系统，包括：测试主架1、所述测试主架1两侧分别固定设置有第一支撑架2和第二支撑架3；所述第一支撑架2和第二支撑架3上分别均匀设置有多个卡位11，所述卡位11用于固定待测试开关型光电传感器。
20.具体地，如图1所示，所述测试主架1上还设置有第一滑轨4、遮光板5和第二滑轨7，第二滑轨7位于第一滑轨4的正下方，遮光板5的顶部和底部分别设置在所述第一滑轨4和第二滑轨7内，且遮光板5位于第一支撑架2和第二支撑架3之间。
21.具体地，如图2所示，所述遮光板5上设置连接部10，所述第二滑轨7还上设置有驱动机构6，所述驱动机构6的驱动端与所述连接部10固定连接，用于驱动所述遮光板5在所述第一滑轨4和第二滑轨7内滑动；
22.具体地，如图3所示，所述遮光板5上设置有多个位置与卡位11的位置对应的通光孔13，所述遮光板5两侧分别设置有一个行程开关8，分别用于检测遮光板5的遮光到位信号和漏光到位信号。
23.具体地，如图4所示，本实施例的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，还包
括控制电路，所述控制电路包括信号采集模块和控制模块，所述信号采集模块的输入端与待测试开关型光电传感器的信号输出端连接，输出端与所述控制模块连接，所述行程开关8的输出端与所述控制模块连接，所述控制模块的输出端与所述驱动机构连接。
24.进一步地，本实施例中，所述驱动机构为驱动电机，所述控制模块为工业平板计算机，所述控制电路还包括电机驱动模块和开关量输入输出模块，所述行程开关8的输出端通过开关量输入输出模块与所述工业平板计算机的输入端连接，所述工业平板计算机的输出端连接通过开关量输入输出模块与所述电机驱动模块连接。
25.进一步地，本实施例中的控制电路还包括电源模块，所述电源模块包括空气断路器、熔断器、电源适配器和电源转换模块，外接220v交流电经空气断路器、熔断器后分为两路，一路经电源适配器给工业平板计算机供电，另一端经电源转换模块转换为24v直流电压后，给开关量输入输出模块、电机驱动模块、驱动电机、行程开关、以及光电传感器供电。
26.进一步地，如图1所示，本实施例中，所述第一支撑架2包括多个第一横杆，所述第二支撑架3包括多个第二横杆，第一横杆和第二横杆上均设置有多个卡位，则多个第一横杆和多个第二横杆使得第一支撑架2和第二支撑架3上的卡位呈二维分布。
27.进一步地，如图1所示，本实施例中，所述测试主架1底部设置有滚轮9。使得该测试系统易于移动。
28.本实用新型的使用方法和工作原理如下：
29.1、对于对射型光电传感器，将光源和光电传感器分别固定设置在第一支撑架2和第二支撑架3上的卡位上，然后，将光电传感器的信号输出端与信号采集模块连接，控制模块发送信号至电机驱动模块，通过驱动电机控制遮光板向遮光位置移动，移动到位后行程开关采集到遮光到位信号发送给控制模块，此时光电传感器无法接收光源光信号，控制模块控制所述数据采集模块进行无光数据采集，数据采集完成后，所述控制模块发送信号至电机驱动模块，通过驱动电机控制遮光板向透光位置移动，移动到位后行程开关采集到透光到位信号，此时光电传感器可以接收光源光信号，则控制模块控制所述数据采集模块再次进行有光数据采集，数据完成后，再次控制遮光板向遮光位置移动，依此控制遮光板循环反复多次测量数据。
30.2、对于反射型光电传感器，将光电传感器分别固定设置在第一支撑架2或第二支撑架3上的卡位上，然后，将光电传感器的信号输出端与信号采集模块连接，控制模块发送信号至电机驱动模块，通过驱动电机控制遮光板向遮光位置移动，移动到位后行程开关采集到遮光到位信号，发送给控制模块，此时光电传感器可以通过遮光板的反射接收光源光信号，控制模块控制所述数据采集模块进行有光数据采集，数据采集完成后，所述控制模块发送信号至电机驱动模块，通过驱动电机控制遮光板向透光位置移动，移动到位后行程开关采集到透光到位信号，此时光电传感器由于没有遮光板的反射作用，光电传感器无法接收光源光信号，则控制模块控制所述数据采集模块再次进行无光数据采集，再次控制遮光板向遮光位置移动，依此控制遮光板循环反复多次测量数据。
31.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新
型各实施例技术方案的范围。

技术特征：
1.一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其特征在于，包括：测试主架（1），所述测试主架（1）两侧分别固定设置有第一支撑架（2）和第二支撑架（3）；所述第一支撑架（2）和第二支撑架（3）上分别均匀设置有多个卡位（11），所述卡位（11）用于固定待测试开关型光电传感器；所述测试主架（1）上还设置有第一滑轨（4）、遮光板（5）和第二滑轨（7），第二滑轨（7）位于第一滑轨（4）的正下方，遮光板（5）的顶部和底部分别设置在所述第一滑轨（4）和第二滑轨（7）内，且遮光板（5）位于第一支撑架（2）和第二支撑架（3）之间，所述遮光板（5）上设置连接部（10），所述第二滑轨（7）还上设置有驱动机构（6），所述驱动机构（6）的驱动端与所述连接部（10）固定连接，用于驱动所述遮光板（5）在所述第一滑轨（4）和第二滑轨（7）内滑动；所述遮光板（5）上设置有多个位置与卡位（11）的位置对应的通光孔（13），所述遮光板（5）两侧分别设置有一个行程开关（8），分别用于检测遮光板（5）的遮光到位信号和漏光到位信号。2.根据权利要求1所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其特征在于，还包括控制电路，所述控制电路包括信号采集模块和控制模块，所述信号采集模块的输入端与待测试开关型光电传感器的信号输出端连接，输出端与所述控制模块连接，所述行程开关（8）的输出端与所述控制模块连接，所述控制模块的输出端与所述驱动机构连接。3.根据权利要求2所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其特征在于，所述驱动机构为驱动电机，所述控制模块为工业平板计算机，所述控制电路还包括电机驱动模块和开关量输入输出模块，所述行程开关（8）的输出端通过开关量输入输出模块与所述工业平板计算机的输入端连接，所述工业平板计算机的输出端连接通过开关量输入输出模块与所述电机驱动模块连接。4.根据权利要求1所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其特征在于，所述第一支撑架（2）包括多个第一横杆，所述第二支撑架（3）包括多个第二横杆，多个第一横杆和多个第二横杆使得第一支撑架（2）和第二支撑架（3）上的卡位呈二维分布。5.根据权利要求1所述的一种开关型光电传感器性能批量测试系统，其特征在于，所述测试主架（1）底部设置有滚轮（9）。

技术总结
本实用新型涉及传感器测试领域，公开了一种开关型光电传感器性能批量测试系统，包括测试主架，测试主架两侧分别固定设置有第一支撑架和第二支撑架；第一支撑架和第二支撑架上分别均匀设置有多个卡位，卡位用于固定待测试开关型光电传感器；测试主架上还设置有第一滑轨、遮光板和第二滑轨，且遮光板位于第一支撑架和第二支撑架之间，第二滑轨还上设置有驱动机构，驱动机构用于驱动遮光板在第一滑轨和第二滑轨内滑动；遮光板上设置有多个位置与卡位的位置对应的通光孔，遮光板两侧分别设置有一个行程开关。本实用新型可以大大提高测试效率。率。率。


技术研发人员：师霖 许奇 谢海波 郭锐
受保护的技术使用者：太原巍昂科电子科技有限责任公司
技术研发日：2023.02.27
技术公布日：2023/9/1