一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统的制作方法

1.本实用新型涉及光学自动化检测行业，具体涉及一种适合于投影仪画质测量的光学自动测量系统。


背景技术：

2.目前的投影仪都是使用照度计进行传统的亮度测量，由于投影仪使用场景不断地扩大，投影尺寸也各有不同，投影仪的画质效果直接影响用户的体验，大规模的量产，传统的测试方法已经不能符合当今投影仪质量的标准，无法满足投影仪厂商的生产效益。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本实用新型目的是提供一种能够对投影仪画质进行二维光学测量，并且测量效率高，保证了产品合格率的投影仪光学测量系统。
4.为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述机架内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏；该光学测量系统能够对各种投影仪画质进行光学测量，并且测量精度高，保证了产品合格率。
5.作为优选，所述平移架设置有投影屏，并且平移架可以平行移动，测试65寸至80寸的影像。
6.作为优选，所述投影仪以6度的方向投射影像到投影屏上。
7.作为优选，所述二维成像色度计与投影仪垂直设置。
8.作为优选，所述外框为封闭结构，螺柱固定在平移架外部，为产品检测提供测量暗室环境。
9.作为优选，所述显示器固定安装在外框右侧，方便查看测量数据
10.本实用新型技术效果主要体现在以下方面：由于二维成像色度计受外置电脑的控制，投影仪把影像投射到投影屏上，在外框提供的暗室环境下，通过二维成像色度计进行光学检测，可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析，完成一次产品的光学测量，并且测量效率高，保证了产品合格率。
附图说明
11.图1为本实用新型一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统的整体结构示意图。
具体实施方式
12.以下结合附图1，对本实用新型的具体实施方式作进一步详述，以使本实用新型技
术方案更易于理解和掌握。
13.一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统包括二维成像色度计1、投影仪2、显示器3、平移架4、投影屏5、测试台6、外框7。所述二维成像色度计1固定安装在外框7外部；所述投影仪2固定设置在测试台6中间，并与二维成像色度计1垂直；所述显示器3安装在外框7右侧；所述平移架4设置在外框7内部，外框7底部设有导轨，平移架4可以平行移动；所述平移架4固定设置有投影屏5；该光学测量系统能够对各种投影仪画质进行光学测量，并且测量精度高，保证了产品合格率。
14.所述平移架4设置有投影屏5，并且平移架4可以平行移动，测试65寸至80寸的影像。
15.所述投影仪2以6度的方向投射影像到投影屏上。
16.所述二维成像色度计1与投影仪2垂直设置。
17.所述外框7为封闭结构，螺柱固定在平移架4外部，为产品检测提供测量暗室环境。
18.所述显示器3固定安装在外框7右侧，方便查看测量数据。
19.本实用新型在使用时，由于二维成像色度计1受外置电脑的控制，投影仪2把影像投射到投影屏5上，在外框7提供的暗室环境下，通过二维成像色度计1进行光学检测，可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析，完成一次产品的光学测量，通过显示器3查看测试数据，方便快速。并且测量效率高，保证了产品合格率。
20.本实用新型技术效果主要体现在以下方面：由于二维成像色度计受外置电脑的控制，投影仪把影像投射到投影屏上，在外框提供的暗室环境下，通过二维成像色度计进行光学检测，可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析，完成一次产品的光学测量，通过显示器查看测试数据，方便快速并且测量效率高，保证了投影仪产品合格率。
21.当然，以上只是本实用新型的典型实例，除此之外，本实用新型还可以有其它多种具体实施方式，凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本实用新型要求保护的范围之内。


技术特征：
1.一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，其特征在于：所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏。2.如权利要求1所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，其特征在于：所述平移架设置有投影屏，并且平移架可以平行移动，测试65寸至80寸的影像。3.如权利要求2所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，其特征在于：所述投影仪以6度的方向投射影像到投影屏上。4.如权利要求3所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，其特征在于：所述外框为封闭结构，螺柱固定在平移架外部。

技术总结
本实用新型公开一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏；该光学测量系统能够对各种投影仪画质进行光学测量，通过显示器查看数据，并且测量效率高，保证了产品合格率。产品合格率。产品合格率。


技术研发人员：梁田喜
受保护的技术使用者：东莞雷云光电技术有限公司
技术研发日：2023.02.01
技术公布日：2023/9/1