一种光学系统增益校准方法及装置与流程

1.本发明涉及光学系统技术领域，尤其涉及一种光学系统增益校准方法及装置。


背景技术：

2.目前，光学系统增益校准方式为不区分检测物质，所有检测物质均采用同一算法、同一计算流程计算物质的重心，但检测物质有包含一团粒子的物质，也有包含至少两团粒子的物质，由于包含一团粒子的物质，和包含至少两团粒子的物质的性质特征存在差异，若统一包含一团粒子的物质采用与包含至少两团粒子的物质的同一算法、同一计算流程计算物质的重心，这会导致识别的粒子团的个数不一致，造成校准增益计算出错。其中，增益校准是指确定光学系统的增益。
3.因此，为了提高包含一团粒子的物质的校准增益的精确度，亟需一种针对包含一团粒子的检测物质进行光学系统增益校准的方法。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的在于提供一种光学系统增益校准方法及装置，可以解决现有技术中的光学系统增益校准精确度低的问题。
5.为实现上述目的，本发明第一方面提供一种光学系统增益校准方法，所述方法包括：
6.在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；
7.根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；
8.根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
9.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，包括：确定所述低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，识别所述第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定所述第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标和第二横坐标；根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据。
10.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据，包括：将第一横坐标和第二横坐标构成区间，得到第一区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的中角度值得到第二数据。
11.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，包括：识别所述中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，识别所述第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定所述第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标和第四横坐标；根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据。
12.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据，包括：将第三横坐标和第四横坐标构成区间，得到第二区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据。
13.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益，包括：计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及计算高角直方图的重心，得到第三重心；根据第一预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算待测物质对应的增益，得到校准增益。
14.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及计算高角直方图的重心，得到第三重心，包括：获取低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，计算所述第一波峰值与预设倍数的乘积，得到第一目标值；其中，所述预设倍数大于0且小于1；获取第一目标值对应的横坐标，得到第一目标坐标和第二目标坐标；根据所述第一目标坐标和所述第二目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第一重心；获取中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，计算所述第二波峰值与预设倍数的乘积，得到第二目标值；获取第二目标值对应的横坐标，得到第三目标坐标和第四目标坐标；根据第三目标坐标和第四目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第二重心；获取高角直方图的波峰值，得到第三波峰值，计算所述第三波峰值与预设倍数的乘积，得到第三目标值；获取第三目标值对应的横坐标，得到第五目标坐标和第六目标坐标；根据第五目标坐标和第六目标坐标，计算高角直方图的重心，得到第三重心。
15.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述根据第一预设增益对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算校准增益，包括：根据第一预设增益对应的第一重心、第二预设增益对应的第一重心以及第一重心标准值，计算第一校准增益；根据第一预设增益对应的第二重心、第二预设增益对应的第二重心以及第二重心标准值，计算第二校准增益；根据第一预设增益对应的第三重心、第二预设增益对应的第三重心以及第三重心标准值，计算第三校准增益。
16.结合第一方面，在一种可能的实现方式中，上述判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则确定校准增益无效，包括：判断所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否均在预设区间内，若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增
益均在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益不均在预设区间内，则确定校准增益无效。
17.为实现上述目的，本发明第二方面提供一种光学系统增益校准装置，所述装置包括：
18.获取模块：用于在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；
19.直方图获取模块：用于根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；
20.增益计算模块：用于根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
21.为实现上述目的，本发明第三方面提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行以下步骤：
22.在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；
23.根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；
24.根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
25.为实现上述目的，本发明第四方面提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行以下步骤：
26.在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；
27.根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；
28.根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
29.采用本发明实施例，具有如下有益效果：
30.本发明提供一种光学系统增益校准方法，在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；根据低角散射光获取第一数据，根据第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；根据低角直方图、中角直方图以及高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断校准增益是否在预设区间内，若校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。本技术方案中，由于低角散射光能够反映细胞的大小，中角散射光能够反映细胞的内部精细结构和颗粒物质，通过结合低角散射光、中角散射光、低角直方图、中角直方图以及高角直方图，能更全面地反应待测物质的性质特征，从而提高光学系统增益的确定的准确性。
附图说明
31.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
32.其中：
33.图1为本发明实施例中一种待测物质的检测原理图；
34.图2为本发明实施例中一种光学系统结构示意图；
35.图3为本发明实施例中一种光学系统增益校准方法的流程示意图；
36.图4为本发明实施例中一种低角直方图l(x)的示意图；
37.图5本发明实施例中一种光学系统增益校准装置的结构框图；
38.图6为本发明实施例中计算机设备的结构框图。
具体实施方式
39.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
40.参照图1，图1为本技术提供的一种待测物质的检测原理图，其中，待测物质是需要检测的物质，一般为标粒、校准物、质控物、血样等等，其中，标粒、校准物为包含一团粒子的物质，而质控物、血样为包含两团粒子的物质，如图1所示，一定量的待测物质(即为图1中的样本)经喷嘴注入充满稀释液的圆锥形流动室中，在鞘液的包裹下，细胞单个的穿过流动室的中央，悬浮在鞘液中的细胞经过二次加速后通过激光检测区时受到激光束的照射产生散射光，散射光性质与细胞大小、细胞膜和细胞内部结构的折射率有关，因此，根据细胞经过二次加速后通过激光检测区时受到激光束的照射产生散射光，可以很好地分析细胞大小、细胞膜和细胞内部结构。
41.为了更好地对说明流动室的细胞如何受激光束的照射产生散射光，本技术提供的一种光学系统结构示意图，参照图2，图2为本技术提供的一种光学系统结构示意图，光学系统包括前光整形部分以及后光散射信号接收部分，其中，前光整形部分为用于发射激光束给流动室部分，后光散射信号接收部分用于接收散射光信号，后光散射信号接收部分可以包括流动室部分、光阑和pd管等。流动室部分内的细胞经过二次加速后通过激光检测区时受到激光束的照射产生散射光，散射光达到的区域有前向低角度区域、前向高角度区域以及侧向区域，前向低角度区域称为低角，低角散射光反映了细胞的大小，前向高角度区域称为中角，中角散射光反映细胞的内部精细结构和颗粒物质，侧向区域称为高角，高角前向散射光则反映细胞的内部精细结构和颗粒物质。通过散射光可以折射至各个区域，使得散射光中的粒子具有低角度值、中角度值和高角度值。光学接收器接收这些散射光信号并将其转化为电脉冲，根据采集到的这些电脉冲数据，对散射光信号进行分析。
42.在本发明实施例，可以获取散射光中粒子体积以及粒子体积对应的粒子总数，得到粒子体积以及粒子体积对应的粒子总数对应的关系，根据粒子体积以及粒子体积对应的粒子总数对应的关系生成直方图，其中，直方图的横坐标为粒子体积，纵坐标为粒子体积对应的粒子总数，根据直方图计算待测物质的增益，进而对待测物质的增益进行校准确认。
43.基于上述原理，本发明实施例提供了一种光学系统增益校准方法，该方法用于确定光学系统的增益，参照图3，图3为本发明实施例提供的一种光学系统增益校准方法的流程示意图，如图3所示，该方法具体步骤如下：
44.步骤s101、在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光。
45.其中，待测物质为包含一团粒子的物质，比如标粒。
46.预先设置光学系统的增益，为了方便描述，将预设的增益记为预设增益，在本实施例中，在预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，散射光包括低角散射光、中角散射光和高角散射光，预设增益在[0,255]区间内。
[0047]
步骤s102、根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低
角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图。
[0048]
其中，数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数。
[0049]
根据低角散射光获取第一数据，并根据第一数据生成直方图，得到低角直方图l(x)。其中，根据低角散射光获取第一数据具体可以为，根据低角散射光中的粒子的低角值获取第一数据。
[0050]
进一步地，根据低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据第二数据生成直方图，得到中角直方图，获取第二数据的具体步骤如步骤s201-步骤s202：
[0051]
步骤s201、确定所述低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，识别所述第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定所述第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标和第二横坐标。
[0052]
步骤s202、根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据。
[0053]
确定低角直方图l(x)的波峰值，得到第一波峰值，设第一波峰值为vp
l
，识别第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
。需要说明的是，对于含有一团粒子的物质，其对应的直方图l(x)中只有一个波峰，如图4所示，图4为本发明实施例提供的一种低角直方图l(x)的示意图。
[0054]
根据第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据，其具体步骤如步骤s2021-步骤s2022：
[0055]
步骤s2021、将第一横坐标和第二横坐标构成区间，得到第一区间。
[0056]
步骤s2022、根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的中角度值得到第二数据。
[0057]
将第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
构成区间，得到第一区间[pv
l1
,pv
l2
]，其中，pv
l1
＜pv
l2
，将低角散射光中体积在第一区间[pv
l1
,pv
l2
]内的粒子对应的中角度值得到第二数据。
[0058]
根据低角散射光、中角散射光以及中角直方图m(x)，得到第三数据，根据第三数据生成直方图，得到高角直方图h(x)，其中，获取第三数据的具体步骤如步骤s301-步骤s302：
[0059]
步骤s301、识别所述中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，识别所述第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定所述第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标和第四横坐标。
[0060]
步骤s302、根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据。
[0061]
识别中角直方图m(x)的波峰值，得到第二波峰值vpm，识别第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
。
[0062]
根据第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据，其具体步骤如步骤s3021-步骤s3022：
[0063]
步骤s3021、将第三横坐标和第四横坐标构成区间，得到第二区间。
[0064]
步骤s3022、根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据。
[0065]
将第三横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
构成区间，得到第二区间[pv
m1
,pv
m2
]，其中，pv
m1
＜pv
m2
，根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据。
[0066]
步骤s103、根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
[0067]
步骤s401、计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及计算高角直方图的重心，得到第三重心。
[0068]
在本实施例中，预设增益包括第一预设增益和第二预设增益，根据上述计算预设增益下的第一重心、第二重心以及第三重心的步骤，可以分别计算得到第一预设增益下的第一重心、第二重心以及第三重心，和第二预设增益下的第一重心、第二重心以及第三重心。
[0069]
第一重心的计算方法如下：
[0070]
步骤s4011、获取低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，计算所述第一波峰值与预设倍数的乘积，得到第一目标值；获取第一目标值对应的横坐标，得到第一目标坐标和第二目标坐标；根据所述第一目标坐标和所述第二目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第一重心。
[0071]
其中，预设倍数大于0且小于1，预设倍数b一般取0.1。
[0072]
获取低角直方图l(x)的第一波峰值vp
l
，计算第一波峰值vp
l
与预设倍数b的乘积，得到第一目标值b*vp
l
。
[0073]
获取第一目标值b*vp
l
对应的横坐标，得到第一目标坐标l
l1
和第二目标坐标l
r1
。
[0074]
根据第一目标坐标l
l
和第二目标坐标lr构成区间[l
l1
,l
r1
]，l
l1
＜l
r1
，计算区间[l
l1
,l
r1
]范围内的直方图的平均面积，即重心g1，其计算公式为：
[0075][0076]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0077]
步骤s4012、获取中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，计算所述第二波峰值与预设倍数的乘积，得到第二目标值；获取第二目标值对应的横坐标，得到第三目标坐标和第四目标坐标；根据第三目标坐标和第四目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第二重心；
[0078]
获取中角直方图m(x)的第二波峰值vpm，计算第二波峰值vpm与预设倍数b的乘积，得到第二目标值b*vpm。
[0079]
获取第二目标值b*vpm对应的横坐标，得到第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
。
[0080]
根据第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
构成区间[l
l2
,l
r2
]，l
l2
＜l
r2
，计算区间
[l
l2
,l
r2
]范围内的直方图的平均面积，即重心g2，其计算公式为：
[0081][0082]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0083]
步骤s4013、获取高角直方图的波峰值，得到第三波峰值，计算所述第三波峰值与预设倍数的乘积，得到第三目标值；获取第三目标值对应的横坐标，得到第五目标坐标和第六目标坐标；根据第五目标坐标和第六目标坐标，计算高角直方图的重心，得到第三重心。
[0084]
获取高角直方图h(x)的波峰值，得到第三波峰值vph，计算第三波峰值vph与预设倍数b的乘积，得到第三目标值b*vph。
[0085]
获取第三目标值b*vph对应的横坐标，得到第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
。
[0086]
根据第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
构成区间[l
l3
,l
r3
]，l
l3
＜l
r3
，计算区间[l
l3
,l
r3
]范围内的直方图的平均面积，即重心g3，其计算公式为：
[0087][0088]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0089]
步骤s402、根据第一预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算待测物质对应的增益，得到校准增益。
[0090]
校准增益的计算公式为：
[0091][0092]
或
[0093]
其中，d为校准增益，d1为第一预设增益，d2为第一预设增益，g1为第一预设增益下的重心，g2为第二预设增益下的重心，g为重心标准值，可以根据实验得到。
[0094]
步骤s4021、根据第一预设增益对应的第一重心、第二预设增益对应的第一重心以及第一重心标准值，计算第一校准增益。
[0095]
步骤s4022、根据第一预设增益对应的第二重心、第二预设增益对应的第二重心以及第二重心标准值，计算第二校准增益。
[0096]
步骤s4023、根据第一预设增益对应的第三重心、第二预设增益对应的第三重心以及第三重心标准值，计算第三校准增益。
[0097]
在本实施例中，根据两个预设增益下低角直方图的重心计算低角直方图对应的增益，得到第一校准增益，根据两个预设增益下中角直方图的重心计算中角直方图对应的增益，得到第二校准增益，根据两个预设增益下高角直方图的重心计算高角直方图对应的增益，得到第三校准增益。
[0098]
具体为，采用校准增益的计算公式，根据第一预设增益对应的第一重心、第二预设
增益对应的第一重心以及第一重心标准值，计算第一校准增益；采用校准增益的计算公式，根据第一预设增益对应的第二重心、第二预设增益对应的第二重心以及第二重心标准值，计算第二校准增益；采用校准增益的计算公式，根据第一预设增益对应的第三重心、第二预设增益对应的第三重心以及第三重心标准值，计算第三校准增益。其中，第一重心标准值、第二重心标准值与第三重心标准值是分别根据试验得到的低角直方图、中角直方图以及高角直方图对应的重心。
[0099]
进一步地，待计算出第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益后，根据第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否在预设区间内，确定是否光学系统的增益校准成功。
[0100]
步骤s501、判断所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否均在预设区间内，若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益均在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益不均在预设区间内，则确定校准增益无效。
[0101]
判断第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否均在预设区间内，若第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益均在预设区间内，则光学系统的增益校准成功，确定校准增益为光学系统的增益，若第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益中存在不在预设区间内的校准增益，则确定校准增益无效。其中，预设区间为[0,255]。
[0102]
若校准增益无效，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤，重新在新的预设增益下，计算校准增益进行增益校准。在一种可能的实现方式中，初始的预设增益可以从一个较小的增益值取值，则可以按照预设规则更改光学系统的预设增益，比如按照固定值逐渐递增，比如，固定值为2，初始的预设增益为3，则第一次更改光学系统的预设增益可以为5，在另一种可能的实现方式中，初始的预设增益可以从一个较大的增益值取值，比如255，则可以按照固定值逐渐递减更改光学系统的预设增益，如固定值为2，初始的预设增益为255，则第一次更改光学系统的预设增益可以为253。
[0103]
实施例：
[0104]
第一预设增益为d1、第二预设增益为d2、待测物质为标粒，对光学系统进行增益校准的流程为：
[0105]
将光学系统的增益设置为第一预设增益为d1，在第一预设增益为d1下，以标粒为检测物质，获取标粒通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光。
[0106]
根据低角散射光获取第一数据，根据第一数据生成直方图，得到低角直方图l(x)，确定低角直方图l(x)的波峰值，得到第一波峰值vp
l
，识别第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
。
[0107]
将第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
构成区间，得到第一区间[pv
l1
,pv
l2
]，将低角散射光中体积在第一区间[pv
l1
,pv
l2
]内的粒子对应的中角度值得到第二数据，根据第二数据生成直方图，得到中角直方图m(x)。
[0108]
识别中角直方图m(x)的波峰值，得到第二波峰值vpm，识别第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三
横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
。
[0109]
将第三横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
构成区间，得到第二区间[pv
m1
,pv
m2
]，其中，pv
m1
＜pv
m2
，根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据，根据第三数据生成直方图，得到高角直方图h(x)。
[0110]
获取低角直方图l(x)的第一波峰值vp
l
，计算第一波峰值vp
l
与预设倍数b的乘积，得到第一目标值b*vp
l
，获取第一目标值b*vp
l
对应的横坐标，得到第一目标坐标l
l1
和第二目标坐标l
r1
，根据第一目标坐标l
l
和第二目标坐标lr构成区间[l
l1
,l
r1
]，l
l1
＜l
r1
，计算区间[l
l1
,l
r1
]范围内的直方图的平均面积，即第一重心g1，其计算公式为：
[0111][0112]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0113]
获取中角直方图m(x)的第二波峰值vpm，计算第二波峰值vpm与预设倍数b的乘积，得到第二目标值b*vpm，获取第二目标值b*vpm对应的横坐标，得到第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
，根据第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
构成区间[l
l2
,l
r2
]，l
l2
＜l
r2
，计算区间[l
l2
,l
r2
]范围内的直方图的平均面积，即第二重心g2，其计算公式为：
[0114][0115]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0116]
获取高角直方图h(x)的波峰值，得到第三波峰值vph，计算第三波峰值vph与预设倍数b的乘积，得到第三目标值b*vph，获取第三目标值b*vph对应的横坐标，得到第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
，根据第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
构成区间[l
l3
,l
r3
]，l
l3
＜l
r3
，计算区间[l
l3
,l
r3
]范围内的直方图的平均面积，即第三重心g3，其计算公式为：
[0117][0118]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0119]
将光学系统的增益设置为第二预设增益为d2，在第二预设增益为d2下，以标粒为检测物质，获取标粒通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光。
[0120]
根据低角散射光获取第一数据，根据第一数据生成直方图，得到低角直方图l(x)，确定低角直方图l(x)的波峰值，得到第一波峰值vp
l
，识别第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
。
[0121]
将第一横坐标pv
l1
和第二横坐标pv
l2
构成区间，得到第一区间[pv
l1
,pv
l2
]，将低角散射光中体积在第一区间[pv
l1
,pv
l2
]内的粒子对应的中角度值得到第二数据，根据第二数据生成直方图，得到中角直方图m(x)。
[0122]
识别中角直方图m(x)的波峰值，得到第二波峰值vpm，识别第二波峰值两侧的波谷
值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
。
[0123]
将第三横坐标pv
m1
和第四横坐标pv
m2
构成区间，得到第二区间[pv
m1
,pv
m2
]，其中，pv
m1
＜pv
m2
，根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据，根据第三数据生成直方图，得到高角直方图h(x)。
[0124]
获取低角直方图l(x)的第一波峰值vp
l
，计算第一波峰值vp
l
与预设倍数b的乘积，得到第一目标值b*vp
l
，获取第一目标值b*vp
l
对应的横坐标，得到第一目标坐标l
l1
和第二目标坐标l
r1
，根据第一目标坐标l
l
和第二目标坐标lr构成区间[l
l1
,l
r1
]，l
l1
＜l
r1
，计算区间[l
l1
,l
r1
]范围内的直方图的平均面积，即第一重心g1，其计算公式为：
[0125][0126]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0127]
获取中角直方图m(x)的第二波峰值vpm，计算第二波峰值vpm与预设倍数b的乘积，得到第二目标值b*vpm，获取第二目标值b*vpm对应的横坐标，得到第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
，根据第三目标坐标l
l2
和第四目标坐标l
r2
构成区间[l
l2
,l
r2
]，l
l2
＜l
r2
，计算区间[l
l2
,l
r2
]范围内的直方图的平均面积，即第二重心g2，其计算公式为：
[0128][0129]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0130]
获取高角直方图h(x)的波峰值，得到第三波峰值vph，计算第三波峰值vph与预设倍数b的乘积，得到第三目标值b*vph，获取第三目标值b*vph对应的横坐标，得到第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
，根据第五目标坐标l
l3
和第六目标坐标l
r3
构成区间[l
l3
,l
r3
]，l
l3
＜l
r3
，计算区间[l
l3
,l
r3
]范围内的直方图的平均面积，即第三重心g3，其计算公式为：
[0131][0132]
其中，xi表示横坐标，l(xi)表示xi对应的纵坐标。
[0133]
根据第一预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算待测物质对应的增益，得到校准增益
[0134]
根据如下公式计算第一校准增益：
[0135][0136]
或
[0137]
其中，d
11
为第一校准增益，d1为第一预设增益，d2为第一预设增益，g
11
为第一预设增益下的第一重心，g
21
为第二预设增益下的第一重心，g
标1
第一重心标准值，可以根据实验得到。
[0138]
根据如下公式计算第二校准增益：
[0139][0140]
或
[0141]
其中，d
12
为第一校准增益，d1为第一预设增益，d2为第一预设增益，g
12
为第一预设增益下的第二重心，g
22
为第二预设增益下的第二重心，g
标2
第二重心标准值，可以根据实验得到。
[0142]
根据如下公式计算第三校准增益：
[0143][0144]
或
[0145]
其中，d
13
为第三校准增益，d1为第一预设增益，d2为第一预设增益，g
13
为第一预设增益下的第三重心，g
23
为第二预设增益下的第三重心，g
标3
第三重心标准值，可以根据实验得到。
[0146]
判断d
11
、d
12
以及d
13
是否均在[0,255]区间内，若计算d
11
、d
12
以及d
13
分别为200、170、180，则光学系统的增益校准成功，确定d
11
、d
12
以及d
13
为光学系统的增益。
[0147]
基于上述方法，在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；根据低角散射光获取第一数据，根据第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；根据低角直方图、中角直方图以及高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断校准增益是否在预设区间内，若校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。本技术方案中，由于低角散射光能够反映细胞的大小，中角散射光能够反映细胞的内部精细结构和颗粒物质，通过结合低角散射光、中角散射光、低角直方图、中角直方图以及高角直方图，能更全面地反应待测物质的性质特征，从而提高光学系统增益的确定的准确性。
[0148]
为了更好地实现上述方法，本发明实施例提供了一种光学系统增益校准装置，参照图5，图5为本发明实施例提供的一种光学系统增益校准装置的结构示意图，如图5所示，
该装置50包括：
[0149]
获取模块501：用于在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质。
[0150]
直方图获取模块502：用于根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数。
[0151]
增益计算模块503：用于根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。
[0152]
在一种可能的设计中，上述直方图获取模块502具体用于：确定所述低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，识别所述第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定所述第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标和第二横坐标；根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据。
[0153]
在一种可能的设计中，上述直方图获取模块502具体用于：将第一横坐标和第二横坐标构成区间，得到第一区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的中角度值得到第二数据。
[0154]
在一种可能的设计中，上述直方图获取模块502具体用于：识别所述中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，识别所述第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定所述第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标和第四横坐标；根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据。
[0155]
在一种可能的设计中，上述直方图获取模块502具体用于：将第三横坐标和第四横坐标构成区间，得到第二区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据。
[0156]
在一种可能的设计中，上述增益计算模块503具体用于：计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及计算高角直方图的重心，得到第三重心；根据第一预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算待测物质对应的增益，得到校准增益。
[0157]
在一种可能的设计中，上述增益计算模块503具体用于：获取低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，计算所述第一波峰值与预设倍数的乘积，得到第一目标值；其中，所述预设倍数大于0且小于1；获取第一目标值对应的横坐标，得到第一目标坐标和第二目标坐标；根据所述第一目标坐标和所述第二目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第一重心；获取中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，计算所述第二波峰值与预设倍数的乘积，得到
第二目标值；获取第二目标值对应的横坐标，得到第三目标坐标和第四目标坐标；根据第三目标坐标和第四目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第二重心；获取高角直方图的波峰值，得到第三波峰值，计算所述第三波峰值与预设倍数的乘积，得到第三目标值；获取第三目标值对应的横坐标，得到第五目标坐标和第六目标坐标；根据第五目标坐标和第六目标坐标，计算高角直方图的重心，得到第三重心。
[0158]
在一种可能的设计中，上述增益计算模块503具体用于：根据第一预设增益对应的第一重心、第二预设增益对应的第一重心以及第一重心标准值，计算第一校准增益；根据第一预设增益对应的第二重心、第二预设增益对应的第二重心以及第二重心标准值，计算第二校准增益；根据第一预设增益对应的第三重心、第二预设增益对应的第三重心以及第三重心标准值，计算第三校准增益。
[0159]
在一种可能的设计中，上述增益计算模块503具体用于：判断所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否均在预设区间内，若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益均在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益不均在预设区间内，则确定校准增益无效。
[0160]
基于上述装置，由于低角散射光能够反映细胞的大小，中角散射光能够反映细胞的内部精细结构和颗粒物质，通过结合低角散射光、中角散射光、低角直方图、中角直方图以及高角直方图，能更全面地反应待测物质的性质特征，从而提高光学系统增益的确定的准确性。
[0161]
图6示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端，也可以是服务器。如图6所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现上述方法的全部步骤。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行上述方法的全部步骤。本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
[0162]
在一个实施例中，提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行前述方法的各个步骤。
[0163]
在一个实施例中，提出了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行前述方法的各个步骤。
[0164]
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram
(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
[0165]
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0166]
以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征：
1.一种光学系统增益校准方法，其特征在于，所述方法包括：在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，包括：确定所述低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，识别所述第一波峰值两侧的波谷值，得到第一波谷值和第二波谷值，确定所述第一波谷值和第二波谷值对应的横坐标，得到第一横坐标和第二横坐标；根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一横坐标、第二横坐标以及低角散射光得到第二数据，包括：将第一横坐标和第二横坐标构成区间，得到第一区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的中角度值得到第二数据。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，包括：识别所述中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，识别所述第二波峰值两侧的波谷值，得到第三波谷值和第四波谷值，确定所述第三波谷值和第四波谷值对应的横坐标，得到第三横坐标和第四横坐标；根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三横坐标、第四横坐标、低角散射光以及中角散射光得到第三数据，包括：将第三横坐标和第四横坐标构成区间，得到第二区间；根据低角散射光中体积在第一区间内的粒子对应的高角度值，以及中角散射光中体积在第二区间内的粒子对应的高角度值，得到第三数据。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设增益包括第一预设增益和第二预设增益，所述根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益，包括：计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及
计算高角直方图的重心，得到第三重心；根据第一预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益下待测物质对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算待测物质对应的增益，得到校准增益。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述计算低角直方图的重心，得到第一重心，计算中角直方图的重心，得到第二重心，以及计算高角直方图的重心，得到第三重心，包括：获取低角直方图的波峰值，得到第一波峰值，计算所述第一波峰值与预设倍数的乘积，得到第一目标值；其中，所述预设倍数大于0且小于1；获取第一目标值对应的横坐标，得到第一目标坐标和第二目标坐标；根据所述第一目标坐标和所述第二目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第一重心；获取中角直方图的波峰值，得到第二波峰值，计算所述第二波峰值与预设倍数的乘积，得到第二目标值；获取第二目标值对应的横坐标，得到第三目标坐标和第四目标坐标；根据第三目标坐标和第四目标坐标，计算低角直方图的重心，得到第二重心；获取高角直方图的波峰值，得到第三波峰值，计算所述第三波峰值与预设倍数的乘积，得到第三目标值；获取第三目标值对应的横坐标，得到第五目标坐标和第六目标坐标；根据第五目标坐标和第六目标坐标，计算高角直方图的重心，得到第三重心。8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述校准增益包括第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益，所述根据第一预设增益对应的第一重心、第二重心、第三重心，以及第二预设增益对应的第一重心、第二重心、第三重心，计算校准增益，包括：根据第一预设增益对应的第一重心、第二预设增益对应的第一重心以及第一重心标准值，计算第一校准增益；根据第一预设增益对应的第二重心、第二预设增益对应的第二重心以及第二重心标准值，计算第二校准增益；根据第一预设增益对应的第三重心、第二预设增益对应的第三重心以及第三重心标准值，计算第三校准增益。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则确定校准增益无效，包括：判断所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益是否均在预设区间内，若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益均在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述第一校准增益、第二校准增益以及第三校准增益不均在预设区间内，则确定校准增益无效。10.一种光学系统增益校准装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块：用于在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，其中，所述散射光至少包括低角散射光和中角散射光；其中，待测物质为包含一团粒子的物质；直方图获取模块：用于根据低角散射光获取第一数据，根据所述第一数据生成直方图，得到低角直方图；根据所述低角直方图以及低角散射光，得到第二数据，根据所述第二数据
生成直方图，得到中角直方图；根据所述低角散射光、中角散射光以及中角直方图，得到第三数据，根据所述第三数据生成直方图，得到高角直方图；其中，所述数据包括体积与体积对应的粒子总数的对应关系，所述直方图的横坐标为体积，纵坐标为体积对应的粒子总数；增益计算模块：用于根据所述低角直方图、所述中角直方图以及所述高角直方图，计算待测物质对应的增益，得到校准增益；判断所述校准增益是否在预设区间内，若所述校准增益在预设区间内，则确定校准增益为光学系统的增益；若所述校准增益不在预设区间内，则更改光学系统的预设增益，返回执行在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光的步骤。

技术总结
本发明实施例公开了一种光学系统增益校准方法及装置，其中，该方法包括：在光学系统的预设增益下，获取待测物质通过光学系统的激光检测区时受到激光束的照射产生的散射光，根据散射光得到低角直方图、中角直方图以及所述高角直方图，基于低角直方图、中角直方图以及高角直方图，计算待测物质对应的增益校准增益，通过判断校准增益是否在预设区间内，确定光学系统增益校准。由于低角散射光能够反映细胞的大小，中角散射光能够反映细胞的内部精细结构和颗粒物质，通过结合低角散射光、中角散射光、低角直方图、中角直方图以及高角直方图，能更全面地反应待测物质的性质特征，从而提高光学系统增益的确定的准确性。系统增益的确定的准确性。系统增益的确定的准确性。


技术研发人员：杨君 王兴红 许涛
受保护的技术使用者：深圳市科曼医疗设备有限公司
技术研发日：2023.05.24
技术公布日：2023/9/12