一种通讯电路测试装置及方法与流程

1.本发明涉及通讯测试技术领域，尤其涉及一种通讯电路测试装置及方法。


背景技术：

2.随着车用控制系统集成度提升,信号类型及数量越来越多,传统的处理传感器信号的模拟量接口电路模块、pwm接口电路模块逐步由符合功能安全等级、兼容性更高、占用区域控制器连接器引脚数量更少的通讯电路模块，例如由psi5通讯电路模块代替。在现有技术中，对psi5通讯电路模块的测试中多采用psi5信号板卡对作为psi5通讯电路模块信号源。
3.然而，psi5信号板卡的成本较高，并且psi5信号板卡不能适应emc测试环境，致使psi5通讯电路模块emc测试准确性较差。


技术实现要素：

4.本发明提供了一种通讯电路测试装置及方法，以提高emc测试的准确性，降低测试成本。
5.根据本发明的一方面，提供了一种通讯电路测试装置，该装置包括：
6.区域控制器，所述区域控制器设置有被测通讯电路模块；
7.emc负载箱，所述emc负载箱与所述区域控制器连接；所述emc负载箱设置有屏蔽层，所述屏蔽层用于屏蔽干扰信号；所述emc负载箱设置有传感器单元，所述传感器单元用于接收所述被测通讯电路模块发出的指令，并将所述传感器单元内的数据反馈给被测通讯电路模块，所述emc负载箱上设置有测试端口，所述测试端口用于连接测试设备；
8.上位机，所述上位机与所述emc负载箱之间连接有通讯转换模块，所述上位机通过所述通讯转换模块与所述区域控制器进行通讯，所述上位机用于在所述区域控制器工作后，对所述被测通讯电路模块进行测试相关联的移位寄存器配置；
9.其中，所述区域控制器和所述emc负载箱设置于emc实验室内。
10.可选地，所述emc负载箱包括：模拟单元和信号传输单元；
11.所述模拟单元用于为所述传感器单元提供模拟环境；
12.所述信号传输单元用于接收所述区域控制器发送的控制信号，所述信号传输单元与所述区域控制器连接。
13.可选地，所述通讯转换模块包括：通讯转换单元和光纤桥接单元；
14.所述通讯转换单元用于将usb信号转换为can信号，或，将can信号转换为usb信号；所述通讯转换单元的第一端与所述上位机连接，所述通讯转换单元的第二端与所述光纤桥接单元连接；
15.所述光纤桥接单元用于将emc实验室外部的信号转接至emc实验室内部，或，将emc实验室内部的信号转接至emc实验室外部；所述光纤桥接单元的第二端与所述被测通讯电路模块连接。
16.可选地，所述光纤桥接单元包括：第一光桥、第二光桥和光纤；
17.所述第一光桥和所述第二光桥均用于信号转换，将所述can信号转换为光信号，或，将光信号转换为can信号；
18.所述第一光桥设置于所述emc实验室外部，所述第一光桥的第一端作为所述光纤桥接单元的第一端，所述第一光桥的第二端通过所述光纤和所述第二光桥的第一端连接，所述第二光桥的第二端作为所述光纤桥接单元的第二端。
19.可选地，该测试装置还包括：人工电源网络；
20.所述人工电源网络用于为所述emc负载箱提供电源，所述人工电源网络与所述emc负载箱连接；
21.所述emc负载箱与所述被测通讯电路模块之间采用双绞线连接。
22.可选地，所述emc实验室内设置有天线，所述天线用于产生所述干扰信号；
23.所述被测通讯电路模块为psi5通讯电路模块,所述psi5通讯电路模块的收发器芯片的驱动控制引脚用于控制驱动引脚的供电，所述收发器芯片的驱动引脚用于控制收发器芯片的第一信号输出引脚的供电和收发器芯片的第二信号输出引脚的供电，所述收发器芯片的第一信号输出引脚和所述收发器芯片的第二信号输出引脚用于为所述传感器单元供电，以及，用于与所述传感器单元进行通讯，所述收发器芯片的第一信号输出引脚通过第一阻容匹配单元与所述传感器单元连接，所述收发器芯片的第二信号输出引脚通过第二阻容匹配单元与所述传感器单元连接，所述收发器芯片的第一高电平端通过第六电容与所述收发器芯片的第一低电平端连接，所述收发器芯片的第二高电平端通过第七电容与所述收发器芯片的第二低电平端连接，所述第六电容用于为所述传感器单元提供触发电压，所述第七电容用于为所述传感器单元提供触发电压，所述收发器芯片的第一输出引脚用于中断信号传输以及数据读取，所述收发器芯片的第二输出引脚用于中断信号传输以及数据读取，所述收发器芯片的使能引脚、所述收发器芯片的时钟引脚、所述收发器芯片的数据输入引脚和所述收发器芯片的数据输出引脚用于传输所述收发器芯片内寄存器控制信号及串行数据，所述收发器芯片的复位引脚用于复位所述收发器芯片。
24.根据本发明的另一方面，提供了一种通讯电路测试方法，该测试方法应用于以上任一实施例所述的通讯电路测试装置，所述通讯电路测试方法包括：
25.上位机根据交互内容生成配置指令；
26.区域控制器根据所述配置指令对被测通讯电路模块进行配置；
27.所述被测通讯电路模块获取传感信号；
28.所述区域控制器根据所述传感信号生成控制信号；
29.所述上位机根据所述控制信号对所述被测通讯电路模块的通讯进行功能测试；
30.所述上位机获取所述被测通讯电路模块串行数据；
31.所述上位机根据所述串行数据对所述被测通讯电路模块的供电电压、信号输出端口的叠加电压以及触发电压进行测试。
32.可选地，所述区域控制器根据所述配置指令对被测通讯电路模块进行配置的步骤包括：
33.设置通用寄存器；
34.设置通道控制寄存器；
35.设置通道相关寄存器；
36.设置诊断寄存器。
37.可选地，设置通用寄存器的步骤包括：
38.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的同步脉冲长度、产生工模脉冲的方法和外部时钟进行设置；
39.对所述传感器单元的校验方式进行设置；
40.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压进行设置；
41.设置通道控制寄存器的步骤包括：
42.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压是否使能进行设置；
43.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚是否使能进行设置；
44.设置通道相关寄存器的步骤包括：
45.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚的同步脉冲电压、静态电流限值、连接的传感器单元的数量和通讯速率进行设置；
46.对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的输出引脚是否为中断输出进行设置；
47.设置诊断寄存器的步骤包括：
48.对所述被测通讯电路模块的输出欠压故障、对地短路故障、对地漏电流故障、电源短路故障和相邻通道间短路故障进行设置；
49.对所述传感器单元的开路故障进行设置
50.本发明实施例通过在emc负载箱中设置屏蔽层对传感器单元进行保护，并且在emc负载箱中设置测试端口，对传感器单元故障情况进行模拟，通过上位机和通讯转换模块对被测通讯电路模块进行配置，并在配置完成后对被测通讯电路模块的功能和接口电压进行测试。本发明实施例通过emc负载箱对电磁干扰进行屏蔽，降低电磁干扰对传感器单元的影响，提高emc测试的准确性，降低测试成本。
51.应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
52.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
53.图1是本发明实施例提供的一种通讯电路测试装置的结构示意图；
54.图2是本发明实施例提供的一种上位机人机界面的示意图；
55.图3是本发明实施例提供的一种被测通讯电路模块的电路原理图；
56.图4是本发明实施例提供的一种通讯电路测试方法的流程图；
57.图5是本发明实施例提供的被测通讯电路模块配置的流程图。
具体实施方式
58.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
59.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
60.本发明实施例提供了一种通讯电路测试装置，该测试装置用于对汽车控制器的通讯模块进行测试。图1是本发明实施例提供的一种通讯电路测试装置的结构示意图。参照图1，该测试装置包括：区域控制器110、emc负载箱120和上位机130。
61.区域控制器110设置有被测通讯电路模块111；emc负载箱120与区域控制器110连接；emc负载箱120设置有屏蔽层，屏蔽层用于屏蔽干扰信号；emc负载箱120设置有传感器单元，传感器单元用于接收被测通讯电路模块111发出的指令，并将传感器单元内的数据反馈给被测通讯电路模块111，emc负载箱120上设置有测试端口121，测试端口121用于连接测试设备；该测试设备用于模拟传感器单元故障以及测试被测通讯电路模块111与传感器单元间的连接。除此以外，测试端口121还用于手动测试时引出信号，以便对被测通讯电路模块111进行手动测试。
62.上位机130与emc负载箱120之间连接有通讯转换模块140，上位机130通过通讯转换模块140与区域控制器110进行通讯，通讯转换模块140用于对信号格式进行转换。上位机130用于在区域控制器110工作后，对被测通讯电路模块111进行测试相关联的移位寄存器配置；其中，区域控制器110和emc负载箱120设置于emc实验室(electro magnetic compatibility lab，电磁兼容实验室)内。
63.可以理解，emc实验指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力的测试。由于在emc实验室中存在多种电磁干扰，为降低电磁干扰对传感器单元的影响，因此在emc负载箱120中设置有屏蔽层，以为传感器单元提供良好的工作环境。
64.图2是本发明实施例提供的一种上位机人机界面的示意图。参照图2，示例性地，在对被测通讯电路模块111进行测试前，首先通过对区域控制器110进行激活或触发。区域控制器110的触发方式例如可以为，根据钥匙门信号对区域控制器110进行触发，使区域控制器110进入正常工作状态。其次上位机130对通讯转换模块140的通讯信号以及文件存储路径进行设置。
65.在通讯转换模块140设置完成后，上位机130对区域控制器110中被测通讯电路模块111内的寄存器进行配置，从而使被测通讯电路模块111正常工作，进而使上位机130能够
通过被测通讯电路模块111与传感器单元进行通讯，以及使区域控制器110能够通过被测通讯电路模块111与传感器单元进行通讯。需要说明的是，传感器单元用于感知其所在环境，传感器单元所感知的环境变量取决于传感器单元本身。示例性地，传感器单元可以为高度传感器，也可以为加速度传感器，与之对应的，高度传感器用于感知传感器本身所处的高度，加速度传感器用于感知传感器当前时刻的加速度，本实施例对此不作限制。
66.可以理解，本发明实施例所提供的通讯电路测试装置能够对多种类型的通讯电路模块进行测试，需要进行测试的通讯电路模块能够与区域控制器进行通讯即可，本实施例对被测通讯电路模块111的类型不做限制。为便于理解，本实施例以psi5通讯模块作为被测通讯电路模块111为例进行说明。
67.表1示例性地给出了被测通讯电路模块的寄存器的格式，被测通讯电路模块的寄存器格式如表1所示。
68.表1
[0069][0070]
在上位机130对区域控制器110中被测通讯电路模块111内的寄存器进行配置过程中，上位机130首先将配置指令通过通讯转换模块140转换为can通讯格式并发送至区域控制器110中，区域控制器110根据该配置指令对被测通讯电路模块111进行配置。表2示例性地给出了区域控制器110对被测通讯电路模块111配置时上位机130的报文数据表格，具体报文数据可参照表2。
[0071]
表2
[0072][0073]
除此以外，被测通讯电路模块111向上位机130发送串行数据，上位机130根据该串行数据对被测通讯电路模块110的供电电压、信号输出端口的叠加电压以及触发电压进行解析，并将解析后的数据与正常数据进行对比，并将对比结果写入工作报告中。
[0074]
在上位机130对被测通讯电路模块111配置完成后，对被测通讯电路模块111的功能进行测试。
[0075]
在测试设备未对传感器单元发出测试指令时，传感器单元通过被测通讯模块111将传感数据发送至区域控制器110中。区域控制器110根据该传感数据生成控制指令，并将该控制指令通过被测通讯电路模块111发送至上位机130中。当上位机130接收到该控制指令时，则说明被测通讯电路模块工作正常；上位机130未接收到该控制指令时，则说明被测通讯电路模块工作异常。
[0076]
在测试设备未对传感器单元发出测试指令时，传感器单元将传感器故障数据通过被测通讯模块111将故障数据发送至上位机130中。当上位机接收到该故障数据时，则说明测通讯电路模块工作正常；上位机未接收到该故障数据时，则说明被测通讯电路模块工作异常。
[0077]
上位机130根据以上各项测试结果生成测试报告，并将测试报告进行输出。表3示例性地给出部分测试报告，具体测试内容请参照表3。
[0078]
表3
[0079][0080][0081]
本发明实施例通过在emc负载箱120中设置屏蔽层对传感器单元进行保护，并且在emc负载箱120中设置测试端口121，对传感器单元故障情况进行模拟，通过上位机130和通讯转换模块140对被测通讯电路模块111进行配置，并在配置完成后对被测通讯电路模块111的功能和接口电压进行测试。本发明实施例通过emc负载箱对电磁干扰进行屏蔽，降低电磁干扰对传感器单元的影响，提高emc测试的准确性，降低测试成本。
[0082]
在上述实施例的基础上，可选地，emc负载箱包括：模拟单元和信号传输单元。
[0083]
模拟单元用于为传感器单元提供模拟环境。信号传输单元用于接收区域控制器110发送的控制信号，信号传输单元与区域控制器110连接。
[0084]
具体地，模拟单元用于模拟外界环境，为emc测试提供多种不同的传感数据。信号传输单元用于桥接通讯转换模块140和被测通讯电路模块111，进而实现上位机130与区域控制器110间的连接。由于emc实验室内存在多种电磁干扰，因此在emc负载箱120内设置信号传输单元，使区域控制器110发送的控制信号和串行数据通过数据传输单元传输至上位机130中，以降低电磁干扰对控制信号和串行数据的影响。
[0085]
在上述实施例的基础上，可选地，继续参照图1，通讯转换模块140包括：通讯转换单元141和光纤桥接单元142。
[0086]
通讯转换单元141用于将usb信号转换为can信号，或，将can信号转换为usb信号；通讯转换单元141的第一端与上位机连接，通讯转换单元141的第二端与光纤桥接单元142连接。
[0087]
可以理解，上位机130对外的通讯形式为usb通信，区域控制器110对外的通讯形式为can通讯。在上位机130与区域控制器110进行通讯时，需要进行通讯形式的转换。因此，在通讯转换模块140中设置通讯转换单元141，以使上位机130能够与区域控制器110进行通讯。
[0088]
光纤桥接单元用于将emc实验室外部的信号转接至emc实验室内部，或，将emc实验室内部的信号转接至emc实验室外部；光纤桥接单元的第二端与被测通讯电路模块连接。
[0089]
可以理解，由于emc实验室内环境与emc实验室外环境不同，因此，在控制信号和串行数据在emc实验室内和emc实验室外进行传输时，采用光纤进行转接。由于光纤内所传输的信号形式为光信号，光信号传输不受电磁环境变化的影响。因此，在emc实验室内和emc实验室外进行传输将can信号转化为光信号进行传输，在完成环境转换后再将光信号转化为can信号，以此降低环境转换对测试结果的影响。
[0090]
在上述实施例的基础上，可选地，继续参照图1，光纤桥接单元包括：第一光桥1421、第二光桥1422和光纤。
[0091]
第一光桥1421和第二光桥1422均用于信号转换，将can信号转换为光信号，或，将光信号转换为can信号；第一光桥1421设置于emc实验室外部，第一光桥1421的第一端作为光纤桥接单元的第一端，第一光桥1421的第二端通过光纤和第二光桥1422的第一端连接，第二光桥1422的第二端作为光纤桥接单元的第二端。
[0092]
在上述实施例的基础上，可选地，继续参照图1，该测试装置还包括：人工电源网络150。
[0093]
人工电源网络150用于为emc负载箱120提供电源，人工电源网络150与emc负载箱120连接；emc负载箱120与被测通讯电路模块111之间采用双绞线连接。
[0094]
具体地，双绞线是一种综合布线工程中最常用的传输介质，是由两根具有绝缘保护层的铜导线组成的。把两根绝缘的铜导线按一定密度互相绞在一起，每一根导线在传输中辐射出来的电波会被另一根线上发出的电波抵消，有效降低信号干扰的程度。
[0095]
需要说明的是，被测通讯电路模块111为psi5通讯电路模块，psi5通信信号的特点为电压供电线与信号线采用同一根线传输，信号线上数据采用曼彻斯特编码进行数字传
输，通讯速率有125kbps和189kbps两种。
[0096]
在上述实施例的基础上，可选地，继续参照图1，emc实验室内设置有天线160，天线160用于产生干扰信号。
[0097]
图3是本发明实施例提供的一种被测通讯电路模块的电路原理图。示例性地，参照图3，被测通讯电路模111块为psi5通讯电路模块,psi5通讯电路模块的收发器芯片200的驱动控制引脚vgs用于控制驱动引脚vas的供电，收发器芯片200的驱动引脚vas用于控制收发器芯片200的第一信号输出引脚psi1的供电和收发器芯片200的第二信号输出引脚psi2的供电，收发器芯片200的第一信号输出引脚psi1和收发器芯片200的第二信号输出引脚psi2用于为传感器单元供电，以及，用于与传感器单元进行通讯，收发器芯片200的第一信号输出引脚psi1通过第一阻容匹配单元210与传感器单元连接，收发器芯片200的第二信号输出引脚psi2通过第二阻容匹配单元220与传感器单元连接，收发器芯片200的第一高电平引脚bh1通过第六电容c6与收发器芯片200的第一低电平引脚bl1连接，收发器芯片200的第二高电平引脚bh2通过第七电容c7与收发器芯片200的第二低电平引脚bl2连接，第六电容c6用于为传感器单元提供触发电压，第七电容c7用于为传感器单元提供触发电压，收发器芯片200的第一输出引脚dout1用于中断信号传输以及数据读取，收发器芯片200的第二输出引脚dout2用于中断信号传输以及数据读取，收发器芯片200的使能引脚cs、收发器芯片200的时钟引脚sclk、收发器芯片200的数据输入引脚mosi和收发器芯片200的数据输出引脚miso用于传输收发器芯片200内寄存器控制信号及串行数据，收发器芯片200的复位引脚resetn用于复位收发器芯片200。
[0098]
具体地，pmosi5通讯电路模块的收发器芯片200的驱动控制引脚vgs控制外置mos管q1的导通，以给驱动引脚vas供电，第一信号输出引脚pmosi1和第二信号输出引脚pmosi2由芯片的驱动引脚vas供电,第一电容c1和第二电容c2是驱动引脚vas的两个供电滤波电容，第一信号输出引脚pmosi1和第二信号输出引脚pmosi2为传感器单元供电并与之实现通信；第六电容c6和第七电容c7为两个自举电容，第六电容c6和第七电容c7为触发外部传感器提供脉冲电压；第二电阻r2、第九电容c9和第八电容c8是第一信号输出引脚pmosi1的匹配阻容；第三电阻r3、第十电容c10和第十一电容c11是第二信号输出引脚pmosi2的匹配阻容；第一输出引脚dout 1和第二输出引脚dout 2作为中断引脚，当内部寄存器满了后中断mcu信号，进行数据的读取，第四电阻r4为第一输出引脚ddout1的冗余电阻，第五电阻r5为第二输出引脚的冗余电阻；收发器芯片200的使能引脚cs、时钟引脚sclk、数据输入引脚mosi和数据输出引脚miso分别与区域控制器110上与之对应的四个引脚连接，用于传输收发器芯片200内寄存器的控制信号及串行数据，其中使能引脚cs通过第七电阻r7上拉到+5v，数据输出引脚miso通过第八电阻r8上拉到+5v。
[0099]
本发明实施例还提供了一种通讯电路测试方法，该方法应用于以上任意实施例提供的通讯电路测试装置。图4是本发明实施例提供的一种通讯电路测试方法的流程图。参照图4，该通讯电路测试方法包括：
[0100]
s110、上位机根据交互内容生成配置指令。
[0101]
具体地，在上位机中设置有人机交互界面，用户可通过人机交互界面输入配置信息，上位机根据配置信息生成相应的配置指令，并将配置指令发送至区域控制器中。需要说明的是，上位机可以是电脑，本实施例对上位机的具体形式不做限制，所设置的上位机能够
满足使用需求即可。
[0102]
s120、区域控制器根据配置指令对被测通讯电路模块进行配置。
[0103]
具体地，区域控制器接收上位机发送的配置指令，将对配置指令进行解析，并按照解析后的指令对被测通讯电路模块的寄存器进行配置。
[0104]
s130、被测通讯电路模块获取传感信号。
[0105]
具体地，传感器单元将传感数据发送至被测通讯电路中。
[0106]
s140、区域控制器根据传感信号生成控制信号。
[0107]
具体地，被测通讯电路模块与传感器单元间通讯所采用的通讯格式为psi5通讯。因此，被测通讯电路模块在接收该传感数据后，还对传感数据进行格式转换，将传感数据格式转换为区域控制器所能识别格式。区域控制器根据转换后的传感数据生成控制信号，并将控制信号发送至上位机中。
[0108]
s150、上位机根据控制信号对被测通讯电路模块的通讯进行功能测试。
[0109]
具体地，当上位机接收到该控制指令时，则说明被测通讯电路模块工作正常；上位机未接收到该控制指令时，则说明被测通讯电路模块工作异常。
[0110]
s160、上位机获取被测通讯电路模块串行数据。
[0111]
示例性地，区域控制器对被测通讯电路模块发送调试指令，被测通讯电路模块根据该调试指令生成串行数据，并将该串行数据发送至区域控制器中。区域控制器将串行数据发送至上位机。
[0112]
s170、上位机根据串行数据对被测通讯电路模块的供电电压、信号输出端口的叠加电压以及触发电压进行测试。
[0113]
示例性地，上位机对区域控制器发送的串行数据进行解析，并得到被测通讯电路模块的供电电压、信号输出端口的叠加电压以及触发电压，并将上述测电压和相对应的参考值进行对比，得到测试结果。
[0114]
图5是本发明实施例提供的被测通讯电路模块配置的流程图。在上述实施例的基础上，可选地，参照图5，所述区域控制器根据所述配置指令对被测通讯电路模块进行配置的步骤包括：
[0115]
s121、设置通用寄存器。
[0116]
示例性地，对被测通讯电路模块的收发器芯片的同步脉冲长度、产生工模脉冲的方法和外部时钟进行设置，对传感器单元的校验方式进行设置，对被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压进行设置。
[0117]
s122、设置通道控制寄存器。
[0118]
示例性地，对被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压是否使能进行设置，对被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚是否使能进行设置。
[0119]
s123、设置通道相关寄存器。
[0120]
示例性地，对被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚的同步脉冲电压、静态电流限值、连接的传感器单元的数量和通讯速率进行设置，对被测通讯电路模块的收发器芯片的输出引脚是否为中断输出进行设置。需要说明的是，不同的被测通讯电路模块所包含的信道数量不同，在被测通讯电路模块包含多个信道时，需要对每个信道的通道相关寄存器进行设置。
[0121]
s124、设置诊断寄存器。
[0122]
具体地，对被测通讯电路模块的输出欠压故障、对地短路故障、对地漏电流故障、电源短路故障和相邻通道间短路故障进行设置，对传感器单元的开路故障进行设置。
[0123]
需要说明的是，具体地设置内容可根据实际测试时的被测通讯电路模块进行确定，本实施例对此不做限制。
[0124]
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
[0125]
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

技术特征：
1.一种通讯电路测试装置，其特征在于，包括：区域控制器，所述区域控制器设置有被测通讯电路模块；emc负载箱，所述emc负载箱与所述区域控制器连接；所述emc负载箱设置有屏蔽层，所述屏蔽层用于屏蔽干扰信号；所述emc负载箱设置有传感器单元，所述传感器单元用于接收所述被测通讯电路模块发出的指令，并将所述传感器单元内的数据反馈给被测通讯电路模块，所述emc负载箱上设置有测试端口，所述测试端口用于连接测试设备；上位机，所述上位机与所述emc负载箱之间连接有通讯转换模块，所述上位机通过所述通讯转换模块与所述区域控制器进行通讯，所述上位机用于在所述区域控制器工作后，对所述被测通讯电路模块进行测试相关联的移位寄存器配置；其中，所述区域控制器和所述emc负载箱设置于emc实验室内。2.根据权利要求1所述的通讯电路测试装置，其特征在于，所述emc负载箱包括：模拟单元和信号传输单元；所述模拟单元用于为所述传感器单元提供模拟环境；所述信号传输单元用于接收所述区域控制器发送的控制信号，所述信号传输单元与所述区域控制器连接。3.根据权利要求1所述的通讯电路测试装置，其特征在于，所述通讯转换模块包括：通讯转换单元和光纤桥接单元；所述通讯转换单元用于将usb信号转换为can信号，或，将can信号转换为usb信号；所述通讯转换单元的第一端与所述上位机连接，所述通讯转换单元的第二端与所述光纤桥接单元连接；所述光纤桥接单元用于将emc实验室外部的信号转接至emc实验室内部，或，将emc实验室内部的信号转接至emc实验室外部；所述光纤桥接单元的第二端与所述被测通讯电路模块连接。4.根据权利要求3所述的通讯电路测试装置，其特征在于，所述光纤桥接单元包括：第一光桥、第二光桥和光纤；所述第一光桥和所述第二光桥均用于信号转换，将所述can信号转换为光信号，或，将光信号转换为can信号；所述第一光桥设置于所述emc实验室外部，所述第一光桥的第一端作为所述光纤桥接单元的第一端，所述第一光桥的第二端通过所述光纤和所述第二光桥的第一端连接，所述第二光桥的第二端作为所述光纤桥接单元的第二端。5.根据权利要求1所述的通讯电路测试装置，其特征在于，还包括：人工电源网络；所述人工电源网络用于为所述emc负载箱提供电源，所述人工电源网络与所述emc负载箱连接；所述emc负载箱与所述被测通讯电路模块之间采用双绞线连接。6.根据权利要求1所述的通讯电路测试装置，其特征在于，所述emc实验室内设置有天线，所述天线用于产生所述干扰信号；所述被测通讯电路模块为psi5通讯电路模块,所述psi5通讯电路模块的收发器芯片的驱动控制引脚用于控制驱动引脚的供电，所述收发器芯片的驱动引脚用于控制收发器芯片的第一信号输出引脚的供电和收发器芯片的第二信号输出引脚的供电，所述收发器芯片的
第一信号输出引脚和所述收发器芯片的第二信号输出引脚用于为所述传感器单元供电，以及，用于与所述传感器单元进行通讯，所述收发器芯片的第一信号输出引脚通过第一阻容匹配单元与所述传感器单元连接，所述收发器芯片的第二信号输出引脚通过第二阻容匹配单元与所述传感器单元连接，所述收发器芯片的第一高电平端通过第六电容与所述收发器芯片的第一低电平端连接，所述收发器芯片的第二高电平端通过第七电容与所述收发器芯片的第二低电平端连接，所述第六电容用于为所述传感器单元提供触发电压，所述第七电容用于为所述传感器单元提供触发电压，所述收发器芯片的第一输出引脚用于中断信号传输以及数据读取，所述收发器芯片的第二输出引脚用于中断信号传输以及数据读取，所述收发器芯片的使能引脚、所述收发器芯片的时钟引脚、所述收发器芯片的数据输入引脚和所述收发器芯片的数据输出引脚用于传输所述收发器芯片内寄存器控制信号及串行数据，所述收发器芯片的复位引脚用于复位所述收发器芯片。7.一种通讯电路测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-6任一项所述的通讯电路测试装置，所述通讯电路测试方法包括：上位机根据交互内容生成配置指令；区域控制器根据所述配置指令对被测通讯电路模块进行配置；所述被测通讯电路模块获取传感信号；所述区域控制器根据所述传感信号生成控制信号；所述上位机根据所述控制信号对所述被测通讯电路模块的通讯进行功能测试；所述上位机获取所述被测通讯电路模块串行数据；所述上位机根据所述串行数据对所述被测通讯电路模块的供电电压、信号输出端口的叠加电压以及触发电压进行测试。8.根据权利要求7所述的通讯电路测试方法，其特征在于，所述区域控制器根据所述配置指令对被测通讯电路模块进行配置的步骤包括：设置通用寄存器；设置通道控制寄存器；设置通道相关寄存器；设置诊断寄存器。9.根据权利要求8所述的通讯电路测试方法，其特征在于，设置通用寄存器的步骤包括：对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的同步脉冲长度、产生工模脉冲的方法和外部时钟进行设置；对所述传感器单元的校验方式进行设置；对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压进行设置；设置通道控制寄存器的步骤包括：对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的驱动引脚的输出电压是否使能进行设置；对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚是否使能进行设置；设置通道相关寄存器的步骤包括：对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的信号输出引脚的同步脉冲电压、静态电流限值、连接的传感器单元的数量和通讯速率进行设置；
对所述被测通讯电路模块的收发器芯片的输出引脚是否为中断输出进行设置；设置诊断寄存器的步骤包括：对所述被测通讯电路模块的输出欠压故障、对地短路故障、对地漏电流故障、电源短路故障和相邻通道间短路故障进行设置；对所述传感器单元的开路故障进行设置。

技术总结
本发明公开了一种通讯电路测试装置及方法。该测试装置包括：区域控制器、EMC负载箱、通讯转换模块和上位机。区域控制器设置有被测通讯电路模块；EMC负载箱设置有屏蔽层、传感器单元和测试端口，传感器单元用于接收被测通讯电路模块发出的指令，并将传感器单元内的数据反馈给被测通讯电路模块，测试端口用于连接测试设备；上位机通过通讯转换模块与区域控制器进行通讯，上位机用于在区域控制器工作后，对被测通讯电路模块进行测试相关联的移位寄存器配置；其中，区域控制器和EMC负载箱设置于EMC实验室内。本发明实施例通过EMC负载箱对电磁干扰进行屏蔽，降低电磁干扰对传感器单元的影响，提高EMC测试的准确性，降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。


技术研发人员：焦育成 张赫昭 尹光雨 廖波 李海波
受保护的技术使用者：中国第一汽车股份有限公司
技术研发日：2023.06.25
技术公布日：2023/9/13