一种钽电容测试方法与流程

1.本发明涉及钽电容测试技术领域，特别涉及一种钽电容测试方法。


背景技术：

2.钽电容是电容器中体积小而又能达到较大电容量的产品，钽电容性能优异在军事通讯、航天、工业控制、影视设备、通讯仪表等领域中广泛应用，随着使用钽电容的电子产品更新速度越来越快，对钽电容的生产效率以及生产质量要求也越来高，通过对钽电容进行多方面测试以提高钽电容的质量，现有的测试设备在对钽电容进行测试时通常需要操作人员先将待测钽电容送料至相应的测试设备处，再通过操作相关测试设备对钽电容进行相关测试，待钽电容通过不同的测试设备逐一完成测试后即可对其进行包装出货，以提高钽电容的良品率，但上述方式其测试效率较慢，对钽电容的多项测试需要多个专门的操作人员分别负责，同时对钽电容进行逐个测试，由于钽电容一般体积较小，如此测试效率极慢，且测试成本较高，因此需要进行改进。


技术实现要素：

3.本发明的主要目的是提出一种钽电容测试方法，旨在提供一种能高效快速对钽电容进行多项测试的测试方法以及测试设备。
4.为实现上述目的，本发明提出一种钽电容测试方法，包括以下步骤：s1、将待测钽电容放置于上料组件处，由上料组件将待测钽电容移动至递料组件；s2、由递料组件对待测钽电容进行取料，并运送至各检测组件处；s3、由各检测组件对待测钽电容进行相应测试；s4、完成各项测试后递料组件最终带动钽电容移动至出料组件处，由出料组件对通过测试的钽电容进行包装出料。
5.具体地，递料组件包括递料转盘，递料转盘处周设有若干递料治具，递料转盘外侧设有与其相邻设置的上料组件、出料组件以及多个检测组件，上料组件、出料组件和多个检测组件分别间隔周设与递料转盘的外侧，上料组件用于对待测钽电容进行上料，多个检测组件用于对钽电容进行多项性能测试，出料组件用于对完成测试的钽电容进行分类包装出料。
6.具体地，所述递料转盘的外侧设有上料工位，所述上料组件设于上料工位处，上料组件包括上料震动盘和上料道，上料道的一端与上料震动盘的出料口连接，上料道的另一端延伸至递料转盘处且位于所述递料治具的下方。
7.具体地，上料组件和所述检测组件之间设有极性调节组件，极性调节组件包括底面视觉识别装置和极性调节装置，底面视觉识别装置与极性调节装置控制连接，极性调节装置包括极性调节电机和极性调节块，极性调节电机的电机轴端与极性调节块传动连接，极性调节块处设有极性调节口，极性调节口设于所述递料治具的下方，递料治具带动待测钽电容移动至极性调节口处并通过极性调节电机带动极性调节块旋转进而带动待测钽电容旋转以实现对待测钽电容的极性调节。
8.具体地，所述检测组件包括第一充电漏电测试组件、浪涌冲击测试组件、第二充电漏电测试组件、残压测试组件、容量和损耗角测试组件以及等效串联电阻测试组件。
9.具体地，所述第一充电漏电测试组件包括第一充电漏电转盘和多个设于第一充电漏电转盘边沿的第一充电漏电测试夹具，第一充电漏电转盘的中部设有第一检测电柱，第一检测电柱与第一充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试。
10.具体地，所述浪涌冲击测试组件包括浪涌冲击装置，浪涌冲击装置设于所述递料治具下方，浪涌冲击装置处设有浪涌冲击测试口以便于对待测钽电容进行浪涌冲击测试；所述第二充电漏电测试组件包括第二充电漏电转盘和多个设于第二充电漏电转盘边沿的第二充电漏电测试夹具，第二充电漏电转盘的中部设有第二检测电柱，第二检测电柱与第二充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试。
11.具体地，所述残压测试组件残压测试板，残压测试板设于所述递料治具下方，残压测试版朝向递料治具的一侧设有残压测试槽。
12.具体地，所述容量和损耗角测试组件，包括容量和损耗角测试装置，容量和损耗角测试装置设于所述递料治具下方，容量和损耗角测试装置处设有零件测试槽，零件测试槽用于对待测钽电容进行容量和损耗角测试；所述等效串联电阻测试组件包括等效串联电阻测试装置，等效串联电阻测试装置设于递料治具下方，等效串联电阻测试装置设有电阻测试槽，电阻测试槽用于对待测钽电容进行串联电阻测试。
13.具体地，所述出料组件包括出料包装件和出料管，出料包装件用于对通过测试的钽电容进行包装，出料管用于对完成包装后的钽电容进行出料。
14.本发明技术方案通过在递料转盘处设置若干递料治具，以便于通过递料治具对待测钽电容进行抓取，再随着递料转盘的转动，将待测钽电容移动至不同的检测组件处，由检测组件对待测钽电容进行检测，以提高对钽电容的检测效率以及节约检测成本。
附图说明
15.图1为本发明的结构示意图。
16.图2为本发明的立体结构示意图之一。
17.图3为图2的a处的放大示意图。
18.图4为本发明的立体结构示意图之二。
19.附图标记包括：10.递料转盘；11.递料治具；20.上料震动盘；21.上料道；30.出料包装件；31.出料管；40.底面视觉识别装置；41.极性调节装置；50.第一充电漏电测试组件；60.浪涌冲击测试组件；70.第二充电漏电测试组件；80.残压测试组件；90.容量和损耗角测试组件；100.等效串联电阻测试组件。
具体实施方式
20.下面将结合附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
21.需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后、顶、
底、内、外、垂向、横向、纵向，逆时针、顺时针、周向、径向、轴向
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
22.另外，若本发明实施例中有涉及“第一”或者“第二”等的描述，则该“第一”或者“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
23.如图1至4所示，一种钽电容测试方法，包括以下步骤：s1、将待测钽电容放置于上料组件处，由上料组件将待测钽电容移动至递料组件；s2、由递料组件对待测钽电容进行取料，并运送至各检测组件处；s3、由各检测组件对待测钽电容进行相应测试；s4、完成各项测试后递料组件最终带动钽电容移动至出料组件处，由出料组件对通过测试的钽电容进行包装出料。
24.同时还提供一种钽电容测试设备，通过该测试设备与该测试方法配合能极大的提高钽电容的检测效率，递料组件包括递料转盘10，递料转盘10处周设有若干递料治具11，递料转盘10外侧设有与其相邻设置的上料组件、出料组件以及多个检测组件，上料组件、出料组件和多个检测组件分别间隔周设与递料转盘10的外侧，上料组件用于对待测钽电容进行上料，多个检测组件用于对钽电容进行多项性能测试，出料组件用于对完成测试的钽电容进行分类包装出料。在完成钽电容的生产后，需要对钽电容进行测试，由上料组件对若干钽电容进行依次上料，再由递料转盘10处的递料治具11对待测钽电容进行取料，本实施例中递料治具11处设有吸料头，通过吸料头对待测钽电容进行吸取，由于在递料转盘10处设有多个递料治具11，通过转动递料转盘10以便于位于递料转盘10处的不同的递料治具11对待测钽电容进行吸取，并由递料转盘10带动待测钽电容移动至不同工位处的检测组件进行检测，通过不同的检测组件对待测钽电容进行多项检测后以便于快速筛选出不合格的钽电容，同时当递料治具11移动至出料组件处时，由出料组件对通过测试的钽电容进行包装，再对钽电容进行出料，同时对未通过测试的钽电容进行回收，进而提高钽电容的测试效率，提高钽电容的合格率，降低钽电容的测试成本。
25.递料转盘10的外侧设有上料工位，上料组件设于上料工位处，上料组件包括上料震动盘20和上料道21，上料道21的一端与上料震动盘20的出料口连接，上料道21的另一端延伸至递料转盘10处且位于递料治具11的下方。本实施例中通过上料震动盘20将待测钽电容移动至上料道21处并最终沿上料道21移动至递料治具11下方，以便于递料治具11对待测钽电容进行吸取抓料。
26.上料组件和检测组件之间设有极性调节组件，极性调节组件包括底面视觉识别装置40和极性调节装置41，底面视觉识别装置40与极性调节装置41控制连接，极性调节装置41包括极性调节电机和极性调节块，极性调节电机的电机轴端与极性调节块传动连接，极性调节块处设有极性调节口，极性调节口设于递料治具11的下方，递料治具11带动待测钽电容移动至极性调节口处并通过极性调节电机带动极性调节块旋转进而带动待测钽电容旋转以实现对待测钽电容的极性调节。通过设置底面视觉识别装置40以便于对递料治具11
所抓取的待测钽电容进行电极识别，本实施例中采用ccd相机进行识别，再通过极性调节装置41对待测钽电容的电极朝向进行调节，通过极性调节电机带动极性调节块旋转进而带动待测钽电容旋转以实现对待测钽电容的极性调节，以使得待测钽电容在进入检测组件前均将电极调节至相同方向，以便于后续检测组件对待测钽电容进行快速检测。
27.检测组件包括第一充电漏电测试组件50、浪涌冲击测试组件60、第二充电漏电测试组件70、残压测试组件80、容量和损耗角测试组件90以及等效串联电阻测试组件100；第一充电漏电测试组件50包括第一充电漏电转盘和多个设于第一充电漏电转盘边沿的第一充电漏电测试夹具，第一充电漏电转盘的中部设有第一检测电柱，第一检测电柱与第一充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试；浪涌冲击测试组件60包括浪涌冲击装置，浪涌冲击装置设于递料治具11下方，浪涌冲击装置处设有浪涌冲击测试口以便于对待测钽电容进行浪涌冲击测试；第二充电漏电测试组件70包括第二充电漏电转盘和多个设于第二充电漏电转盘边沿的第二充电漏电测试夹具，第二充电漏电转盘的中部设有第二检测电柱，第二检测电柱与第二充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试；残压测试组件80残压测试板，残压测试板设于递料治具11下方，残压测试版朝向递料治具11的一侧设有残压测试槽；容量和损耗角测试组件90，包括容量和损耗角测试装置，容量和损耗角测试装置设于递料治具11下方，容量和损耗角测试装置处设有零件测试槽，零件测试槽用于对待测钽电容进行容量和损耗角测试；等效串联电阻测试组件100包括等效串联电阻测试装置，等效串联电阻测试装置设于递料治具11下方，等效串联电阻测试装置设有电阻测试槽，电阻测试槽用于对待测钽电容进行串联电阻测试。本实施例中在递料转盘10的外侧依序设有第一充电漏电测试组件50、浪涌冲击测试组件60、第二充电漏电测试组件70、残压测试组件80、容量和损耗角测试组件90以及等效串联电阻测试组件100，通过递料转盘10的转动带动递料治具11依序转动至上述测试组件处，由第一充电漏电测试组件50、浪涌冲击测试组件60、第二充电漏电测试组件70、残压测试组件80、容量和损耗角测试组件90以及等效串联电阻测试组件100分别对待测钽电容进行不同的检测，以提高钽电容的检测效率。
28.出料组件包括出料包装件30和出料管31，出料包装件30用于对通过测试的钽电容进行包装，出料管31用于对完成包装后的钽电容进行出料。通过出料包装间对通过测试的钽电容进行包装，再由递料治具11将包装好的钽电容放置于出料管31处，由于重力作用，包装好的钽电容会沿出料管31移动至外部收料箱内进行统一收料，同时未通过测试的钽电容也会通过递料治具11放置于与出料管31相邻的收料管处，同样由于重力作用沿收料管移动至外部回收箱内进行统一回收，以避免造成资源浪费。
29.以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：
1.一种钽电容测试方法，其特征在于，包括以下步骤：s1、将待测钽电容放置于上料组件处，由上料组件将待测钽电容移动至递料组件；s2、由递料组件对待测钽电容进行取料，并运送至各检测组件处；s3、由各检测组件对待测钽电容进行相应测试；s4、完成各项测试后递料组件最终带动钽电容移动至出料组件处，由出料组件对通过测试的钽电容进行包装出料。2.根据权利要求1所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述递料组件包括递料转盘，递料转盘处周设有若干递料治具，递料转盘外侧设有与其相邻设置的上料组件、出料组件以及多个检测组件，上料组件、出料组件和多个检测组件分别间隔周设与递料转盘的外侧，上料组件用于对待测钽电容进行上料，多个检测组件用于对钽电容进行多项性能测试，出料组件用于对完成测试的钽电容进行分类包装出料。3.根据权利要求2所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述递料转盘的外侧设有上料工位，所述上料组件设于上料工位处，上料组件包括上料震动盘和上料道，上料道的一端与上料震动盘的出料口连接，上料道的另一端延伸至递料转盘处且位于所述递料治具的下方。4.根据权利要求2所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：上料组件和所述检测组件之间设有极性调节组件，极性调节组件包括底面视觉识别装置和极性调节装置，底面视觉识别装置与极性调节装置控制连接，极性调节装置包括极性调节电机和极性调节块，极性调节电机的电机轴端与极性调节块传动连接，极性调节块处设有极性调节口，极性调节口设于所述递料治具的下方，递料治具带动待测钽电容移动至极性调节口处并通过极性调节电机带动极性调节块旋转进而带动待测钽电容旋转以实现对待测钽电容的极性调节。5.根据权利要求2所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述检测组件包括第一充电漏电测试组件、浪涌冲击测试组件、第二充电漏电测试组件、残压测试组件、容量和损耗角测试组件以及等效串联电阻测试组件。6.根据权利要求5所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述第一充电漏电测试组件包括第一充电漏电转盘和多个设于第一充电漏电转盘边沿的第一充电漏电测试夹具，第一充电漏电转盘的中部设有第一检测电柱，第一检测电柱与第一充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试。7.根据权利要求5所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述浪涌冲击测试组件包括浪涌冲击装置，浪涌冲击装置设于所述递料治具下方，浪涌冲击装置处设有浪涌冲击测试口以便于对待测钽电容进行浪涌冲击测试；所述第二充电漏电测试组件包括第二充电漏电转盘和多个设于第二充电漏电转盘边沿的第二充电漏电测试夹具，第二充电漏电转盘的中部设有第二检测电柱，第二检测电柱与第二充电漏电测试夹具电连接以实现对待测钽电容的充电漏电测试。8.根据权利要求5所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述残压测试组件残压测试板，残压测试板设于所述递料治具下方，残压测试版朝向递料治具的一侧设有残压测试槽。9.根据权利要求5所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述容量和损耗角测试组件，包括容量和损耗角测试装置，容量和损耗角测试装置设于所述递料治具下方，容量和损
耗角测试装置处设有零件测试槽，零件测试槽用于对待测钽电容进行容量和损耗角测试；所述等效串联电阻测试组件包括等效串联电阻测试装置，等效串联电阻测试装置设于递料治具下方，等效串联电阻测试装置设有电阻测试槽，电阻测试槽用于对待测钽电容进行串联电阻测试。10.根据权利要求1所述的一种钽电容测试方法，其特征在于：所述出料组件包括出料包装件和出料管，出料包装件用于对通过测试的钽电容进行包装，出料管用于对完成包装后的钽电容进行出料。

技术总结
本发明涉及钽电容测试技术领域，公开了一种钽电容测试方法，包括递料组件，递料组件包括递料转盘，递料转盘处周设有若干递料治具，递料转盘外侧设有与其相邻设置的上料组件、出料组件以及多个检测组件，上料组件、出料组件和多个检测组件分别间隔周设与递料转盘的外侧，上料组件用于对待测钽电容进行上料，多个检测组件用于对钽电容进行多项性能测试，出料组件用于对完成测试的钽电容进行分类包装出料；通过在递料转盘处设置若干递料治具，以便于通过递料治具对待测钽电容进行抓取，再随着递料转盘的转动，将待测钽电容移动至不同的检测组件处，由检测组件对待测钽电容进行检测，以提高对钽电容的检测效率以及节约检测成本。以提高对钽电容的检测效率以及节约检测成本。以提高对钽电容的检测效率以及节约检测成本。


技术研发人员：张明 徐鹏 崔强 余新飞 唐小东
受保护的技术使用者：深圳市微特精密科技股份有限公司
技术研发日：2023.07.06
技术公布日：2023/9/19