测试连接组件及射频装置的制作方法

1.本技术涉及射频测试技术领域，特别涉及一种测试连接组件及射频装置。


背景技术：

2.随着电子产业向轻、薄、短、小、高速、高密度发展，目前无线通讯技术已广泛应用于各式各样的无线通讯产品以接收或发送各种无线信号。无线通讯产品中配置有能接收或发送射频(radio frequency，简称为rf)信号的射频模组。
3.相关技术中，射频测试仪通过探针与射频模组中射频开关电性连接，从而对射频模组的射频信号进行标定，提升射频模组的精度。
4.然而，上述采用探针配合射频开关以标定射频模组时，需要在射频模组上设置相应的射频开关，导致射频模组的体积较大。


技术实现要素：

5.本技术提供一种测试连接组件及射频装置，采用该测试连接组件测试射频模组的射频信号时，无需在射频模组上设置相应的射频开关，从而可以减小射频模组的体积。
6.本技术的第一方面提供一种测试连接组件，用于测试射频模组，射频模组包括射频电路、传输线和天线电路，射频电路和天线电路通过传输线电性连接；测试连接组件包括：测试连接件和短路件，测试连接件用于与传输线电性连接，短路件用于与传输线短路连接，测试连接件和短路件在传输线上间隔设置；短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，其中n为非负的整数，λ为射频信号的波长。
7.本技术实施例提供的测试连接组件，测试连接组件可以用于测试射频模组，射频模组包括射频电路、传输线和天线电路，射频电路和天线电路通过传输线电性连接。射频电路用于处理信号，天线电路用于接收或发送信号。测试连接组件包括：测试连接件和短路件，测试连接件用于与传输线电性连接，短路件用于与传输线短路连接。短路件的阻抗为0。在需要测试射频模组时，将测试连接件和短路件间隔设置在传输线上，短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，该范围与(1+2n)*λ/4较为接近，其中n为非负的整数，λ为射频信号的波长。通过传输线理论可知，当测试连接件和短路件之间的传输线的延伸长度等于(1+2n)*λ/4时，测试连接件向短路件方向的输入阻抗为无穷大，从而使得测试连接件向短路件方向的传输线处于断开状态，以将射频电路和天线电路断开，实现射频模组的测试。当测试完成之后，将测试连接组件与射频模组分开，射频电路和天线电路重新恢复导通状态，从而使得该射频模组正常接收或发送信号。这样，无需在射频模组上设置射频开关，使得射频模组的体积较小，成本较低，避免射频开关对射频模组的性能影响。另外，将测试连接组件与射频模组分离即可使射频电路和天线电路重新恢复导通状态，无需采用锡焊，避免了锡焊对射频模组的损伤以及锡焊质量对射频模组性能的影响。
8.在一种可能的实现方式中，短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为λ/4-0.005λ至λ/4+0.005λ。
9.这样，短路件与测试连接件之间距离较短，有利于射频模组的小型化。
10.在一种可能的实现方式中，短路件位于测试连接件与天线电路之间。
11.这样，可以测定射频电路。
12.在一种可能的实现方式中，短路件位于测试连接件与射频电路之间。
13.这样，可以测定天线电路。
14.在一种可能的实现方式中，包括基座，短路件和测试连接件均安装在基座上，基座包括沿厚度方向相对设置的第一表面和第二表面，第一表面用于朝向射频模组；短路件和测试连接件的至少部分均位于第一表面。
15.这样，基座能够提高短路件和测试连接件之间距离的准确性，以提高测定精度。
16.在一种可能的实现方式中，包括固定件，固定件位于第二表面，短路件和测试连接件中的至少一者插装在固定件中，并与固定件连接。
17.这样，固定件能够进一步提高短路件和/或测试连接件与基座之间的连接稳定性。
18.在一种可能的实现方式中，测试连接件插装在固定件中，且测试连接件的不同部分分别位于基座和固定件中，测试连接件的一端位于第一表面，且用于与传输线电性连接，测试连接件的另一端位于固定件背离基座的一侧。
19.这样，测试连接件与固定件的连接方式较为简单，且能够较好的提高测试连接件与基座之间的连接稳定性。
20.在一种可能的实现方式中，短路件插装在固定件中，且短路件的不同部分分别位于基座和固定件中，短路件的一端位于第一表面，且用于与传输线短路连接。
21.这样，短路件与固定件的连接方式较为简单，且能够较好的提高短路件与基座之间的连接稳定性。
22.本技术的第二方面提供一种射频装置，包括射频模组和上述第一方面中的测试连接组件，测试连接组件与射频模组的传输线电性连接。
23.本技术实施例提供的射频装置，射频装置包括测试连接组件，测试连接组件可以用于测试射频模组，射频模组包括射频电路、传输线和天线电路，射频电路和天线电路通过传输线电性连接。射频电路用于处理信号，天线电路用于接收或发送信号。测试连接组件包括：测试连接件和短路件，测试连接件用于与传输线电性连接，短路件用于与传输线短路连接。短路件的阻抗为0。在需要测试射频模组时，将测试连接件和短路件间隔设置在传输线上，短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，该范围与(1+2n)*λ/4较为接近，其中n为非负的整数，λ为射频信号的波长。通过传输线理论可知，当测试连接件和短路件之间的传输线的延伸长度等于(1+2n)*λ/4时，测试连接件向短路件方向的输入阻抗为无穷大，从而使得测试连接件向短路件方向的传输线处于断开状态，以将射频电路和天线电路断开，实现射频模组的测试。当测试完成之后，将测试连接组件与射频模组分开，射频电路和天线电路重新恢复导通状态，从而使得该射频模组正常接收或发送信号。这样，无需在射频模组上设置射频开关，使得射频模组的体积较小，成本较低，避免射频开关对射频模组的性能影响。另外，将测试连接组件与射频模组分离即可使射频电路和天线电路重新恢复导通状态，无需采用锡焊，避免了锡焊对射频模组
的损伤以及锡焊质量对射频模组性能的影响。
24.在一种可能的实现方式中，射频模组包括射频电路和天线电路，传输线包括主传输线和多个子传输线，主传输线的一端与射频电路电性连接，主传输线的另一端与多个子传输线的一端电性连接，每个子传输线的另一端与天线电路电性连接。
25.这样，可以将一路信号输入分成2路或更多路的信号输出，以适用更多的传输要求。
附图说明
26.图1为本技术实施例提供的射频装置的结构示意图；
27.图2为本技术实施例提供的测试连接件与短路件的立体图；
28.图3为本技术实施例提供的测试连接件与短路件的结构示意图；
29.图4为本技术实施例提供的测试连接件与短路件的另一结构示意图；
30.图5为本技术实施例提供的测试连接件与短路件的另一结构示意图；
31.图6为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的结构示意图；
32.图7为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
33.图8为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
34.图9为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
35.图10为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
36.图11为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
37.图12为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
38.图13为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
39.图14为本技术实施例提供的主传输线和子传输线的另一结构示意图；
40.图15为本技术实施例提供的测试连接组件的立体图；
41.图16为本技术实施例提供的测试连接组件的另一立体图；
42.图17为本技术实施例提供的测试连接组件的另一立体图；
43.图18为本技术实施例提供的射频装置的实际产品的频率与回波损耗的曲线图；
44.图19为本技术实施例提供的射频装置的频率与回波损耗的仿真曲线图；
45.图20为本技术实施例提供的射频装置的频率与回波损耗的另一仿真曲线图。
46.附图标记说明：
47.100-射频装置；101-射频模组；
48.110-测试连接组件；111-测试连接件；
49.112-短路件；1121-第一短路件；
50.1122-第二短路件；120-射频电路；
51.130-传输线；131-主传输线；
52.132-子传输线；133-信号传输线；
53.134-接地线；140-天线电路；
54.150-天线；160-基座；
55.161-第一表面；162-第二表面；
56.170-固定件；180-射频测试件。
具体实施方式
57.本技术的实施方式部分使用的术语仅用于对本技术的具体实施例进行解释，而非旨在限定本技术。
58.相关技术中，由于无线通讯产品中的射频模组属于信号收发的重要构件，因此需要对射频模组的性能进行标定，以提升射频模组的精度。其中，“标定”是指，通过射频模组链路增益控制，保障输出端口的输出功率在对用户承诺的输出功率范围内，通常使用标准的功率计等射频测试件对射频模组进行测试，将输出差异告知射频模组进行补偿，从而提升射频模组的精度。
59.射频测试件可以与探针电性连接，射频模组上设置有射频开关，射频测试件通过探针与射频开关的配合，以对射频模组进行测试。射频模组可以包括射频电路和天线电路，射频电路对信号进行处理，天线电路对信号进行接收或发送。射频电路和天线电路之间通过传输线电性连接，在传输线上设置有射频开关，在射频测试时，探针插入射频开关，射频开关断开射频电路和天线电路，然后通过探针对射频电路进行测试；在射频测试完成后，将探针拔出射频开关，射频开关闭合以导通射频电路和天线电路，使得该射频模组正常接收或发送信号。
60.然而，上述采用探针配合射频开关以测试射频模组的射频信号，需要在射频模组上设置相应的射频开关，射频开关占用体积，导致射频模组的体积较大。另外，射频开关的结构较为复杂，导致射频模组的结构较为复杂，增加了射频模组的成本；射频开关易导致射频电路和天线电路之间的传输线的阻抗发生不匹配，从而降低射频模组的性能，影响射频测试精度；其次，射频开关的使用寿命对射频模组的使用寿命造成约束，不利于延长射频模组的使用寿命。
61.可以采用物理断开的方式来测试射频电路的性能，例如，在形成射频模组的过程中，将射频电路与天线电路之间的传输线断开成第一传输线和第二传输线，第一传输线与射频电路电性连接，第二传输线与天线电路电性连接，第一传输线和第二传输线间隔设置，以将射频电路与天线电路之间断开。探针通过第一传输线测试射频电路的性能；待射频测试完毕后，通过锡焊将第一传输线和第二传输线连接，从而使得该射频模组正常接收或发送信号。这样，无需设置射频开关，能够降低成本，简化射频模组的结构。然而，在完成射频测试后，需要采用锡焊，可能会损伤射频模组；另外，焊接的质量会影响到第一传输线和第二传输线的阻抗匹配，对射频模组的性能造成影响。
62.基于上述问题，本技术实施例提供一种测试连接组件及射频装置，测试连接组件可以用于测试射频模组，射频模组包括射频电路、传输线和天线电路，射频电路和天线电路通过传输线电性连接。射频电路用于处理信号，天线电路用于接收或发送信号。测试连接组件包括：测试连接件和短路件，测试连接件用于与传输线电性连接，短路件用于与传输线短路连接。短路件的阻抗为0。在需要测试射频模组时，将测试连接件和短路件间隔设置在传输线上，短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，该范围与(1+2n)*λ/4较为接近，其中n为非负的整数，λ为射频信号的波长。通过传输线理论可知，当测试连接件和短路件之间的传输线的延伸长度等于(1+2n)*λ/4时，测试连接件向短路件方向的输入阻抗为无穷大，从而使得测试连接件向短路件方向的传输线处于断开状态，以将射频电路和天线电路断开，实现射频模组的测试。当测试完成之
后，将测试连接组件与射频模组分开，射频电路和天线电路重新恢复导通状态，从而使得该射频模组正常接收或发送信号。这样，无需在射频模组上设置射频开关，使得射频模组的体积较小，成本较低，避免射频开关对射频模组的性能影响。另外，将测试连接组件与射频模组分离即可使射频电路和天线电路重新恢复导通状态，无需采用锡焊，避免了锡焊对射频模组的损伤以及锡焊质量对射频模组性能的影响。
63.以下将结合图1-图20对本技术实施例提供的射频装置100进行详细的说明。
64.本技术实施例提供一种射频装置100，如图1所示，该射频装置100可以包括射频模组101，该射频模组101可以应用于无线通信设备，其中，无线通信设备可以包括但不限于为基站、雷达、手机、平板电脑、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，umpc)、手持计算机、对讲机、上网本、pos机、个人数字助理(personal digital assistant，pda)、行车记录仪、安防设备等具有射频模组101的移动终端、固定终端或可折叠终端。
65.射频模组101可以用于接收、发送以及处理无线信号，例如全球移动通讯系统(global system for mobile communications，简称为gms)、无线局域网(wireless lan，简称为wlan)、全球定位系统(global positioning system，简称为gps)、蓝牙(bluetooth)、手持式数字视频广播(digital video broadcasting-handheld，简称为dvb-h)等。
66.如图1所示，射频模组101中可以包括射频电路120和天线电路140。天线电路140用于接收或发送信号，天线电路140用于与天线150电性连接。例如，天线电路140可以通过天线馈点和天线匹配电路实现信号的接收或发送。射频电路120用于处理信号，例如，射频电路120可以对信号进行功率放大、编解码等。
67.射频电路120和天线电路140之间可以通过传输线130电性连接，传输线130可以为双导线、同轴电缆、波导(例如矩形波导、圆柱形波导等)、平面传输线(例如带状线、微带线、槽线、共面传输线等)。
68.示例性的，射频电路120、天线电路140和传输线130均可以设置在基板上，例如，基板可以为电路板，电路板用于承载射频电路120、天线电路140和传输线130等。
69.如图2所示，传输线130可以包括信号传输线133和接地线134，信号传输线133和接地线134可以间隔设置在电路板上。信号传输线133的一端与射频电路120电性连接，信号传输线133的另一端与天线电路140电性连接。其中，信号传输线133和接地线134的延伸方向可以相同，信号在传输线130上传输时，主要集中在信号传输线133与接地线134之间的区域，以减小信号的损失。
70.在对射频模组101进行测试时，需要将射频电路120和天线电路140之间断开，以测定射频电路120性能，并确保天线电路140不会影响射频电路120的测试；或者，测定天线电路140性能，并确保射频电路120不会影响天线电路140的测试。在测试完成之后，需要将射频电路120和天线电路140之间导通，以使射频模组101恢复正常工作。
71.如图1所示，射频装置100中可以包括射频测试件180，采用射频测试件180对射频模组101进行测试。射频测试件180的功能可以包括频谱分析、干扰分析、天馈线分析和功率分析等中的任意一种或多种。射频测试件180与射频模组101之间设置有测试连接组件110，射频测试件180通过测试连接组件110对射频模组101进行测试，另外，测试连接组件110还
用于在测试过程中将射频电路120和天线电路140之间断开。
72.以下对本技术实施例提供的测试连接组件110进行说明。
73.如图2所示，测试连接组件110可以包括测试连接件111和短路件112。其中，测试连接件111用于与传输线130电性连接，以在测试过程中与射频电路120或天线电路140之间电性连接，从而对射频电路120或天线电路140进行测试。短路件112用于与传输线130短路连接，在测试过程中，短路件112与测试连接件111的配合作用下，将射频电路120和天线电路140之间断开。示例性的，测试连接件111可以为探针或其他的测试连接件。
74.具体的，在测试过程中，测试连接件111和短路件112在传输线130上间隔设置，测试连接件111可以与信号传输线133电性连接，短路件112同时与信号传输线133和接地线134电性连接，从而使得短路件112与传输线130短路连接，短路件112处的阻抗为0。短路件112只要能够与信号传输线133和接地线134接触即可，其结构简单，成本较低。
75.示例性的，如图2所示，信号传输线133位于两个接地线134之间，且接地线134与信号传输线133朝向短路件112和测试连接件111一侧的表面齐平，此时，短路件112和测试连接件111的朝向传输线130一侧的表面可以为平面，使得短路件112和测试连接件111的结构较为简单，能够降低短路件112和测试连接件111的制备难度。
76.短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，该范围与(1+2n)*λ/4较为接近，其中n为非负的整数(例如，n＝0、1、2、3或其他任意的非负整数)，λ为射频信号的波长。
77.根据传输线理论，设测试连接件111处的分布参数阻抗(输入端阻抗)为zin(d)，负载阻抗(输出端阻抗)即短路件112的阻抗为z
l
，zc为传输线130的特性阻抗，β为相移常数，d＝(1+2n)*λ/4为测试连接件111和短路件112之间的传输线130的延伸长度，传输线理论公式为：
[0078][0079]
由于tanβd＝tan[(1+2n)π/2]＝∞；
[0080]
所以z
l
/tanβd＝0，zc/tanβd＝0；
[0081][0082]
从而可知，从测试连接件111处向短路件112方向的输入阻抗为∞，也可以看成短路件112通过距离为d的传输线130后其阻抗从0变成了∞，因此，测试连接件111向短路件112方向的电路被断开，形成虚拟开路，信号无法从测试连接件111向短路件112方向传输。
[0083]
当短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ时，该范围与(1+2n)*λ/4较为接近，测试连接件111向短路件112方向的输入阻抗可以近似为无穷大。从而使得测试连接件111向短路件112方向的传输线130处于断开状态，以将射频电路120和天线电路140断开，实现射频模组101的测试。当测试完成之后，将测试连接组件110与射频模组101分离，射频电路120和天线电路140重新恢复导通状态，从而使得该射频模组101正常接收或发送信号。测试连接组件110与射频模组101为各自独立的部件，分离后两者不会相互影响。这样，无需在射频模组101上设置射频开关，无需增加额外的测试开销，使得射频模组101的体积较小，成本较低，避免射频开关对射
频模组101的性能影响。另外，将测试连接组件110与射频模组101分离即可使射频电路120和天线电路140重新恢复导通状态，从而无需采用锡焊，避免了锡焊对射频模组101的损伤以及锡焊质量对射频模组101性能的影响。
[0084]
示例性的，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度可以包括但不限于为(1+2n)*λ/4-0.005λ、(1+2n)*λ/4-0.004λ、(1+2n)*λ/4-0.003λ、(1+2n)*λ/4-0.002λ、(1+2n)*λ/4-0.001λ、(1+2n)*λ/4、(1+2n)*λ/4+0.001λ、(1+2n)*λ/4+0.002λ、(1+2n)*λ/4+0.003λ、(1+2n)*λ/4+0.004λ、(1+2n)*λ/4+0.005λ等。例如，当n＝0时，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度范围可以为λ/4-0.005λ至λ/4+0.005λ，此时，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度较短，其占用体积较小，有利于射频模组101的小型化。
[0085]
本技术实施例以短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4为例进行说明。
[0086]
以下对本技术实施例测定射频模组101的实现方式进行说明。
[0087]
第一种实现方式中，如图3和图4所示，当需要测试射频电路120时，短路件112可以位于测试连接件111与天线电路140之间，从而使得测试连接件111与天线电路140之间断开，信号无法在测试连接件111与天线电路140之间传输。此时，射频电路120与测试连接件111之间处于导通状态，可以对射频电路120进行测试。在测试完毕之后，将测试连接件111、短路件112与传输线130分离，无需对射频模组101进行任何处理，就可以使得射频电路120与天线电路140重新恢复导通状态，其操作简单，且对射频模组101的性能无影响。
[0088]
第二种实现方式中，如图5所示，当需要测试天线电路140时，短路件112可以位于测试连接件111与射频电路120之间，从而使得测试连接件111与射频电路120之间断开，信号无法在测试连接件111与射频电路120之间传输。此时，天线电路140与测试连接件111之间处于导通状态，可以对天线电路140和天线150进行测试。在测试完毕之后，将测试连接件111、短路件112与传输线130分离，从而使得射频电路120与天线电路140重新恢复导通状态，其操作简单，且对射频模组101的性能无影响。
[0089]
以下对本技术实施例提供的传输线130进行说明。
[0090]
一些实施例中，射频电路120与天线电路140之间可以只设置一路信号传输通道，该信号传输通道由一个传输线130形成，传输线130的结构较为简单。在需要对射频电路120或天线电路140进行测试，传输线130上仅需设置一个测试连接件111和一个短路件112即可完成测试，测试连接组件110的结构也较为简单，其成本较低。
[0091]
一些实施例中，如图6所示，传输线130包括主传输线131和多个子传输线132，例如，主传输线131与多个子传输线132之间可以设置有功分器，将一路信号输入分成2路或更多路的信号输出，以扩宽射频模组101的频率。其中，主传输线131的一端与射频电路120电性连接，主传输线131的另一端与各个子传输线132电性连接。各个子传输线132可以均与同一个天线电路140连接，或者，各个子传输线132也可以分别与不同天线电路140连接。
[0092]
示例性的，各个子传输线132的长度可以相等或不等；子传输线132的数量可以包括但不限于为2个、3个、4个或5个及以上。
[0093]
以下对测试射频电路120，且传输线130包括主传输线131和多个子传输线132的实施方式进行说明。
[0094]
一些示例中，如图6所示，可以将一个测试连接件111和一个短路件112均设置在主传输线131上，测试连接件111位于短路件112与射频电路120之间，测试连接件111与短路件112之间的主传输线131被断开，以使测试连接件111与天线电路140之间断开，从而实现对射频电路120的测定。这样，测试连接件111与短路件112的数量均较少，使得测试连接组件110的结构较为简单。
[0095]
另一些示例中，如图7所示，可以将测试连接件111设置在主传输线131上，短路件112设置在子传输线132上，且每个子传输线132上均设置有短路件112。此时，测试连接件111与各个短路件112之间的传输线130均被断开，以使测试连接件111与天线电路140之间断开，从而实现对射频电路120的测定。这样，测试连接件111的数量较少，使得测试连接组件110的结构较为简单。
[0096]
例如，如图2所示，传输线130上设置有2个短路件112。其中，主传输线131与2个子传输线132电性连接，主传输线131上设置有一个测试连接件111，2子传输线132上均设置有一个短路件112，2个短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度(主传输线131和子传输线132的延伸长度之和)均为λ/4。当然的，2个短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度可以相等或不等，只要可以将短路件112与测试连接件111之间的电路断开即可。
[0097]
另一些示例中，如图8所示，可以将测试连接件111和短路件112均设置在子传输线132上，且每一个子传输线132上均设置有一个测试连接件111和一个短路件112，各个子传输线132上的测试连接件111和短路件112均可以将测试连接件111和短路件112之间的电路断开，从而实现射频电路120的测定。这样，多个测试连接件111可以得到多个测定值，从而可以保证测定的准确性。
[0098]
以下对测试天线电路140，且传输线130包括主传输线131和多个子传输线132的实施方式进行说明。
[0099]
一些示例中，如图9所示，可以将一个测试连接件111和一个短路件112均设置在主传输线131上，短路件112位于测试连接件111与射频电路120之间，测试连接件111与短路件112之间的主传输线131被断开，以使测试连接件111与射频电路120之间断开，从而实现对天线电路140的测定。这样，测试连接件111与短路件112的数量均较少，使得测试连接组件110的结构较为简单。
[0100]
另一些示例中，如图10所示，可以将一个短路件112设置在主传输线131上，在子传输线132上设置测试连接件111，且每一个子传输线132上均设置有一个测试连接件111。此时，短路件112与各个测试连接件111之间均被断开，从而使得各个测试连接件111均与射频电路120断开，以通过各个测试连接件111对天线电路140进行测定。这样，多个测试连接件111可以得到多个测定值，从而可以保证测定的准确性。
[0101]
另一些示例中，如图11所示，可以将一个短路件112设置在主传输线131上，在至少一个子传输线132上设置测试连接件111，使得设置有测试连接件111的子传输线132无法向射频电路120传输信号，且该测试连接件111通过该子传输线132可以测定天线电路140。另外，在至少一个子传输线132上未设置测试连接件111，相比于图10所示的示例，可以减少测试连接件111的数量，使得测试连接组件110的结构较为简单。
[0102]
另一些示例中，如图12所示，可以将短路件112同时设置在主传输线131和子传输
线132上，位于主传输线131的短路件112为第一短路件1121，位于子传输线132上的短路件112为第二短路件1122。将测试连接件111设置在主传输线131上，且第一短路件1121位于测试连接件111于射频电路120之间。其中，在至少一个子传输线132上设置有第二短路件1122，此时，测试连接件111与第一短路件1121之间的断开，且测试连接件111与设置有第二短路件1122的子传输线132断开。在至少一个子传输线132上未设置第二短路件1122，测试连接件111可以通过该未设置第二短路件1122的子传输线132对天线电路140进行测试。
[0103]
另一些示例中，如图13所示，可以将测试连接件111与短路件112均设置在子传输线132上，且每个子传输线132上均设置有一个测试连接件111与短路件112。同一子传输线132上，测试连接件111位于短路件112与天线电路140之间，各个测试连接件111均可以通过所在的子传输线132测定天线电路140。
[0104]
另一些示例中，如图14所示，可以将测试连接件111与短路件112均设置在子传输线132上，至少一个子传输线132上同时设置有一个测试连接件111与一个短路件112，测试连接件111位于短路件112与天线电路140之间，测试连接件111可以通过该子传输线132测定天线电路140。至少一个子传输线132上未设置有测试连接件111与短路件112，相比于图13所示的示例，可以减少测试连接件111和短路件112的数量，使得测试连接组件110的结构较为简单。
[0105]
可以理解的是，当测试连接件111与短路件112均位于主传输线131或子传输线132时，为了满足测试连接件111与短路件112之间的距离要求，需要将主传输线131或子传输线132设置的较长，不利于信号传输。若将测试连接件111与短路件112分别设置在主传输线131和子传输线132上时，则可以缩短主传输线131和子传输线132的总延伸长度，有利于信号传输。
[0106]
以下对测试连接件111与短路件112之间的组装方式进行说明。
[0107]
一些实施例中，测试连接件111与短路件112之间可以为相互独立的部件，在对射频模组101进行测试，分别将测试连接件111、短路件112与传输线130连接。这样，方便针对不同的射频模组101来调整测试连接件111与短路件112之间的距离，从而使得测试连接件111与短路件112之间的传输线130的距离能够满足各种射频模组101。
[0108]
一些实施例中，如图15所示，测试连接件111与短路件112可以先固定安装在一起，形成一个整体的测试连接组件110，在对射频模组101进行测试，无需调整测试连接件111与短路件112之间的距离，仅需一次安装即可将整个测试连接组件110与射频模组101之间连接到位，安装较为简便。另外，还可以提升测试连接件111与短路件112之间的距离的准确性，以使提高测试的精度。
[0109]
具体的，测试连接组件110可以包括基座160，短路件112和测试连接件111均安装在基座160上。基座160可以用于与夹具配合，方便测试连接组件110与射频模组101之间的固定。另外，基座160对短路件112和测试连接件111具有固定作用，可以提升测试连接件111与短路件112之间距离的准确性，以使提高测试的精度。基座160的面积可以设置较大，使得测试连接组件110与射频模组101之间的接触面积较大，从而提升测试连接组件110与射频模组101之间的连接稳定性，进一步提升测试精度。
[0110]
如图15所示，基座160包括沿厚度方向相对设置的第一表面161和第二表面162，第一表面161用于朝向射频模组101，在进行射频模组101测试时，第一表面161与射频模组101
之间相对设置。短路件112和测试连接件111的至少部分均位于第一表面161，从而方便短路件112、测试连接件111与射频模组101之间连接。
[0111]
如图16和图17所示，测试连接组件110可以包括固定件170，固定件170位于第二表面162，固定件170与基座160之间固定连接。例如，固定件170与基座160之间可以通过粘接、卡接、焊接、螺纹连接或一体成型等方式连接。短路件112和测试连接件111中的至少一者插装在固定件170中，并与固定件170连接。一些示例中，可以将短路件112插装在固定件170中，并与固定件170连接，从而使得短路件112与基座160、固定件170之间的连接稳定性较高。另一些示例中，可以将测试连接件111插装在固定件170中，并与固定件170连接，从而使得测试连接件111与基座160、固定件170之间的连接稳定性较高。其他一些示例中，可以将测试连接件111、短路件112均插装在固定件170中，并与固定件170连接，从而使得测试连接组件110的整体连接稳定性较高。
[0112]
示例性的，测试连接件111可以插装在固定件170中，测试连接件111可以依次插装在基座160和固定件170中。此时，测试连接件111的不同部分分别位于基座160和固定件170中。测试连接件111的一端位于第一表面161，在测试过程中，该端可以与传输线130接触而与传输线130电性连接。测试连接件111的另一端位于固定件170背离基座160的一侧，可以将该端与射频测试件180电性连接，从而使得射频测试件180与传输线130之间电性连接。
[0113]
示例性的，短路件112可以插装在固定件170中，短路件112可以依次插装在基座160和固定件170中。短路件112的不同部分分别位于在基座160和固定件170中。短路件112的一端位于第一表面161，在测试过程中，该端可以与传输线130接触而与传输线130短路连接。短路件112的另一端位于固定件170中，从而对短路件112的该端部起到保护作用。或者，短路件112的另一端位于固定件170的背离基座160的一侧，从而使得该端伸出固定件170，以便于通过该端部对短路件112的进行限位，例如，在该端部上设置限位件。
[0114]
可以理解是，上述实施例中，测试连接组件110主要针对一个射频模组101的测定进行阐述，上述的短路件112与测试连接件111可以共同形成一个测试连接组，即测试连接组件110包括一个测试连接组。在其他一些实施例中，测试连接组件110还可以对多个射频模组101进行测定，当射频模组101为多个时，测试连接组件110可以包括多个测试连接组，多个测试连接组可以位于同一个安装基座160上，如图17所示，基座160上设置两个测试连接组，每个测试连接组均包括一个测试连接件111和两个短路件112，可以用于测试两个射频模组101。这样，测试连接组件110整体连接稳定性较高。或者，多个测试连接组可以位于不同的安装基座160上，从而方便调整不同测试连接组之间的距离。
[0115]
以下的测试试验中，短路件112位于测试连接件111与天线电路之间140，对射频电路120进行测试。
[0116]
如图18所示，对射频装置100的实际产品进行测试，横坐标为信号频率，纵坐标为测试连接件111处的回波损耗。其中，回波损耗越小说明测试连接件111与射频电路120匹配越好，越多的能量从射频电路120流入到测试连接件111，而非流入到天线电路140。表明射频电路120和天线电路140之间的断开效果较好。从图18中可以看出，工作频带3.6ghz-3.8ghz内的回波损耗均小于-16db，射频电路120和天线电路140之间的断开效果较好，能够满足测试要求。
[0117]
如图19所示，对射频装置100进行仿真测试，横坐标为信号频率，纵坐标为回波损
耗。其中，测试的工作频带为3.3ghz-3.8ghz，s3、s4、s5分别示出了短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4-0.5mm、λ/4和λ/4+0.5mm的测试结果。从图19中可知，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4时，在工作频带中的回波损耗最大值约为-23db，当短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4
±
0.5mm时，工作频带中的回波损耗最大值恶化至约-19db，由此可知，当短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度偏离λ/4时，短路件112与测试连接件111之间断开的效果会劣化。需要较好的控制短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度，才能够较好的保证测试效果，从而保证射频模组101的精度。
[0118]
如图20所示，对射频装置100进行仿真测试，横坐标为信号频率，纵坐标为回波损耗。其中，测试的工作频带3.3ghz-3.8ghz，s6、s7、s8分别示出了短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4-2mm、λ/4和λ/4+2mm的测试结果。从图20中可知，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4时，工作频带中的回波损耗最大值约为-23db，当短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度为λ/4
±
2mm时，工作频带中的回波损耗最大值均恶化至约-13db(断开效果较差)。由此可知，当短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度偏离λ/4较大时，其断开效果较差，基本无法正常进行测定。
[0119]
综合图19和图20可知，短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度偏离λ/4的值越大，射频模组101的测试结果越差。因此，需要较好的控制短路件112与测试连接件111之间的传输线130的延伸长度，才能够较好的保证测试效果，从而保证射频模组101的精度。本技术实施例采用基座160和/或固定件170来控制短路件112与测试连接件111之间的距离，以控制短路件112与测试连接件111之间传输线130的延伸长度，能够较好的保证射频模组101的精度。
[0120]
在本技术实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术实施例中的具体含义。
[0121]
术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0122]
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本技术实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本技术实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术实施例各实施例技术方案的范围。

技术特征：
1.一种测试连接组件，其特征在于，用于测试射频模组，所述射频模组包括射频电路、传输线和天线电路，所述射频电路和所述天线电路通过所述传输线电性连接；所述测试连接组件包括：测试连接件和短路件，所述测试连接件用于与所述传输线电性连接，所述短路件用于与所述传输线短路连接，所述测试连接件和所述短路件在所述传输线上间隔设置；所述短路件与所述测试连接件之间的所述传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，其中所述n为非负的整数，所述λ为射频信号的波长。2.根据权利要求1所述的测试连接组件，其特征在于，所述短路件与所述测试连接件之间的所述传输线的延伸长度范围为λ/4-0.005λ至λ/4+0.005λ。3.根据权利要求1所述的测试连接组件，其特征在于，所述短路件位于所述测试连接件与所述天线电路之间。4.根据权利要求1所述的测试连接组件，其特征在于，所述短路件位于所述测试连接件与所述射频电路之间。5.根据权利要求1-4任一所述的测试连接组件，其特征在于，包括基座，所述短路件和所述测试连接件均安装在所述基座上，所述基座包括沿厚度方向相对设置的第一表面和第二表面，所述第一表面用于朝向所述射频模组；所述短路件和所述测试连接件的至少部分均位于所述第一表面。6.根据权利要求5所述的测试连接组件，其特征在于，包括固定件，所述固定件位于所述第二表面，所述短路件和所述测试连接件中的至少一者插装在所述固定件中，并与所述固定件连接。7.根据权利要求6所述的测试连接组件，其特征在于，所述测试连接件插装在所述固定件中，且所述测试连接件的不同部分分别位于所述基座和所述固定件中，所述测试连接件的一端位于所述第一表面，且用于与所述传输线电性连接，所述测试连接件的另一端位于所述固定件背离所述基座的一侧。8.根据权利要求6所述的测试连接组件，其特征在于，所述短路件插装在所述固定件中，且所述短路件的不同部分分别位于所述基座和所述固定件中，所述短路件的一端位于所述第一表面，且用于与所述传输线短路连接。9.一种射频装置，其特征在于，包括射频模组和上述权利要求1-8任一所述的测试连接组件，所述测试连接组件与所述射频模组的传输线电性连接。10.根据权利要求9所述的射频装置，其特征在于，所述射频模组包括射频电路和天线电路，所述传输线包括主传输线和多个子传输线，所述主传输线的一端与所述射频电路电性连接，所述主传输线的另一端与多个所述子传输线的一端电性连接，每个所述子传输线的另一端与所述天线电路电性连接。

技术总结
本申请提供一种测试连接组件及射频装置，测试连接组件用于测试射频模组，射频模组包括射频电路、传输线和天线电路；测试连接组件包括：测试连接件和短路件，测试连接件用于与传输线电性连接，短路件用于与传输线短路连接，测试连接件和短路件在传输线上间隔设置；短路件与测试连接件之间的传输线的延伸长度范围为(1+2n)*λ/4-0.005λ至(1+2n)*λ/4+0.005λ，n为非负的整数，λ为射频信号的波长。短路件与测试连接件可以将射频电路和天线电路断开，无需设置射频开关。因此，本申请提供的测试连接组件及射频装置，采用该测试连接组件测试射频模组时，无需在射频模组上设置射频开关，可以减小射频模组的体积。可以减小射频模组的体积。可以减小射频模组的体积。


技术研发人员：高春霖 刘义 谢卓凡
受保护的技术使用者：华为技术有限公司
技术研发日：2022.03.09
技术公布日：2023/9/20