一种电路板固定夹具的制作方法

1.本实用新型属于电路板固定夹具技术领域，尤其涉及一种电路板固定夹具。


背景技术：

2.电路板是一种将元器件安装并连接到印刷电路板上以构成一个完整的电路系统的产品。电路板可以将多个元器件集成到一起，大大简化了电路系统的结构，提高了产品的可靠性和可操作性，因此被广泛应用于各种电路系统中。
3.电路板在出厂前需要经过测试，只有符合要求的电路板才能被允许使用。目前的电路板测试是通过人工将待测试的电路板插接在测试口上以模拟实际工作环境运行，以便观测电路板的运行状况,从而判断其性能。
4.但是在测试时电路板会发热升温，那么人工更换电路板时温度较高的电路板容易烫伤操作人员，另外手触摸到电路板还存在损坏电子元器件的风险。


技术实现要素：

5.本实用新型所要解决的技术问题是：针对现有的人工手持电路板容易烫伤操作人员的问题，提供一种电路板固定夹具。
6.为解决上述技术问题，本实用新型实施例提供了一种电路板固定夹具，包括底座和压盖，所述底座包括限位部和散热部，所述限位部设有用于放置待测试电路板的限位槽，所述散热部与所述限位部相接，所述散热部上设有用于散发待测试电路板的热量的散热结构；
7.所述压盖具有铰接端和活动端，所述铰接端铰接在所述限位部上，以使得所述压盖能够向靠近或远离所述散热部的方向旋转，所述活动端设有第一磁吸结构，所述底座上设有第二磁吸结构；
8.在所述压盖向靠近所述散热部的方向旋转到预设位置时，所述第一磁吸结构与所述第二磁吸结构相互吸引，以使所述压盖磁吸临时性地固定在所述限位部上，进而使得所述压盖能够压住放置在所述限位槽中的待测试电路板。
9.可选地，所述压盖的活动端设有第一磁珠安装孔，所述第一磁吸结构包括设置在所述第一磁珠安装孔中的第一柱形磁珠；
10.所述底座上于所述限位部与散热部的相接处设有第二磁珠安装孔，所述第二磁吸结构包括设置在所述第二磁珠安装孔中的第二柱形磁珠。
11.可选地，所述第一磁珠安装孔设置有多个，所述第一柱形磁珠设置有多个，多个所述第一柱形磁珠呈直线排布；
12.所述第二磁珠安装孔设置有多个，所述第二柱形磁珠设置有多个，多个所述第二柱形磁珠呈直线排布；
13.多个所述第一柱形磁珠和多个所述第二柱形磁珠一一对应设置。
14.可选地，所述散热部的一侧表面上设有多个散热齿，各多个所述散热齿呈矩形阵
列排布。
15.可选地，所述限位槽的相对两侧槽壁用于限制待测试电路板的宽度方向的位移，所述限位槽中设有散热物质放置台，所述散热物质放置台上涂覆有用于吸收待测试电路板的热量的散热物质。
16.可选地，所述压盖上设有散热窗，在所述压盖压住放置在所述限位槽中的待测试电路板时，所述散热窗位于所述限位槽上方，以用于加速待测试电路板散热。
17.可选地，所述压盖的铰接端设有两个连接脚，两个所述连接脚设置在所述压盖的铰接端的相对两侧。
18.可选地，所述限位槽的两侧槽壁的延伸方向的中部均设有限位卡突，所述限位卡突用于与待测试电路板的边缘缺口配合，以限制待测试电路板板的移动。
19.可选地，所述限位部与散热部之间还设有减重孔。
20.可选的，所述限位部于所述限位槽的远离所述散热部的端部设有用于承托待测试电路板的测试端的延长托板；
21.所述压盖靠近所述铰接端的位置设置有通槽，在所述压盖压住放置在所述限位槽中的待测试电路板时，所述通槽露出待测试电路板的部分表面。
22.根据本实用新型实施例的电路板固定夹具，将待测试电路板放置在底座的限位槽中后，手动将压盖的活动端朝向底座的散热部旋转以靠近放置在限位槽中的电路板，在第一磁吸结构与第二磁吸结构的相互吸引下使得压盖压紧待测试电路板，通过将待测试电路板放置于限位槽中，并通过第一磁吸结构和第二磁吸结构的结合，将待测电路板夹紧并固定于限位槽中，以使得操作人员可以通过手持固定夹具来移动待测试电路板，不用直接接触待测试电路板，避免损坏待测试电路板，另外，底座的散热部的散热结构能够加速固定夹具的散热，降低固定夹具的温度，便于操作人员接触。
附图说明
23.图1为本实用新型一实施例提供的电路板固定夹具的结构示意图；
24.图2为图1的分解示意图；
25.图3为图1的另一视角；
26.图4为图1的使用状态示意图。
27.说明书中的附图标记如下：1、底座；2、限位部；3、限位槽；4、散热物质放置台；5、限位卡突；6、延长托板；7、散热部；8、散热齿；9、减重孔；10、压盖；11、第一磁珠安装孔；12、散热窗；13、连接脚；14、第二磁珠安装孔；15、第一柱形磁珠；16、第二柱形磁珠；17、散热硅脂膏；18、待测试电路板；19、铰接柱。
具体实施方式
28.为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
29.如图1至图4所示，本实用新型一实施例提供了一种电路板固定夹具，包底座1和压盖10，所述底座1包括限位部2和散热部7，所述限位部2设有用于放置待测试电路板18的限
位槽3，所述散热部7与所述限位部2相接，所述散热部7上设有用于散发待测试电路板18的热量的散热结构。
30.所述压盖10具有铰接端和活动端，所述铰接端铰接在所述限位部2上，以使得所述压盖10能够向靠近或远离所述散热部7的方向旋转，所述活动端设有第一磁吸结构，所述底座1上设有第二磁吸结构。
31.在所述压盖10向靠近所述散热部7的方向旋转到预设位置时，所述第一磁吸结构与所述第二磁吸结构相互吸引，以使所述压盖10磁吸临时性地固定在所述限位部2上，进而使得所述压盖10能够压住放置在所述限位槽3中的待测试电路板18。
32.在一实施例中，所述压盖10的活动端设有第一磁珠安装孔11，所述第一磁吸结构包括设置在所述第一磁珠安装孔11中的第一柱形磁珠15。
33.所述底座1上于所述限位部2与散热部7的相接处设有第二磁珠安装孔14，所述第二磁吸结构包括设置在所述第二磁珠安装孔14中的第二柱形磁珠16。第一柱形磁珠15与第二柱形磁珠16磁吸在一起时面与面接触，相比于其他形状的磁珠，结合间隙较小，磁吸面积大，结合更为牢靠。
34.在一实施例中，所述第一磁珠安装孔11设置有多个，所述第一柱形磁珠15设置有多个，多个所述第一柱形磁珠15呈直线排布；
35.所述第二磁珠安装孔14设置有多个，所述第二柱形磁珠16设置有多个，多个所述第二柱形磁珠16呈直线排布；
36.多个所述第一柱形磁珠15和多个所述第二柱形磁珠16一一对应设置，可以增加底座1与压盖10之间的磁吸面积，提高了底座1与压盖10之间的结合稳定性。
37.在一实施例中，所述散热部7的一侧表面上设有多个散热齿8，各多个所述散热齿8呈矩形阵列排布。将多个散热齿8以矩形阵列排布方式形成所述散热结构，排布较为规则，相邻两列散热齿8之间的间隙还能形成风道，加速散热。
38.在一实施例中，所述限位槽3的相对两侧槽壁用于限制待测试电路板18的宽度方向的位移，所述限位槽3中设有散热物质放置台4，所述散热物质放置台4上涂覆有用于吸收待测试电路板18的热量的散热物质。散热物质可以吸收待测试电路板18的热量，并将吸收的其中一部分热量直接释放至空气中，将另一部分热量经底座1传递至空气中以加速散热。
39.在一实施例中，所述散热物质为散热硅脂膏17。散热硅脂膏17为市面常见散热材料，方便制造。
40.在一实施例中，所述压盖10的铰接端设有两个连接脚13，两个所述连接脚13设置在所述压盖10的铰接端的相对两侧，两个所述连接脚13的端部均设有铰接孔，所述底座1上设有铰轴孔，通过在铰轴孔及两所述连接脚13的铰接孔中穿装铰接柱19以将两个所述连接脚13铰接在所述底座1上。通过连接脚13与底座1过渡铰接，避免压盖10的活动端的摆动行程与底座1存在干扰，进而避免压盖10压坏待测试电路板18。
41.在一实施例中，所述限位槽3的两侧槽壁的延伸方向的中部均设有限位卡突5，所述限位卡突5用于与待测试电路板18的边缘缺口配合，以限制待测试电路板18板的移动，提高了限位槽3对待测试电路板18的限位可靠性。
42.在一实施例中，所述限位部2与散热部7之间还设有减重孔9。减重孔9的设置，符合轻量化设计，减小底座1的重量，提高底座1与压盖10之间的磁吸牢靠性。
43.在一实施例中，所述限位部2于所述限位槽3的远离所述散热部7的端部设有用于承托待测试电路板18的测试端的延长托板6，减少了待测试电路板18的悬空面积，提高安全性。
44.在一实施例中，所述压盖10靠近所述铰接端的位置设置有通槽，在所述压盖10压住放置在所述限位槽3中的待测试电路板18时，所述通槽露出待测试电路板18的部分表面，通槽增加了待测试电路板18裸露在空气中的面积，增加散热。
45.本实用新型实施例的电路板固定夹具，其工作原理如下：
46.需要对电路板18进行测试时，将待测试电路板18放置在底座1的限位槽3中，以使待测试电路板18的边缘缺口与限位槽3侧壁上的限位卡突5配合，之后手动翻转压盖10，使得压盖10上的第一柱形磁珠15与底座1上的第二柱形磁珠16相互磁吸在一起，进而使得压盖10将待测试电路板18压紧在底座1上，之后手持电路板固定夹具，将待测试电路板18的测试端插接在测试位置上即可。
47.根据本实用新型实施例的电路板固定夹具，将待测试电路板18放置在底座1的限位槽3中后，手动将压盖10的活动端朝向底座1的散热部7旋转以靠近放置在限位槽3中的电路板18，在第一磁吸结构与第二磁吸结构的相互吸引下使得压盖10压紧待测试电路板18，通过将待测试电路板18放置于限位槽3中，并通过第一磁吸结构和第二磁吸结构的结合，将待测电路板夹紧并固定于限位槽中，使得操作人员不用直接接触待测试电路板18，有效避免损坏待测试电路板18，另外，底座1的散热部7的散热结构能够加速固定夹具的散热，降低固定夹具的温度，便于操作人员接触。
48.在其它实施例中，第一磁吸结构可以为设置在压盖10上的第一磁条，第二磁吸结构可以为设置在底座1上的第二磁条。
49.在其它实施例中，散热结构可以为设置在底座1的散热部7表面的散热沟槽。
50.在其它实施例中，散热物质还可以为散热硅胶。
51.在其它实施例中，多个散热齿(8)可以为星型排列，还可以为环形排布。
52.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：
1.一种电路板固定夹具，其特征在于，包括底座(1)和压盖(10)，所述底座(1)包括限位部(2)和散热部(7)，所述限位部(2)设有用于放置待测试电路板(18)的限位槽(3)，所述散热部(7)与所述限位部(2)相接，所述散热部(7)上设有用于散发待测试电路板(18)的热量的散热结构；所述压盖(10)具有铰接端和活动端，所述铰接端铰接在所述限位部(2)上，以使得所述压盖(10)能够向靠近或远离所述散热部(7)的方向旋转，所述活动端设有第一磁吸结构，所述底座(1)上设有第二磁吸结构；在所述压盖(10)向靠近所述散热部(7)的方向旋转到预设位置时，所述第一磁吸结构与所述第二磁吸结构相互吸引，以使所述压盖(10)磁吸临时性地固定在所述限位部(2)上，进而使得所述压盖(10)能够压住放置在所述限位槽(3)中的待测试电路板(18)。2.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述压盖(10)的活动端设有第一磁珠安装孔(11)，所述第一磁吸结构包括设置在所述第一磁珠安装孔(11)中的第一柱形磁珠(15)；所述底座(1)上于所述限位部(2)与散热部(7)的相接处设有第二磁珠安装孔(14)，所述第二磁吸结构包括设置在所述第二磁珠安装孔(14)中的第二柱形磁珠(16)。3.根据权利要求2所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述第一磁珠安装孔(11)设置有多个，所述第一柱形磁珠(15)设置有多个，多个所述第一柱形磁珠(15)呈直线排布；所述第二磁珠安装孔(14)设置有多个，所述第二柱形磁珠(16)设置有多个，多个所述第二柱形磁珠(16)呈直线排布；多个所述第一柱形磁珠(15)和多个所述第二柱形磁珠(16)一一对应设置。4.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述散热部(7)的一侧表面上设有多个散热齿(8)，各多个所述散热齿(8)呈矩形阵列排布。5.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述限位槽(3)的相对两侧槽壁用于限制待测试电路板(18)的宽度方向的位移，所述限位槽(3)中设有散热物质放置台(4)，所述散热物质放置台(4)上涂覆有用于吸收待测试电路板(18)的热量的散热物质。6.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述压盖(10)上设有散热窗(12)，在所述压盖(10)压住放置在所述限位槽(3)中的待测试电路板(18)时，所述散热窗(12)位于所述限位槽(3)上方，以用于加速待测试电路板(18)散热。7.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述压盖(10)的铰接端设有两个连接脚(13)，两个所述连接脚(13)设置在所述压盖(10)的铰接端的相对两侧。8.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述限位槽(3)的两侧槽壁的延伸方向的中部均设有限位卡突(5)，所述限位卡突(5)用于与待测试电路板(18)的边缘缺口配合，以限制待测试电路板(18)板的移动。9.根据权利要求1所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述限位部(2)与散热部(7)之间还设有减重孔(9)。10.根据权利要求1至9任意一项所述的电路板固定夹具，其特征在于，所述限位部(2)于所述限位槽(3)的远离所述散热部(7)的端部设有用于承托待测试电路板(18)的测试端的延长托板(6)；所述压盖(10)靠近所述铰接端的位置设置有通槽，在所述压盖(10)压住放置在所述限
位槽(3)中的待测试电路板(18)时，所述通槽露出待测试电路板(18)的部分表面。

技术总结
本实用新型属于电路板固定夹具技术领域，尤其涉及一种电路板固定夹具，电路板固定夹具包括底座和压盖，所述底座包括限位部和散热部，所述限位部设有用于放置待测试电路板的限位槽，所述散热部与所述限位部相接，所述散热部上设有用于散发待测试电路板的热量的散热结构；所述压盖铰接在所述限位部上，在所述压盖向靠近所述散热部的方向旋转到预设位置时，所述活动端上的第一磁吸结构与所述底座上的第二磁吸结构相互吸引，以使所述压盖磁吸临时性地固定在所述限位部上，进而使得所述压盖能够压住放置在所述限位槽中的待测试电路板，以使得操作人员可以通过手持固定夹具来移动待测试电路板，不用直接接触待测试电路板，避免损坏待测试电路板。损坏待测试电路板。损坏待测试电路板。


技术研发人员：吴涛涛 陈庚鑫 袁坤 章九林 邢美正
受保护的技术使用者：深圳市聚飞光电股份有限公司
技术研发日：2023.05.24
技术公布日：2023/9/16