一种对芯片信号模块的仿真验证方法、系统、设备及介质与流程

1.本发明属于芯片验证领域，具体设计一种对芯片信号模块的仿真验证方法、系统、设备及介质。


背景技术：

2.信号模块在芯片中用于通过工作时钟分频产生方波信号，方波信号可以通过软件进行配置，在芯片设计初期，尤其对方波信号的验证过程中，配置需要通过计算分解到该模块的寄存器中，而对于输出方波的特性，如频率，占空比特性等，必须搭建出行为相同的信号生成器模型，产生对比信号，再与实际结果比对，虽然行为级模型无需rtl(register transfer language，寄存器传输语言)代码产生的可综合模型那般严谨，但各种可配置功能，如默认电平，是否翻转等的复现，使得重新搭建仍然费时费力。
3.类似的能够产生特定时间特性的信号的模块，如pwm(pulse width modulation，脉冲宽度调制)、wdt(watchdog，看门狗)，timer(一种用于对风扇测速的电路，一种生成、控制系统时钟的模块)等，在验证中具有同样的问题。
4.因此，亟需一种有效的可快速实现对信号模块进行仿真验证的方案。


技术实现要素：

5.为解决上述问题，本发明提出一种对芯片信号模块的仿真验证方法，包括：
6.获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；
7.基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或
8.基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；
9.基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。
10.在本发明的一些实施方式中，获取信号模块的输出信号的设计目标参考值包括：
11.获取所述信号模块的配置文件信息或由用户输入所述信号模块的输出信号的设计目标参考值。
12.在本发明的一些实施方式中，设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点包括：
13.基于设计目标参考值中输出信号确定设计目标对应的方波信号的长度以及在一个方波信号的长度内不同电平对应的占空比；
14.基于不同电平对应的占空比确定最小占空比的电平的持续间隔，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻。
15.在本发明的一些实施方式中，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合
采样精度的采样时刻包括：
16.获取用户输入的预定精度，以所述预定精度对将所述持续间隔进行拆分多个持续区间，以所述多个持续区间作为采样间隔生成对应的采样时刻。
17.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：
18.基于用户输入的总线类型生成寄存器配置模型，并基于所述采样时刻和所述寄存器配置模型配置寄存器进行仿真，基于所述采样时刻获取信号模块在所述采样时刻输出信号的电平。
19.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号包括：
20.基于数据采样点的时间间隔从所述信号模块已仿真后的采样数据中挑选对应时间间隔的采样数据，并分析所述采样数据中产生信号跳变的采样数据。
21.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号还包括：
22.以所述数据采样点对应的时间为滑动窗口，从所述信号模块仿真后的采样数据中挑选出多组采样数据，以所述多组采样数据获取不同时间区间的方波信号。
23.本发明的另一方面还提出一种对芯片信号模块的仿真验证系统，包括：
24.采样点确认模块，所述采样点确认模块配置用于获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；
25.第一采样模块，所述第一采样模块配置用于基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或
26.第二采样模块，所述第二采样模块配置用于基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；
27.仿真验证模块，所述仿真验证模块配置用于基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。
28.本发明的又一方面还提出一种计算机设备，包括：
29.至少一个处理器；以及
30.存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现上述实施方式中任意一项所述方法的步骤。
31.本发明的再一方面还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施方式中任意一项所述方法的步骤。
32.通过本发明提出的一种对芯片信号模块的仿真验证方法，根据信号模块的设计目标参考值，确定对应的一组稀疏的数据采样点来替换传统的完全采样，可大大降低仿真时的数据采样的时间消耗，进一步数据采样量大大降低，仿真平台可快速进行计算得到仿真结果。
附图说明
33.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
34.图1为本发明实施例提供的一种对芯片信号模块的仿真验证方法的流程示意图；
35.图2为本发明实施例提供的一种对芯片信号模块的仿真验证系统的结构示意图；
36.图3为本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图；
37.图4为本发明实施例提供的一种计算机可读存储介质的结构示意图；
38.图5为本发明实施例提供的数据采样点工作原理示意图；
39.图6为本发明实施例提供验证平台结构示意图；
40.图7为本发明实施例提供的一种对芯片信号模块的仿真验证方法执行过程示意图。
具体实施方式
41.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
42.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
43.本发明旨在解决芯片设计中芯片的信号输出模块输出的信号的功能验证场景下的效率低下问题。在传统的解决方案中，uvm(验证方法学，universal verification methodology)难以直接获取信号的真实时间参数，只能通过构建内部时钟，频繁进行采样来获得时间相关的参数，如输出波形的频率，占空比等，还有一种方法是使用行为级简化模型生成参考波形，将被测电路的实际输出与之进行对比，如果设置对比精度很高，需要以很高的频率对比参考值与实际值。
44.进一步，由于上述高频率的对比运算操作，使得验证所需的时间是电路仿真时间的数十甚至数百倍(1秒仿真时间需要实际至少30分钟完成)。如果波形频率较低，或者有多路输出同时进行，验证其稳定性需要数秒仿真时间，而uvm验证过程中信号驱动，输出检测，结果对比计分必须同时进行同时完成，无法拆分，进一步增加了验证平台调试所需要的时间成本。
45.为解决上述问题，本发明提出一种对芯片信号模块的仿真验证方法，包括：
46.步骤s1、获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；
47.步骤s2、基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或
48.步骤s3、基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；
49.步骤s4、基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。
50.在本发明的实施例中，信号模块可以是芯片中pwm、wtd、timer以及芯片上对应的
数据总线的总线时钟产生模块，即产生方波信号的信号产生模块。
51.进一步，在步骤s1中，首先获取待验证的信号模块在设计芯片时要求的该信号模块输出的方波信号的设计目标值，即设计目标参考值，设计目标参考值是指该信号模块输出的方波信号的周期、频率以及在一个周期内高低电平对应的占空比。根据方波信号的周期、频率、以及占空比生成数据采样点，数据采样点是指在仿真时在时间上有相同连续间隔的采样信号的采样时间。
52.在本发明的一些实施例中，数据采样点的生成方法可以是根据仿真模块的采样能力，即仿真平台每秒能采样多少次，根据仿真平台对仿真模块的采样能力生成对应的数据采样点，例如可以按照仿真平台的最大采样能力采样预定时间，例如，采样平台每秒可采集20000次数据，则数据采样点个数为每秒20000个，且连续采样3秒。当然根据需要，也可以将数据采样点设置为每秒10000个，连续采样3秒。
53.进一步，在本发明的一些实施例中，数据采样点的起始到结束的时间长度可根据占空比进行设定，具体地，可将一个周期内高低电平所对应的占空比最短的电平信号所持续的时间作为数据采样点起始到结束的时间长度。
54.进一步，在本发明的一些实施例中，数据采样点个数可根据用户对待验证的信号模块信号最小误差来设定，即假设对信号模块的电平变化的延时时间为0.000001秒，则每个采样点的间隔时间为0.000001秒，则数据采样点的时间除以间隔时间则为该数据采样点的总个数。
55.在步骤s2中，在确定数据采样点之后，如果信号模块还未进行仿真，则根据数据采样点生成对应的在该信号模块仿真时的采样时刻，即生成用于仿真平台采集该信号模块的输出信号的具体采样时间，在信号模块输出方波信号时按照采样时间收集该信号模块该对应的不同采样时间输出的方波信号。
56.此外，在步骤s3中，如果已有该仿真模块的仿真数据，即已对该模块进行仿真，得到一组连续采集的该信号模块的方波信号，则根据数据采样点从该信号模块仿真数据中提取与数据采样点对应的采样数据。如前所述，数据采样点是以一定间隔的采样时间。因此，当已存在对应传统的采样方式得到的信号模块的方波信号时，可通过数据采样点从仿真数据中提取一定间隔的一组采样信号来对仿真数据进行分析。
57.在步骤s4中，如前所述，在通过生成信号模块在仿真时对应的采样时刻，再按照采样时刻进行仿真采样得到仿真结果即仿真数据，或者是从已经仿真过的仿真数据中根据数据采样点提取对应间隔的一组仿真数据之后，需要对仿真结果进行验证计算，例如，从上述仿真数据中根据电平变化的时间点计算仿真的波形信号的周期，并与设计的目标参考值中的信号周期是否相同。并进一步确定仿真的波形信号的变化时间以及对应的高低电平的占空比是否与设计的目标参考值中的占空比相同。
58.在本发明的一些实施例中，还可以跨周期进行多组测试来验证频率是否和设计目标参考值进行对比。
59.在本发明的一些实施方式中，获取信号模块的输出信号的设计目标参考值包括：
60.获取所述信号模块的配置文件信息或由用户输入所述信号模块的输出信号的设计目标参考值。
61.在本实施例中，设计目标参考值可由用户输入或者通过解析信号模块的配置文件
中找出设定的方波信号的周期、频率以及占空比等信息。
62.在本发明的一些实施方式中，设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点包括：
63.基于设计目标参考值中输出信号确定设计目标对应的方波信号的长度以及在一个方波信号的长度内不同电平对应的占空比；
64.基于不同电平对应的占空比确定最小占空比的电平的持续间隔，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻。
65.在本发明的一些实施方式中，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻包括：
66.获取用户输入的预定精度，以所述预定精度对将所述持续间隔进行拆分多个持续区间，以所述多个持续区间作为采样间隔生成对应的采样时刻。
67.在本实施例中，在获取到信号模块对应的输出信号的设计目标参考值后，确定设计目标参考值中的方波信号的一个周期的长度。周期长度等于1秒除以设计目标参考值中的频率，进一步确定一个周期中设计的占空比对应的长度，即在一个周期中高电平信号的持续时间和低电平信号的持续时间，并进一步确定高电平信号和低电平信号持续时间哪个最短，即持续时间短则表示其占空比最小，将占空比最小的电平信号的持续时间作为数据采样点的采样的总时间。
68.进一步，在确定采样总时间之后采用二分法，将采样总时间一分为二，即在采样总时间的中间设立一个采样点，形成两段持续区间，持续区间是指假设电平在该持续区间上依然持续原有的电平电压，并未发生电平翻转或改变，只在设立的采样点时发生改变。进一步确定中间设立采样点之后形成的两段持续区间是否满足采样精度，如果不满足采样精度可以进一步再对两段持续区间同样使用二分法插入对应的采样点，将两个持续区间变成四个持续区间，以此类推，最终形成满足采样精度要求的采样要求，将该过程中设立的采样点作为数据采样点。
69.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：
70.基于用户输入的总线类型生成寄存器配置模型，并基于所述采样时刻和所述寄存器配置模型配置寄存器进行仿真，基于所述采样时刻获取信号模块在所述采样时刻输出信号的电平。
71.在本实施例中，在确定数据采样点以及根据数据采样点生成采样时刻之后，在具体的仿真测试时，可通过由用户输入信号模块仿真时所使用的总线类型生成寄存器配置模型，并根据该寄存器配置模型将信号模块在仿真平台进行仿真测试，同时按照采样时刻在该仿真平台对信号模块输出的信号进行采样。
72.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号包括：
73.基于数据采样点的时间间隔从所述信号模块已仿真后的采样数据中挑选对应时间间隔的采样数据，并分析所述采样数据中产生信号跳变的采样数据。
74.在本实施例中，对于已有的仿真数据，为方便验证计算，可将根据数据采样点从已有的仿真数据中，按照数据采样点中采样点与采样点之间的时间间隔提取已有而定仿真数据中对应的仿真信号，从而形成简化版的采样数据，并以此判断已仿真数据对应的信号模
块的输出方波信号的信号跳变的采样数据，并根据跳变信号的采样数据确定信号模块输出的方笔信号的周期，不同电平对应的占空比。
75.需要说明的是，跳变信号并不只有一个，如图5所示，数据采样点所涵盖的数据范围一定会包含至少三个跳变信号。以此可判断出一个方波信号周期内有多长时间处于高电平，有多少时间处于低电平，并进而求的占空比和设计目标参考值进行对比。
76.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号还包括：
77.以所述数据采样点对应的时间为滑动窗口，从所述信号模块仿真后的采样数据中挑选出多组采样数据，以所述多组采样数据获取不同时间区间的方波信号。
78.在本实施例中，如前所述，数据采样点的总时间一般在最短占空比对应的持续时间作为基础，以使可以采样到最少三个跳变信号的位置。为防传统的已仿真数据的采样数据处理错误，可将数据差采样点的总体时间作为一个“滑动窗口”在已仿真后的仿真数据中提取多组采样信号进行计算仿真得到的方波信号的占空比、周期长度以及频率进而计算平均值或是几组相近值作为仿真结果。
79.实施例：
80.本实例中本发明提出的方法使用的脚本由perl语言实现与仿真平台的配置如图6所示。创建的验证平台结构及其工作流程如图7所示，首先用户需要配置总线类型，即该模块通过何种总线来接受外部的信息，脚本可以自动生成总线驱动器的寄存器配置模型，用户将需要传递的信息给出后，生成的模型可以自动根据总线的时序产生信号，将信息传递给被测电路；随后用户需要给出需要配置的信息，如pwm，timer模块中波形的频率f，占空比duty，wdt模块中复位信号的有效时间t等，以及数据错误是否产生中断，信号是否反转，默认输出等功能，用户也可以给出范围，程序将生成随机值。
81.生成全部参数后，参数将会被记录为参考值(fref,dutyref,tref)，同时这些值会被寄存器配置模型中的解码器读取，将这些值转换为被测电路需要的数据，再由模型中的驱动器产生总线信号，完成被测设备的配置，启动被测设备。
82.随后等待仿真过程完成，eda工具会以极高的时间精度记录波形的变化情况，将结果保存在fsdb文件中，传统方式将在该过程中按照验证平台的设定对信号进行采样，本方法在仿真过程中无需额外采样监控，而是在仿真完成后读取eda工具生成的波形记录获取数据。仿真结束产生fsdb文件后此部分工作完成。
83.该脚本将验证过程拆分为仿真和检验两个阶段，采用二及流水线进行工作。仿真完成后进行检验工作，脚本可以对本次仿真产生的fsdb文件中，输出信号随时间变化的数据提取出来，如对于synopsys的vcs+verdi工具，可以使用fsdbreport指令。脚本程序可以使用二分法，在信号的变化数据中找到信号变化的时间区间，该区间的大小由用户给出的参考值(f
ref
,duty
ref
,t
ref
)的精度确定：首先依据参考值确定一个方波周期中信号为1的时间长度t1和信号为0的时间长度t0，(t1＝1/f*duty,t0＝1/f*(1-duty))随后以其中较短的值作为初始精度进行采样，这样可以保证在任意时刻开始采样都能确定信号变化的区间，随后在该区间内将采样频率加倍，逐步增加采样时间精度，最终获得具有用户指定精度的时间参数。如图5所示t1 ref＝0.8,t0ref＝0.2，所以按照每0.2ms的周期对输出信号数据进行采样查找，如此可以得到图中第一个信号上升沿，第一个信号下降沿，第二个信号上升
沿的位置，分别在0.2-0.4ms，1.0-1.2ms，1.2-1.4ms三个区间中，如果被测电路产生信号的精度要求是0.4ms，则可以直接由这三个值计算出信号的周期为0.8-1.2ms，如果要求的精度更高，则在这三个区间内，采集中间时刻的信号值，将信号变化的时间区间缩小，如此反复，直到精度到达用户的要求位置。传统仿真中，仿真过程必须按照时间顺序进行，验证平台的采样器无法返回历史时刻，因此使要使用该方案，必须产生多个周期的信号，在每个周期逐步缩小范围，这将在总体上增加仿真时间，且对于wdt模块，其输出的方波信号用于复位其他模块，只持续一个周期，无法获得多个周期的信号。
84.获得被测电路特征的测量值后，将该测量值与参考值进行对比即可得到结果是否正确的结论。
85.本发明针对特定模块数据输出复杂，对比检验繁琐的特点，针对性的简化了驱动器搭建，利用eda(electronic design automation，电子设计自动化)工具的波形记录功能，省略了监测器记分板的搭建，相比传统uvm简化了平台搭建调试所需的时间，对比已有的自动化验证方法，本发明进一步节省了仿真时间，将仿真过程分解为2级流水线，提高了多路例化的验证效率。
86.如图2所示，本发明的另一方面还提出一种对芯片信号模块的仿真验证系统，包括：
87.采样点确认模块1，所述采样点确认模块配1置用于获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；
88.第一采样模块2，所述第一采样模块2配置用于基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或
89.第二采样模块3，所述第二采样模块3配置用于基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；
90.仿真验证模块4，所述仿真验证模块4配置用于基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。
91.如图3所示，本发明的又一方面还提出一种计算机设备，包括：
92.至少一个处理器21；以及
93.存储器22，所述存储器22存储有可在所述处理器21上运行的计算机指令23，所述指令23由所述处理器21执行时实现一种对芯片信号模块的仿真验证方法，包括：
94.获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；
95.基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或
96.基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；
97.基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。
98.在本发明的一些实施方式中，获取信号模块的输出信号的设计目标参考值包括：
99.获取所述信号模块的配置文件信息或由用户输入所述信号模块的输出信号的设
计目标参考值。
100.在本发明的一些实施方式中，设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点包括：
101.基于设计目标参考值中输出信号确定设计目标对应的方波信号的长度以及在一个方波信号的长度内不同电平对应的占空比；
102.基于不同电平对应的占空比确定最小占空比的电平的持续间隔，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻。
103.在本发明的一些实施方式中，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻包括：
104.获取用户输入的预定精度，以所述预定精度对将所述持续间隔进行拆分多个持续区间，以所述多个持续区间作为采样间隔生成对应的采样时刻。
105.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：
106.基于用户输入的总线类型生成寄存器配置模型，并基于所述采样时刻和所述寄存器配置模型配置寄存器进行仿真，基于所述采样时刻获取信号模块在所述采样时刻输出信号的电平。
107.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号包括：
108.基于数据采样点的时间间隔从所述信号模块已仿真后的采样数据中挑选对应时间间隔的采样数据，并分析所述采样数据中产生信号跳变的采样数据。
109.在本发明的一些实施方式中，基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号还包括：
110.以所述数据采样点对应的时间为滑动窗口，从所述信号模块仿真后的采样数据中挑选出多组采样数据，以所述多组采样数据获取不同时间区间的方波信号。
111.如图4所示，本发明的再一方面还提出一种计算机可读存储介质401，所述计算机可读存储介质401存储有计算机程序402，所述计算机程序402被处理器执行时实现上述实施方式中任意一项所述方法的步骤。
112.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
113.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
114.上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
115.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
116.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思
路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

技术特征：
1.一种对芯片信号模块的仿真验证方法，其特征在于，包括：获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；基于所述数据采样点生成所述信号模块仿真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取信号模块的输出信号的设计目标参考值包括：获取所述信号模块的配置文件信息或由用户输入所述信号模块的输出信号的设计目标参考值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点包括：基于设计目标参考值中输出信号确定设计目标对应的方波信号的长度以及在一个方波信号的长度内不同电平对应的占空比；基于不同电平对应的占空比确定最小占空比的电平的持续间隔，以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述以所述持续间隔为基准时间按照预定方式创建符合采样精度的采样时刻包括：获取用户输入的预定精度，以所述预定精度对将所述持续间隔进行拆分多个持续区间，以所述多个持续区间作为采样间隔生成对应的采样时刻。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：基于用户输入的总线类型生成寄存器配置模型，并基于所述采样时刻和所述寄存器配置模型配置寄存器进行仿真，基于所述采样时刻获取信号模块在所述采样时刻输出信号的电平。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号包括：基于数据采样点的时间间隔从所述信号模块已仿真后的采样数据中挑选对应时间间隔的采样数据，并分析所述采样数据中产生信号跳变的采样数据。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号还包括：以所述数据采样点对应的时间为滑动窗口，从所述信号模块仿真后的采样数据中挑选出多组采样数据，以所述多组采样数据获取不同时间区间的方波信号。8.一种对芯片信号模块的仿真验证系统，其特征在于，包括：采样点确认模块，所述采样点确认模块配置用于获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于所述设计目标参考值确定对所述信号模块的输出信号的数据采样点；第一采样模块，所述第一采样模块配置用于基于所述数据采样点生成所述信号模块仿
真时的采样时刻，并基于所述采样时刻收集所述信号模块在仿真时输出的方波信号；或第二采样模块，所述第二采样模块配置用于基于所述数据采样点从所述信号模块已仿真数据中获取所述数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；仿真验证模块，所述仿真验证模块配置用于基于所述方波信号和所述设计目标参考值进行对比并按照预设的评判所述对比结果是否符合设计要求。9.一种计算机设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

技术总结
本发明属于芯片验证领域，具体设计一种对芯片信号模块的仿真验证方法、系统、设备及介质。其中方法包括：获取信号模块的输出信号的设计目标参考值，基于设计目标参考值确定对信号模块的输出信号的数据采样点；基于数据采样点生成信号模块仿真时的采样时刻，并基于采样时刻收集信号模块在仿真时输出的方波信号；或基于数据采样点从信号模块已仿真数据中获取数据采样点所对应的仿真时输出的方波信号；基于方波信号和设计目标参考值进行对比并按照预设的评判对比结果是否符合设计要求。通过本发明提出的一种对芯片信号模块的仿真验证方法可大大降低仿真时的数据采样的时间消耗，并使数据采样量大大降低，便于仿真平台快速进行计算得到仿真结果。计算得到仿真结果。计算得到仿真结果。


技术研发人员：高玉昕
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：2023.04.21
技术公布日：2023/7/12