一种干扰方位测量方法与流程

未命名 08-07 阅读:97 评论:0


1.本发明涉及雷达抗干扰领域,尤其涉及一种干扰方位测量方法。


背景技术:

2.随着电子干扰手段逐渐多样化、复杂化和智能化,雷达抗干扰面临着来自电子干扰的巨大挑战。现有雷达抗干扰技术存在对外部干扰环境的感知能力不强,无法根据干扰场景的变化而自适应的调整对抗策略、选取合适的对抗措施、精准的干扰方位测量,对非平稳性干扰的抑制能力有待进一步提高。


技术实现要素:

3.本发明的目的在于提供一种雷达干扰方位测量方法,其通过饱和门限的判断,分情况计算干扰的方位,提高干扰方位的计算准确性。
4.为此,本发明提供了一种干扰方位测量方法,包括:s1、从上位机获取饱和门限参数;s2、统计主瓣干扰区域,根据脉压后的噪声幅度值比较确认是否为饱和干扰;s3、若饱和干扰、则根据方位平均计算出干扰方位;若非饱和干扰、则根据专用方位分辨算法计算出干扰的方位。
5.本发明主要是根据雷达获取的外部有源干扰信息,截取经过脉压之后非杂波区域的iq数据,统计多个脉冲的噪声幅度值,通过主通道与辅助通道幅度比较,确定主瓣干扰区域,根据人工设定的饱和门限判别当前的干扰是否饱和,基于二维数组、数据链表数据结构存储所有主瓣干扰区域脉冲的幅度值和方位值,通过方位取中值算法以及专门设计的多干扰源方位分辨算法实时精确地计算出干扰源方位。
6.除了上面所描述的目的、特征和优点之外,本发明还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图,对本发明作进一步详细的说明。
附图说明
7.构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
8.图1是干扰信息测量的外部关系图;
9.图2是本发明的干扰方位测量方法的流程图;
10.图3是本发明的干扰方位计算过程的主流程图;
11.图4是本发明的干扰方位计算过程中方位分辨算法的流程图。
具体实施方式
12.下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
13.干扰信息测量选择外部关系如图1所示。主要包括上位机(命令发起,人机交互)、干扰参数存储、干扰方位测量。
14.如图2所示,干扰方位测量的主要工作简要步骤如下:上位机发起抗干扰命令,将饱和门限参数发送给干扰方位计算模块,统计主瓣干扰区域,干扰方位计算模块根据脉压后的噪声幅度值比较确认是否为饱和干扰,饱和干扰则根据方位平均计算出干扰方位,非饱和干扰则根据专门设计的方位分辨算法计算出干扰的方位。
15.干扰方位计算流程图如图3和图4所示。
16.步骤一:对每个脉冲的回波数据从2/3量程处连续取4000个样本数据进行幅度均值统计,将幅度均值与上位机送来的饱和门限进行对比。
17.若超过饱和门限,则将当前脉冲的幅度均值与方位相对应的存入饱和二维数组中,表明主瓣饱和干扰起始,直至统计出连续多个脉冲无主瓣饱和干扰标记则表明主瓣饱和干扰结束,停止存储(饱和干扰结束的脉冲个数由实际干扰源方位分辨率指标决定),并转步骤二;
18.若未超过饱和门限,比较主通道与辅助通道幅度值大小,若主通道大于辅助通道则置主瓣非饱和干扰标记,并将当前脉冲的幅度均值与方位相对应的存入非饱和二维数组中,表明主瓣非饱和干扰起始,直至统计出连续多个脉冲无主瓣非饱和干扰标记则表明主瓣非饱和干扰结束,结束存储,转步骤三;
19.步骤二:取饱和二维数组中第一个和最后一个的方位值求平均作为当前主瓣饱和干扰的干扰源方位并送上位机进行显示,程序结束;
20.步骤三:新建一个数据链表并转步骤四,其中数据链表的结构体形式可如表一的软件代码所示;
21.表一
[0022][0023]
步骤四:对非饱和二维数组中的进行遍历,针对幅度值信息寻找所有极大值与极小值,并转步骤五。其中非饱和二维数组中存在若干极大值和极小值,该极大值和极小值是局部极限值,该极大值比左右数值大,为“小波峰”,极小值是比左右数值小,为“小波谷”,另外极大值和极小值总是交替出现;
[0024]
步骤五:利用各极大值新建链表数据节点,如表二中的软件代码所示,依次存入幅度极大值相关幅度、方位信息,在数据节点内存储相邻左极小值幅度、方位信息作为待定干扰源目标起始幅度、起始方位,存储相邻右极小值幅度、方位信息作为待定干扰源目标结束幅度、结束方位,并转步骤六,其中同一幅度极小值是前一节点的目标结束的幅度,又是后一节点的目标起始幅度,方位和幅值是一一对应的,找到极大极小值对应的方位就有了;
[0025]
表二
[0026][0027]
步骤六:设置干扰源方位分辨率为最小分辨方位,设置一点八倍的干扰源方位分辨率为最大分辨方位,对链表从头遍历,提取链表第一、第二两个节点间计算方位差值,并转步骤七;遍历结束则转步骤八;
[0028]
步骤七:若方位差值小于干扰源最小分辨方位,删除前一个链表节点;若大于干扰源最大分辨方位,输出前一个链表节点方位作为一个干扰源目标方位并删除该链表节点;若小于干扰源最大分辨方位并且大于干扰源最小分辨方位,通过比较两个节点目标幅度与目标结束幅度的比值,剔除目标幅度与目标结束幅度的比值小的节点。
[0029]
步骤八:输出可分辨的所有干扰源方位,程序结束。
[0030]
本方法通过饱和门限的判断,分情况计算干扰的方位,提高干扰方位的计算准确性。过饱和门限时,通过起始和结束准则存储所有饱和数据来计算干扰源方位。脉冲幅度没有过饱和门限时,可以根据现场实际情况设定最大分辨率和最小分辨率,可以在有多个有源干扰时在一定的干扰源方位分辨率条件下准确的分辨出每个干扰的方位,并通过方位分辨的算法可以更加精确地计算出干扰的方位信息。
[0031]
本领域技术人员可以理解,本发明实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
[0032]
以上所述仅为本发明的实施例,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。


技术特征:
1.一种干扰方位测量方法,其特征在于,包括:s1、从上位机获取饱和门限参数;s2、统计主瓣干扰区域,根据脉压后的噪声幅度值比较确认是否为饱和干扰;s3、若饱和干扰、则根据方位平均计算出干扰方位;若非饱和干扰、则根据专用方位分辨算法计算出干扰的方位。2.根据权利要求1所述的干扰方位测量方法,其特征在于,所述统计主瓣干扰区域包括:从雷达获得的外部有源干扰信息中截取经过脉压之后非杂波区域的iq数据,统计多个脉冲的噪声幅度值,通过主通道与辅助通道幅度比较,确定主瓣干扰区域。3.根据权利要求2所述的干扰方位测量方法,其特征在于,对每个脉冲的回波数据从2/3量程处连续取4000个样本数据进行幅度均值统计。4.根据权利要求1所述的干扰方位测量方法,其特征在于,若饱和干扰则根据方位平均计算出干扰方位包括:将当前脉冲的幅度均值与方位相对应的存入饱和二维数组中,表明主瓣饱和干扰起始,直至统计出连续多个脉冲无主瓣饱和干扰标记则表明主瓣饱和干扰结束,停止存储,其中饱和干扰结束的脉冲个数由实际干扰源方位分辨率指标决定;取饱和二维数组中第一个和最后一个的方位值求平均作为当前主瓣饱和干扰的干扰源方位并送上位机进行显示。5.根据权利要求1所述的干扰方位测量方法,其特征在于,若饱和干扰则根据方位平均计算出干扰方位包括:比较主通道与辅助通道幅度值大小,若主通道大于辅助通道则置主瓣非饱和干扰标记,并将当前脉冲的幅度均值与方位相对应的存入非饱和二维数组中,表明主瓣非饱和干扰起始,直至统计出连续多个脉冲无主瓣非饱和干扰标记则表明主瓣非饱和干扰结束,结束存储;对非饱和二维数据进行遍历,针对幅度值信息寻找所有极大值与极小值;建立数据链表,利用找寻的各极大值新建链表数据节点,针对每个链表数据节点,依次存入该极大值相关幅度、方位信息,在数据节点内存储相邻左极小值幅度、方位信息作为待定干扰源目标起始幅度、起始方位,在数据节点内存储相邻右极小值幅度、方位信息作为待定干扰源目标结束幅度、结束方位;设置最小分辨方位和最大分辨方位,对链表从头遍历,提取链表第一、第二两个节点间计算方位差值;若方位差值小于干扰源最小分辨方位,删除前一个链表节点;若大于干扰源最大分辨方位,输出前一个链表节点方位作为一个干扰源目标方位并删除该链表节点;若小于干扰源最大分辨方位并且大于干扰源最小分辨方位,通过比较两个节点目标幅度与目标结束幅度的比值,剔除目标幅度与目标结束幅度的比值小的节点;遍历结束时输出所有干扰源方位。6.根据权利要求5所述的干扰方位测量方法,其特征在于,设置干扰源方位分辨率为最小分辨方位,设置一点八倍的干扰源方位分辨率为最大分辨方位。

技术总结
本发明公开了一种干扰方位测量方法,包括:S1、从上位机获取饱和门限参数;S2、统计主瓣干扰区域,根据脉压后的噪声幅度值比较确认是否为饱和干扰;S3、若饱和干扰、则根据方位平均计算出干扰方位;若非饱和干扰、则根据专用方位分辨算法计算出干扰的方位。本方法通过饱和门限的判断,分情况计算干扰的方位,提高干扰方位的计算准确性。脉冲幅度没有过饱和门限时,可以根据现场实际情况设定最大分辨率和最小分辨率,可以在有多个有源干扰时在一定的干扰源方位分辨率条件下准确的分辨出每个干扰的方位,并通过专门的方位分辨算法可以更加精确地计算出干扰的方位信息。确地计算出干扰的方位信息。确地计算出干扰的方位信息。


技术研发人员:方龙 耿天文 卢中楼
受保护的技术使用者:安徽博微长安电子有限公司
技术研发日:2023.03.31
技术公布日:2023/8/5
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