一种半导体安全测试柜的制作方法

1.本发明涉及半导体领域，尤其涉及一种半导体安全测试柜。


背景技术：

2.随着集成电路的发展，半导体芯片在电路里使用的越来越广，对半导体的测试要求也越来越严格。
3.一般的半导体测试柜只对半导体器件的耐高温性能和接收数据的性能进行测试，由于湿空气容易导致测试柜内出现水汽，而导致电路短路，所以一般的半导体测试柜不会对半导体的抗湿性能进行测试。即使测试柜有测试半导体的抗湿性能，其安全性能也不好。


技术实现要素：

4.为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种半导体安全测试柜，其能测试半导体器件的抗湿性，且安全性高。
5.本发明的目的采用以下技术方案实现：
6.一种半导体安全测试柜，其特征在于：包括柜体及设置在所述柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱，所述烘箱通过所述驱动单元与所述控制单元电性连接；
7.所述驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板，所述驱动板架包括驱动板和两个第一侧框，两个第一侧框设置在所述第一连接板的上端，所述驱动板与所述第一侧框滑动连接，所述驱动板与所述控制单元电性连接；
8.所述保险丝架包括两个第二侧框和具有多个保险丝的保险丝板，两个第二侧框设置在所述第一连接板的上端，所述保险丝板与所述第二侧框滑动连接，所述保险丝板与所述驱动板一一信号连接；
9.所述烘箱包括箱体和设置在所述箱体内的加湿器和多个老化板，所述老化板通过所述保险丝板与所述驱动板一一电性连接，所述加湿器与所述控制单元电性连接。
10.优选的，两个第一侧框相互平行设置，所述第一侧框设置有多个第一散热孔，相邻第一散热孔之间设置有第一导槽，所述驱动板通过所述第一导槽与所述第一侧框滑动连接。
11.优选的，所述驱动板架还包括风机板，所述风机板固定在所述第一侧框上，所述风机板上设置有用于给所述驱动板散热的风机，所述风机与所述第一散热孔相对设置。
12.优选的，两个第二侧框相互平行设置，所述第二侧框设置有多个第二散热孔，相邻第二散热孔之间设置有第二导槽，所述保险丝板通过所述第二导槽与所述第二侧框滑动连接。
13.优选的，所述驱动单元还包括第二连接板，两个第一侧框和两个第二侧框均设置在所述第二连接板的下端，所述第一连接板和所述第二连接板相互平行设置。
14.优选的，所述驱动单元还包括集线架，所述第一连接板和所述第二连接板均为l型板，所述l型板上设置有缺口，所述集线架设置在所述缺口处。
15.优选的，所述集线架包括集线斗、半边管和四个连接脚，所述半边管固定在所述集线斗的下端，四个连接脚分别固定在所述集线斗的下端，所述半边管的侧面设置有开口，所述烘箱设置有出线口，所述开口与所述出线口相对设置。
16.优选的，所述驱动板架还包括第一背板，所述保险丝架还包括第二背板，所述第一背板固定在两个第一侧框之间，所述第二背板固定在两个第二侧框之间，所述第一背板和所述第二背板之间设置有多个灌胶通信件，所述保险丝板通过所述灌胶通信件与所述驱动板电性连接。
17.优选的，所述半导体安全测试柜还包括多个ui电源，多个ui电源均设置在所述柜体内，所述ui电源与所述保险丝板一一电性连接。
18.优选的，所述控制单元包括控制门和主控器，所述控制门上设置有显示屏、按钮区和键盘盒，所述键盘盒内设置有键盘，所述显示屏、所述按钮区和所述键盘均与所述主控器电性连接。
19.相比现有技术，本发明的有益效果在于：
20.本半导体安全测试柜设置有保险丝板和加湿器，能提高所述烘箱内空气的湿度，而能进行加湿测试，所述烘箱能防止因湿空气导致其他部件(驱动板)短路，万一有驱动板短路也有保险丝板对短路的驱动板进行保护，从而提高了安全性。
附图说明
21.图1为本发明的半导体安全测试柜的立体结构示意图；
22.图2为本发明的半导体安全测试柜的俯视图；
23.图3为本发明的烘箱的立体结构示意图；
24.图4为本发明的驱动单元的立体结构示意图；
25.图5为本发明的驱动单元的主视图；
26.图6为本发明的集线斗的立体结构示意图。
27.图中：100、半导体安全测试柜；10、柜体；11、ui电源；12、报警灯；13、万向轮；14、顶板；141、风机口；20、烘箱；21、箱体；211、前门；212、侧门；213、插板；214、插座；22、变频器；30、驱动单元；31、驱动板架；311、第一侧框；312、第一背板；313、第一散热孔；314、第一导槽；315、风机板；316、风机；32、保险丝架；321、第二侧框；322、第二背板；323、第二导槽；324、第二散热孔；33、第一连接板；331、缺口；34、第二连接板；40、集线架；41、集线斗；42、半边管；421、开口；43、连接脚；431、连接孔；432、折边；50、控制单元；51、控制门；511、显示屏；512、按钮区；513、键盘盒。
具体实施方式
28.为了能够更清楚地理解本发明的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。
29.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不
能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
30.如图1-图4所示，本技术公开的一种半导体安全测试柜100，包括柜体10及设置在所述柜体10内的控制单元50、驱动单元30和烘箱20，所述烘箱20通过所述驱动单元30与所述控制单元50电性连接；所述驱动单元30包括驱动板架31、保险丝架32和第一连接板33，所述驱动板架31包括驱动板和两个第一侧框311，两个第一侧框311设置在所述第一连接板33的上端，所述驱动板与所述第一侧框311滑动连接，所述驱动板与所述控制单元50电性连接；所述保险丝架32包括两个第二侧框321和具有多个保险丝的保险丝板，两个第二侧框321设置在所述第一连接板33的上端，所述保险丝板与所述第二侧框321滑动连接，所述保险丝板与所述驱动板一一信号连接；所述烘箱20包括箱体21和设置在所述箱体21内的加湿器和多个老化板，所述老化板通过所述保险丝板与所述驱动板一一电性连接，所述加湿器与所述控制单元50电性连接。
31.在上述实施方式中，本半导体安全测试柜100设置有保险丝板和加湿器，所述加湿器能提高所述烘箱20内空气的湿度，而能进行加湿测试，所述烘箱20能防止因湿空气导致其他部件(驱动板)短路，万一有驱动板短路也有保险丝板对短路的驱动板进行保护，从而提高了安全性。
32.优选的，所述烘箱20内还设置有用于装载老化板的老化板架和用于加热的电阻丝，所述控制单元50能给所述驱动单元30发送测试指令，该测试指令包括温度波形信息、湿度波形信息和功能波形信息，所述驱动单元30再把该测试指令编译成测试信号给所述烘箱20内的老化板，而对老化板上的待测半导体器件进行测试。该老化板上可安装多个半导体器件，所述保险丝板也可以安装多个保险丝，每个保险丝可对应一个半导体器件，当其中某一路半导体器件或驱动板发生短路故障，与该短路半导体器件或驱动板电性连接的保险丝会自动烧断，而不影响其他半导体器件的测试。两个第一侧框311相互平行设置，两个第二侧框321相互平行设置。
33.在一种优选的实施方式中，如图3和图4所示，所述第一侧框311设置有多个第一散热孔313，相邻第一散热孔313之间设置有第一导槽314，所述驱动板通过所述第一导槽314与所述第一侧框311滑动连接。所述驱动板架31还包括风机板315，所述风机板315固定在所述第一侧框311上，所述风机板315上设置有用于给所述驱动板散热的风机316，所述风机316与所述第一散热孔313相对设置。所述第二侧框321设置有多个第二散热孔324，相邻第二散热孔324之间设置有第二导槽323，所述保险丝板通过所述第二导槽323与所述第二侧框321滑动连接。
34.在上述实施方式中，为了能更好地散热，两个第一侧框311上的第一散热孔313一一相对设置，两个第一侧框311之间的驱动板平行设置，两个第二侧框321上的第二散热孔324一一相对设置，两个第二侧框321之间的保险丝板平行设置。所述风机板315不但能给驱动板散热，也能把驱动板上的湿空气吹散。
35.如图4-图6所示，所述驱动单元30还包括第二连接板34和集线架40，两个第一侧框311和两个第二侧框321均设置在所述第二连接板34的下端，所述第一连接板33和所述第二连接板34相互平行设置。所述第一连接板33和所述第二连接板34均为l型板，所述l型板上设置有缺口331，所述集线架40设置在所述缺口331处。所述集线架40包括集线斗41、半边管
42(只有三个管壁或两个管壁的管子)和四个连接脚43，所述半边管42固定在所述集线斗41的下端，四个连接脚43分别固定在所述集线斗41的下端，所述半边管42的侧面设置有开口421，所述烘箱20设置有出线口，所述开口与所述出线口相对设置。
36.在上述实施方式中，相互平行的所述第一连接板33和所述第二连接板34能使所述驱动板架31和所述保险丝架32成为一整体而更牢固，也能使要电性连接的驱动板和保险丝板保持在同一平面，而便于电性连接。所述集线架40设置在所述开口421处利于所述驱动单元30布线。所述集线斗41利于线路进出，也利于线路上的水蒸气凝结的细水珠漏出。所述半边管42利于线路穿过所述集线斗41，其中所述半边管42的开口与所述出线口相对设置，则所述半边管42的管壁与所述驱动单元相对设置，而能防止从所述烘箱20内扩散出的水蒸气直接扩散到所述驱动单元30内，也利于所述烘箱20内的线路从出线口安装到所述集线斗41内，所述驱动单元30内的有些线路也可以穿过所述半边管42从所述出线口进入所述烘箱20。所述连接脚43利于所述集线架40安装在所述驱动单元30上，为了更好地安装所述集线架40，所述连接脚43上设置有连接孔431，为了增加所述连接脚43与所述驱动单元30的接触面积而更稳固，所述连接脚43上还设置有折边432。
37.如图1-图2所示，在一种优选的实施方式中，所述半导体安全测试柜100还包括多个ui电源11，多个ui电源11均设置在所述柜体10内，所述ui电源11与所述保险丝板一一电性连接。所述控制单元50包括控制门51和主控器，所述控制门51上设置有显示屏511、按钮区512和键盘盒513，所述键盘盒513内设置有键盘，所述显示屏511、所述按钮区512和所述键盘均与所述主控器电性连接。其中，所述柜体10的顶板14上设置有风机口141和报警灯12，所述风机口141可安装排风机，所述报警灯12与所述主控器电性连接。所述柜体10的下端还设置有万向轮13。
38.在上述实施方式中，所述ui电源11、所述保险丝板、所述驱动板和所述老化板一一电性连接形成一条测试链，多个ui电源11、多个保险丝板、多个驱动板和多个老化板就可形成多条测试链，如果其中某一条测试链发生短路故障，则该条测试链上的所述保险丝板断开，而不会影响到其他测试链，所述ui电源11可以调整测试电源(包括电压、电流或频率)。所述主控器可为mcu芯片或工控机，所述控制门51可以转动而方便用户操作键盘和按钮区，也利于维护。
39.另外，如图2-图3所示，所述烘箱20的正面设置有前门211和插板213，所述烘箱的侧面设置有侧门212和插座214，所述烘箱20的上端设置有变频器22。所述前门211和所述侧门212利于安装待测半导体器件和维护，所述变频器22可卡接在所述顶板14上，所述变频器22与所述老化板电性连接。如图4所示，所述驱动板架31还包括第一背板312，所述保险丝架32还包括第二背板322，所述第一背板312固定在两个第一侧框311之间，所述第二背板322固定在两个第二侧框321之间，所述第一背板312和所述第二背板322之间设置有多个灌胶通信件，所述保险丝板通过所述灌胶通信件与所述驱动板电性连接。所述灌胶通信件为用绝缘胶浇筑的信号连接件，该灌胶通信件可防止短路。
40.综述，本半导体安全测试柜100通过在所述烘箱20内设置加湿器对半导体器件进行抗湿性测试，且把所述老化板与所述驱动板分开设置，可防止易短路的驱动板短路，并在所述老化板与所述驱动板之间设置保险丝架32和集线架40，很好地提高了测试链的安全性。
41.以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

技术特征：
1.一种半导体安全测试柜，其特征在于：包括柜体及设置在所述柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱，所述烘箱通过所述驱动单元与所述控制单元电性连接；所述驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板，所述驱动板架包括驱动板和两个第一侧框，两个第一侧框设置在所述第一连接板的上端，所述驱动板与所述第一侧框滑动连接，所述驱动板与所述控制单元电性连接；所述保险丝架包括两个第二侧框和具有多个保险丝的保险丝板，两个第二侧框设置在所述第一连接板的上端，所述保险丝板与所述第二侧框滑动连接，所述保险丝板与所述驱动板一一信号连接；所述烘箱包括箱体和设置在所述箱体内的加湿器和多个老化板，所述老化板通过所述保险丝板与所述驱动板一一电性连接，所述加湿器与所述控制单元电性连接。2.根据权利要求1所述的半导体安全测试柜，其特征在于：两个第一侧框相互平行设置，所述第一侧框设置有多个第一散热孔，相邻第一散热孔之间设置有第一导槽，所述驱动板通过所述第一导槽与所述第一侧框滑动连接。3.根据权利要求2所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述驱动板架还包括风机板，所述风机板固定在所述第一侧框上，所述风机板上设置有用于给所述驱动板散热的风机，所述风机与所述第一散热孔相对设置。4.根据权利要求3所述的半导体安全测试柜，其特征在于：两个第二侧框相互平行设置，所述第二侧框设置有多个第二散热孔，相邻第二散热孔之间设置有第二导槽，所述保险丝板通过所述第二导槽与所述第二侧框滑动连接。5.根据权利要求1所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述驱动单元还包括第二连接板，两个第一侧框和两个第二侧框均设置在所述第二连接板的下端，所述第一连接板和所述第二连接板相互平行设置。6.根据权利要求5所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述驱动单元还包括集线架，所述第一连接板和所述第二连接板均为l型板，所述l型板上设置有缺口，所述集线架设置在所述缺口处。7.根据权利要求6所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述集线架包括集线斗、半边管和四个连接脚，所述半边管固定在所述集线斗的下端，四个连接脚分别固定在所述集线斗的下端，所述半边管的侧面设置有开口，所述烘箱设置有出线口，所述开口与所述出线口相对设置。8.根据权利要求1所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述驱动板架还包括第一背板，所述保险丝架还包括第二背板，所述第一背板固定在两个第一侧框之间，所述第二背板固定在两个第二侧框之间，所述第一背板和所述第二背板之间设置有多个灌胶通信件，所述保险丝板通过所述灌胶通信件与所述驱动板电性连接。9.根据权利要求1所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述半导体安全测试柜还包括多个ui电源，多个ui电源均设置在所述柜体内，所述ui电源与所述保险丝板一一电性连接。10.根据权利要求1所述的半导体安全测试柜，其特征在于：所述控制单元包括控制门和主控器，所述控制门上设置有显示屏、按钮区和键盘盒，所述键盘盒内设置有键盘，所述显示屏、所述按钮区和所述键盘均与所述主控器电性连接。

技术总结
本发明公开了一种半导体安全测试柜，包括柜体及设置在柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱，烘箱通过驱动单元与控制单元电性连接；驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板，驱动板架包括驱动板和两个第一侧框，两个第一侧框设置在第一连接板的上端，驱动板与第一侧框滑动连接，驱动板与控制单元电性连接；保险丝架包括两个第二侧框和具有多个保险丝的保险丝板，两个第二侧框设置在第一连接板的上端，保险丝板与第二侧框滑动连接，保险丝板与驱动板一一信号连接；烘箱包括箱体和设置在箱体内的加湿器和多个老化板，老化板通过保险丝板与驱动板一一电性连接，加湿器与控制单元电性连接。其能测试半导体器件的抗湿性，且安全性高。性高。性高。


技术研发人员：曹佶 梅山赛 周泽文
受保护的技术使用者：浙江杭可仪器有限公司
技术研发日：2022.01.26
技术公布日：2023/8/5