芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片与流程

1.本发明涉及芯片测试领域，具体地涉及一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片。


背景技术：

2.芯片的cp测试中可以对频率等一些芯片参数进行修调，使得芯片有更精准的输出。现有测试技术的频率自修调方法，通常将频率可调档位值放置在芯片内部存储器中，通过配置芯片内部存储器来控制芯片内部osc(oscillator，振荡器)的频率，从而达到控制芯片输出频率的目的。测试机测试芯片输出频率，并将频率测试结果返回给芯片，芯片比较频率测试结果和目标频率值，芯片根据比较结果重新配置内部存储器，测试机重新测量芯片输出频率，如此反复，直到芯片能够输出目标频率。
3.现有技术方案中测试机需要多次测量芯片输出频率，将测试的结果返回给芯片，占用了测试机较多的测试时间及通信时间，并且占用了测试机的模块资源。


技术实现要素：

4.本发明实施例的目的是提供一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片，其可解决或至少部分解决上述问题。
5.为了实现上述目的，本发明实施例的一个方面提供一种芯片的输出频率的自修调方法，该自修调方法包括：获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较所述第一个数及所述第二个数，以确定初始比较结果；以及在所述第一个数与所述第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。
6.可选地，修调所述振荡器频率以使得所述差值满足所述第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调所述振荡器频率。
7.可选地，在基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的情况下，基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率包括：根据所述第二预设要求确定基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调所述振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果相反。
8.可选地，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调所述振荡器频率使用的频率修调值不相同。
9.相应地，本发明实施例的另一方面提供一种芯片的输出频率的自修调装置，该自修调装置包括：第一个数获取模块，用于获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生
的时钟信号的第一个数；第二个数获取模块，用于获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较结果确定模块，用于比较所述第一个数和所述第二个数，以确定初始比较结果；以及修调模块，用于在所述第一个数与所述第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。
10.可选地，所述修调模块修调所述振荡器频率以使得所述差值满足所述第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调所述振荡器频率。
11.可选地，在基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的情况下，所述修调模块基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率包括：根据所述第二预设要求确定基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调所述振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果相反。
12.可选地，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调所述振荡器频率使用的频率修调值不相同。
13.另外，本发明实施例的另一方面还提供一种芯片，该芯片包括上述的自修调装置。
14.此外，本发明实施例的另一方面还提供一种机器可读存储介质，该机器可读存储介质上存储有指令，该指令用于使得机器执行上述的自修调方法。
15.另外，本发明实施例的另一方面还提供一种处理器，用于运行程序，其中，所述程序被运行时用于执行上述的自修调方法。
16.通过上述技术方案，获取在预设计数时间内芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数及测试机提供的时钟信号的第二个数，将第一个数与第二个数进行比较，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下修调振荡器产生时钟信号的振荡器频率，以使得芯片的输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求，如此，实现了自修调芯片的输出频率；并且，在自修调芯片的输出频率时不需要测试机测量芯片的输出频率，也不需要将测试机的测试结果返回给芯片，如此，减少了测试机测量芯片的输出频率的测试时间及测试机与芯片的通信时间，降低了时间成本，降低了测试成本，提高了生产效率；此外，不需要测试机测量芯片的输出频率，减少了使用测试机测试模块的数量，进一步降低了测试成本。
17.本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
18.附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：
19.图1是本发明一实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法的流程图；
20.图2是本发明另一实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法的逻辑示意图；
21.图3是本发明另一实施例提供的芯片与测试机的示意图；以及
22.图4是本发明另一实施例提供的自修调装置的结构框图。
23.附图标记说明
24.1第一个数获取模块
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第二个数获取模块
25.3比较结果确定模块
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修调模块
具体实施方式
26.以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。
27.本发明实施例的一个方面提供一种芯片的输出频率的自修调方法。
28.图1是本发明一实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法的流程图。如图1所示，该自修调方法包括如下内容。
29.在步骤s10中，获取在预设计数时间内芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数。具体地，针对芯片内的振荡器产生的时钟信号进行计数，得到在预设时间内芯片内的振荡器产生的时钟信号的个数，以获取第一个数。
30.在步骤s11中，获取在预设计数时间内与芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数。具体地，针对与芯片对应的测试机提供的时钟信号进行计数，得到在预设时间内测试机提供的时钟信号的个数，以获取第二个数。
31.在步骤s12中，比较第一个数和第二个数，以确定初始比较结果。其中，初始比较结果也就是初次将第一个数与第二个数进行比较得到的比较结果。其中，比较结果可以是第一个数大于第二个数，或者可以是第一个数小于第二个数，或者还可以是第一个数等于第二个数。
32.在步骤s13中，根据比较初始比较结果修调振荡器产生时钟信号的振荡器频率，以使得芯片的输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。具体地，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调振荡器产生时钟信号的振荡器频率，以使得芯片的输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。其中，第一预设要求可以根据具体情况而定。例如，第一预设要求可以是绝对值不等于某一具体值。具体地，具体值可以是0，也就是第一个数与第二个数不相等。或者，第一预设要求可以是绝对值处于某一第一范围内。具体地，第一范围可以根据需求的精度进行设置。此外，第二预设要求可以根据具体而定。例如，第二预设要求可以是差值等于某一具体值或者差值处于某一范围内。
33.通过上述技术方案，获取在预设计数时间内芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数及测试机提供的时钟信号的第二个数，将第一个数与第二个数进行比较，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下修调振荡器产生时钟信号的振荡器频率，以使得芯片的输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求，如此，实现了自修调芯片的输出频率；并且，在自修调芯片的输出频率时不需要测试机测量芯片的输出频率，也不需要将测试机的测试结果返回给芯片，如此，减少了测试机测量芯片的输出频率的测试时间及测试机与芯片的通信时间，降低了时间成本，降低了测试成本，提高了生产效率；此外，不需要测试机测量芯片的输出频率，减少了使用测试机测试模块的数量，进一步降低了测试成本。
34.可选地，在本发明实施例中，修调振荡器频率以使得差值满足第二预设要求包括
以下内容。基于逐次逼近法或二分法，修调振荡器频率。
35.可选地，在本发明实施例中，在基于逐次逼近法修调振荡器频率的情况下，基于逐次逼近法修调振荡器频率可以包括以下内容。根据第二预设要求确定基于逐次逼近法修调振荡器频率的轮数。其中，一轮修调为修调振荡器频率，直到在该轮修调中第二个数与重新获取的第一个数的比较结果与初始比较结果相反，或者与在同该轮修调相邻的上一轮修调中第二个数与重新获取的第一个数的比较结果相反。例如，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，初始进行修调振荡器频率，在修调过程中重新获取第一个数，从开始进行修调直到第二个数与重新获取的第一个数的比较结果与初始比较结果相反为一轮修调；再例如，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，已进行过一轮或者几轮修调，从出现比较结果相反到再次出现比较结果相反为一轮修调。此外，在本发明实施例中，不同的第二预设要求对应不同的轮数，例如，差值为100hz，轮数为一；差值为10hz，轮数为二；差值为1hz，轮数为三。预先设置要求与轮数之间的对应关系，根据想要达到的第二预设要求与预先设置的对应关系，确定轮数。基于所确定的轮数，修调振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中第二个数与重新获取的第一个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中第二个数与重新获取的第一个数的比较结果相反。具体地，在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，初始进行修调，则结束条件为重新确定的比较结果与初始比较结果相反；若已进行过一轮或者几轮修调，则结束条件为重新确定的比较结果与相邻的上一轮修调中重新确定的比较结果相反。此外，确定的轮数是多少，则进行几轮修调振荡器频率，针对任一轮修调，达到结束条件则结束该轮修调。
36.可选地，在本发明实施例中，使用频率修调值修调振荡器频率，频率修调值为每次修调振荡器频率时，振荡器频率的变化量。每进行一次修调振荡器频率，重新获取第一个数并判断第二个数与重新获取的第一个数的大小关系；此外，在一轮修调中可以进行至少一次修调振荡器频率。在每轮修调的过程中，可以是每次进行修调使用同一频率修调值，也可以是并非每次进行修调使用同一频率修调值。另外，在每轮修调使用同一频率修调值的情况下，在确定的轮数是多轮的情况下，可以是多轮修调中均使用相同的频率修调值，也可以是至少两轮修调中使用的频率修调值不相同。可选地，在所确定的轮数是多轮的情况下，每轮使用的频率修调值都是不同的。例如，在每轮使用的频率修调值都是不同的情况下，每轮使用的频率修调值之间的大小关系可以根据具体情况而定。可选地，随着进行修调的轮数越多，频率修调值越来越小，其中，具体的大小关系可以根据具体情况而定。此外，在本发明实施例中，可以预先设置每轮使用的频率修调值。具体地，预先设置需要差值满足的不同要求对应的轮数及每轮使用的频率修调值。
37.可选地，在本发明实施例中，可以通过设置步进来设置一轮修调中使用的频率修调值，步进表明二进制值及二进制值与频率修调值之间的关系，其中，二进制值与振荡器频率有对应关系。具体地，在本发明实施例中，无论需要几轮修调，针对每轮修调，预先设置每轮修调对应的步进；在修调振荡器频率的过程中，针对任一轮修调，基于该轮修调对应的步进确定频率修调值，使用所确定的频率修调值修调振荡器频率。
38.图2是本发明另一实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法的逻辑示意图，图3是本发明另一实施例提供的芯片与测试机的示意图，下面结合图2和图3对本发明实施例提
供的芯片的输出频率的自修调方法进行示例性介绍。其中，在该实施例中，芯片的输出频率的自修调方法在芯片内部执行，主要包括以下内容：1)将测试机提供的标准时钟作为基准，在芯片内部完成修调，减少测试机的测试时间以及测试机与芯片的通信时间；2)将测试机提供的标准时钟作为基准，在芯片内部完成修调，减少使用测试机的模块数量。
39.本发明实施例提供了用于量产测试的芯片的输出频率的自修调方法。其中，参照图3所示，芯片由控制模块、存储模块、osc、第一计数器、第二计数器及比较器等组成；测试机可以给芯片提供标准频率的时钟信号，作为修调芯片的输出频率的基准。芯片上电时，控制模块通过读取存储模块中存储的值来配置osc的振荡器频率。可以通过逐次逼近法或者二分法来修调osc的振荡器频率；通过设置步进来修调振荡器频率，修调数据为一串二进制数，不同的二进制值表示不同的频率修调值，步进表明了二进制值及二进制值与频率修调值之间的对应关系；第一计数器对芯片内部osc产生的时钟信号计数，第二计数器对测试机提供的标准频率的时钟信号计数，在计数时间t(预设计数时间)结束时，比较器比较第一计数器的结果和第二计数器的结果(也就是比较第一个数和第二个数)，比较器将比较结果返回给控制模块；控制模块从存储模块中读取增大或减小osc产生时钟信号的振荡器频率的步进step1、step2、step3(在该实施例中，需要进行三轮修调，按照顺序三轮修调对应的步进分别是step1、step2、step3)；控制模块依据每轮修调对应的步进，根据比较器的比较结果来增大或减小osc产生时钟信号的振荡器频率，直到找到合适的频率修调值，然后将找到的合适的频率修调值写入存储模块中。存储模块里面存储了一些增大或减小osc产生时钟信号的振荡器频率的频率修调值。
40.下面对采用逐次逼近法修调振荡器频率进行示例性介绍。如果第一个数(第一计数器在计数时间t内的计数结果)大于第二个数(第二计数器在计数时间t内的计数结果)，说明芯片目前的实际的输出频率偏大，控制模块以step1设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变小，直到重新获取的第一个数小于第二个数，如此，完成第一轮修调。此外，针对第一轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块中。控制模块再以step2设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变大，直到重新确定的第一个数大于第二个数，如此，完成第二轮修调。此外，针对第二轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块中。控制模块再以step3设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变小，直到第一个数小于第二个数，如此，完成第三轮修调。此外，针对第三轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块中。step2为step1的1/2n，step3为step2的1/2n，n为常数且可以根据具体情况设置。另外，在本发明实施例中，可以根据需要的精度来调节测试的轮数，测试的轮数越多，精度越高。其中，精度为芯片实际的输出频率与预设目标输出频率的差值需要达到的值。如此反复，经过修调，实现芯片实际的输出频率与预设目标输出频率的差值达到精度。
41.如果第一个数小于第二个数，说明芯片目前实际的输出频率偏小，控制模块以step1设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变大，直到重新获取的第一个数大于第二个数，如此，完成第一轮修调。此外，针对第一轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块
中。控制模块再以step2设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变小，直到重新获取的第一个数小于第二个数。如此，完成第二轮修调。此外，针对第二轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块中。控制模块再以step3设置频率修调值并根据设置的频率修调值修调振荡器频率，使得芯片实际的输出频率变大，直到重新获取的第一个数大于第二个数，如此，完成第三轮修调。此外，针对第三轮修调，还可以确定从开始修调至修调完成芯片的输出频率的变化值并将其存储在存储模块中。step2为step1的1/2n，step3为step2的1/2n，n为常数且可以根据具体情况设置。另外，在本发明实施例中，可以根据需要的精度来调节测试的轮数，测试的轮数越多，精度越高。其中，精度为芯片实际的输出频率与预设目标输出频率的差值需要达到的值。如此反复，经过修调，实现芯片实际的输出频率与预设目标输出频率的差值达到精度。
42.传统量产测试中，测试机测试芯片的输出频率，并将测试结果返回给芯片，芯片根据测试机测试结果重新配置芯片内部存储器，测试机重新测量，如此反复，直到芯片能够输出预设目标输出频率。传统量产测试需要多次测量芯片的输出频率，占用了测试机的测试时间、测试机与芯片的通信时间以及测试机的硬件模块资源。本发明实施例提供的用于量产测试的输出频率的自修调方法，以测试机提供的标准频率的时钟信号作为基准，在芯片内部完成修调，将测试机对芯片的频率修调转移到芯片内部完成，测试机在做其它工作的同时，芯片就可以在内部完成修调，如此，省去了传统量产测试中测试机对芯片输出频率的测量时间以及测试机与芯片的通信时间，从而提高生产效率；此外，通过减少使用测试机测试模块数量来进一步降低硬件测试成本。
43.综上所述，本发明实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法，一方面通过减少测试机对芯片的输出频率的测试时间以及测试机与芯片的通信时间来降低测试时间的成本，节省量产时间，降低了测试成本，提高了生产效率；另一方面通过减少使用测试机测试模块数量来进一步降低硬件测试成本。
44.相应地，本发明实施例的另一方面提供一种芯片的输出频率的自修调装置。
45.图4是本发明另一实施例提供的芯片的输出频率的自修调装置的结构框图。如图4所示，该自修调装置包括：第一个数获取模块1、第二个数获取模块4、比较结果确定模块2和修调模块3。第一个数确定模块1用于获取在预设计数时间内芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；第二个数确定模块4用于获取在预设计数时间内与芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较结果确定模块2用于比较第一个数和第二个数，以确定初始比较结果；修调模块3用于在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调振荡器产生时钟信号的振荡器频率，以使得芯片的输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。
46.可选地，在本发明实施例中，修调模块修调振荡器频率以使得差值满足第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调振荡器频率。
47.可选地，在本发明实施例中，在基于逐次逼近法修调振荡器频率的情况下，修调模块基于逐次逼近法修调振荡器频率包括：根据第二预设要求确定基于逐次逼近法修调振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该
轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与第二个数的比较结果相反。
48.可选地，在本发明实施例中，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调振荡器频率使用的频率修调值不相同。
49.本发明实施例提供的芯片的输出频率的自修调装置的具体工作原理及益处与本发明实施例提供的芯片的输出频率的自修调方法的具体工作原理及益处相似，这里将不再赘述。
50.所述自修调装置包括处理器和存储器，上述第一个数确定模块、第二个数确定模块、比较结果确定模块和修调模块等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。
51.处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来实现自修调芯片的输出频率。
52.存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flash ram)，存储器包括至少一个存储芯片。
53.另外，本发明实施例的另一方面还提供一种芯片，该芯片包括上述实施例中所述的自修调装置。
54.此外，本发明实施例的另一方面还提供一种机器可读存储介质，该机器可读存储介质上存储有指令，该指令用于使得机器执行上述实施例中所述的自修调方法。
55.另外，本发明实施例的另一方面还提供一种处理器，用于运行程序，其中，所述程序被运行时用于执行上述实施例中所述的自修调方法。
56.此外，本发明实施例的另一方面还提供一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现上述实施例中所述的自修调方法。本文中的设备可以是服务器、pc、pad、手机等。
57.另外，本发明实施例的另一方面还提供一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有上述实施例中所述的自修调方法步骤的程序。
58.本领域内的技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
59.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
60.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或
多个方框中指定的功能。
61.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
62.在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。
63.存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flash ram)。存储器是计算机可读介质的示例。
64.计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
65.还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
66.以上仅为本技术的实施例而已，并不用于限制本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的权利要求范围之内。

技术特征：
1.一种芯片的输出频率的自修调方法，其特征在于，该自修调方法包括：获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较所述第一个数及所述第二个数，以确定初始比较结果；以及在所述第一个数与所述第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。2.根据权利要求1所述的自修调方法，其特征在于，修调所述振荡器频率以使得所述差值满足所述第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调所述振荡器频率。3.根据权利要求2所述的自修调方法，其特征在于，在基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的情况下，基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率包括：根据所述第二预设要求确定基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调所述振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果相反。4.根据权利要求3所述的自修调方法，其特征在于，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调所述振荡器频率使用的频率修调值不相同。5.一种芯片的输出频率的自修调装置，其特征在于，该自修调装置包括：第一个数获取模块，用于获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；第二个数获取模块，用于获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较结果确定模块，用于比较所述第一个数和所述第二个数，以确定初始比较结果；以及修调模块，用于在所述第一个数与所述第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。6.根据权利要求5所述的自修调装置，其特征在于，所述修调模块修调所述振荡器频率以使得所述差值满足所述第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调所述振荡器频率。7.根据权利要求6所述的自修调装置，其特征在于，在基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的情况下，所述修调模块基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率包括：根据所述第二预设要求确定基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调所述振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果相反。8.根据权利要求7所述的自修调装置，其特征在于，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调所述振荡器频率使用的频率修调值不相同。
9.一种芯片，其特征在于，该芯片包括：权利要求5-8中任一项所述的自修调装置。10.一种机器可读存储介质，其特征在于，该机器可读存储介质上存储有指令，该指令用于使得机器执行权利要求1-4中任一项所述的自修调方法。11.一种处理器，其特征在于，用于运行程序，其中，所述程序被运行时用于执行权利要求1-4中任一项所述的自修调方法。

技术总结
本发明实施例提供一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片，属于芯片测试领域。该自修调方法包括：获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较第一个数和第二个数，以确定初始比较结果；以及在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。籍此，实现了自修调芯片的输出频率。实现了自修调芯片的输出频率。实现了自修调芯片的输出频率。


技术研发人员：张学磊 孙婧 孙云龙 温立国 沈红伟
受保护的技术使用者：北京智芯微电子科技有限公司
技术研发日：2023.04.04
技术公布日：2023/8/14