一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质与流程

1.本技术涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质。


背景技术：

2.用于对电路板进行电镀处理工艺的垂直连续电镀铜生产线(dvcp),其具备良好的电镀分布、灌孔及填孔能力、且电镀质量稳定。
3.目前dvcp涉及到的产品缺陷、设备缺陷等问题，全靠人工目测监测，且上料位、镀铜池、下料位设置在不同区域，导致单人无法完全监测的dvcp上出现的产品缺陷、设备缺陷等问题。目前的巡检力度和持久度，不能连续识别、检测，无法及时发现问题并处理问题。
4.dvcp通常是通过挂架上的夹持机构夹持电路板物料，将被夹持的电路板物料运转到上料位、镀铜池、下料位等不同区域，以对被加持的电路板物料进行电镀处理工艺。
5.发明人发现，在挂架的移动过程中，若某一挂架发生变形，那么该挂架上夹持的电路板物料与相邻挂架上夹持的电路板物料之间，可能会导致的物料产生叠料等缺陷，影响产品良率。


技术实现要素：

6.有鉴于此，本技术提供了一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质，以及时对dvcp上挂架变形缺陷进行检测，减少物料的叠料缺陷，提高dvcp产出的产品良率。
7.第一方面，本技术提供了一种挂架变形缺陷检测方法，所述方法包括：
8.获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧；
9.基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；
10.根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。
11.在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距，包括：
12.基于所述第一数据信息，确定与待检测挂架的第一侧间距相匹配的第一高电平持续时间；
13.根据所述第一高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第一侧挂架间距。
14.在一个可选的实施方式中，所述基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距，包括：
15.基于所述第二数据信息，确定与待检测挂架的第二侧间距相匹配的第二高电平持
续时间；
16.根据所述第二高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距。
17.在一个可选的实施方式中，通过如下公式计算得到待检测挂架的第一侧挂架间距：
18.l
an
＝1/60*k*t
an
；
19.其中，l
an
为待检测挂架n的a侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
an
为待检测挂架n的a侧对应的高电平持续时间,单位ms。
20.在一个可选的实施方式中，通过如下公式计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距：
21.l
bn
＝1/60*k*t
bn
；
22.其中，l
bn
为待检测挂架n的b侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
bn
为待检测挂架n的b侧对应的高电平持续时间,单位ms。
23.在一个可选的实施方式中，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果,包括：
24.判断所述第一侧挂架间距是否在第一预设阈值范围内；
25.判断所述第二侧挂架间距是否在所述第一预设阈值范围内；
26.若确定所述第一侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第一侧挂架间距缺陷识别结果；
27.若确定所述第二侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第二侧挂架间距缺陷识别结果。
28.在一个可选的实施方式中，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果，还包括：
29.若确定所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距均在所述第一预设阈值范围，则计算所述第一侧挂架间距与所述第二侧挂架间距差值的绝对值；
30.判断所述差值的绝对值是否在第二预设阈值范围内；
31.若确定所述差值的绝对值在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架不存在变形缺陷；
32.若确定所述差值的绝对值不在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架存在变形缺陷。
33.第二方面，本技术提供了一种挂架变形缺陷检测装置，所述装置包括：
34.获取模块，用于获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；所述获取模块还用于获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧；
35.计算模块，用于基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；所述计算模块还用于基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；
36.识别模块，用于根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判
断所述待检测挂架是否发生变形缺陷，并生成判断结果。
37.第三方面，本技术提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而实现第一方面所述的挂架变形缺陷检测方法。
38.第四方面，本技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时，从而实现第一方面所述的挂架变形缺陷检测方法。
39.本技术提供的挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质，至少具有如下有益效果：
40.本技术提供的技术方案，可以通过获取双列镀铜生产线的挂架线速数据、位于挂架两侧的测距传感器的监测数据，从而可以监测数据中确定出挂架间距，并通过两侧的架间距结合预设阈值判断出挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。通过上述方式，能够有效地对双列镀铜生产线进行监测，及时发现双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷，以利于及时处理问题，避免物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。
41.可见，通过上述的方式，能够及时对双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷进行检测，减少物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。
附图说明
42.为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。需要说明的是，下面描述中的附图是示意性的而不应理解为对本技术进行任何限制，在附图中：
43.图1示出了本技术一个实施方式中的双列镀铜生产线的部分结构示意图；
44.图2示出了本技术一个实施方式中的挂架变形缺陷检测方法的示意图；
45.图3示出了本技术一个实施方式中的双列镀铜生产线中任意两个相邻挂架于同一列(侧)的结构示意图；
46.图4示出了本技术一个实施方式中的测距传感器的监测原理示意图；
47.图5示出了本技术一个实施方式中的挂架变形缺陷检测装置的示意图；
48.图6示出了本技术一个实施方式中的计算机设备的示意图。
具体实施方式
49.为了使本技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术所要保护的范围。
50.在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、
以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
51.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
52.此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
53.虽然下文描述的过程包括以特定的顺序出现的多个操作，但是应该清楚地了解到，这些过程也可以包括更多或者更少的操作，这些操作可以顺序执行或者并行执行。
54.实施例1
55.本技术提供的挂架变形缺陷检测方法，可以具体适用于双列产线的垂直连续电镀铜生产线(dvcp)。参见图1所示的双列产线的垂直连续电镀铜生产线，双列含义即就是将镀铜板夹挂在挂架的两侧(对应为两列)，同步方式沿产线方向推进工艺制程。而双列产线中的挂架的变形主要是挂架在推进工艺制程的过程中挂架发生了变形(偏移)。
56.请参阅图2，本技术一个实施方式提供的挂架变形缺陷检测方法，可以包括以下多个步骤。
57.s201、获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧。
58.在本实施方式中，请继续参阅图1，所述挂架线速数据即就是挂架沿产线方向上的移动速度。所述双列镀铜生产线包括a列(侧)、b列(侧)。即对应每个挂架均包括a列(侧)、b列(侧)。在实际应用中，在a、b侧分别设置一个测距传感器。例如第一测距传感器设置在a侧，则获取到的第一数据信息，则是第一测距传感器在a侧监测到的数据信息，第二测距传感器的设置原理应当同理理解，此处不再赘述。
59.参阅图3所示，图3为双列镀铜生产线中任意两个相邻挂架于同一列(侧)的结构示意图，在镀铜工艺制程中，相邻两个挂架直接存在一定的间距。参阅图4所示，测距传感器在进行测距监控时，若测距传感器的监控区内存在经过挂架，则由于挂架的阻隔使得测距传感器监控出低电平；若测距传感器的监控区内不存在经过挂架，即在上一个挂架完全通过后直至上一个挂架到达之前，则由于不存在阻隔使得测距传感器监控出高电平。也即是说第一数据信息、第二数据信息即就是相应的高低电平的持续时间信息。
60.s202、基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距。
61.在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距，包括：
62.基于所述第一数据信息，确定与待检测挂架的第一侧间距相匹配的第一高电平持续时间；
63.根据所述第一高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第一
侧挂架间距。
64.在本实施方式中，第一数据信息对应为双列镀铜生产线中a列的高低电平的持续时间信息，可以通过待检测挂架的序列信息与第一数据信息中的高电平持续时间进行匹配的方式，从而确定出与待检测挂架的a侧对应的第一高电平持续时间。进而可以通过计算挂架线速与第一高电平持续时间的乘积，得到待检测挂架的a侧挂架间距。
65.在一个可选的实施方式中，通过如下公式计算得到待检测挂架的第一侧挂架间距：
66.l
an
＝1/60*k*t
an
；
67.其中，l
an
为待检测挂架n的a侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
an
为待检测挂架n的a侧对应的高电平持续时间,单位ms。
68.在一个可选的实施方式中，所述基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距，包括：
69.基于所述第二数据信息，确定与待检测挂架的第二侧间距相匹配的第二高电平持续时间；
70.根据所述第二高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距。
71.在本实施方式中，第二数据信息对应为双列镀铜生产线中b列的高低电平的持续时间信息，可以通过待检测挂架的序列信息与第二数据信息中的高电平持续时间进行匹配的方式，从而确定出与待检测挂架的b侧对应的第二高电平持续时间。进而可以通过计算挂架线速与第二高电平持续时间的乘积，得到待检测挂架的b侧挂架间距。
72.在一个可选的实施方式中，通过如下公式计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距：
73.l
bn
＝1/60*k*t
bn
；
74.其中，l
bn
为待检测挂架n的b侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
bn
为待检测挂架n的b侧对应的高电平持续时间,单位ms。
75.此外需要注意的是，挂架上通常还设置有防撞靶，本方案中直接将防撞靶看作挂架整体的一部分。而在实际应用中，还需要去除两倍的防撞靶的长度，以得到实际的挂架间距。在后续的判断阈值的设置中亦可以结合防撞靶的长度进行确定，即若以去除两倍防撞靶的长度后的挂架间距作为判断基础，则下文中的第一阈值的范围在应当在原有阈值的基础上去除两倍防撞靶的长度，具体逻辑此处不再赘述。
76.s203、根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。
77.在本实施方式中，通常需要将第一侧挂架间距、第二侧挂架间距先分别进行判断，即就是若单侧挂架间距已经超出了对应的预设范围，那么则表示挂架的单侧与相邻挂架间的距离是不合理的，可能是挂架变形导致，亦可能是其他原因导致，此时需要提醒工作人员现场排查导致该情况发生的原因。若两侧挂架间距均在合理范围内，那么则可以通过两侧挂架间距的差值与预设阈值进行判断，从而可以确定挂架是否存在变形缺陷。
78.在本实施方式中，通过获取双列镀铜生产线的挂架线速数据、位于挂架两侧的测距传感器的监测数据，从而可以监测数据中确定出挂架间距，并通过两侧的架间距结合预
设阈值判断出挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。通过上述方式，能够有效地对双列镀铜生产线进行监测，及时发现双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷，以利于及时处理问题，避免物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。
79.在一个可选的实施方式中，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果,包括：
80.判断所述第一侧挂架间距是否在第一预设阈值范围内；
81.判断所述第二侧挂架间距是否在所述第一预设阈值范围内；
82.若确定所述第一侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第一侧挂架间距缺陷识别结果；
83.若确定所述第二侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第二侧挂架间距缺陷识别结果。
84.在本实施方式中，通过设置第一预设阈值进而分别与第一侧挂架间距、第二侧挂架间距进行比较判断，从而可以识别出双列镀铜生产线上是否存在相应的挂架间距缺陷，从而有利于提示现场巡查人员及时发现问题并处理问题，保证双列镀铜生产线的正常运转，提高双列镀铜生产线的生产效率。进一步提高双列镀铜生产线的产品良率。
85.在一个可选的实施方式中，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果，还包括：
86.若确定所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距均在所述第一预设阈值范围，则计算所述第一侧挂架间距与所述第二侧挂架间距差值的绝对值；
87.判断所述差值的绝对值是否在第二预设阈值范围内；
88.若确定所述差值的绝对值在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架不存在变形缺陷；
89.若确定所述差值的绝对值不在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架存在变形缺陷。
90.在本实施方式中，通过差值的绝对值进行判断，即当差值的绝对值超出第二预设范围时，则表示两侧挂架间距的差值过大，以即表示挂架发生了较大程度的偏移(变形)。通过该方式即可以识别出双列镀铜生产线上的挂架是否发生变形缺陷，从而有利于提示现场巡查人员及时发现问题并处理问题，保证双列镀铜生产线的正常运转，提高双列镀铜生产线的生产效率。进一步提高双列镀铜生产线的产品良率。
91.实施例2
92.本实施例提供了挂架变形缺陷检测装置，以应用于上述实施例1提供的挂架变形缺陷检测方法进行说明。请参阅图5所示，本技术一个实施方式提供的挂架变形缺陷检测装置，可以包括以下多个模块。
93.获取模块，用于获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；所述获取模块还用于获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧；
94.计算模块，用于基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；所述计算模块还用于基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检
测挂架的第二侧挂架间距；
95.识别模块，用于根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷，并生成判断结果。
96.本技术实施例提供的挂架变形缺陷检测装置，可以应用于如上述实施例1中提供的挂架变形缺陷检测方法，相关细节参考上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。
97.需要说明的是：本技术实施例中提供的挂架变形缺陷检测装置在进行挂架变形缺陷检测时，仅以上述各功能模块/功能单元的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块/功能单元完成，即将挂架变形缺陷检测装置的内部结构划分成不同的功能模块/功能单元，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述方法实施例1提供的挂架变形缺陷检测方法的实施方式与本实施例2提供的挂架变形缺陷检测装置的实施方式属于同一构思，本实施例2提供的挂架变形缺陷检测装置的具体实现过程详见上述方法实施例1，这里不再赘述。
98.实施例3
99.请参阅图6所示，本技术一个实施方式还提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是桌上型计算机、笔记本电脑、掌上电脑以及云端服务器等计算机设备。该计算机设备可以包括，但不限于，处理器和存储器。其中，处理器和存储器可以通过总线或者其他方式连接。
100.其中，处理器可以为中央处理器(central processing unit，cpu)。处理器还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、图形处理器(graphics processing unit，gpu)、嵌入式神经网络处理器(neural-network processing unit，npu)或者其他专用的深度学习协处理器、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
101.存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本技术上述实施方式中的方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施方式中的方法。
102.存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
103.本技术一个实施方式还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述方法实施方式中的方法。
104.本技术提供的技术方案，通过获取双列镀铜生产线的挂架线速数据、位于挂架两侧的测距传感器的监测数据，从而可以监测数据中确定出挂架间距，并通过两侧的架间距
结合预设阈值判断出挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。通过上述方式，能够有效地对双列镀铜生产线进行监测，及时发现双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷，以利于及时处理问题，避免物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。
105.本领域技术人员可以理解，实现本技术上述实施方式方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施方式的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(random access memory，ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
106.以上实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
107.虽然结合附图描述了本技术的实施方式，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本技术创造的保护范围之中。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征：
1.一种挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧；基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。2.根据权利要求1所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距，包括：基于所述第一数据信息，确定与待检测挂架的第一侧间距相匹配的第一高电平持续时间；根据所述第一高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第一侧挂架间距。3.根据权利要求2所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距，包括：基于所述第二数据信息，确定与待检测挂架的第二侧间距相匹配的第二高电平持续时间；根据所述第二高电平持续时间、所述挂架线速数据，计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距。4.根据权利要求1所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，通过如下公式计算得到待检测挂架的第一侧挂架间距：l
an
＝1/60*k*t
an
；其中，l
an
为待检测挂架n的a侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
an
为待检测挂架n的a侧对应的高电平持续时间,单位ms。5.根据权利要求4所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，通过如下公式计算得到待检测挂架的第二侧挂架间距：l
bn
＝1/60*k*t
bn
；其中，l
bn
为待检测挂架n的b侧挂架间距，单位mm；k为镀铜生产线的挂架线速,单位m/min；t
bn
为待检测挂架n的b侧对应的高电平持续时间,单位ms。6.根据权利要求1所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果,包括：判断所述第一侧挂架间距是否在第一预设阈值范围内；判断所述第二侧挂架间距是否在所述第一预设阈值范围内；若确定所述第一侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第一侧挂架间距缺陷识别结果；若确定所述第二侧挂架间距不在所述第一预设阈值范围内，则生成待检测挂架的第二侧挂架间距缺陷识别结果。
7.根据权利要求6所述的挂架变形缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果，还包括：若确定所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距均在所述第一预设阈值范围，则计算所述第一侧挂架间距与所述第二侧挂架间距差值的绝对值；判断所述差值的绝对值是否在第二预设阈值范围内；若确定所述差值的绝对值在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架不存在变形缺陷；若确定所述差值的绝对值不在所述第二预设阈值范围内，则确定所述待检测挂架存在变形缺陷。8.一种挂架变形缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取双列镀铜生产线的挂架线速数据；所述获取模块还用于获取第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，所述第一测距传感器设置于所述镀铜生产线第一侧，所述第二测距传感器设置于所述镀铜生产线第二侧；计算模块，用于基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；所述计算模块还用于基于所述第二数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；识别模块，用于根据所述第一侧挂架间距、所述第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷，并生成判断结果。9.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而实现如权利要求1-7中任一项所述的挂架变形缺陷检测方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的挂架变形缺陷检测方法。

技术总结
本申请提供一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质，所述方法包括：获取双列镀铜生产线的挂架线速数据、第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，第一测距传感器、第二测距传感器分别设置于镀铜生产线两侧；基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；基于第二数据信息、挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；根据第一侧挂架间距、第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。本申请提供的技术方案，可以及时对双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷进行检测，减少物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。良率。良率。


技术研发人员：侯晓峰 吴琪 刘远刚
受保护的技术使用者：上海感图网络科技有限公司
技术研发日：2023.06.20
技术公布日：2023/9/14